CN116303627B - 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN116303627B
CN116303627B CN202310574419.7A CN202310574419A CN116303627B CN 116303627 B CN116303627 B CN 116303627B CN 202310574419 A CN202310574419 A CN 202310574419A CN 116303627 B CN116303627 B CN 116303627B
Authority
CN
China
Prior art keywords
field
dimension
target
query
name
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310574419.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116303627A (zh
Inventor
王腾
钱大君
马力斯
周浩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Gubo Technology Co ltd
Original Assignee
Shanghai Gubo Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Gubo Technology Co ltd filed Critical Shanghai Gubo Technology Co ltd
Priority to CN202310574419.7A priority Critical patent/CN116303627B/zh
Publication of CN116303627A publication Critical patent/CN116303627A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116303627B publication Critical patent/CN116303627B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
    • G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
    • G06F16/24—Querying
    • G06F16/245—Query processing
    • G06F16/2455—Query execution
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
    • G06F16/20—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of structured data, e.g. relational data
    • G06F16/25—Integrating or interfacing systems involving database management systems
    • G06F16/254—Extract, transform and load [ETL] procedures, e.g. ETL data flows in data warehouses
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computational Linguistics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本申请提供了半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质，获取目标半导体测试数据集以及对目标半导体测试数据的查询请求；针对于字段抽取请求，从目标半导体测试数据集中确定出目标抽取维度字段对应的数据值集合，基于包含目标抽取维度字段的名称的正则表达式，确定出目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；针对于字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于第一查询表达式在目标半导体测试数据集中确定出维度字段组合名称相对应的字段值列表。实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，提高了数据查询的便捷性。

Description

半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本申请涉及测试数据技术领域，尤其是涉及半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
在半导体测试行业中，数据分析系统（BI系统）都需要先解析STDF(Standard TestData File，标准测试数据文件)，然后根据数据模型，把值映射到一个个字段上，最后写入数据存储。用户进行数据分析的时候，可以选择不同的字段进行各种分析，系统会把数据从数据存储中读取出来并处理好给用户。BI系统一般都是使用数据库存储数据，查询的时候使用查询表达式来查询数据。但是，在半导体测试行业中，不同厂家不同测试程序，写入STDF中的信息的格式是各不相同的。在半导体BI系统中，可供分析使用的维度字段，在数据建模的时候已经确定下来了，不会针对不同厂商的不同格式去设计不同的字段，所以是无法实现在格式不同的信息中提取需要的信息进行分析。所以，如何提高半导体测试数据的查询的便捷性成为了不容小觑的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本申请的目的在于提供半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质，实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，尤其是从测试项中抽取更多字段信息，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，为数据分析提供了更多的可能性，提高了数据查询的便捷性。
本申请实施例提供了一种半导体测试数据的查询方法，所述查询方法包括：
获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；
针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；
针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。
在一种可能的实施方式中，通过以下步骤确定出所述正则表达式：
基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称以及字段名称；
基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
在一种可能的实施方式中，在所述基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表之后，所述查询方法还包括：
检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求；
若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出=所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
在一种可能的实施方式中，所述基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表，包括：
基于所述第一查询表达式，确定出所述维度字段组合的字段名称与所述第一查询表达式的映射关系；
所述第一查询表达式基于所述映射关系，查询所述目标半导体测试数据集中维度字段组合名称相对应的字段值列表。
在一种可能的实施方式中，所述针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表之后，所述查询方法包括：
检测所述维度字段组合名称相对应的字段值列表是否正常显示；
若是，则保存所述第一查询表达式；
若否，则更改所述第一查询表达式。
本申请实施例还提供了一种半导体测试数据的查询装置，所述查询装置包括：
获取模块，用于获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；
字段抽取模块，用于针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；
字段组合模块，用于针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。
在一种可能的实施方式中，所述字段抽取模块通过以下步骤确定出所述正则表达式：
基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称以及字段名称；
基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
在一种可能的实施方式中，所述查询装置还包括第一检测模块，所述第一检测模块用于：
检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求；
若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出=所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
本申请实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的半导体测试数据的查询方法的步骤。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时执行如上述的半导体测试数据的查询方法的步骤。
本申请实施例提供的半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质，所述查询方法包括：获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，尤其是从测试项中抽取更多字段信息，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，为数据分析提供了更多的可能性，提高了数据查询的便捷性。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法的流程图；
图2为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法中字段抽取的流程图；
图3为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法中字段组合的流程图；
图4为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询装置的结构示意图之一；
图5为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询装置的结构示意图之二；
图6为本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本申请中的附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本申请的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本申请中使用的流程图示出了根据本申请的一些实施例实现的操作。应当理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本申请内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
另外，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例，都属于本申请保护的范围。
为了使得本领域技术人员能够使用本申请内容，结合特定应用场景“对半导体测试数据进行查询”，给出以下实施方式，对于本领域技术人员来说，在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用场景。
首先，对本申请可适用的应用场景进行介绍。本申请可应用于测试数据技术领域。
经研究发现，在半导体测试行业中，数据分析系统（BI系统）都需要先解析STDF(Standard Test Data File，标准测试数据文件)，然后根据数据模型，把值映射到一个个字段上，最后写入数据存储。用户进行数据分析的时候，可以选择不同的字段进行各种分析，系统会把数据从数据存储中读取出来并处理好给用户。BI系统一般都是使用数据库存储数据，查询的时候使用查询表达式来查询数据。但是，在半导体测试行业中，不同厂家不同测试程序，写入STDF中的信息的格式是各不相同的。在半导体BI系统中，可供分析使用的维度字段，在数据建模的时候已经确定下来了，不会针对不同厂商的不同格式去设计不同的字段，所以是无法实现在格式不同的信息中提取需要的信息进行分析。所以，如何提高半导体测试数据的查询的便捷性成为了不容小觑的技术问题。
基于此，本申请实施例提供了半导体测试数据的查询方法，实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，尤其是从测试项中抽取更多字段信息，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，为数据分析提供了更多的可能性，提高了数据查询的便捷性。
请参阅图1，图1为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法的流程图。如图1中所示，本申请实施例提供的查询方法，包括：
S101：获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求。
该步骤中，获取目标半导体测试数据集和对目标半导体测试数据集的查询请求。
其中，目标半导体测试数据集为在半导体数据分析系统中创建或者选择一个带筛选条件的半导体测试数据集合。
其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求。
其中，字段抽取请求为在一个测试项下的测试名称中只要某个字段的字段值列表，字段组合请求为将多个字段进行组合形成新的字段对应的字段值列表。
比如，如下4个测试项：Isolation RF1 to RF2 @ 2.7GHz V1_H；Isolation RF1to RF2 @ 2.7GHz V1_L；Isolation RF1 to RF2 @ 960MHz V1_H；Isolation RF1 to RF2@ 960MHz V1_L。包含了可抽取的测试项名称(Isolation RF1 to RF2) + 测试条件1（频率）+ 测试条件2（H/L）三个维度字段的信息。若用户想针对Isolation RF1 to RF2 这个可抽取的测试项名称，分析不同测试条件下的数据分布情况为字段抽取，若用户想针对Isolation RF1 to RF2 这个可抽取的测试项名称将该测试名称中的字段与其他测试名称中的字段进行组合的过程为字段组合。
这里，维度字段包括X_COORD (晶圆中的x坐标)、Y_COORD (晶圆中的y坐标)、TEST_NUM (测试项编号)、TEST_TXT (测试项名称)、TEST_ORDER (测试顺序)、RESULT (测试结果)、HI_LIMIT (测试结果上限)、LO_LIMIT (测试结果下限)、UNITS (测试结果单位)以及其他类型的字段。
S102：针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表。
该步骤中，从目标半导体测试数据集中确定出目标抽取维度字段对应的数据值集合，根据数据值集合确定出包含目标抽取维度字段的名称的正则表达式，根据正则表达式确定出目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表。
其中，字段名称列表为目标抽取维度字段对应的名称列表，字段值列表为目标抽取维度字段对应的字段值列表。
在一种可能的实施方式中，通过以下步骤确定出所述正则表达式：
A：基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，所述目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称以及字段名称。
这里，根据目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项。
这里，目标测试项名称包括目标抽取维度字段的名称以及其他字段名称。
其中，由于在同一个数据集中，一个维度字段可能存在不同格式的值，所以需要针对需要抽取信息的格式，从数据值集合的列表中挑选出目标抽取维度字段对应的格式信息相同的测试项。
B：基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
这里，根据目标测试项中的多个字段名称，得到正则表达式。
其中，正则表达式中用${字段名}表示字段，默认是贪婪模式，也可以配置成非贪婪模式。例如，正则表达式{Test_Item}_${cond1} ${cond2} 中包含了把目标测试项的名称拆成了Test_Item, cond1, cond2三个字段名称，其中，cond1可作为目标抽取维度字段。
在一种可能的实施方式中，在所述基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表之后，所述查询方法还包括：
a：检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求。
这里，用户点击预览时，根据展示的解析结果列表，判断目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求。
其中，预测要求为目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否正确。
b：若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
这里，若满足预设要求，则将正则表达式进行保存，并根据正则表达式确定出目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，利用字段的第二查询表达式进行数据查询。
其中，若不满足预设要求，则重新输入正则表达式进行预览。
其中，第二查询表达式可为sql查询表达式，此部分不做限定，根据使用场景进行设定。
这里，在用户点击预览时，系统根据正则表达式，解析出新字段名称（目标抽取维度字段对应的名称），以及新字段对应的第二查询表达式，查询数据时，把选定的维度字段替换成N个新字段的查询表达式，查出对应的值的列表。
其中，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式的过程如下：对正则表达式（{Test_Item}_${cond1} ${cond2}）进行解析，得到多个字段名，分别为Test_Item、cond1以及cond2，生成每个字段对应的查询表达式，Test_Item对应的查询表达式为/>，cond1对应的查询表达式为，cond2对应的查询表达式为/>。若目标抽取维度字段为cond1，则cond1对应的查询表达式为第二查询表达式，从而实现了可以直接筛选出cond1对应的字段值列表。
在具体实施例中，保存正则表达式的配置之后，使用配置进行数据分析的时候，系统读取配置，解析生成新字段到对应查询表达式的映射关系，查询数据存储的时候，根据映射关系，进行字段替换。比如一个最简单的场景，数据存储是Clickhouse数据库, 分组取平均值：
正则表达式：{Test_Item}_${cond1} ${cond2}
原始：选择测试项，分析均值，只能查询以原始测试项分组的测试结果的平均值:
select
TEST_ITEM as testItem,
avg(TEST_VALUE) as value
from table
where …
group by testItem
替换：选择新字段，分析均值，就会根据新字段到sql表达式的映射关系，生成出如下的查询，实现了以新维度字段分组获取测试结果的平均值。
select
as Test_Item,
avg(TEST_VALUE) as value
from table
where …
group by Test_Item
进一步的，请参阅图2，图2为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法中字段抽取的流程图。如图2中所示，S201：选择要抽取的维度字段；S202：从目标半导体测试数据集中该抽取的维度字段的值的列表中筛选出需要抽取的值的集合；S203：根据选定的字段值的格式输入正则表达式；S204：预览生成的抽取的维度字段对应的字段名称列表和字段值列表；S205：若符合预设要求，则保存字段抽取配置；S206：在使用新增的要抽取的维度字段进行分析时，系统根据字段配置，生成新维度字段名到第二查询表达式的映射，查询时把对应字段替换成第二查询表达式。
S103：针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。
该步骤中，根据用户设定的维度字段组合名称确定出维度字段组合名称对应的第一查询表达式，根据第一查询表达式在目标半导体测试数据集中确定出维度字段组合名称相对应的字段值列表。
这里，将多个维度字段名称进行组合设置成新的维度字段名称，并且设置名称之后才可以用名称来进行分析。
这里，第一查询表达式为在sql数据库中根据维度字段组合名称生成的查询表达式。
在一种可能的实施方式中，所述基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表，包括：
（1）：基于所述第一查询表达式，确定出所述维度字段组合的字段名称与所述第一查询表达式的映射关系。
这里，系统根据第一查询表达式，生成维度字段组合的字段名称到第一查询表达式的映射。
（2）：所述第一查询表达式基于所述映射关系，查询所述目标半导体测试数据集中维度字段组合名称相对应的字段值列表。
这里，使用新增的维度字段组合名称进行分析时，系统根据配置，生成字段名到查询表达式的映射，查询时把字段名替换成第二查询表达式进行查询。
在一种可能的实施方式中，在所述针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表之后，所述查询方法包括：
检测所述维度字段组合名称相对应的字段值列表是否正常显示；若是，则保存所述第一查询表达式；若否，则更改所述第一查询表达式。
这里，预览维度字段组合名称相对应的字段值列表，系统根据表达式配置，生成字段名到第一查询表达式的映射，查询数据集中新字段的值的列表。如果列表正常显示，说明第一查询表达式没有问题，保存设置。否则，修改第一查询表达式。
在具体实施例中，对于用多个固定维度字段组合成新的维度字段，本发明所提供的方案为，通过查询表达式，把多个维度字段组合成新的维度字段。设置新的维度字段名称，置包含已有维度字段名称的新字段的查询表达式。预览新字段的值的列表，系统验证输入的查询表达式是否合法，如果合法，保存设置，新增维度字段成功，在使用新增的维度字段进行分析时，系统根据字段配置，生成新维度字段名到查询表达式的映射，查询时把对应字段替换成查询表达式。
进一步的，请参阅图3，图3为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询方法中字段组合的流程图。如图3所示，S301：设置新的维度字段名称。S302：设置包含已有维度字段名称的新字段的查询表达式。S303：预览新字段的值的列表。S304：如果列表正常显示，保存设置。S305：使用新增的维度字段进行分析时，系统根据配置，生成字段名到查询表达式的映射，查询时把字段名替换成查询表达式进行查询。
这里，半导体测试行业中，不同厂家不同测试程序，写入STDF中的信息的格式是各不相同的。比如，有的厂家严格遵循STDF规范，TEST_STAGE（测试阶段）写入了MIR中的TEST_COD字段；但是有的厂家不遵循规范，而是把TEST_STAGE信息写入了文件名中。此外，很多测试程序会把测试条件信息，写入到测试项名称中。这就给半导体BI分析系统带来了一些挑战。在半导体BI系统中，可供分析使用的维度字段，在数据建模的时候已经确定下来了，不会针对不同厂商的不同格式去设计不同的字段。但是业内用户在分析测试数据的时候，又需要从这些格式不同的信息中提取需要的信息进行分析。所以，针对这种缺陷，本方案提供一种能够在分析时实时根据用户的设置从固定维度字段中，尤其是测试项中，抽取更多动态字段，或者多个字段组合成新的动态字段。
本申请实施例提供的一种半导体测试数据的查询方法，所述查询方法包括：获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，尤其是从测试项中抽取更多字段信息，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，为数据分析提供了更多的可能性，提高了数据查询的便捷性。
请参阅图4、图5，图4为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询装置的结构示意图之一；图5为本申请实施例所提供的一种半导体测试数据的查询装置的结构示意图之二。如图4中所示，所述半导体测试数据的查询装置400包括：
获取模块410，用于获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；
字段抽取模块420，用于针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；
字段组合模块430，用于针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。
进一步的，所述字段抽取模块420通过以下步骤确定出所述正则表达式：
基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称以及字段名称；
基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
进一步的，如图5所示，所述半导体测试数据的查询装置400还包括第一检测模块440，所述第一检测模块440用于：
检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求；
若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出=所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
进一步的，字段组合模块430在用于所述基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表时，字段组合模块430具体用于：
基于所述第一查询表达式，确定出所述维度字段组合的字段名称与所述第一查询表达式的映射关系；
所述第一查询表达式基于所述映射关系，查询所述目标半导体测试数据集中维度字段组合名称相对应的字段值列表。
进一步的，如图5所示，所述半导体测试数据的查询装置400还包括第二检测模块450，所述第二检测模块450用于：
检测所述维度字段组合名称相对应的字段值列表是否正常显示；
若是，则保存所述第一查询表达式；
若否，则更改所述第一查询表达式。
本申请实施例提供的一种半导体测试数据的查询装置，所述查询装置包括：获取模块，用于获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；字段抽取模块，用于针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；字段组合模块，用于针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表。实现了可以自由的从已有字段中抽取更多动态字段，尤其是从测试项中抽取更多字段信息，还可以将多个字段灵活组合成新的字段进行分析，为数据分析提供了更多的可能性，提高了数据查询的便捷性。
请参阅图6，图6为本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。如图6中所示，所述电子设备600包括处理器610、存储器620和总线630。
所述存储器620存储有所述处理器610可执行的机器可读指令，当电子设备600运行时，所述处理器610与所述存储器620之间通过总线630通信，所述机器可读指令被所述处理器610执行时，可以执行如上述图1所示方法实施例中的半导体测试数据的查询方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时可以执行如上述图1所示方法实施例中的半导体测试数据的查询方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本申请的具体实施方式，用以说明本申请的技术方案，而非对其限制，本申请的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种半导体测试数据的查询方法，其特征在于，所述查询方法包括：
获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；其中，字段抽取请求是在测试项中确定出目标抽取字段的字段值列表，字段组合请求是将多个维度字段进行组合确定出维度字段组合名称对应的字段值列表；
针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；
针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表；
通过以下步骤确定出所述正则表达式：
基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称；
基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
2.根据权利要求1所述的查询方法，其特征在于，在所述基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表之后，所述查询方法还包括：
检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求；
若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
3.根据权利要求1所述的查询方法，其特征在于，所述基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表，包括：
基于所述第一查询表达式，确定出所述维度字段组合的字段名称与所述第一查询表达式的映射关系；
所述第一查询表达式基于所述映射关系，查询所述目标半导体测试数据集中维度字段组合名称相对应的字段值列表。
4.根据权利要求1所述的查询方法，其特征在于，在所述针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表之后，所述查询方法包括：
检测所述维度字段组合名称相对应的字段值列表是否正常显示；
若是，则保存所述第一查询表达式；
若否，则更改所述第一查询表达式。
5.一种半导体测试数据的查询装置，其特征在于，所述查询装置包括：
获取模块，用于获取目标半导体测试数据集以及对所述目标半导体测试数据集的查询请求；其中，所述查询请求包括字段抽取请求以及字段组合请求；其中，字段抽取请求是在测试项中确定出目标抽取字段的字段值列表，字段组合请求是将多个维度字段进行组合确定出维度字段组合名称对应的字段值列表；
字段抽取模块，用于针对于所述字段抽取请求，基于所述目标半导体测试数据集中目标抽取维度字段对应的数据值集合确定出包含所述目标抽取维度字段的名称的正则表达式，基于所述正则表达式确定出所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表；
字段组合模块，用于针对于所述字段组合请求，基于维度字段组合名称确定出所述维度字段组合名称相对应的第一查询表达式，基于所述第一查询表达式在所述目标半导体测试数据集中确定出所述维度字段组合名称相对应的字段值列表；
所述字段抽取模块通过以下步骤确定出所述正则表达式：
基于所述目标抽取维度字段对应的数据值集合，确定出所述目标抽取维度字段相对应的格式信息相同的目标测试项；其中，目标测试项名称包括所述目标抽取维度字段的名称；
基于所述目标测试项中的多个字段名称，确定出所述正则表达式。
6.根据权利要求5所述的查询装置，其特征在于，所述查询装置还包括第一检测模块，所述第一检测模块用于：
检测所述目标抽取维度字段对应的字段名称列表以及字段值列表是否均满足预设要求；
若是，则保存所述正则表达式，并基于所述正则表达式确定出=所述目标抽取维度字段对应的字段的第二查询表达式，并基于所述字段的第二查询表达式进行数据查询。
7.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过所述总线进行通信，所述机器可读指令被所述处理器运行时执行如权利要求1至4任一所述的半导体测试数据的查询方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至4任一所述的半导体测试数据的查询方法的步骤。
CN202310574419.7A 2023-05-22 2023-05-22 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质 Active CN116303627B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310574419.7A CN116303627B (zh) 2023-05-22 2023-05-22 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310574419.7A CN116303627B (zh) 2023-05-22 2023-05-22 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116303627A CN116303627A (zh) 2023-06-23
CN116303627B true CN116303627B (zh) 2023-09-19

Family

ID=86785337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310574419.7A Active CN116303627B (zh) 2023-05-22 2023-05-22 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116303627B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10705695B1 (en) * 2016-09-26 2020-07-07 Splunk Inc. Display of interactive expressions based on field name selections
CN111459978A (zh) * 2020-03-20 2020-07-28 平安国际智慧城市科技股份有限公司 查询方法、装置、计算机设备和存储介质
US11327962B1 (en) * 2020-01-23 2022-05-10 Rockset, Inc. Real-time analytical database system for querying data of transactional systems

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9002755B2 (en) * 2013-02-05 2015-04-07 scenarioDNA System and method for culture mapping
US10860576B2 (en) * 2018-01-26 2020-12-08 Vmware, Inc. Splitting a query into native query operations and post-processing operations

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10705695B1 (en) * 2016-09-26 2020-07-07 Splunk Inc. Display of interactive expressions based on field name selections
US11327962B1 (en) * 2020-01-23 2022-05-10 Rockset, Inc. Real-time analytical database system for querying data of transactional systems
CN111459978A (zh) * 2020-03-20 2020-07-28 平安国际智慧城市科技股份有限公司 查询方法、装置、计算机设备和存储介质
WO2021184572A1 (zh) * 2020-03-20 2021-09-23 平安国际智慧城市科技股份有限公司 查询方法、装置、计算机设备和存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN116303627A (zh) 2023-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107391744B (zh) 数据存储、读取方法、装置及其设备
US7904460B2 (en) Determining computer information from processor properties
CN108932257B (zh) 多维度数据的查询方法及装置
CN111339171B (zh) 数据查询的方法、装置及设备
US8935288B2 (en) User specific logs in multi-user applications
CN113360519B (zh) 数据处理方法、装置、设备和存储介质
CN111367976A (zh) 基于java反射机制的excel文件数据的导出方法及装置
CN116340367B (zh) 数据查询方法、装置、设备和存储介质
CN114116762A (zh) 一种离线数据模糊搜索方法、装置、设备和介质
US20080091644A1 (en) Correlation of Resource Usage in a Database Tier to Software Instructions Executing in Other Tiers of a Multi Tier Application
CN111125226B (zh) 一种配置数据采集方法及装置
CN116303627B (zh) 半导体测试数据的查询方法、装置、电子设备及存储介质
CN110727565B (zh) 一种网络设备平台信息收集方法及系统
CN112567375A (zh) 形式验证方法、信息识别方法、设备和存储介质
CN108521527B (zh) 话单差异检测方法、系统、计算机存储介质及计算机设备
CN114020813A (zh) 基于哈希算法的数据比对方法、装置、设备及存储介质
CN111858609A (zh) 区块链模糊查询方法及装置
CN112036130B (zh) Excel数据的导出方法及装置、电子设备
JP2019128616A (ja) 評価プログラム、評価方法及び情報処理装置
US8423532B1 (en) Managing data indexed by a search engine
CN115686656A (zh) 基于加载程序库的so文件hook方法、设备和介质
CN107729013B (zh) 管理网页上操作按钮的方法和计算机可读存储介质
CN116244328A (zh) 数据采集方法、装置、设备及存储介质
CN113704055A (zh) kubernetes集群的日志筛选方法、装置及设备
CN110489125A (zh) 文件管理方法和计算机存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant