CN116026263B - 测厚校准方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents
测厚校准方法、装置、设备和存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116026263B CN116026263B CN202310323640.5A CN202310323640A CN116026263B CN 116026263 B CN116026263 B CN 116026263B CN 202310323640 A CN202310323640 A CN 202310323640A CN 116026263 B CN116026263 B CN 116026263B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- scanning
- data
- calibration
- thickness gauge
- determining
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 64
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 79
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 45
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 21
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 20
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 16
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 15
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 abstract description 16
- 239000000047 product Substances 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 11
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000036541 health Effects 0.000 description 3
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
本发明公开了一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质。该测厚校准方法包括：获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；获取所述校准样片的标准数据；基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。通过采用上述方案，解决了解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。
Description
技术领域
本发明涉及测厚仪的技术领域，尤其涉及一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质。
背景技术
机器视觉是人工智能正在快速发展的一个分支。简单说来，机器视觉就是用机器代替人眼来做测量和判断。在锂电池极片的涂敷生产环节，需要使用测厚仪这一机器视觉产品对锂电池极片进行实时在线厚度或者面密度检测，测厚仪通常为射线测厚仪，在电池极片整个涂布生产过程中，测厚仪的射线检测窗口持续不断的发出射线对产线上电池极片进行在线扫描，以达到实时检测产线上电池极片涂布的质量，即检测电池极片的厚度或者面密度等。
由于锂电池极片涂布生产车间常年持续生产，产线设备几乎没有停机时间，因此测厚仪也处于常年持续运行的状态，因此测厚仪设备长期高强度的运行，对设备结构考验极大，且随着时间的推移，测厚仪设备的运行导轨，支撑机构等逐渐出现松动磨损的现象，这将直接导致测厚仪的整机检测精度降低，检测准确性无法得到有效保障。目前行业中针对这一问题主要采取的办法是，测厚仪定期进行校准，即设定一个周期时间，将测厚仪的传感器退出到被测材料外边静止，然后启动测厚仪内部校准程序，但此方法存在一个严重的缺陷，即测厚仪只能自检出因射线装置松动衰减造成的影响，且该自校验所修正的也只是静态状态下的误差波动，而对于测厚仪整个传感器扫描行程内的误差波动无法进行检测和校准。并且在设备无法判断自身结构是否稳定的情况下进行生产操作，对厂家所生产的产品带来极大的安全隐患。
发明内容
本发明提供了一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质，以解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。
根据本发明的一方面，提供了一种测厚校准方法，用于测厚仪的校准，所述测厚校准方法包括：
获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
获取所述校准样片的标准数据；
基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
在本发明的可选实施例中，所述确定所述标准差是否满足第一预设校准规则，包括：
确定所述标准差是否大于第一预设值；
若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；
若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。
在本发明的可选实施例中，所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之前，还包括：
计算所述扫描数据的欧式距离；
确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；
若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；
若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。
在本发明的可选实施例中，所述确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，包括：
确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值；
若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算所述扫描数据的欧式距离，包括：
计算所述正行扫描数据的第一欧式距离；
计算所述反行扫描数据的第二欧式距离；
相应的，所述确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值，包括：
确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值；
若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述正行扫描数据的数量为至少两个，所述反行扫描数据的数量为至少两个；所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，包括：
基于所述正行扫描数据和所述标准数据确定正行扫描补偿量；
基于所述反行扫描数据和所述标准数据确定反行扫描补偿量；
相应的，所述基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，包括：
基于所述正行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到正行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的正行扫描计算公式，/>
为修正前的扫描计算公式，/>
为正行扫描补偿量；
基于所述反行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到反行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的反行扫描计算公式，/>
为反行扫描补偿量。
在本发明的可选实施例中，所述测厚仪包括测厚仪本体，测厚仪本体上设有射线检测窗口和样片驱动机构，所述样片驱动机构用于驱动校准样片运动至所述射线检测窗口；
所述获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，包括：
控制样片驱动机构驱动校准样片运动至射线检测窗口；
获取所述射线检测窗口发出射线扫描所述校准样片得到的扫描数据。
根据本发明的另一方面，提供了一种测厚校准装置，所述测厚校准装置包括：
扫描数据获取模块，用于获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
标准数据获取模块，用于获取所述校准样片的标准数据；
标准差确定模块，用于基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
规则确定模块，用于确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
修正模块，用于若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的测厚校准方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的测厚校准方法。
本发明实施例的技术方案，通过采用测厚仪对校准样片进行扫描，根据扫描得到的扫描数据进行分析，在测厚仪结构已经松动和磨损状态时算出扫描补偿量，通过扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，修正后的扫描计算公式便能够应用到后期的检测中，以此达到对测厚仪整机结构稳定性的判断，以及对结构松动磨损的修正补偿，此方法达到了直观评估设备结构稳定性的效果，无需将测厚仪的传感器拆出进行校准，能够直接对测厚仪进行校准，且能够对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准，以使测厚仪检测得到的数据更精准。对厂家来说可以有效评估设备的结构健康状态，提升对产品质量的把控，提升最终产品的安全性；同时也可以提升产品的良品率，避免产线生产的产品由于检测数据真实性存在风险，导致后工段需增设复检和报废的情况，节省财力物力。从而解决了解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一提供的一种测厚校准方法的流程图；
图2为测厚仪对校准样片扫描得到的扫描数据曲线；
图3为基于修正后的扫描计算公式对校准样片进行扫描得到的扫描数据曲线；
图4为测厚仪对校准样片进行正行扫描得到的两轮正行扫描数据的曲线图；
图5为测厚仪对校准样片进行反行扫描得到的两轮反行扫描数据的曲线图；
图6为测厚校准后对校准样片再次扫描得到的扫描数据曲线图；
图7是测厚仪的部分结构示意图；
图8为本发明实施例二提供的一种测厚校准方法的流程图；
图9为本发明实施例三提供的一种测厚校准方法的流程图
图10为本发明实施例四提供的一种测厚校准装置的结构示意图；
图11是实现本发明实施例的测厚校准方法的电子设备的结构示意图。
其中：6、样片驱动机构；61、电机；62、运动导辊；63、固定载具；7、测厚仪本体；8、射线检测窗口。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种测厚校准方法的流程图，本实施例可适用于测厚仪的校准情况，该方法可以由测厚校准装置来执行，该测厚校准装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该测厚校准装置可配置于测厚仪内部的控制芯片中。如图1所示，该测厚校准方法包括：
S110、获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个。
其中，校准样片是指用于对测厚仪进行校准的样片，校准样片的参数为已知量，测厚仪在进行测试时，通常发出射线对需要进行测试的产品在线扫描，以达到检测产品的参数，根据检测需求的不同，检测的参数也会不同，在此不做具体限定。扫描数据是指测厚仪对校准样片进行扫描得到的校准样片的参数，例如可为厚度或者面密度等。
S120、获取所述校准样片的标准数据。
其中，标准数据是指校准样片真实的参数标准值。
S130、基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差。
其中，扫描补偿量是扫描数据和标准数据的差值，对于每一次测量来说，标准数据A0=扫描数据S+扫描补偿量C（x）。当测厚仪整机结构工况处于正常状态下，无论测厚仪处于任何扫描位置，所检测到的校准样片的扫描数据均应当为校准样片的标准数据，因此，扫描补偿量的大小能够反映测厚仪整机结构是否出现故障。此外，由于行业里通用的测厚仪的数据采样模式通常为定距采样，即在测厚仪传感器运行的过程中，传感器按照固定单位距离以此进行数据采集。所以在一次扫描过程中，会得到多个不同位置的数据。标准差（Standard Deviation），数学术语，是离均差平方的算术平均数（即：方差）的算术平方根，用σ表示，标准差能反映一个数据集的离散程度。故通过确定扫描补偿量的标准差，扫描补偿量的标准差能够更精准的反映测厚仪整机结构是否出现故障。在一个具体的实施例中，扫描补偿量的标准差通过下式得到：
其中，扫描补偿量为C（x），
为扫描补偿量的标准差，r为补偿量C（x）的均值，N为扫描数组中项数。
S140、确定所述标准差是否满足第一预设校准规则。
若满足第一预设校准规则，执行步骤S150。
其中，第一预设校准规则是指测厚仪整机结构发生故障时扫描补偿量的标准差会满足的规则。
S150、基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
其中，扫描计算公式是指测厚仪在测量时用于计算扫描数据的公式，扫描补偿量是扫描数据和标准数据的差值，当测厚仪整机结构工况处于正常状态下，无论测厚仪处于任何扫描位置，所检测到的校准样片的扫描数据均应当为校准样片的标准数据，因此可以通过扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，实现对测厚仪的校准，使得测厚仪在校准后能够检测得到更为精准的数据。在一个具体的实施例中，根据测厚仪的基础计算公式根据朗伯比尔定律变化可得所述测厚仪的扫描计算公式：
；公式中x为测厚仪运行过程中传感器的扫描位置坐标，N（x）为测厚仪传感器处于位置x处的采样值，N0为初始传感器初始采样值，k为测厚仪标定线性系数，b为测厚仪偏移补偿系数。假设扫描补偿量为C（x），修正后的扫描计算公式即为/>
。
以下以一个具体的实施例说明校准效果，在本实施例中，校准样片的真实面密度值是341，即标准数据为341，如图2和图3所示，图2为测厚仪对校准样片扫描得到的扫描数据曲线，S1和S2分别为对校准样片进行正行扫描和反行得到的扫描数据曲线，横坐标为测厚仪的扫描幅宽，纵坐标为扫描检测到的密度值，即扫描数据。可以看出此时得到的扫描数据曲线在不同位置的值均与标准数据有偏差，波动较大。图3为基于修正后的扫描计算公式对校准样片进行扫描得到的扫描数据曲线，可以看出此时测厚仪再次扫描校准样片所得的扫描数据曲线波形在设备整个扫描行程内均处于同一个稳定值，且与校准样片的标准数据一致，从而实现了对测厚仪的校准。
上述方案，通过采用测厚仪对校准样片进行扫描，根据扫描得到的扫描数据进行分析，在测厚仪结构已经松动和磨损状态时算出扫描补偿量，通过扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，修正后的扫描计算公式便能够应用到后期的检测中，以此达到对测厚仪整机结构稳定性的判断，以及对结构松动磨损的修正补偿，此方法达到了直观评估设备结构稳定性的效果，无需将测厚仪的传感器拆出进行校准，能够直接对测厚仪进行校准，且能够对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准，以使测厚仪检测得到的数据更精准。对厂家来说可以有效评估设备的结构健康状态，提升对产品质量的把控，提升最终产品的安全性；同时也可以提升产品的良品率，避免产线生产的产品由于检测数据真实性存在风险，导致后工段需增设复检和报废的情况，节省财力物力。从而解决了解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。
此外，该测厚校准方法可根据厂家工艺安排来定，可使其在厂家的常规设备维护期间进行，因为产线在进行设备维护时，会将产线上的带材隔断进行托辊表面检查维护，此时刚好满足本方法实施需要产线材料断开的条件。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述正行扫描数据的数量为至少两个，所述反行扫描数据的数量为至少两个；所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，包括：
基于所述正行扫描数据和所述标准数据确定正行扫描补偿量。
基于所述反行扫描数据和所述标准数据确定反行扫描补偿量。
其中，正行扫描数据是指测厚仪对校准样片进行正行扫描得到的数据，反行扫描数据是指测厚仪对校准样片进行反行扫描得到的数据，正行和反行为相反的方向。由于测厚仪本身的性能指标非常高，因此测厚仪传感器在测厚仪所运行的任何位置都能满足设备的指标参数，进一步的，假如测厚仪在扫描运行过程中，对着同一位置进行跟随扫描，则测厚仪检测的面密度值将完全一样，即在数据波形曲线上呈现为一条尽可能的直线。因此当测厚仪结构出现变动，则达不到上述现象，加之测厚仪的传感器是通过伺服电机进行往复循环扫描的，所以对于测厚仪结构本身来说，测厚仪的正向运行和反向运行存在一定回差，因此需要将正行和反向分别进行判断和校准。
正行扫描补偿量是指对测厚仪的正向运行存在的检测偏差进行补偿的量，反行扫描补偿量是指对测厚仪的反向运行存在的检测偏差进行补偿的量。
相应的，所述基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，包括：
基于所述正行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到正行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的正行扫描计算公式，/>
为修正前的扫描计算公式，/>
为正行扫描补偿量。
基于所述反行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到反行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的反行扫描计算公式，/>
为反行扫描补偿量。
以下以一个具体的实施例说明测厚校准的具体方法：
在测厚仪进行结构自检的时候，测厚仪启动开始对校准样片扫描，测厚仪进行完整全服扫描两个来回，所有扫描数据如下，
对于测厚仪设备来说，若设备整机结构工况处于正常状态时，无论测厚仪传感器处于任何扫描位置x，所检测到的面密度数据均为传感器内部的样片真实面密度值A0，即标准数据为A0，即
=A0，/>
=A0，/>
=A0，/>
=A0。而当测厚仪设备结构存在松动磨损的情况，测试得到的扫描数据会与标准数据A0有差距，在此具体实施例中,A0为341，图4为测厚仪对校准样片进行正行扫描得到的两轮正行扫描数据的曲线图，图5为测厚仪对校准样片进行反行扫描得到的两轮反行扫描数据的曲线图，由图4和图5可看出，此时正行扫描数据和反行扫描数据均与标准数据有一定的偏差，测厚仪检测的横向一致性较差。
因此对于测厚仪设备结构存在松动磨损的情况，引入补偿量C（x）（对于每一次测量来说，对于每一次测量来说，标准数据A0=扫描数据S+扫描补偿量C（x）。通过判断扫描补偿量C（x）的标准差σ是否满足第一预设校准规则，当满足第一预设校准规则时，分别计算测厚仪结构正行扫描补偿量
和反行扫描补偿量/>
。
然后测厚仪在之后的正常检测过程中，将通过正行扫描补偿量
和反行扫描补偿量/>
修正测厚仪的扫描计算公式，如下所示：
在本发明的可选实施例中，如图7所示，所述测厚仪包括测厚仪本体7，测厚仪本体7上设有射线检测窗口8和样片驱动机构6，所述样片驱动机构6用于驱动校准样片运动至所述射线检测窗口8。
所述获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，包括：
控制样片驱动机构6驱动校准样片运动至射线检测窗口8。
获取所述射线检测窗口8发出射线扫描所述校准样片得到的扫描数据。
其中，如图7所示，测厚仪本体7是指测厚仪的主体部分，射线检测窗口8是指发出射线的位置，样片驱动机构6是指能够驱动校准样片运动至射线检测窗口8的机构，在一个具体的实施例中，样片驱动机构6包括电机61、运动导辊62和固定载具63，所述固定载具63用于承载校准样片，所述固定载具63可活动的设置在所述运动导辊62上，所述运动导辊62用于对固定载具63进行导向，以使固定载具63带动校准样片运动至与射线检测窗口8相对或分离，所述电机61用于驱动固定载具63运动。故电机61正转和反转时，固定载具63会沿不同的方向运动，此时校准样片便能够运动至与射线检测窗口8相对或者分离。在需要进行校准时，将校准样片承载至与射线检测窗口8相对，在无需校准时将校准样片移开不再与射线检测窗口8相对。
通过控制样片驱动机构6驱动校准样片运动至射线检测窗口8，由于测厚仪进行检测时是通过射线检测窗口8发出射线进行扫描，所以此时测厚仪发出的射线能够扫描所述校准样片得到扫描数据。通过此方式，可以方便的在需要校准时才驱动校准样片运动至射线检测窗口8，较为方便。
实施例二
图8为本发明实施例二提供的一种测厚校准方法的流程图，本实施例可选的，所述确定所述标准差是否满足第一预设校准规则，包括：确定所述标准差是否大于第一预设值；若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。基于此，如图8所示，该方法包括：
S210、获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个。
S220、获取所述校准样片的标准数据。
S230、基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差。
S240、确定所述标准差是否大于第一预设值。
若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则，执行步骤S250，若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，结束校准，执行步骤S260。
S250、基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
S260、发出结构稳定提醒信息。
其中，扫描补偿量的标准差反映了扫描数据和标准数据的偏差情况，第一预设值是指测厚仪整机结构发生故障时扫描补偿量的标准差的阈值，当所述标准差大于所述第一预设值，说明此时扫描数据与标准数据的偏差过大，即整机结构磨损松动造成的偏差过大，所以需要进行校准。当所述标准差小于或等于所述第一预设值，说明此时扫描数据与标准数据的偏差处于合理的范围，整机结构稳定良好，无需进行校准，所以结束校准。结构稳定提醒信息是指提醒测试人员知晓测厚仪整机机构稳定的信息，例如可通过显示装置弹窗提示“本机结构稳定”，通过发出结构稳定提醒信息，便于测试人员知晓测厚仪整机机构稳定，无需进行校准。
上述方案，能够方便的根据扫描补偿量的标准差判断测厚仪是否需要进行校准，在需要进行校准时通过扫描补偿量对扫描计算公式进行修正实现校准，在无需校准时结束校准流程并发出结构稳定提醒信息使得测试人员及时知晓情况。
可选的，所述基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之后，还包括：发出校准信息。
其中，校准信息是指提示测试人员测厚仪已进行校准的信息，例如可通过显示装置弹窗提示“本机结构存在老化，已通过算法校准”。便于测试人员及时知晓校准已完成的情况。
实施例三
图9为本发明实施例三提供的一种测厚校准方法的流程图，本实施例可选的，所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之前，还包括：计算所述扫描数据的欧式距离；确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。基于此，如图9所示，该方法包括：
S310、获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个。
S320、获取所述校准样片的标准数据。
S330、基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差。
S340、确定所述标准差是否大于第一预设值。
若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则，执行步骤S350，若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，执行步骤S360。
S350、计算所述扫描数据的欧式距离。
其中，欧几里得度量（euclidean metric）（也称欧氏距离）是一个通常采用的距离定义，指在m维空间中两个点之间的真实距离，或者向量的自然长度（即该点到原点的距离）。在二维和三维空间中的欧氏距离就是两点之间的实际距离。扫描数据的欧式距离能够反映出测厚仪结构松动带来的测量偏差是否稳定。
S360、确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则。
若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行步骤S370、基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式；若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行步骤S370、基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，结束校准，并执行步骤S390、发出告警信息。
其中，第二预设校准规则是指测厚仪结构松动带来的测量偏差较为稳定时欧式距离会满足的规则。当所述标准差满足第一预设校准规则，说明此时测厚仪结构存在松动磨损，此时确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，若所述欧式距离符合第二预设校准规则，说明测厚仪结构松动带来的测量偏差较为稳定，此时可通过算法对测厚仪进行校准，故执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤。当所述欧式距离不符合第二预设校准规则，说明测厚仪结构松动带来的测量偏差不稳定，无法通过算法对测厚仪进行校准，故此时不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，同时发出告警信息，使得相关人员能够及时进行处理。
S370、基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
S380、发出结构稳定提醒信息。
S390、发出告警信息。
其中，告警信息是指提示相关人员及时对测厚仪进行处理的信息，例如可通过显示装置弹窗提示“本机结构存在严重老化，请相关人员及时处理”。
上述方案，不仅能够确定测厚仪是否出现结构松动磨损导致测试得到的扫描数据有误，还能够根据欧式距离确定测厚仪结构松动磨损导致的扫描数据偏差是否能够进行校准，在能够进行校准时才对所述测厚仪的扫描计算公式进行修正，使修正后测厚仪整个扫描行程内所有的测量点位的波动值控制到设备性能指标要求范围内，在测厚仪老化严重，结构松动磨损导致的扫描数据偏差无法进行校准时不进行校准，发出告警信息提示相关人员该测厚仪已老化严重无法进行校准，以此达到对测厚仪设备结构整机的性能检测和校准，有效弥补了测厚仪设备没有结构稳定性自检的致命缺陷。并且在测厚仪设备存在结构稳定性变动后，进行自检校准后程序自动进行校准，减小测厚仪结构松动磨损对检测精度的影响，对厂家来说可以有效评估设备的结构健康状态，有效提高了厂家产品生产的质量保障，提升最终产品的安全性。。
在本发明的可选实施例中，所述确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，包括：
确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值。
若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则。
若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
其中，第二预设值是指测厚仪结构松动磨损导致的扫描数据偏差较为稳定时不会大于的阈值，当所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，说明此时测厚仪结构松动磨损导致的扫描数据偏差较为稳定，故可以对测厚仪进行校准，当所述欧式距离大于所述第二预设值，说明测厚仪结构松动磨损导致的扫描数据偏差不够稳定，无法进行校准。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算所述扫描数据的欧式距离，包括：
计算所述正行扫描数据的第一欧式距离。
计算所述反行扫描数据的第二欧式距离。
相应的，所述确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值，包括：
确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值。
若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则。
若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
其中，正行扫描数据是指测厚仪对校准样片进行正行扫描得到的数据，反行扫描数据是指测厚仪对校准样片进行反行扫描得到的数据，正行和反行为相反的方向。由于测厚仪本身的性能指标非常高，因此测厚仪传感器在测厚仪所运行的任何位置都能满足设备的指标参数，进一步的，假如测厚仪在扫描运行过程中，对着同一位置进行跟随扫描，则测厚仪检测的面密度值将完全一样，即在数据波形曲线上呈现为一条尽可能的直线。因此当测厚仪结构出现变动，则达不到上述现象，加之测厚仪的传感器是通过伺服电机进行往复循环扫描的，所以对于测厚仪结构本身来说，测厚仪的正向运行和反向运行存在一定回差，因此需要将正行和反向分别进行判断和校准。
第一欧式距离是指根据所述正行扫描数据得到的欧式距离，反映了正行扫描数据中各数据的偏差情况，在一个具体的实施例中，正行扫描数据包括
和/>
，此时第一欧式距离通过下式可以得到：
第二欧式距离是指根据所述反行扫描数据得到的欧式距离，反映了反行扫描数据中各数据的偏差情况，在一个具体的实施例中，正行扫描数据包括
和/>
，此时第二欧式距离通过下式可以得到：/>
若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，说明无论是正行扫描还是反行扫描，得到的数据的偏差情况均在预设范围内，即测厚仪结构松动磨损导致的正行扫描数据和反行扫描数据均偏差较为稳定，故此时测厚仪可以进行校准，确定符合第二预设校准规则。若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，判断该测厚仪结构松动磨损严重，无法通过校准修复，故确定不符合第二预设校准规则。
综上，通过上述方式，能够对测厚仪的正向运行和反向运行均进行校准，校准较为全面。
实施例四
图10为本发明实施例四提供的一种测厚校准装置的结构示意图。如图10所示，该测厚校准装置包括：
扫描数据获取模块61，用于获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个。
标准数据获取模块62，用于获取所述校准样片的标准数据。
标准差确定模块63，用于基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差。
规则确定模块64，用于确定所述标准差是否满足第一预设校准规则。
修正模块65，用于若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
在本发明的可选实施例中，规则确定模块64包括：
第一规则确定子模块，用于确定所述标准差是否大于第一预设值；
第二规则确定子模块，用于若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；
第三规则确定子模块，用于若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。
在本发明的可选实施例中，所述测厚校准装置还包括：
计算模块，用于计算所述扫描数据的欧式距离；
距离确定模块，用于确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；
第一执行模块，用于若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；
第二执行模块，用于若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。
在本发明的可选实施例中，所述距离确定模块包括：
第一距离确定子模块，用于确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值；
第二距离确定子模块，用于若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
第三距离确定子模块，用于若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算模块包括：
第一计算子模块，用于计算所述正行扫描数据的第一欧式距离；
第二计算子模块，用于计算所述反行扫描数据的第二欧式距离；
相应的，所述第一距离确定子模块包括：
第一距离确定子单元，用于确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值；
第二距离确定子单元，用于若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
第三距离确定子单元，用于若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
在本发明的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述正行扫描数据的数量为至少两个，所述反行扫描数据的数量为至少两个；所述修正模块65包括：
第一补偿确定子模块，用于基于所述正行扫描数据和所述标准数据确定正行扫描补偿量；
第二补偿确定子模块，用于基于所述反行扫描数据和所述标准数据确定反行扫描补偿量；
第一修正子模块，用于基于所述正行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到正行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的正行扫描计算公式，/>
为修正前的扫描计算公式，/>
为正行扫描补偿量；
第二修正子模块，用于基于所述反行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到反行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的反行扫描计算公式，/>
为反行扫描补偿量。
在本发明的可选实施例中，所述测厚仪包括测厚仪本体，测厚仪本体上设有射线检测窗口和样片驱动机构，所述样片驱动机构用于驱动校准样片运动至所述射线检测窗口；所述扫描数据获取模块61包括：
控制子模块，用于控制样片驱动机构驱动校准样片运动至射线检测窗口。
扫描数据获取子模块，用于获取所述射线检测窗口发出射线扫描所述校准样片得到的扫描数据。。
实施例五
图11示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备（如头盔、眼镜、手表等）和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图11所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器（ROM）12、随机访问存储器（RAM）13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器（ROM）12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器（RAM）13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM12以及RAM13通过总线14彼此相连。输入/输出（I/O）接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元（CPU）、图形处理单元（GPU）、各种专用的人工智能（AI）计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器（DSP）、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如测厚校准方法。
在一些实施例中，测厚校准方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的测厚校准方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式（例如，借助于固件）而被配置为执行测厚校准方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、专用标准产品（ASSP）、芯片上系统的系统（SOC）、负载可编程逻辑设备（CPLD）、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM或快闪存储器）、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器（CD-ROM）、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置（例如，CRT（阴极射线管）或者LCD（液晶显示器）监视器）；以及键盘和指向装置（例如，鼠标或者轨迹球），用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈（例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈）；并且可以用任何形式（包括声输入、语音输入或者、触觉输入）来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统（例如，作为数据服务器）、或者包括中间件部件的计算系统（例如，应用服务器）、或者包括前端部件的计算系统（例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互）、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信（例如，通信网络）来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网（LAN）、广域网（WAN）、区块链网络和互联网。
计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。
Claims (9)
1.一种测厚校准方法，用于测厚仪的校准，其特征在于，包括：
获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
获取所述校准样片的标准数据；
基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式；
所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之前，还包括：
计算所述扫描数据的欧式距离；
确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；
若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；
若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。
2.根据权利要求1所述的测厚校准方法，其特征在于，所述确定所述标准差是否满足第一预设校准规则，包括：
确定所述标准差是否大于第一预设值；
若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；
若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。
3.根据权利要求1所述的测厚校准方法，其特征在于，所述确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，包括：
确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值；
若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
4.根据权利要求3所述的测厚校准方法，其特征在于，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算所述扫描数据的欧式距离，包括：
计算所述正行扫描数据的第一欧式距离；
计算所述反行扫描数据的第二欧式距离；
相应的，所述确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值，包括：
确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值；
若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测厚校准方法，其特征在于，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述正行扫描数据的数量为至少两个，所述反行扫描数据的数量为至少两个；所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，包括：
基于所述正行扫描数据和所述标准数据确定正行扫描补偿量；
基于所述反行扫描数据和所述标准数据确定反行扫描补偿量；
相应的，所述基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，包括：
基于所述正行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到正行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的正行扫描计算公式，/>
为修正前的扫描计算公式，/>
为正行扫描补偿量；
基于所述反行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到反行扫描计算公式：
其中，
为修正得到的反行扫描计算公式，/>
为反行扫描补偿量。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的测厚校准方法，其特征在于，所述测厚仪包括测厚仪本体，测厚仪本体上设有射线检测窗口和样片驱动机构，所述样片驱动机构用于驱动校准样片运动至所述射线检测窗口；
所述获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，包括：
控制样片驱动机构驱动校准样片运动至射线检测窗口；
获取所述射线检测窗口发出射线扫描所述校准样片得到的扫描数据。
7.一种测厚校准装置，其特征在于，包括：
扫描数据获取模块，用于获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
标准数据获取模块，用于获取所述校准样片的标准数据；
标准差确定模块，用于基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
规则确定模块，用于确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
修正模块，用于若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式；
所述测厚校准装置还包括：
计算模块，用于计算所述扫描数据的欧式距离；
距离确定模块，用于确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；
第一执行模块，用于若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；
第二执行模块，用于若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。
8.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6中任一项所述的测厚校准方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的测厚校准方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310323640.5A CN116026263B (zh) | 2023-03-30 | 2023-03-30 | 测厚校准方法、装置、设备和存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310323640.5A CN116026263B (zh) | 2023-03-30 | 2023-03-30 | 测厚校准方法、装置、设备和存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116026263A CN116026263A (zh) | 2023-04-28 |
| CN116026263B true CN116026263B (zh) | 2023-06-20 |
Family
ID=86089681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310323640.5A Active CN116026263B (zh) | 2023-03-30 | 2023-03-30 | 测厚校准方法、装置、设备和存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116026263B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117190887B (zh) * | 2023-11-06 | 2024-01-30 | 深圳市磐锋精密技术有限公司 | 一种手机生产用气凝胶厚度自动检测系统 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113739703A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-12-03 | 浙江大学台州研究院 | 一种回转体扫描测量方法及其数据补偿校准方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4076642B2 (ja) * | 1998-11-18 | 2008-04-16 | 株式会社山文電気 | シート厚み計測装置 |
| DE102009011122B4 (de) * | 2008-05-16 | 2013-04-11 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Kalibrieren einer Dickenmesseinrichtung |
| CN102107224B (zh) * | 2009-12-24 | 2012-09-26 | 上海梅山钢铁股份有限公司 | 热轧生产中判断测厚仪和热轧板厚度异常的方法 |
| US20180188017A9 (en) * | 2011-09-15 | 2018-07-05 | William Frank Budleski | Laser Scanning Micrometer Device |
| JP5847674B2 (ja) * | 2012-09-10 | 2016-01-27 | 株式会社東芝 | Ｘ線厚さ計 |
| CN107702667B (zh) * | 2017-10-26 | 2019-12-17 | 武钢新日铁（武汉）镀锡板有限公司 | 一种新型x射线测厚仪材质补偿系统的建立方法 |
| US11644426B2 (en) * | 2020-08-11 | 2023-05-09 | Applied Materials Israel Ltd. | Methods and systems for generating calibration data for wafer analysis |
| CN113218328A (zh) * | 2021-04-14 | 2021-08-06 | 中国建筑土木建设有限公司 | 基于三维激光扫描的设备检修方法、装置、设备及介质 |
| CN115700412A (zh) * | 2021-07-30 | 2023-02-07 | 宝钢日铁汽车板有限公司 | 一种基于深度学习的热镀锌带钢镀层的控制方法 |
| CN115041528A (zh) * | 2022-06-18 | 2022-09-13 | 首钢智新迁安电磁材料有限公司 | 一种钢卷卷间厚度偏差的修正方法 |
| CN115127486A (zh) * | 2022-06-22 | 2022-09-30 | 首钢智新迁安电磁材料有限公司 | X射线测厚仪合金补偿系数的标定方法、装置及存储介质 |
-
2023
- 2023-03-30 CN CN202310323640.5A patent/CN116026263B/zh active Active
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113739703A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-12-03 | 浙江大学台州研究院 | 一种回转体扫描测量方法及其数据补偿校准方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116026263A (zh) | 2023-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108983744B (zh) | 异常诊断设备和异常诊断方法 | |
| CN116026263B (zh) | 测厚校准方法、装置、设备和存储介质 | |
| US20120253722A1 (en) | Electronic device and method for measurement of flatness of objects using the electronic device | |
| WO2022057864A1 (zh) | 检测方法、检测装置及存储介质 | |
| CN109945955B (zh) | 一种水表视觉在线检测方法及其系统 | |
| US10846605B2 (en) | Detecting a transient error in a body fluid sample | |
| JP6802921B2 (ja) | 加工物のコンピュータ断層撮影検査のためのシステムの機能状態を監視するための方法 | |
| CN116105604B (zh) | 钢管质量检测系统及检测方法 | |
| CN110646134A (zh) | 一种气压传感器的校准方法和校准装置 | |
| CN115035481A (zh) | 一种图像物距融合方法、装置、设备及存储介质 | |
| JP6394787B2 (ja) | 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム | |
| CN113792090A (zh) | 一种轧钢数据监控方法、系统、介质及电子终端 | |
| CN110020000A (zh) | 判定异常风速数据的方法和装置 | |
| CN114111576A (zh) | 一种飞机蒙皮间隙面差检测方法及传感器 | |
| CN105354844A (zh) | 基于形状拟合的边缘拐点检测方法及检测装置 | |
| CN116630306B (zh) | 一种飞机半圆头铆钉的缺陷检测方法和装置 | |
| CN111750781B (zh) | 一种基于ccd的自动测试系统及其方法 | |
| CN117393451B (zh) | 一种晶圆表面平均曲率半径的测量方法和系统 | |
| CN115655998B (zh) | 一种磨粒检测方法、装置、设备、介质和产品 | |
| US20220382247A1 (en) | Estimation method and estimation system | |
| TWI467129B (zh) | 鑄嘴平坦度之檢測方法 | |
| JP2013039782A (ja) | タイヤ用トレッドの断面形状検定方法 | |
| CN105973160A (zh) | 用于方孔保持架兜孔横梁弯曲变形的检查方法 | |
| Vasilevskyi et al. | Critical analysis of the indicators quality of manufacturing processes | |
| CN114818129A (zh) | 一种测深管安装校核方法、装置、电子设备及存储介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |