CN116340367B - 数据查询方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 59
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 525
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 40
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
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- G06F16/24—Querying
- G06F16/245—Query processing
- G06F16/2455—Query execution
- G06F16/24552—Database cache management
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
- G06F16/22—Indexing; Data structures therefor; Storage structures
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
- G06F16/24—Querying
- G06F16/242—Query formulation
- G06F16/2433—Query languages
- G06F16/244—Grouping and aggregation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/06—Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
- G06F3/0601—Interfaces specially adapted for storage systems
- G06F3/0628—Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
- G06F3/0655—Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
- G06F3/0656—Data buffering arrangements
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- Computational Linguistics (AREA)
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Abstract
本申请提供了一种数据查询方法、装置、设备和存储介质，其中，该方法包括：获取数据查询请求，数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，测试标识用于指示待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或待查询芯片的测试设备标识，根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据，根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定待查询芯片的测试数据。采用数据组对数据进行分组合并存储，从而提高数据查询速度。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域，具体而言，涉及一种数据查询方法、装置、设备和存储介质。
背景技术
标准测试资料格式（Standard Test Data Format，STDF）是一种通用的、适用于ATE行业使用的芯片测试结果记录格式。
目前，对STDF文件采取现成的压缩算法，尽管解决了STDF文件过大的问题，但是会导致文件内容需要先解压才能读取，不利于信息检索查询，并且，传统STDF单机分析软件，每次都是从STDF文件读取信息，并不具备对于大量STDF文件的管理功能，只能靠用户自行创建文件夹分类，在使用时找到对应的文件进行导入分析。
发明内容
有鉴于此，本申请实施例提供了一种数据查询方法、装置、设备和存储介质，以采用数据组对数据进行分组合并存储，从而提高数据查询速度。
第一方面，本申请实施例提供了一种数据查询方法，包括：
获取数据查询请求，所述数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，所述测试标识用于指示所述待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或所述待查询芯片的测试设备标识；
根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，所述目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据；
根据所述芯片信息，从所述多个目标芯片的测试数据中确定所述待查询芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述数据查询请求还包括：所述待查询芯片所在晶圆的标识，所述根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，包括：
根据所述待查询芯片所在晶圆的标识，从所述多个测试数据组中确定所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组；
根据所述测试标识，从所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组中确定所述目标测试数据组。
在一可选的实施方式中，所述根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组之前，所述方法还包括：
读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据；
获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及所述各芯片的测试设备标识；
根据所述各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到所述各芯片的测试数据；
根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，包括：
获取所述多个芯片所在晶圆的标识；
根据所述测试编号、所述测试设备标识以及所述多个芯片所在晶圆的标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，所述一个测试数据组中包括：同一测试编号、同一测试设备标识以及同一晶圆标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据，包括：
根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取所述芯片测试文件，得到第一读取内容，将所述第一读取内容保存至第一缓冲池中，所述预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量；
根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将所述多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中；
从所述第一读取内容之后的数据内容开始，根据所述开始描述关键字、所述结束描述关键字以及所述预设读取数量，再次读取所述芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到所述开始描述关键字时，清空所述第一缓冲池中的数据；
将所述第二读取内容保存至所述第一缓冲池中，直至将所述多个芯片的原始测试数据均保存至所述第二缓冲池中；所述多个芯片包括：所述多个第一芯片；
从所述第二缓冲池中获取所述多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，所述根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，包括：
根据数据描述关键字，从所述第一缓冲池中的数据中确定所述多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，所述方法还包括：
根据所述结束描述关键字，从所述芯片测试文件中确定所述预设读取数量。
第二方面，本申请实施例还提供了一种数据查询装置，包括：
获取模块，用于获取数据查询请求，所述数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，所述测试标识用于指示所述待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或所述待查询芯片的测试设备标识；
确定模块，用于根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，所述目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据；
所述确定模块，还用于根据所述芯片信息，从所述多个目标芯片的测试数据中确定所述待查询芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述确定模块，具体用于：
根据所述待查询芯片所在晶圆的标识，从所述多个测试数据组中确定所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组；
根据所述测试标识，从所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组中确定所述目标测试数据组。
在一可选的实施方式中，所述装置还包括：
读取模块，用于读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据；
所述获取模块，还用于获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及所述各芯片的测试设备标识；
所述获取模块，还用于根据所述各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到所述各芯片的测试数据；
分组模块，用于根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述分组模块，具体用于：
获取所述多个芯片所在晶圆的标识；
根据所述测试编号、所述测试设备标识以及所述多个芯片所在晶圆的标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，所述一个测试数据组中包括：同一测试编号、同一测试设备标识以及同一晶圆标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，所述读取模块，具体用于：
根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取所述芯片测试文件，得到第一读取内容，将所述第一读取内容保存至第一缓冲池中，所述预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量；
根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将所述多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中；
从所述第一读取内容之后的数据内容开始，根据所述开始描述关键字、所述结束描述关键字以及所述预设读取数量，再次读取所述芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到所述开始描述关键字时，清空所述第一缓冲池中的数据；
将所述第二读取内容保存至所述第一缓冲池中，直至将所述多个芯片的原始测试数据均保存至所述第二缓冲池中；所述多个芯片包括：所述多个第一芯片；
从所述第二缓冲池中获取所述多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，所述读取模块，具体用于：
根据数据描述关键字，从所述第一缓冲池中的数据中确定所述多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，所述确定模块，还用于：
根据所述结束描述关键字，从所述芯片测试文件中确定所述预设读取数量。
第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行第一方面任一项所述的数据查询方法。
第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行第一方面任一项所述的数据查询方法。
本申请提供了一种数据查询方法、装置、设备和存储介质，其中，该方法包括：获取数据查询请求，数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，测试标识用于指示待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或待查询芯片的测试设备标识，根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据，根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定待查询芯片的测试数据。采用数据组对数据进行分组合并存储，从而提高数据查询速度。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图一；
图2为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图二；
图3为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图三；
图4为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图四；
图5为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图五；
图6为本申请实施例提供的数据查询装置的结构示意图；
图7为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
由于STDF文件是二进制格式，不能让工程师直观的查看，所以有些情况下会使用逗号分隔值格式（Comma-Separated Values，CSV）文件替代。但是CSV文件的二维表结构，不能完整承载STDF文件里的信息，会损失一些数据。直接对STDF文件采取现成的压缩算法，尽管解决了STDF文件过大的问题，但是会导致文件内容需要先解压才能读取，不利于信息检索。
传统STDF单机分析软件，每次都是从STDF文件读取信息，并不具备对于大量STDF文件的管理功能，只能靠用户自行创建文件夹分类，在使用时找到对应的文件进行导入分析。
基于此，本申请通过解析以及转换STDF文件中的数据内容，生成一种可以高效存储以及检索的新数据结构（即数据组结构），将其存入常规数据库中，即可实现非常快的查询和检索，并且相较于STDF文件，所占用的硬盘空间更小，相较于CSV文件，能够保留更完整的测试结果数据。
下面结合几个具体实施例对本申请提供的数据查询方法进行说明。
图1为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图一，本实施例的执行主体可以为电子设备，如终端、服务器。
如图1所示，该方法可以包括：
S101、获取数据查询请求。
其中，数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，测试标识用于指示待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或待查询芯片的测试设备标识。
在对芯片进行测试时，由于芯片数量较多，因此每次可能只测试一部分芯片，所以会存在多个测试批次，一个测试批次对应一部分同时测试的芯片，在同一测试批次下，同时进行测试的芯片具有测试编号，例如，一个测试批次可同时测试16个芯片，则16个芯片的测试编号分别可以为0-15。
在查询芯片的测试数据时，可将待查询芯片的测试标识和芯片信息作为查询参数，芯片信息用于标识待查询芯片，芯片信息可以为芯片的标识信息，例如可以为待查询芯片在所在晶圆上的位置坐标，一个晶圆上具有多个芯片，测试标识包括测试编号和/或测试设备标识，其中，测试设备标识为对待查询芯片进行测试时的测试设备的标识，测试设备例如可以为机械臂（head），也就是说，采用机械臂对芯片进行测试，并记录对应机械臂的标识，这样在查询芯片测试数据时，可将芯片的测试设备标识作为查询参数。
S102、根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组。
其中，一个测试数据组中包括：多个芯片的测试数据，根据测试标识，从预设存储的多个测试数据组中确定该测试标识对应的测试数据组为目标测试数据组，目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据。
可以理解的是，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据，即，多个目标芯片的测试编号相同且测试设备标识相同，也就是说，多个目标芯片对应不同测试批次下的相同测试编号，且对多个目标芯片进行测试时所采用的测试设备相同。
另外，预设存储的多个测试数据组可以存储至数据库中，多个测试数据组例如可以包括数据组A、数据组B、数据组C。
S103、根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定待查询芯片的测试数据。
根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定该芯片信息对应的测试数据为待查询芯片的测试数据。
也就是说，先根据测试编号和/或测试设备标识，找到目标测试数据组，再根据芯片信息，从目标测试数据组中找到待查询芯片的测试数据，这样可通过多级查询可快速查询到待查询芯片的测试数据，提高了查询速度。
在本实施例的数据查询方法中，通过获取数据查询请求，然后根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据，根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定待查询芯片的测试数据。采用数据组对数据进行分组合并存储，从而提高数据查询速度。
图2为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图二，如图2所示，在一可选的实施方式中，步骤S102，根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，包括：
S201、根据待查询芯片所在晶圆的标识，从多个测试数据组中确定待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组。
S202、根据测试标识，从待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组中确定目标测试数据组。
其中，一个测试数据组包括同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据，且一个测试数据组对应的芯片设置在同一个晶圆上，因此，可先根据待查询芯片所在晶圆的标识，对多个测试数据组进行查询，确定待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组，然后，根据测试标识，对待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组进行查询，以确定与测试标识对应的目标测试数据组。
在本实施例的数据查询方法中，根据待查询芯片所在晶圆的标识和测试标识进行多级查询，可快速查询到目标测试数据组，提高了查询速度。
图3为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图三，如图3所示，在一可选的实施方式中，步骤S102，根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组之前，该方法还可以包括：
S301、读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据。
预设标准测试资料格式可以为STDF格式，STDF格式的芯片测试文件用于记录芯片测试数据。
读取预设标准资料格式的芯片测试文件，可得到多个芯片的原始测试数据，其中，芯片测试文件中包括多个芯片的原始测试数据、和与测试数据不相关的其它文件内容，因此，对读取芯片测试文件并对该文件进行解析，可从芯片测试文件中提取多个芯片的原始测试数据。
S302、获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及各芯片的测试设备标识。
其中，各芯片的测试编号为测试过程中，对应测试批次下对各芯片的编号，在进行数据分组存储时，可获取各芯片的测试编号以及测试设备标识，其中，芯片测试文件中可记录有各芯片的测试编号以及测试设备标识，因此可从芯片测试文件中获取各芯片的测试编号以及测试设备标识。
S303、根据各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到各芯片的测试数据。
根据各芯片的原始测试数据和芯片信息，组装成各芯片的测试数据，其中，各芯片的测试数据中包括：各芯片的原始测试数据和芯片信息。
值得说明的是，芯片测试文件中结束描述关键字下的数据内容可包括芯片信息，包括但不限于芯片在晶圆上的位置信息、芯片标识、芯片类型、芯片功能等。
S304、根据测试编号和测试设备标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组。
一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据。
根据测试编号和测试设备标识，对多个芯片的测试数据进行分组，以将同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据划分为一组，还可以将多个测试数据组存储至数据库中以持久化存储。
在本实施例的数据查询方法中，通过读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据，获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及各芯片的测试设备标识，根据各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到各芯片的测试数据，然后根据测试编号和测试设备标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组。生成一种可以高效存储以及检索的新数据结果，提高了数据查询速度，并且相较于STDF原始文件，所占用的硬盘空间更小。相较于CSV文件，能够保留更完成的测试结果数据。
图4为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图四，如图4所示，在一可选的实施方式中，步骤S304，根据测试编号和测试设备标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，可以包括：
S401、获取多个芯片所在晶圆的标识。
S402、根据测试编号、测试设备标识以及多个芯片所在晶圆的标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组。
其中，芯片测试文件中可以包括多个晶圆上多个芯片的原始测试数据。获取多个芯片所在晶圆的标识，然后，根据测试编号、测试设备标识以及多个芯片所在晶圆的标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号、同一测试设备标识以及同一晶圆标识的芯片的测试数据。
也就是说，将多个晶圆的多个芯片的原始测试数据记录在芯片测试文件中，在建立数据分组时，可结合根据多个芯片所在晶圆的标识、测试编号、测试设备标识，对从芯片测试文件读取的多个芯片的原始测试数据进行分组，以将同一晶圆、同一测试编号以及同一测试设备标识的芯片的测试数据分组合并存储至一个测试数据组中。
在本实施例的数据查询方法中，根据测试编号、测试设备标识以及多个芯片所在晶圆的标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，生成一种可以高效存储以及检索的新数据结果，提高了数据查询速度，并且相较于STDF原始文件，所占用的硬盘空间更小。相较于CSV文件，能够保留更完成的测试结果数据。
图5为本申请实施例提供的数据查询方法的流程示意图五，如图5所示，在一可选的实施方式中，步骤S301，读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据，可以包括：
S501、根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取芯片测试文件，得到第一读取内容，将第一读取内容保存至第一缓冲池中。
其中，预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量，即，一个测试批次下进行测试的芯片的最大芯片数量，例如16个。
开始描述关键字可以为STDF文件中的描述记录（Part Information Record，PIR），结束描述关键字可以为STDF文件中的结果记录（Part Results Record，PRR），其中，一个PIR和一个PRR之间的数据内容为一个芯片的测试数据。
在读取芯片测试文件时，可根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，从芯片测试文件中读取第一读取内容，以预设读取数量为16为例，读取芯片测试文件时，可将第1个开始描述关键字到第1个结束描述关键字中的数据内容、第2个开始描述关键字到第2个结束描述关键字中的数据内容…第16个开始描述关键字到第16个结束描述关键字中的数据内容作为第一读取内容，并将第一读取内容保存至第一缓冲池中。
在一些实施例中，该方法还可以包括：根据结束描述关键字，从芯片测试文件中确定预设读取数量。
芯片测试文件中结束描述关键字下的数据内容可包括对应芯片的测试编号，这样根据最大测试编号可确定预设读取数量。
值得说明的是，测试编号可以为site，即PRR记录有芯片的site。
S502、根据第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中。
第一缓冲池中包括第一读取数据，从第一读取数据中确定多个第一芯片的原始测试数据，并将多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中，其中，多个第一芯片的数量为预设读取数量，也就是说，一个开始描述关键字和一个结束描述关键字之间的数据内容包括一个芯片的测试数据、和与测试数据不相关的其它文件内容，进一步从开始描述关键字和一个结束描述关键字之间的数据内容中确定一个芯片的测试数据，从而逐步减小了数据体积。
在一些实施例中，步骤S502、根据第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中，可以包括：根据数据描述关键字，从第一缓冲池中的数据中确定多个芯片的原始测试数据。
其中，数据描述关键字可以为测试数据的描述关键字，例如可以为STDF文件中的多结果参数记录（Multiple-Result Parametric Record，MPR）、参数测试记录（ParametricTest Record，PTR）和功能测试记录（Functional Test Record，FTR）。
将第一缓冲池中的数据中该数据描述关键字下的数据内容确定为对应芯片的原始测试数据，也就是说，芯片的原始测试数据存储在数据描述关键字的记录下，对于一个开始描述关键字和一个结束描述关键字之间的数据内容，根据数据描述关键字对该数据内容进行查询，从该数据内容中确定该数据描述关键字下的数据内容为芯片的原始测试数据。
值得说明的是，MPR下的数据内容可被芯片测试文件中PIR之前的引脚映射记录（Pin Map Record，PMR）下的数据信息分解为多个单独记录，即，根据PMR下的数据信息，对MPR下的数据内容进行分类，得到各数据信息对应的原始测试数据，这样可配合数据信息能够更加直观查看原始测试数据，例如，PMR下的数据类型包括晶圆设置、芯片引脚信息、芯片引脚测试项等。
S503、从第一读取内容之后的数据内容开始，根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，再次读取芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到开始描述关键字时，清空第一缓冲池中的数据。
从芯片测试文件中第一读取内容之后的数据内容开始，根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，再次读取芯片测试文件，得到第二读取内容，也就是说，按照读取第一内容的方式，根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取芯片测试文件中第一读取内容之后的数据内容，得到第二取内容，并在第一次读取到开始描述关键字时，清空第一缓冲池中的数据。
其中，第一读取内容为第一测试批次对应的读取内容、第二读取内容为第二测试批次对应的读取内容。
以预设读取数量为16为例，读取芯片测试文件中第一读取内容之后的数据内容时，可将第1个开始描述关键字到第1个结束描述关键字中的数据内容、第2个开始描述关键字到第2个结束描述关键字中的数据内容…第16个开始描述关键字到第16个结束描述关键字中的数据内容作为第二读取内容，并将第二读取内容保存至第一缓冲池中。
S504、将第二读取内容保存至第一缓冲池中，直至将多个芯片的原始测试数据均保存至第二缓冲池中。
将第二读取内容保存至第一缓冲池中，并根据第一缓冲池中的数据，获取多个第二芯片的原始测试数据，第一缓冲池中包括第二读取数据，获取第二芯片的测试数据的方式与上述第一芯片的测试数据的方式类似。
重复该过程，直至得到所有读取数据，并从对应读取数据中确定对应芯片的原始测试数据，这样可得到多个芯片的原始测试数据，并将多个芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中，多个芯片包括：多个第一芯片和多个第二芯片。
S505、从第二缓冲池中获取多个芯片的原始测试数据。
由于将多个芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中，这样可从第二缓冲池中获取多个芯片的原始测试数据，并根据各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到各芯片的测试数据，并将各芯片的测试数据保存至第二缓冲池中。
在进行数据分组时，可对第二缓冲池中的多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，之后还可以清空第二缓冲池。
表1为存储容量对比表，如表1所示，第一列为将测试数据存储STDF文件时的存储大小，第二列为将数据分组合并存储在数据库中的存储大小，可以看出，通过数据分组合并存储的方式，大大减少了数据体积。
在本实施例的数据查询方法中，通过第一缓冲池和第二缓冲池的两级缓冲可以在数据分组过程中能够逐步缩小数据体积，第一级缓冲（第一缓冲池）只需要存储当前单次测试循环的执行上下文，单次循环完成后将测试结果聚合存储至二级缓冲（第二缓冲池），即可重复利用第一级缓冲的空间。
基于同一发明构思，本申请实施例中还提供了与数据查询方法对应的数据查询装置，由于本申请实施例中的装置解决问题的原理与本申请实施例上述数据查询方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
图6为本申请实施例提供的数据查询装置的结构示意图，如图6所示，该装置可以包括：
获取模块601，用于获取数据查询请求，数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，测试标识用于指示待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或待查询芯片的测试设备标识；
确定模块602，用于根据测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据；
确定模块602，还用于根据芯片信息，从多个目标芯片的测试数据中确定待查询芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，确定模块602，具体用于：
根据待查询芯片所在晶圆的标识，从多个测试数据组中确定待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组；
根据测试标识，从待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组中确定目标测试数据组。
在一可选的实施方式中，该装置还包括：
读取模块603，用于读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据；
获取模块601，还用于获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及各芯片的测试设备标识；
获取模块601，还用于根据各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到各芯片的测试数据；
分组模块604，用于根据测试编号和测试设备标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，分组模块604，具体用于：
获取多个芯片所在晶圆的标识；
根据测试编号、测试设备标识以及多个芯片所在晶圆的标识，对多个芯片的测试数据进行分组，得到多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号、同一测试设备标识以及同一晶圆标识的芯片的测试数据。
在一可选的实施方式中，读取模块603，具体用于：
根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取芯片测试文件，得到第一读取内容，将第一读取内容保存至第一缓冲池中，预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量；
根据第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中；
从第一读取内容之后的数据内容开始，根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，再次读取芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到开始描述关键字时，清空第一缓冲池中的数据；
将第二读取内容保存至第一缓冲池中，直至将多个芯片的原始测试数据均保存至第二缓冲池中；多个芯片包括：多个第一芯片；
从第二缓冲池中获取多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，读取模块603，具体用于：
根据数据描述关键字，从第一缓冲池中的数据中确定多个芯片的原始测试数据。
在一可选的实施方式中，确定模块602，还用于：
根据结束描述关键字，从芯片测试文件中确定预设读取数量。
关于装置中的各模块的处理流程、以及各模块之间的交互流程的描述可以参照上述方法实施例中的相关说明，这里不再详述。
图7为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图，如图7所示，该设备可以包括：处理器701、存储器702和总线703，所述存储器702存储有所述处理器701可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器701与所述存储器702之间通过总线703通信，所述处理器701执行所述机器可读指令，以执行上述数据查询方法。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行，所述处理器执行上述数据查询方法。
在本申请实施例中，该计算机程序被处理器运行时还可以执行其它机器可读指令，以执行如实施例中其它所述的方法，关于具体执行的方法步骤和原理参见实施例的说明，在此不再详细赘述。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请提供的实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围。都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (8)
1.一种数据查询方法，其特征在于，包括：
获取数据查询请求，所述数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，所述测试标识用于指示所述待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或所述待查询芯片的测试设备标识；
根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，所述目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据；
根据所述芯片信息，从所述多个目标芯片的测试数据中确定所述待查询芯片的测试数据；
所述根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组之前，所述方法还包括：
读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据；
获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及所述各芯片的测试设备标识；
根据所述各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到所述各芯片的测试数据；
根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据；
所述读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据，包括：
根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取所述芯片测试文件，得到第一读取内容，将所述第一读取内容保存至第一缓冲池中，所述预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量；
根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将所述多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中；
从所述第一读取内容之后的数据内容开始，根据所述开始描述关键字、所述结束描述关键字以及所述预设读取数量，再次读取所述芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到所述开始描述关键字时，清空所述第一缓冲池中的数据；
将所述第二读取内容保存至所述第一缓冲池中，直至将所述多个芯片的原始测试数据均保存至所述第二缓冲池中；所述多个芯片包括：所述多个第一芯片；
从所述第二缓冲池中获取所述多个芯片的原始测试数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据查询请求还包括：所述待查询芯片所在晶圆的标识，所述根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，包括：
根据所述待查询芯片所在晶圆的标识，从所述多个测试数据组中确定所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组；
根据所述测试标识，从所述待查询芯片所在晶圆对应的测试数据组中确定所述目标测试数据组。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，包括：
获取所述多个芯片所在晶圆的标识；
根据所述测试编号、所述测试设备标识以及所述多个芯片所在晶圆的标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，所述一个测试数据组中包括：同一测试编号、同一测试设备标识以及同一晶圆标识的芯片的测试数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，包括：
根据数据描述关键字，从所述第一缓冲池中的数据中确定所述多个芯片的原始测试数据。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
根据所述结束描述关键字，从所述芯片测试文件中确定所述预设读取数量。
6.一种数据查询装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取数据查询请求，所述数据查询请求包括：待查询芯片的测试标识和芯片信息，所述测试标识用于指示所述待查询芯片在对应测试批次下的测试编号和/或所述待查询芯片的测试设备标识；
确定模块，用于根据所述测试标识，从预先存储的多个测试数据组中确定目标测试数据组，所述目标测试数据组中包括：多个目标芯片的测试数据；
所述确定模块，还用于根据所述芯片信息，从所述多个目标芯片的测试数据中确定所述待查询芯片的测试数据；
所述装置还包括：
读取模块，用于读取预设标准测试资料格式的芯片测试文件，得到多个芯片的原始测试数据；
所述获取模块，还用于获取各芯片在对应测试批次下的测试编号，以及所述各芯片的测试设备标识；
所述获取模块，还用于根据所述各芯片的原始测试数据和芯片信息，得到所述各芯片的测试数据；
分组模块，用于根据所述测试编号和所述测试设备标识，对所述多个芯片的测试数据进行分组，得到所述多个测试数据组，一个测试数据组中包括：同一测试编号和同一测试设备标识的芯片的测试数据；
所述读取模块，具体用于：
根据开始描述关键字、结束描述关键字以及预设读取数量，读取所述芯片测试文件，得到第一读取内容，将所述第一读取内容保存至第一缓冲池中，所述预设读取数量为一个测试批次下测试的最大芯片数量；
根据所述第一缓冲池中的数据，获取多个第一芯片的原始测试数据，并将所述多个第一芯片的原始测试数据保存至第二缓冲池中；
从所述第一读取内容之后的数据内容开始，根据所述开始描述关键字、所述结束描述关键字以及所述预设读取数量，再次读取所述芯片测试文件，得到第二读取内容，并在第一次读取到所述开始描述关键字时，清空所述第一缓冲池中的数据；
将所述第二读取内容保存至所述第一缓冲池中，直至将所述多个芯片的原始测试数据均保存至所述第二缓冲池中；所述多个芯片包括：所述多个第一芯片；
从所述第二缓冲池中获取所述多个芯片的原始测试数据。
7.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行权利要求1至5任一项所述的数据查询方法。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1至5任一项所述的数据查询方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310619017.4A CN116340367B (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 数据查询方法、装置、设备和存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310619017.4A CN116340367B (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 数据查询方法、装置、设备和存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116340367A CN116340367A (zh) | 2023-06-27 |
| CN116340367B true CN116340367B (zh) | 2023-08-08 |
Family
ID=86879094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310619017.4A Active CN116340367B (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 数据查询方法、装置、设备和存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116340367B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116598219B (zh) * | 2023-07-18 | 2023-10-27 | 上海孤波科技有限公司 | 一种可视化晶圆图的生成方法、装置及电子设备 |
| CN117036532B (zh) * | 2023-10-10 | 2024-01-19 | 杭州芯翼科技有限公司 | 晶圆图生成方法、装置、电子设备和存储介质 |
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| CN111061741A (zh) * | 2019-12-20 | 2020-04-24 | 国网山东省电力公司泰安供电公司 | 一种电力测试数据管理方法、系统、终端及存储介质 |
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| CN111611250A (zh) * | 2020-07-03 | 2020-09-01 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | 数据存储设备、数据查询方法、装置、服务器及存储介质 |
| CN113987954A (zh) * | 2021-11-09 | 2022-01-28 | 成都海光微电子技术有限公司 | 一种芯片良率的监测方法及装置、电子设备、存储介质 |
| CN115938450A (zh) * | 2022-12-21 | 2023-04-07 | 成都海光集成电路设计有限公司 | 晶圆测试归类方法、装置及计算机可读存储介质 |
-
2023
- 2023-05-30 CN CN202310619017.4A patent/CN116340367B/zh active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116340367A (zh) | 2023-06-27 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |