CN115995260B - 一种测试方法 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，测试方法包括：获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；基于多个第一时刻，获得目标时刻；基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。本公开通过获取多个待测对象的第一时刻以及与多个第一时刻相关的目标时刻，基于目标时刻对每个待测对象的第一时刻进行补偿，使得多个待测对象开始输出测试数据的时刻相同，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。

Description

一种测试方法

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种测试方法。

背景技术

芯片在制造出厂之前需要进行一系列测试，例如可靠性测试、老化测试、读写能力测试等。在进行读写测试时，由于芯片在制造过程中受到的制程工艺等因素的影响，不同的芯片读出数据所需的时间具有一定的差异，测试设备如果在同一时刻对多个芯片进行测试容易造成误判，导致芯片的良率较低。

发明内容

以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，所述测试方法包括：

获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

基于多个所述第一时刻，获得目标时刻；

基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，以使每个所述待测对象输出的全部测试数据的起点均为所述目标时刻；

基于每个所述待测对象的所述全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果。

本公开一些实施例中，所述获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻，包括：

以第一预设时长作为一个采集周期，采集每个所述待测对象的输出数据，每个所述采集周期中，每间隔第二预设时长作为一个采样点，分别获取每个所述待测对象开始输出所述测试数据的所述采样点的时刻作为所述第一时刻。

本公开一些实施例中，所述测试方法还包括：

按照时间先后顺序，对多个所述第一时刻进行排序，将除排序为第一的所述第一时刻之外的其余所述第一时刻分别与排序为第一的所述第一时刻作差，将差值大于第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象舍弃；

其中，所述第三预设时长小于所述第一预设时长。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

基于被保留的多个所述第一时刻，获得所述目标时刻，其中，被保留的每个所述第一时刻与排序为第一的所述第一时刻之间的差值小于或等于所述第三预设时长。

本公开一些实施例中，所述测试方法还包括：

确定所述差值大于所述第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象的所述测试结果为测试失败。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的平均值作为所述目标时刻。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的中位数作为所述目标时刻。

本公开一些实施例中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻中的最大值或者最小值作为所述目标时刻。

本公开一些实施例中，所述基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，包括：

获取每个所述待测对象的所述第一时刻与所述目标时刻之间的差值的绝对值；

获取所述目标时刻和每个所述第一时刻的先后顺序；

根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿。

本公开一些实施例中，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之前，在所述第一时刻的基础上减去所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

本公开一些实施例中，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之后，在所述第一时刻的基础上加上所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

本公开一些实施例中，所述基于每个所述待测对象的全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果，包括：

所述待测对象的所述全部测试数据与输入数据相同，则确定所述待测对象的测试结果为测试通过；

所述待测对象的所述全部测试数据与所述输入数据不同，则确定所述待测对象的测试结果为测试失败。

本公开提供的测试方法中，通过获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻，以及获取与多个第一时刻相关的目标时刻，基于目标时刻对每个待测对象的第一时刻进行补偿，使得多个待测对象开始输出测试数据的时刻相同，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。

在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

附图说明

并入到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例，并且与描述一起用于解释本公开实施例的原理。在这些附图中，类似的附图标记用于表示类似的要素。下面描述中的附图是本公开的一些实施例，而不是全部实施例。对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是不同芯片的输出数据的对比示意图。

图2是根据一示例性实施例示出的测试方法的示意图。

图3是根据一示例性实施例示出的多个待测对象的第一时刻及目标时刻的示意图。

图4是根据一示例性实施例示出的多个待测对象的第一时刻及目标时刻的示意图。

图5是根据一示例性实施例示出的获取待测对象的第一时刻的示意图。

图6是根据一示例性实施例示出的第三预设时长的对比示意图。

图7是根据一示例性实施例示出的对待测对象的第一时刻进行补偿的示意图。

图8是根据一示例性实施例示出的测试装置的结构框图。

图9是根据一示例性实施例示出的测试设备的框图。

具体实施方式

为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

芯片在制造出厂之前需要进行一系列测试，例如可靠性测试、老化测试、读写能力测试等。在进行读写测试时，由于芯片在制造过程中受到制程工艺等因素的影响，不同的芯片读出用于进行测试的数据所需的时间具有一定的差异。如图1所示，A芯片输出的有效数据的起始时刻晚于B芯片输出的有效数据的起始时刻，也即B芯片已经开始输出有效数据的时候，A芯片还没有开始输出有效数据。例如，参照图1所示，当A芯片和B芯片均存储有预设数据01010101，B芯片在第一时间点开始输出数据0（即低电位），此时A芯片输出的数据依然是1（即高电位），由于A芯片开始输出有效数据的时间相对B芯片长，A芯片在第二时间点才开始输出数据0，如果以第一时间点或者第二时间点作为测试过程获取有效数据的起始点，则会造成测试设备在同时测试A芯片和B芯片时，这样的读取方式仅能判定A芯片或B芯片测试通过。例如，以第一时间点进行判定时，B芯片测试通过，A芯片由于在第一时间点输出的有效数据为1，会造成A芯片测试失败；再例如，以第二时间点进行判定时，A芯片测试通过，此时B芯片输出的数据与预设数据不同，即B芯片测试失败。

有鉴于此，本公开提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，测试方法包括：获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；基于多个第一时刻，获得目标时刻；基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。通过获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻，并获得与多个第一时刻相关的目标时刻，基于目标时刻对每个待测对象的第一时刻进行补偿，使得多个待测对象开始输出测试数据的时刻相同，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，从而提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。

下面结合附图及具体实施例对本公开进行说明。本公开示例性的实施例提供了一种测试方法，用于对芯片进行测试，如图2所示，图2是根据一示例性实施例示出的测试方法的流程图，该测试方法包括：

步骤S100、获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

步骤S200、基于多个第一时刻，获得目标时刻；

步骤S300、基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；

步骤S400、基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。

本实施例提供的测试方法的执行主体可以是对芯片进行测试的测试装置，测试装置可以集成于测试设备或测试机台，测试设备可以被设置为具有数据集成处理能力的终端设备。芯片可以是未封装的裸片（die），也可以是封装完成的芯片，在封装完成的芯片中可以封装有一个或多个裸片，在一些实施例中，芯片例如可以是高带宽存储器（HighBandwidth Memory，HBM），本公开对此不作限制。本实施例提供的测试方法可以用于对芯片进行功能测试，比如读写有效性测试，以确保芯片具有良好的读写功能。示例性的，可以将两个裸片封装在一起作为一个测试芯片，每个裸片均被称为待测对象。在一次测试过程中，可以同时对多个测试芯片进行测试，比如2个测试芯片、4个测试芯片，也即同时对4个待测对象、8个待测对象进行测试。另外，后续在对待测对象进行舍弃的过程中（后面有详细介绍），可以仅对测试芯片中的某个待测对象进行舍弃，也可以对整个测试芯片中封装的全部芯片进行舍弃。

需要说明的是，在执行本实施例提供的测试方法之前，可以在多个待测对象中提前写入一组或多组输入数据，输入数据可以根据实际情况进行选择，例如可以是一组数据“01010101”，以便于本实施例提供的测试方法进行读取测试。

在步骤S100中，可以分别对多个待测对象中的每个待测对象进行读取测试，以读取每个待测对象中提前写入的输入数据。第一时刻可以是待测对象开始输出测试数据的时间点，例如当待测对象中的输入数据为“01010101”时，待测对象的第一时刻为开始读取到测试数据的时间点，比如，对待测对象输出的数据进行读取过程中，一开始读取的数据一直为1（即高电平），则读取的数据从1变为到0（即低电平）对应的时间点为第一时刻。由于制程工艺、生产批次等因素的影响，不同的待测对象读取到有效数据（比如从高电平数据变为低电平数据，或者，从低电平数据变为高电平数据）所需的时间可能不同，因此，每个待测对象对应的第一时刻也可能不同，为了后续对第一时刻进行补偿，需要对同时测试的所有待测对象对应的第一时刻进行获取。

在步骤S200中，目标时刻为与多个第一时刻相关的时间点，目标时刻可以是基于多个第一时刻进行计算获得。

在一些实施例中，可以将多个第一时刻的平均值作为目标时刻，参考图3所示，对两个待测对象（即待测对象a和待测对象b）进行测试，待测对象a开始读取到测试数据，即从高电平变为低电平，也即输出的数据由1变为0时，待测对象a对应的第一时刻例如可以是t2，待测对象b对应的第一时刻例如可以是t1，该实施例中对应的目标时刻可以是（t1 +t2）/2对应的时刻。

在一些实施例中，可以将多个第一时刻的中位数作为目标时刻，参考图4所示，对三个待测对象（即待测对象c、待测对象d和待测对象e）进行测试时，待测对象c对应的第一时刻例如可以是t4，待测对象d对应的第一时刻例如可以是t3，待测对象e对应的第一时刻例如可以是t5，该实施例中对应的目标时刻可以是三者中的中位数，即将t3、t4和t5这三个数值中位于中间的t4作为该实施例中的目标时刻。示例性地，当待测对象的总数较多时，比如4个、6个、8个等时，将多个待测对象的第一时刻按照时间先后进行排序，将处于最中间的两个第一时刻的平均数作为目标时刻。

在一些实施例中，可以将多个第一时刻中的最大值或者最小值作为目标时刻。例如，对于图3对应的实施例，可以将待测对象b对应的第一时刻（即t1）或待测对象a对应的第一时刻（即t2）作为目标时刻。对于图4对应的实施例，可以将待测对象e对应的第一时刻（即t5）或待测对象d对应的第一时刻（即t3）作为目标时刻。

需要说明的是，在选择目标时刻的确定方式时，可以根据实际需求进行选择，以确保选择的目标时刻能够提高更多的待测对象在测试过程中的测试通过率。用于确定目标时刻的多个第一时刻应选择落在测试设备的可补偿范围之内的数据，以确保计算得到的目标时刻可以被测试设备所使用，避免出现因为超出测试设备的可补偿范围而造成无法使用目标时刻对第一时刻进行补偿的情况。其中，可补偿范围根据测试设备的特性决定，比如测试设备的精度，可补偿范围定义为，某个待测对象对应的第一时刻作为参考时刻，与该参考时刻之间相距第三预设时长的时间差的范围即为可补偿范围（可以参照步骤S101）。

在步骤S300中，基于获得的目标时刻，测试设备对每个待测对象的第一时刻进行调节，以使得每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻，以确保各个待测对象输出的测试数据均自目标时刻开始输出，进而保证各个待测对象获得的测试数据的准确性，提升待测对象的测试通过率。

基于目标时刻，测试设备可以结合测试设备的可补偿范围对每个待测对象的第一时刻进行补偿。示例性地，由于目标时刻基于多个待测对象的第一时刻获得，目标时刻可以基于每颗待测对象的输出特性进行动态调节，使得获得的目标时刻为动态计算得到的最优基准时刻，从而提高测试设备对每个待测对象的补偿成功率。

对于图3对应的实施例，待测对象a对应的第一时刻例如可以是t2，待测对象b对应的第一时刻例如可以是t1，当目标时刻为待测对象a和待测对象b的平均值（t1 + t2）/2时，分别对待测对象a和待测对象b的第一时刻进行补偿，例如，测试设备将待测对象a的第一时刻向前调整，测试设备将待测对象b的第一时刻向后调整，使得待测对象a和待测对象b输出的全部测试数据的起点，即补偿后的第一时刻均为目标时刻，以避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试准确性、可靠性和芯片良率。

其中，需要说明的是，在对待测对象a和待测对象b的第一时刻进行补偿后，不影响待测对象a和待测对象b实际输出的信号的波形，可以理解为，将待测对象a和待测对象b的波形进行整体移动，以使待测对象a和待测对象b的波形的起始点均为目标时刻，以利于对待测对象a和待测对象b的全部测试数据同时进行判别，判别全部测试数据是否与输入的预设数据（也即输入数据）一致，以快速确定待测对象a和待测对象b的读写能力是否正常，同时由于全部待测对象输出的测试数据的起始点均调整为目标时刻，因此，不会出现在目标时刻之前待测对象就已经开始输出有效的测试数据或者在目标时刻之后待测对象才开始输出有效的测试数据的问题，提升了测试准确性和可靠性。

在步骤S400中，由于多个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻，可以避免由于部分待测对象开始输出测试数据所需时间较长（速度较慢）导致的未输出有效数据的情况，还可以避免由于部分待测对象开始输出测试数据所需的时间较短（速度较快）导致的部分已读取的数据未计入，造成输出数据与预设数据不同的情况，从而避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判。

测试设备可以基于每个待测对象以目标时刻为起点读取全部的测试数据，将每个待测对象的全部测试数据与测试前写入的输入数据进行对比，以确定每个待测对象的测试结果。例如，当待测对象的全部测试数据与测试前写入的输入数据相同时，可以确定该待测对象的测试通过。当待测对象的全部测试数据与测试前写入的输入数据不同时，可以确定该待测对象的测试失败。

在一些可能的实施方式中，步骤S100中，获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻，包括：

以第一预设时长作为一个采集周期，采集每个待测对象的输出数据，每个采集周期中，每间隔第二预设时长作为一个采样点，分别获取每个待测对象开始输出测试数据的采样点的时刻作为第一时刻。

第一预设时长可以是一个具有较长时间的采集周期，第一预设时长例如可以是开始测试至开始输出有效测试数据的经验时长，第一预设时长可以基于不同的待测对象的规格参数设置不同的时长。在对每个待测对象进行测试的过程中，从开始测试起，在第一预设时长的采集周期内，每间隔第二预设时长向每个待测对象执行一次采样，使得测试设备可以在采样点指定的位置采集待测对象输出的有效测试数据，第二预设时长可以是执行采样的间隔时长，第二预设时长通常与测试设备的设备硬件精度有关，比如可以为0.2ns、0.3ns等数值。通过间隔执行采样以获取待测对象开始输出测试数据的采样点，以便于迅速确定待测对象对应的第一时刻。

示例性地，若某次采样第一次采集到待测对象的有效输出测试数据，即将该次采样对应的时间点作为该待测对象对应的第一时刻。若某次采样未读取到待测对象的有效输出测试数据，间隔第二预设时长后进行再一次采样，在一个或多个采集周期内重复间隔第二预设时长多次对待测对象进行采样，直至获得每个待测对象开始输出有效测试数据的时间点，即获得每个待测对象的第一时刻。

例如，以获取待测对象f的第一时刻为例，参考图5所示，从开始测试的时刻起，以第一预设时长作为一个采集周期采集待测对象f的输出数据，在采集周期内，每间隔第二预设时长作为一个采样点对待测对象f的输出数据进行采集。在图5示出的实施例中，例如，第一预设时长可以是3.6ns，第二预设时长是0.3ns，从开始测试的时刻起，每间隔0.3ns对待测对象f的输出数据进行采集，在第10个采样点处第一次采集到待测对象f的有效输出测试数据，第10个采样点对应的时刻为10x0.3ns =3ns，即待测对象f开始输出有效测试数据的时刻也就是第一时刻为3ns。

可以按照与上述的方式类似或相同的方法依次或同时分别对多个待测对象中的每个待测对象进行测试，以获得每个待测对象开始输出有效测试数据的第一时刻。

在一个示例性实施例中，在步骤S100之后，步骤S200之前，该测试方法还包括：

步骤S101、按照时间先后顺序，对多个第一时刻进行排序，将除排序为第一的第一时刻之外的其余第一时刻分别与排序为第一的第一时刻作差，将差值大于第三预设时长的第一时刻对应的待测对象舍弃；其中，第三预设时长小于或等于第一预设时长。

本实施例中，第三预设时长是基于测试设备的硬件特性决定的，例如对于一个测试设备，其第三预设时长可以是2ns；对于另一个测试设备，其第三预设时长可以是200ps，等等。第三预设时长决定了测试设备能够提供为多个待测对象的第一时刻进行补偿的范围大小，当两个待测对象对应的第一时刻之间的时间差大于第三预设时长时，由于该时间差大于测试设备的所能够提供的补偿范围，需将时间差超过第三预设时长的第一时刻对应的待测对象进行舍弃，即放弃对该待测对象的第一时刻进行补偿，比如测试设备放弃对该待测对象的测试结果进行判定或者对该待测对象的测试结果判定为测试失败。

示例性地，由于第三预设时长是基于测试设备的特性决定的可补偿时长，在获取多个待测对象对应的第一时刻时，设置第一预设时长大于或等于第三预设时长，避免第一预设时长过短导致测试工作量的增加。

另外，需要说明的，由于在对时间差进行计算时，至少涉及到两个待测对象，通常会从多个待测对象中选择一个参考待测对象，并将其余的待测对象的第一时刻与该参考待测对象的第一时刻进行比较计算，确定时间差。其中，参考待测对象的选择没有具体限定，可以根据各个待测对象的第一时刻的时间先后顺序进行选择，可以是首个第一时刻对应的待测对象作为参考待测对象，也可以是末尾第一时刻对应的待测对象作为参考待测对象，还可以取多个第一时刻的中位数对应的待测对象作为参考待测对象。

在一些实施例中，当对多个待测对象进行同时测试时，将多个待测对象的第一时刻按照时间先后顺序进行排序，数值最小的第一时刻排序为第一，以第一时刻的数值由小至大进行排序，依次使用排序为第二的第一时刻、排序为第三的第一时刻、排序为第四的第一时刻……分别与排序为第一的第一时刻作差，将得到的多个的差值与第三预设时长进行对比。例如，当使用第一测试设备对多个待测对象进行测试时，当差值小于第三预设时长时，例如排序为第三的第一时刻与排序为第一的第一时刻的差值小于第三预设时长，即小于2ns时，排序为第三的第一时刻对应的待测对象被保留，可以进一步进行测试。当差值大于第三预设时长时，例如排序为第四的第一时刻与排序为第一的第一时刻的差值大于第三预设时长，即大于2ns，排序为第四的第一时刻对应的待测对象被舍弃。参考图6所示，例如，排序为第一的第一时刻为t6，其对应的待测对象为待测对象h，排序为第四的第一时刻为t7，其对应的待测对象为待测对象g，由于t7与t6的差值大于第三预设时长，此时，若采用待测对象g对应的第一时刻以获得目标时刻，容易导致测试设备基于该目标时刻对多个待测对象的第一时刻进行补偿时，无法对多个待测对象中的每个待测对象的第一时刻均进行补偿。例如，当以t6作为目标时刻时，无法对t7对应的待测对象g的第一时刻进行补偿；再例如，当以t7作为目标时刻时，无法对t6对应的待测对象h的第一时刻进行补偿，使得还是存在芯片的良率损失。因此，将差值大于第三预设时长且第一时刻的排序靠后对应的待测对象，如排序为第四的第一时刻对应的待测对象g，以及排序为第五、第六……的第一时刻对应的待测对象舍弃，放弃对排序为第四以及之后的第一时刻对应的待测对象进行补偿和结果判定，从而确保芯片测试的准确性和可靠性。示例性地，被舍弃的待测对象可以参与下一次的芯片测试。

在一个实施例中，当使用测试设备对多个待测对象进行测试时，其第三预设时长可以是2ns，在图4对应的实施例中，例如待测对象c对应的第一时刻，即t4为3ns，待测对象d对应的第一时刻，即t3为2ns，待测对象e对应的第一时刻，即t5为3.8ns，排序为第一的第一时刻（t3）对应的待测对象为待测对象d，可知t4与t3的差值为3ns-2ns=1ns，t5与t3的差值为3.8ns-2ns=1.8ns，差值均小于2ns。也即待测对象c的第一时刻与待测对象d的第一时刻之间的差值，以及待测对象e的第一时刻与待测对象d的第一时刻之间的差值均小于第三预设时长，待测对象c、待测对象d、待测对象e均被保留，以确保以目标时刻作为补偿基准时，被保留的每个待测对象的第一时刻都在测试设备的可补偿范围内，测试设备可以基于获得的目标时刻对被保留的每个待测对象的第一时刻进行补偿。

在一些可能的实施方式中，在步骤S100之后，步骤S200之前，该测试方法还包括：

步骤S102、确定差值大于第三预设时长的第一时刻对应的待测对象的测试结果为测试失败。

本实施例中，当对多个待测对象进行同时测试时，将多个待测对象的第一时刻按照时间先后顺序进行排序，数值最小的第一时刻排序为第一，以第一时刻的数值由小至大进行排序，依次使用排序为第二的第一时刻、排序为第三的第一时刻、排序为第四的第一时刻……分别与排序为第一的第一时刻作差，将得到的多个的差值与第三预设时长进行对比。例如，当使用一个测试设备对多个待测对象进行测试时，当差值大于第三预设时长时，例如排序为第四的第一时刻与排序为第一的第一时刻的差值大于第三预设时长，即大于2ns时，此时将排序为第四的第一时刻对应的待测对象，以及排序为第五、第六……的第一时刻对应的待测对象的测试结果判定为测试失败，即判定排序为第四、第五、第六……的第一时刻对应的待测对象为不良的芯片。

在一些可能的实施方式中，在步骤S200中，基于多个第一时刻，获得目标时刻，包括：

步骤S210、基于被保留的多个第一时刻，获得目标时刻，其中，被保留的每个第一时刻与排序为第一的第一时刻之间的差值小于或等于第三预设时长。

在之前的步骤中，没有落入于可补偿范围之内的第一时刻已经被舍弃了，在该步骤使用的第一时刻均为落入至可补偿范围之内的第一时刻。后续获得目标时刻过程中涉及到的第一时刻均为被保留的第一时刻，不再赘述。

以步骤S101中示出的图4中被保留的多个第一时刻为例进行说明，待测对象d对应的第一时刻t3为2ns，待测对象c对应的第一时刻t4为3ns，待测对象e对应的第一时刻t5为3.8ns。在一些实施例中，在计算目标时刻时，可以将被保留的多个第一时刻的中位数作为目标时刻，也就是说，将t3、t4和t5对应的数值排序为2ns、3ns、3.8ns，将位于中间的3ns即t4作为目标时刻。在一些实施例中，在计算目标时刻时，可以将被保留的多个第一时刻的平均数作为目标时刻，也就是说，可以计算（t3 + t4+ t5）/3，将其计算结果为（2 + 3+ 3.8）/3=2.93ns对应的时刻作为目标时刻。在另一些实施例中，在计算目标时刻时，可以将被保留的多个第一时刻中的最大值或者最小值作为目标时刻，也就是说，可以将最小值为2ns 即t3作为目标时刻，也可以将最大值为3.8ns 即t5作为目标时刻。示例性地，还可以将2ns-3.8ns中的任意一个时刻作为目标时刻，例如可以是2.4ns、2.8ns、3.2ns对应的时刻作为目标时刻。还可以计算第一时刻为最大值与第一时刻为最小值的差值，差值表示为3.8-2=1.8ns，或者，计算中位数与中位数前一个第一时刻的差值，差值表示为3-2=1ns，或者，计算中位数后一个第一时刻与中位数的差值，差值表示为3.8-3=0.8ns。在第一时刻中的最小值的基础上，加上差值的一半，以作为目标时刻，例如，可以将2ns+0.9ns=2.9ns作为目标时刻，或者，将2ns+0.5ns=2.5ns作为目标时刻，或者，将2ns+0.4ns=2.4ns作为目标时刻，等等。

在一个示例性实施例中，步骤S300中，基于目标时刻，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

步骤S310、获取每个待测对象的第一时刻与目标时刻之间的差值的绝对值；

步骤S320、获取目标时刻和每个第一时刻的先后顺序；

步骤S330、根据先后顺序和差值的绝对值，对每个待测对象的第一时刻进行补偿。

在步骤S310中，以图4示出的多个待测对象的第一时刻及目标时刻进行举例说明，本实施例中，将被保留的多个第一时刻的中位数（即t4）作为目标时刻（具体内容参照S210中的相关描述）为例进行说明。结合图4和图7所示，由于t4即为待测对象c对应的第一时刻，可确定待测对象c的第一时刻与目标时刻之间的差值为0（待测对象c的第一时刻与目标时刻重合）；待测对象d的第一时刻（即t3）与目标时刻（即t4）之间的差值的绝对值为| t3- t4|，待测对象e的第一时刻（即t5）与目标时刻（即t4）之间的差值的绝对值为| t5- t4|。

在步骤S320中，仍以图4示出的多个待测对象的第一时刻及目标时刻进行举例说明，结合图4和图7所示，可知目标时刻在待测对象d的第一时刻之后，即目标时刻（t4）大于（t3），目标时刻在待测对象e的第一时刻之前，即目标时刻（t4）小于第一时刻（t5）。

在步骤S330中，根据目标时刻和每个第一时刻的先后顺序，以及每个待测对象的第一时刻与目标时刻之间的差值的绝对值，对每个待测对象的第一时刻进行补偿，以使得每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻。也就是说，使得每个待测对象补偿后的第一时刻均为目标时刻，以降低多个待测对象输出测试数据的时长差异导致的测试结果误判的概率，从而提高测试准确性和芯片良率。

当目标时刻与某一待测对象的第一时刻相同时，参考图7所示，例如当目标时刻即为待测对象c对应的第一时刻，即待测对象c的第一时刻与目标时刻之间的差值为0，即待测对象c输出的全部测试数据的起点为目标时刻，待测对象c无需进行补偿。

在一些实施例中，参考图7所示，当目标时刻位于第一时刻之前时，例如，目标时刻（t4）在待测对象e对应的第一时刻（t5）之前，在待测对象e的第一时刻（t5）的基础上减去差值的绝对值，即使用t5-| t5- t4|，以作为待测对象e输出的全部测试数据的起点。也就是说，将待测对象e的第一时刻向目标时刻的方向移动| t5- t4|对应的时长，以使得待测对象e输出的全部测试数据的起点为目标时刻。示例性地，待测对象e未补偿的第一时刻对应的输出数据以虚线表示，补偿后的第一时刻对应的输出数据以粗实线表示。

在一些实施例中，参考图7所示，当目标时刻位于第一时刻之后时，例如，目标时刻（t4）在待测对象d对应的第一时刻（t3）之后，在待测对象d的第一时刻的基础上加上差值的绝对值，即使用t3+| t3- t4|，以作为待测对象d输出的全部测试数据的起点。也就是说，将待测对象d的第一时刻向目标时刻的方向移动| t3- t4|对应的时长，以使得待测对象d输出的全部测试数据的起点为目标时刻。示例性地，待测对象d未补偿的第一时刻对应的输出数据以点划线表示，补偿后的第一时刻对应的输出数据以粗实线表示。

需要说明的是，当目标时刻为多个第一时刻的平均值，或当目标时刻为多个第一时刻中的最大值或者最小值时，步骤S300中的对每个待测对象的第一时刻进行补偿的方式与上述实施例中的方法类似，在此不作赘述。

在一个示例性实施例中，步骤S400中，基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果，包括：

步骤S410、待测对象的全部测试数据与输入数据相同，则确定待测对象的测试结果为测试通过；

步骤S420、待测对象的全部测试数据与输入数据不同，则确定待测对象的测试结果为测试失败。

本实施例中，由于在进行对比确认前已经对每个待测对象的第一时刻进行了补偿，可以排除由于输出数据所需时长不同的差异。将每个待测对象输出的全部测试数据与进行测试之前的输入数据进行对比，即可确定每个待测对象的测试结果。当待测对象的全部测试数据与测试前写入的输入数据相同时，例如，待测对象输入数据为“01010101”，且待测对象输出的全部测试数据也为“01010101”时，可以确定该待测对象的测试结果为测试通过，即该待测对象可以满足正常的读写功能。当待测对象的全部测试数据与测试前写入的输入数据不同时，例如，待测对象输入数据为“01010101”，而待测对象输出的全部测试数据为“10101010”，或“0101010”等数据不同或数据丢失等情况时，可以确定该待测对象的测试结果为测试失败，即该待测对象无法满足正常的读写功能。

本公开提供的测试方法中，由于每个待测对象的第一时刻均为补偿为目标时刻，也就是说，每个待测对象输出全部测试数据的起点均为目标时刻，每个待测对象开始输出测试数据的时间点相同，可以避免由于部分待测对象所需输出测试数据的时间较长（速度较慢）导致的未输出有效数据的情况，还可以避免由于部分待测对象所需输出测试数据的时间较短（速度较快）导致的部分已读取的数据未计入，输出数据与预设数据不同的情况，从而避免多个待测对象输出测试数据的时刻差异导致的测试结果误判，提高芯片测试的准确性、可靠性和芯片良率。

本公开示例性地提供了一种测试装置，测试装置应用于对芯片进行测试，参考图8所示，图8是测试装置的结构框图，该测试装置被配置为能够执行本公开上述实施例中的试方法，该测试装置包括：

第一获取模块100，被配置为获取多个待测对象中每个待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

第二获取模块200，被配置为基于多个第一时刻，获得目标时刻；

补偿模块300，被配置为基于目标时刻，对每个待测对象的所述第一时刻进行补偿，以使每个待测对象输出的全部测试数据的起点均为目标时刻；

确定模块400，被配置为基于每个待测对象的全部测试数据，分别确定每个待测对象的测试结果。

关于上述实施例中的测试装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图9是根据一示例性实施例示出的一种测试设备，即测试设备900的框图。测试设备900用于对芯片进行测试，测试设备900可以是本公开上述示例性实施例中的测试设备，例如，测试设备900可以被提供为终端设备。参照图9，测试设备900包括处理器901，处理器901的个数可以根据需要设置为一个或者多个。测试设备900还包括存储器902，用于存储可由处理器901的执行的指令，例如应用程序。存储器902的个数可以根据需要设置一个或者多个。其存储的应用程序可以为一个或者多个。处理器901被配置为执行指令，以执行上述的测试方法。

本领域技术人员应明白，本公开的实施例可提供为方法、装置（设备）、或计算机程序产品。因此，本公开可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本公开可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。计算机存储介质包括在用于存储信息（诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据）的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质,包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘（DVD）或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质等。此外，本领域技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

在一个示例性实施例中，提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，该非临时性计算机可读存储介质可以设置于测试设备，使得测试设备能够执行本公开示例性的实施例所提供的测试方法。该非临时性计算机可读存储介质例如包括指令的存储器902，上述指令可由测试设备900的处理器901执行以完成上述测试方法。例如，非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器（RAM）、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

本公开是参照根据本公开实施例的方法、装置（设备）和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在本公开中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已描述了本公开的优选实施例，但本领域技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本公开范围的所有变更和修改。

显然，本领域技术人员可以对本公开进行各种改动和变型而不脱离本公开的精神和范围。这样，倘若本公开的这些修改和变型属于本公开权利要求及其等同技术的范围之内，则本公开的意图也包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种测试方法，其特征在于，用于对芯片进行测试，所述测试方法包括：

获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻；

基于多个所述第一时刻，获得目标时刻；

基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，以使每个所述待测对象输出的全部测试数据的起点均为所述目标时刻；

基于每个所述待测对象的所述全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果；

其中，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

将多个所述第一时刻的平均值作为所述目标时刻；或者，

将多个所述第一时刻的中位数作为所述目标时刻；或者，

将多个所述第一时刻中的最大值或者最小值作为所述目标时刻。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取多个待测对象中每个所述待测对象开始输出测试数据的第一时刻，包括：

以第一预设时长作为一个采集周期，采集每个所述待测对象的输出数据，每个所述采集周期中，每间隔第二预设时长作为一个采样点，分别获取每个所述待测对象开始输出所述测试数据的所述采样点的时刻作为所述第一时刻。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

按照时间先后顺序，对多个所述第一时刻进行排序，将除排序为第一的所述第一时刻之外的其余所述第一时刻分别与排序为第一的所述第一时刻作差，将差值大于第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象舍弃；

其中，所述第三预设时长小于所述第一预设时长。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述基于多个所述第一时刻，获得目标时刻，包括：

基于被保留的多个所述第一时刻，获得所述目标时刻，其中，被保留的每个所述第一时刻与排序为第一的所述第一时刻之间的差值小于或等于所述第三预设时长。

5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

确定所述差值大于所述第三预设时长的所述第一时刻对应的所述待测对象的所述测试结果为测试失败。

6.根据权利要求1至5任一项所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述目标时刻，对每个所述待测对象的所述第一时刻进行补偿，包括：

获取每个所述待测对象的所述第一时刻与所述目标时刻之间的差值的绝对值；

获取所述目标时刻和每个所述第一时刻的先后顺序；

根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之前，在所述第一时刻的基础上减去所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述先后顺序和所述差值的绝对值，对每个所述待测对象的第一时刻进行补偿，包括：

当所述目标时刻位于所述第一时刻之后，在所述第一时刻的基础上加上所述差值的绝对值，作为所述待测对象输出的所述全部测试数据的起点。

9.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述基于每个所述待测对象的全部测试数据，分别确定每个所述待测对象的测试结果，包括：

所述待测对象的所述全部测试数据与输入数据相同，则确定所述待测对象的测试结果为测试通过；

所述待测对象的所述全部测试数据与所述输入数据不同，则确定所述待测对象的测试结果为测试失败。