CN116343619A - 显示基板及其测试方法和显示装置 - Google Patents

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Abstract

本公开提供一种显示基板及其测试方法和显示装置。显示基板，包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层；显示基板包括显示区和环绕显示区的非显示区；触控检测电路包括驱动信号线和虚设电极线，驱动信号线和虚设电极线在显示区并列排布，驱动信号线与虚设电极线之间相互绝缘，驱动信号线和虚设电极线均由显示区延伸至非显示区；非显示区设置有多个测试接线端，多个测试接线端包括第一接线端和第二接线端，第一接线端与驱动信号线电连接，第二接线端与虚设电极线电连接。本公开实施例能够降低显示异常而导致部分显示基板上的缺陷未被发现的可能性。

Description

显示基板及其测试方法和显示装置
技术领域
本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及其测试方法和显示装置。
背景技术
随着显示技术和芯片技术的发展与提升，TDDI(触控与显示驱动器集成，Touchand Display Driver Integration)显示技术成为许多电子产品的选择。TDDI显示面板在制作过程中需要多次检测其性能，以确定显示面板是否存在异常，以避免存在异常显示面板流入后续工序，而造成人工和原材料资源浪费。
发明内容
在其中一些方面，本公开实施例提供了一种显示基板，包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层；
所述显示基板包括显示区和环绕所述显示区的非显示区；
所述触控检测电路包括驱动信号线和虚设电极线，所述驱动信号线和所述虚设电极线在所述显示区并列排布，所述驱动信号线与所述虚设电极线之间相互绝缘，所述驱动信号线和所述虚设电极线均由所述显示区延伸至所述非显示区；
所述非显示区设置有多个测试接线端，所述多个测试接线端包括第一接线端和第二接线端，所述第一接线端与所述驱动信号线电连接，所述第二接线端与所述虚设电极线电连接。
在一些实施例中，所述显示基板还包括公共信号线，所述公共信号线设置于所述非显示区，且所述公共信号线环绕所述显示区，所述虚设电极线在所述非显示区与所述公共信号线电连接，所述驱动信号线与所述公共信号线之间相互绝缘。
在一些实施例中，所述显示基板还包括驱动芯片，所述驱动芯片设置于所述非显示区，所述驱动信号线与所述驱动芯片在第一连接点电连接，所述第一接线端通过第一控制开关与所述第一连接点电连接，所述第一控制开关用于控制所述第一连接点和所述第一接线端之间电连接的导通或断开。
在一些实施例中，所述像素驱动电路层包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的第一透明电极、绝缘层和第二透明电极，所述第二接线端与所述虚设电极线通过连接走线电连接，所述连接走线与所述第一透明电极或所述第二透明电极同层同材料设置。
在一些实施例中，所述虚设电极线与所述驱动芯片在第二连接点电连接，所述第二接线端通过第二控制开关与所述第二连接点连接，所述第二控制开关用于控制所述第二连接点和所述第二接线端之间电连接的导通或断开。
在一些实施例中，所述第一控制开关包括控制端、第一端和第二端，所述第一控制开关的控制端与控制信号线电连接，所述第一控制开关的第一端与所述第一接线端电连接，所述第一控制开关的第二端与所述第一连接点电连接；
所述第二控制开关包括控制端、第一端和第二端，所述第二控制开关的控制端与所述控制信号线电连接，所述第二控制开关的第一端与所述第二接线端电连接，所述第二控制开关的第二端与所述第二连接点电连接；
所述控制信号线与所述多个测试接线端中的第三接线端连接。
在一些实施例中，所述第三接线端与所述显示基板的低电平信号端电连接。
在一些实施例中，所述第一接线端和所述第二接线端为相同的测试接线端；
或者，所述第一接线端和所述第二接线端电连接，所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。
在一些实施例中，所述第一接线端和所述第二接线端为不同的测试接线端，所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。
在一些实施例中，所述多个测试接线端按照包括依次排布的至少两排测试接线端，相邻两排测试接线端中的测试接线端交错设置。
在一些实施例中，所述静电环包括至少一个或多个相互串联的防静电单元，每一所述防静电单元包括第一开关管和第二开关管，
所述第一开关管包括控制端、第一端和第二端，所述第二开关管包括控制端、第一端和第二端；
所述第一开关管的控制端和第一端均与第一节点电连接，所述第一开关管的第二端与第二节点电连接；
所述第二开关管的控制端和第一端均与所述第二节点电连接，所述第二开关管的第二端与所述第一节点电连接。
在其中一些方面，本公开实施例提供了一种显示装置，包括本公开一些方面提供的显示基板。
在其中一些方面，本公开实施例提供了一种显示基板的测试方法，应用于本公开一些方面提供的显示基板，包括以下步骤：
控制第一测试信号端与所述第一接线端连接，并通过所述第一测试信号端向所述第一接线端提供第一测试信号；
控制第二测试信号端与所述第二接线端连接，并通过所述第二测试信号端向所述第二接线端提供第二测试信号；
其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号相同。
附图说明
图1是相关技术中显示基板显示异常的图像；
图2是相关技术中显示基板的结构示意图；
图3是相关技术中像素电极的结构示意图；
图4是图3中A-A’向的剖视图；
图5是图3中A-A’向的又一剖视图；
图6是本公开一实施例中显示基板的结构示意图；
图7是本公开一实施例中驱动信号线和虚设电极线的连接示意图；
图8是本公开一实施例中显示基板的又一结构示意图；
图9是本公开一实施例中显示基板的又一结构示意图；
图10是本公开一实施例中测试接线端的排布示意图；
图11是本公开一实施例中静电环的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。不冲突的情况下，下述实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获取的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
显示基板在制作过程中，包括将大尺寸面板切割为小尺寸的显示面板的步骤，在切割大尺寸面板获得小尺寸的显示面板之后，需要对显示面板的显示效果进行检测(celltest)。一种可选的检测方式为，控制显示面板显示不同灰阶的画面和不同颜色的单色画面，然后通过目视的方式或通过图像采集装置拍摄显示画面等方式检测显示面板是否存在显示不良。
本申请的技术人员发现，检测过程中，在显示同灰阶的单色画面时，有可能出现显示异常的现象，如图1所示，显示异常具体表现为，显示界面出现许多纵向条纹，且显示面板的部分子像素的亮度会明显高于其他子像素的亮度。技术人员经过进一步研究发现，这种显示由于触控模组中信号线的差异导致的。
如图2所示，具体的，显示面板的触控模组包括驱动信号线(Tx)103，为了确保驱动信号线103在显示区内均匀分布，在制作驱动信号线103时，还会制作虚设电极线(dummy)104，这里，驱动信号线103和虚设电极线104是通过一次构图工艺制作而成的。
虚设电极线104和驱动信号线103的连接方式是不同的，具体而言，驱动信号线103需要实现电学相关的信号传输功能，具体的，驱动信号线103可以与虚设电极线104主要用于提高显示面板结构上的均一性，具体而言，虚设电极线104设置于未设置驱动信号线103的位置，从而提高显示基板不同区域结构上的均一性，虚设电极线104不需要起到触控的作用，同时对显示画面不能造成异常影响。
在执行上述检测工作过程中，驱动信号线103上会加载一个测试信号，虚设电极线104由于不需要起到电学上的作用，因此虚设电极线104上不会加载该测试信号，这导致驱动信号线103所在位置的电场和虚设电极线104对应的位置产生的电场存在差异，进一步会影响不同位置的液晶分子110的排布状态。
由于虚设电极线104对应的位置和驱动信号线103对应的位置的液晶分子110排布状态存在差异，在虚设电极线104和驱动信号线103沿着显示面板的纵向设置的情况下，显示面板上就会出现纵向的条纹。
子像素的电极通常包括第一透明电极107和第二透明电极109，如图3所示，显示面板的子像素的第一透明电极107之间会存在一定的断开区域，而第二透明电极109部分镂空的狭缝状电极，这样，第一透明电极107断开的区域和第二透明电极109部的镂空区之间可能存在交叠区域，这些交叠区域进一步又可能与虚设电极线104或驱动信号线103交叠。
如图4和图5所示，显示面板包括显示基板，显示基板包括衬底101、栅极绝缘层102、驱动信号线103、虚设电极线104、缓冲层105、有机层106、第一透明电极107、绝缘层108、第二透明电极109，显示面板还包括彩膜基板112、位于彩膜基板上的聚酰亚胺层113以及液晶层，液晶层包括多个液晶分子110。
在交叠区域与虚设电极线104或驱动信号线103重叠的位置，该位置的电场就是由虚设电极线104或驱动信号线103提供的，如图4所示，驱动信号线103对应的位置液晶分子110排布正常，而虚设电极线104对应的区域的液晶分子110排布异常，从而形成亮度异常的区域。
需要理解的是，由于测试过程中和实际使用过中，显示基板的信号连接方式是不同的，因此上述原因导致的纵向条纹和局部亮度异常会在测试过程中出现，而不会在实际使用过程中出现，但是，该纵向条纹和局部亮度异常可能导影响显示基板的其他不良或异常的检测，从而导致需要返工或修复的显示面板流入后续的工序，可能造成人力资源和原材料的浪费。
本公开实施例提供了一种显示基板。
在其中一些实施例中，显示基板具体为阵列基板，该阵列基板包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层。
如图6所示，显示基板包括显示区601和环绕显示区601的非显示区602。
请继续参阅图6，触控检测电路包括驱动信号线(Tx)601和虚设电极线(dummy)602，驱动信号线601和虚设电极线602在显示区61并列排布，驱动信号线601与虚设电极线602之间相互绝缘，驱动信号线601和虚设电极线602均由显示区61延伸至非显示区62。
需要理解的是，图6中仅画出了一条驱动信号线601和一条虚设电极线602用于做示例性说明，显示基板中，应当包括多条驱动信号线601和多条虚设电极线602，本实施例中并未示出。
非显示区62设置有多个测试接线端(pad)603，多个测试接线端603包括第一接线端6031和第二接线端6032，第一接线端6031与驱动信号线601电连接，第二接线端6032与虚设电极线602电连接。
测试接线端603用于对显示基板进行测试过程中获取测试信号，具体的，在对显示基板进行测试时，可以提供一测试冶具，测试冶具上包括多个接线柱，各接线柱分别与提供不同测试信号的测试信号端相连，当测试冶具与显示基板连接时，各接线柱与相应的测试接线端603直接接触，从而实现各接线柱与相应的测试接线端603的电连接，这样，能够通过接线柱将测试信号端提供的测试信号提供至测试接线端603。
本公开实施例还提供了一种显示基板的测试方法，应用于本公开实施例中的显示基板。
在其中一些实施例中，该测试方法包括以下步骤：
控制第一测试信号端与所述第一接线端连接，并通过所述第一测试信号端向所述第一接线端提供第一测试信号；
控制第二测试信号端与所述第二接线端连接，并通过所述第二测试信号端向所述第二接线端提供第二测试信号；
其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号相同。
本实施例中，设置了与驱动信号线601电连接的第一接线端6031和与虚设电极线602电连接的第二接线端6032，这样，在对显示基板进行测试过程中，可以通过第一接线端6031向驱动信号线601提供第一测试信号，通过第二接线端6032向第虚设电极线602提供第二测试信号。
这样，虚设电极线602对应的区域和驱动信号线601对应的区域均存在由测试信号产生的电场。
在一些实施例中，第一接线端6031和第二接线端6032为相同的测试接线端603，或者，第一接线端6031和第二接线端6032电连接。
可以理解为，第一接线端6031和第二接线端6032能够获取相同的测试信号，换句话说，由于第一接线端6031和第二接线端6032为相同的测试接线端603或两者直接电连接，这样，提供的第一测试信号和第二测试信号实际上是同一路信号，能够使得驱动信号线601和虚设电极线602对应的区域的电场基本相同，有助于降低纵向条纹的出现的可能性以及降低局部亮度异常的可能性。
可以理解的是，第一测试信号和第二测试信号相同的情况下，理论上来说，虚设电极线602对应的区域和驱动信号线601对应的区域的产生的电场也是相同的，能够降低电场差异对于不同区域液晶分子的排布状态的影响，从而有助于降低显示基板出现纵向条纹的可能性。
同时，第一透明电极断开的区域和第二透明电极的镂空区存在交叠区域，在该交叠区域与虚设电极线602重合的位置处，由于虚设电极线602上加载了第一测试信号，则该位置会存在由于第一测试信号而产生的电场，从而降低该位置出现亮度异常的可能性。
基于上述分析可知，本实施例的技术方案中，通过设置与驱动信号线601电连接的第一接线端6031以及与虚设电极线602电连接的第二接线端6032，可以在对显示基板测试过程中，向驱动信号线601和虚设电极线602提供测试信号，使得驱动信号线601对应的区域和虚设电极线602对应的区域均会产生电场，从而降低了显示面板在测试过程中出现纵向条纹以及局部亮度异常的可能性。
这样，本公开实施例由于降低了显示面板在测试过程中出现纵向条纹以及局部亮度异常的可能性，能够提高对于显示基板状态监测的准确性，降低了显示异常而导致部分显示基板上的缺陷未被发现的可能性。
在一些实施例中，显示基板还包括公共信号线604，公共信号线604设置于非显示区62，且公共信号线604环绕显示区61，虚设电极线602在非显示区62与公共信号线604电连接，驱动信号线601与公共信号线604之间相互绝缘。
本实施例的技术方案中，可以通过不同的方式实现虚设电极线602与第一接线端6031的连接。
如图6和图7所示，在一些实施例中，显示基板还包括驱动芯片(IC)605，该驱动芯片605可以是TDDI(Touch and Display Driver Integration，触控与显示驱动器集成)芯片，驱动芯片605设置于非显示区62，驱动信号线601与驱动芯片605在第一连接点6051电连接，第一接线端6031通过第一控制开关T1与第一连接点6051电连接，第一控制开关T1用于控制第一连接点6051和第一接线端6031之间电连接的导通或断开。
需要理解的是，在对显示基板进行测试的过程中，第一控制开关T1导通，这样，第一连接点6051和第一接线端6031之间是导通的，通过第一接线端6031输入的第一测试信号能够输入至驱动信号线601。
当完成对显示基板的测试后，第一控制开关T1断开，则第一连接点6051和第一接线端6031之间可以理解为相互绝缘的，这样，驱动信号线601能够从驱动芯片605获取相应的驱动信号。
通过设置该第一控制开关T1，能够使得驱动信号线601和第一接线端6031之间在测试过程和测试完成之后具有不同的电连接状态，从而满足不同的控制需求。
如图6和图7所示，在一些实施例中，虚设电极线602与驱动芯片605在第二连接点6052电连接，第二接线端6032通过第二控制开关T2与第二连接点6052连接，第二控制开关T2用于控制第二连接点6052和第二接线端6032之间电连接的导通或断开。
与驱动信号线601的控制方式类似，在测试过程中，第二控制开关T2导通，这样，第二连接点6052和第二接线端6032之间是导通的，通过第二接线端6032输入的第二测试信号能够输入至虚设电极线602。
当完成对显示基板的测试后，第二控制开关T2断开，则第二连接点6052和第二接线端6032之间可以理解为相互绝缘的。
通过设置该第二控制开关T2，能够使得虚设电极线602和第二接线端6032之间在测试过程和测试完成之后具有不同的电连接状态，从而满足不同的控制需求。
如图7所示，在一些实施例中，第一控制开关T1包括控制端、第一端和第二端，第一控制开关T1的控制端与控制信号线606电连接，第一控制开关T1的第一端与第一接线端6031电连接，第一控制开关T1的第二端与第一连接点6051电连接。
第二控制开关T2包括控制端、第一端和第二端，第二控制开关T2的控制端与控制信号线606电连接，第二控制开关T2的第一端与第二接线端6032电连接，第二控制开关T2的第二端与第二连接点6052电连接。
控制信号线606与多个测试接线端603中的第三接线端6033连接。
本实施例中，控制信号线606与第三接线端6033连接，在测试过程中，向该第三接线端6033提供第三测试信号，在第三测试信号的控制下，第一控制开关T1和第二控制开关T2均处于导通状态。
进一步的，在第一接线端6031和第二接线端6032为相同的测试接线端603的情况下，虚设电极线602和驱动信号线601之间也可以理解为是电连接的，从而使得驱动信号线601和虚设电极线602能够加载相同的测试信号。
在一些实施例中，像素驱动电路层包括沿远离衬底方向依次层叠设置的第一透明电极、绝缘层和第二透明电极，如图8所示，第二接线端6032与虚设电极线602通过连接走线6041电连接，连接走线6041与第一透明电极或第二透明电极同层同材料设置。
本实施例中，可以根据需要选择通过像素驱动电路中的第一透明电极或第二透明电极形成连接走线6041。
可以理解的是，某些显示基板是可以通过第一透明电极形成连接走线6041的，而另外一些只能通过第二透明电极形成连接走线6041。
具体的，某些显示基板包括由有机膜层形成的叠层结构，这样，这些显示基板的栅极绝缘层不包括图形化工艺(Mask工艺)的步骤，而虚设电极线602和公共信号线604可以是与栅金属层通过一次构图工艺制作的，这样，如果使用第一透明电极形成连接走线6041，则需要在栅金属层上将有机膜层和栅极绝缘层上打孔，这样，有机膜孔刻蚀时是无法将栅极绝缘层蚀掉的，因此在这种情况下无法使用第一透明电极形成连接走线6041，而只能通过第二透明电极形成连接走线6041。
在通过第二透明电极形成连接走线6041时，在栅金属层上先将有机膜孔刻蚀掉，然后将绝缘层刻蚀，在刻蚀绝缘层时，同时将栅极绝缘层刻蚀掉，这样，形成第二透明电极时，同时形成连接走线6041的图像，且连接走线6041的图像与栅金属层中的公共信号线604图形直接搭接，实现电性连接。
在一些实施例中，第三接线端6033与显示基板的低电平信号端(VGL)电连接。这样，当显示基板结束测试并进入后续的正常使用阶段时，在低电平信号端提供的低电平信号的控制下，能够使得第一控制开关T1和第二控制开关T2均处于断开状态，也就是使得第一连接点6051与第一接线端6031之间处于断开状态，使得第二连接点6052与第二接线端6032之间处于断开状态，使得显示基板能够正常工作，避免其他信号传递至第一连接点6051和第二连接点6052，也能够避免第一连接点6051和第二连接点6052之间相互导通，从而不会对显示基板的正常工作状态造成影响。
可以理解的是，在第二接线端6031与虚设电极线602通过连接走线6041电连接的情况下，当显示基板结束测试并进入后续的正常使用阶段时，在低电平信号端提供的低电平信号的控制下，能够使得第一控制开关T1断开，此时，虚设电极线602仍然与第二接线端6032之间保持电连接。但是，由于第一控制开关T1断开，使得驱动信号线601与第一接线端6031之间处于断开状态，即使第一接线端6031和第二接线端6032可能为相同的测试接线端603或者第一接线端6031和第二接线端6032之间电连接，在第一控制开关T1断开后，驱动信号线601与虚设电极线602之间也处于相互绝缘状态，确保显示基板能够正常工作。
如图9所示，在一些实施例中，第一接线端6031和第二接线端6032为不同的测试接线端603，实施时，通过第一接线端6031向驱动信号线601提供第一测试信号，通过第二接线端6032向虚设电极线602提供第二测试信号。这里，第一测试信号和第二测试信号是相互独立的，而且第一测试信号和第二测试信号可以是相同或不同的，同样能够确保虚设电极线602上加载有信号，能够降低纵向条纹的出现的可能性以及降低局部亮度异常的可能性。
如图10所示，在一些实施例中，多个测试接线端603按照包括依次排布的至少两排测试接线端603，相邻两排测试接线端603中的测试接线端603交错设置。
可以理解，与相关技术相比，本实施例的技术方案中设计了更多的测试接线端603，为了更好的排布这些测试接线端603，本实施例中将测试接线端603设计为多排排布，同时相邻两排测试接线端603中的测试接线端603交错设置，同一排中的两个测试接线端603之间相互绝缘，位于不同排，且相邻的两个测试接线端603之间设置有静电环6034。
在其他一些实施例中，还可以根据显示基板本身的边框空间和结构等调整测试接线端603的分布，此处不做进一步限定。
如图10所示，在一些实施例中，各测试接线端603之间相互绝缘设置，在一些实施例中，还可以在相邻的测试接线端603之间设置静电环6034，以避免静电传输，提高显示基板的可靠性。
如图11所示，在一些实施例中，静电环6034包括至少一个或多个相互串联的防静电单元60341，每一防静电单元60341包括第一开关管T3和第二开关管T4，第一开关管T3包括控制端、第一端和第二端，第二开关管T4包括控制端、第一端和第二端；第一开关管T3的控制端和第一端均与第一节点N1电连接，第一开关管T3的第二端与第二节点N2电连接；第二开关管T4的控制端和第一端均与第二节点N2电连接，第二开关管T4的第二端与第一节点N1电连接。
防静电单元60341的第一节点N1与一个测试接线端603连接，第二节点N2与另一个测试接线端603连接，当防静电单元60341为多个的情况下，第一级防静电单元60341的第一节点N1与一个测试接线端603连接，每一级防静电单元60341的第二节点N2与下一级防静电单元60341的第一节点N1连接，最后一级防静电单元60341的第二节点N2与另一个测试接线端603连接。
通过设置静电环6034，能够防止静电在个测试接线端603之间传输，提高显示基板的可靠性。
可以理解，显示基板后续可以参考相关技术与柔性电路板(FPC)607绑定，且驱动芯片605上的各引脚与FPC607各引脚之间的连接方式均可以参考相关技术，此处不再赘述。
需要理解的是，第一接线端6031和第二接线端6032相同，或者第一接线端6031和第二接线端6032电连接时，在公共信号线604和第二接线端6032之间通过连接走线6041连接的情况下，由于公共信号线604和第二接线端6032之间持续保持电连接状态，会使得FPC607上与公共信号线604连接的引脚的电位发生变化，相关技术中，该引脚对应地线信号，而本实施例中则对应公共信号，但是，这一变化不会对显示基板的正常工作造成影响。
在其他实施例中，各引脚的电位与相关技术中相同，不会对显示基板的正常工作带来其他影响。
在其中一些方面，本公开实施例提供了一种显示装置，包括以上任一种显示基板。由于本实施例的技术方案包括了上述显示基板实施例的全部技术方案，因此至少能够实现上述全部技术效果，此处不再赘述。
以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种显示基板，包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层；
所述显示基板包括显示区和环绕所述显示区的非显示区；
所述触控检测电路包括驱动信号线和虚设电极线，所述驱动信号线和所述虚设电极线在所述显示区并列排布，所述驱动信号线与所述虚设电极线之间相互绝缘，所述驱动信号线和所述虚设电极线均由所述显示区延伸至所述非显示区；
所述非显示区设置有多个测试接线端，所述多个测试接线端包括第一接线端和第二接线端，所述第一接线端与所述驱动信号线电连接，所述第二接线端与所述虚设电极线电连接。
2.如权利要求1所述的显示基板，其中，所述显示基板还包括公共信号线，所述公共信号线设置于所述非显示区，且所述公共信号线环绕所述显示区，所述虚设电极线在所述非显示区与所述公共信号线电连接，所述驱动信号线与所述公共信号线之间相互绝缘。
3.如权利要求2所述的显示基板，其中，所述显示基板还包括驱动芯片，所述驱动芯片设置于所述非显示区，所述驱动信号线与所述驱动芯片在第一连接点电连接，所述第一接线端通过第一控制开关与所述第一连接点电连接，所述第一控制开关用于控制所述第一连接点和所述第一接线端之间电连接的导通或断开。
4.如权利要求3所述的显示基板，其中，所述像素驱动电路层包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的第一透明电极、绝缘层和第二透明电极，所述第二接线端与所述虚设电极线通过连接走线电连接，所述连接走线与所述第一透明电极或所述第二透明电极同层同材料设置。
5.如权利要求3所述的显示基板，其中，所述虚设电极线与所述驱动芯片在第二连接点电连接，所述第二接线端通过第二控制开关与所述第二连接点连接，所述第二控制开关用于控制所述第二连接点和所述第二接线端之间电连接的导通或断开。
6.如权利要求5所述的显示基板，其中，所述第一控制开关包括控制端、第一端和第二端，所述第一控制开关的控制端与控制信号线电连接，所述第一控制开关的第一端与所述第一接线端电连接，所述第一控制开关的第二端与所述第一连接点电连接；
所述第二控制开关包括控制端、第一端和第二端，所述第二控制开关的控制端与所述控制信号线电连接，所述第二控制开关的第一端与所述第二接线端电连接，所述第二控制开关的第二端与所述第二连接点电连接；
所述控制信号线与所述多个测试接线端中的第三接线端连接。
7.如权利要求6所述的显示基板，其中，所述第三接线端与所述显示基板的低电平信号端电连接。
8.如权利要求1至7中任一项所述的显示基板，其中，所述第一接线端和所述第二接线端为相同的测试接线端；
或者，所述第一接线端和所述第二接线端电连接，所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。
9.如权利要求1至4中任一项所述的显示基板，其中，所述第一接线端和所述第二接线端为不同的测试接线端，所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。
10.如权利要求9所述的显示基板，其中，所述多个测试接线端按照包括依次排布的至少两排测试接线端，相邻两排测试接线端中的测试接线端交错设置。
11.如权利要求9所述的显示基板，其中，所述静电环包括至少一个或多个相互串联的防静电单元，每一所述防静电单元包括第一开关管和第二开关管，
所述第一开关管包括控制端、第一端和第二端，所述第二开关管包括控制端、第一端和第二端；
所述第一开关管的控制端和第一端均与第一节点电连接，所述第一开关管的第二端与第二节点电连接；
所述第二开关管的控制端和第一端均与所述第二节点电连接，所述第二开关管的第二端与所述第一节点电连接。
12.一种显示装置，包括权利要求1至11中任一项所述的显示基板。
13.一种显示基板的测试方法，应用于权利要求1至11中任一项所述的显示基板，包括以下步骤：
控制第一测试信号端与所述第一接线端连接，并通过所述第一测试信号端向所述第一接线端提供第一测试信号；
控制第二测试信号端与所述第二接线端连接，并通过所述第二测试信号端向所述第二接线端提供第二测试信号；
其中，所述第一测试信号和所述第二测试信号相同。
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