CN115951631A - 一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统 - Google Patents
一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统 Download PDFInfo
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Abstract
本申请涉及一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统,其中方法包括:获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并分析所述采样图形生成偏差分析结果;将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备;通知所述下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试;接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。本申请具有对驱动控制器两轴同步微调的效果。
Description
技术领域
本申请涉及机械加工技术领域,尤其是涉及一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统。
背景技术
铣床是用铣刀对工件进行铣削加工的机床。铣床除能铣削平面、沟槽、轮齿、螺纹和花键轴外,还能加工比较复杂的型面,效率较刨床高,在机械制造和修理部门得到广泛应用。数控加工在设备生成制造中具有极其重要的角色,而在加工过程中的工件表面质量直接决定了产品的核心竞争力。机床结构因用途而各异,各坐标轴可能会有不同的机械特性,在数控加工过程中因多轴动态性能不匹配会引起加工工件轮廓误差,直接影响数控加工的尺寸精度。
在数控机床应用中,需要对伺服进行调谐使之在一定负载范围内满足一定范围内的加减速性能,这也是伺服产品自有的功能,但是伺服调谐只能使伺服驱动器中的每个轴具有一定的刚性强度,但无法保证在多轴联动时每个轴的刚性强度基本一致,特别是在传动机构不一样的情况下,轴与轴之间的指令跟随性能可能会相差很大,从而影响设备加工的精确度。
发明内容
为了改善相关技术中伺服驱动器中轴与轴之间不能进行同步微调的现象,本申请提供一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统。
第一方面,本申请提供的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,采用如下的技术方案:
一种铣床伺服联动跟随性调试方法及系统,包括以下步骤:
获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;
根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并分析所述采样图形生成偏差分析结果,所述采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形;
将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备中;
通知所述下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试;
接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
通过采用上述技术方案,在设备开始工作后,获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,并接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令以作为采样数据相应生成采样图形,再根据对设备的运动控制指令和来自设备的伺服反馈位置指令进行计算指令轨迹偏差,并分析采样图形生成偏差分析结果;获取到的偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中,系统通知下位机将指令轨迹偏差传送至上位机中,上位机接收到指令轨迹偏差后并针对采样图形进行分类调试,调试完成后的上位机将调试指令发送至下位机中,下位机根据调试指令对设备进行调整,以使得驱动控制器双轴实现同步微调,从而使得双轴跟随性接近一致,通过实时对运行的设备进行数据采样,以及将采样到的数据生成相应的采样图形,使得系统能对采样图形分析并计算出误差,从而对具有误差的部分进行调整,以实现驱动控制器的两轴在刚性强度一致的情况下可以实现轴与轴之间同步微调。
进一步地,所述根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并通过所述轨迹误查区别所述设备两轴的刚性强弱。
通过采用上述技术方案,系统针对自己发出的运动控制指令及接收到的伺服反馈位置指令进行计算,以得出指令轨迹偏差,伺服驱动器在接收系统发出的运动控制指令后对设备进行控制,并向系统发出伺服反馈位置指令,运动控制指令和伺服反馈位置指令的偏差即为指令轨迹偏差,根据所得到的指令轨迹误差能判断设备的运行情况以及区别出两轴的刚性强弱,以便后续做调整。
进一步地,所述分析菱形采样图形包括:
获取所述设备的运行指令轨迹,并计算所述伺服反馈位置与所述运行指令轨迹的位置误差;
根据所述位置误差获取两个轴跟随性的强弱,并将所述位置误差和所述运行指令轨迹的位置数据存储至所述设备中。
通过采用上述技术方案,运行指令轨迹可以得知设备当前运行状态,通过运行指令轨迹与伺服反馈位置进行计算位置误差,可以反映出当前设备是否按照驱动控制器的控制进行运行,再根据位置误差来得知两个轴跟随性的强弱,使得系统获取到两轴跟随性强弱以对两轴进行调整。
进一步地,所述分析圆度采样图形为直接将获取到的数据存储至所述设备中。
通过采用上述技术方案,在采样图形为圆度采样图形时,直接将获取到的数据存储至设备中即可。
进一步地,所述分析龙门机床双轴平衡调谐采样图形包括:
分别获取两轴的位置反馈信息,并计算两轴的位置反馈信息误差;
根据所述两轴的位置反馈信息分别获取两轴的响应速度,并将所述位置反馈信息误差存储至设备中。
通过采用上述技术方案,对龙门机床双轴平衡调谐采样图形进行分析时,主要对龙门机床的两轴进行分析,通过两轴的位置反馈信息分别获取两轴的相应速度,从而得知两轴的跟随性强弱,以更好地对两轴进行调整,使得两轴跟随性接近一致。
进一步地,所述将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备,以备后续对所述采样数据进行在线快速分析,以快速得出所述指令轨迹偏差。
通过采用上述技术方案,将偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中的作用是以便后续对所述采样数据进行在线快速分析,以快速得出所述指令轨迹偏差。设备中存储的数据越多,后续对采样数据进行分析的速度也就越快,可以在设备中进行比对采样数据,以得出采样数据的分析结果,以使得更快对设备进行调整。
进一步地,所述通知下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机为所述下位机将所述指令轨迹偏差转化为相应的数字信号以传送至所述上位机中。
通过采用上述技术方案,下位机是将指令轨迹偏差转化为数字信号,以便上位机能识别并获取到来自下位机的指令轨迹偏差,并对接收到的指令轨迹偏差并进行调试。
进一步地,根据所述菱形采样图形和所述龙门机床双轴平衡调谐采样图形分别生成运行轨迹和运行误差曲线,并根据所述运行误差曲线调整相应轴的运行参数,使得两轴联动跟随性一致;
根据所述圆度采样图形生成真圆度图,并显示圆度误差,根据所述圆度误差进行调整。
通过采用上述技术方案,在分析菱形采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形均先生成运行轨迹和运行误差曲线。其中,运行轨迹为当前设备的运行轨迹,而运行误差曲线为系统预设设备的运行轨迹曲线,将运行轨迹和运行误差曲线进行比对,以清晰得出当前设备运行轨迹与系统预设的运行轨迹之间的差距,从而便于对出现误差的部分进行调整;在分析圆度采样图形时直接生成真圆度图,并显示圆度误差。其中,圆度误差为系统预设的圆度图,而真圆度图是根据设备当前运行状态生成的。将圆度误差与真圆度图进行比对,以清晰得知当前设备的运行状态与系统预设的运行状态之间的差距,从而针对有误差的部分进行微调。
进一步地,所述接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整包括:
所述调试指令为所述上位机根据所述采样图形进行调试后并根据调试结果生成的指令;
所述下位机接收所述调试指令并转化为相应的调整信号传送至所述设备中;
所述驱动控制器根据所述调整信号进行调整两个轴的刚性强度。
通过采用上述技术方案,调试指令是根据采样图形所存在的误差进行分部分调试,以进行多部分对设备进行微调,上位机将调试指令发送至下位机中,下位机在接收到调试指令后将调试指令解释为相应的调整信号以使得驱动控制器能识别并对设备进行调整,驱动控制器在接收到调整信号后,根据调整信号调整两个轴的刚性强度,从而使得两轴的跟随性接近一致,保证了设备运行的准确度。
第二方面,本申请提供一种铣床伺服联动跟随性调试系统,采用如下的技术方案:
一种铣床伺服联动跟随性调试系统,包括:
数据采样模块,获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;
图形分析模块,根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并分析所述采样图形生成偏差分析结果;所述采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形;
数据存储模块,将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备;
偏差调试模块,通知所述下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试;
运行调整模块,接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
通过采用上述技术方案,数据采样模块在设备运行中实时获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,在接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令后生成相应的采样图形,图形分析模块先根据伺服反馈位置指令和运动控制指令对设备进计算指令轨迹偏差,并对采样图形进行分析以生成偏差分析结果,数据存储模块将图形分析模块生成的偏差分析结果及伺服转矩指令和转矩反馈指令共同存储至设备中。偏差调试模块在接收到指令轨迹偏差后针对采样图形进行分类调试,运行调整模块在接收到偏差调试模块中的调试指令后通知下位机对设备进行调整,以使得两轴跟随性接近一致,使得设备精确度提高。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.在设备开始工作后,实时获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令并计算指令轨迹偏差,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令以作为采样数据相应生成采样图形,对采样图形分析以生成偏差分析结果,系统通知下位机将指令轨迹偏差传送至上位机中,上位机针对采样图形进行分类调试,并将调试指令发送至下位机中,以使得下位机对设备进行调整,实现驱动控制器双轴实现同步微调,从而使得双轴跟随性接近一致;
2.通过实时对驱动控制器和设备进行数据采样,并生成采样图形从而分析出两轴的刚性强弱以及两轴的跟随性,以及时根据误差部分做出调整,从而保证两轴的跟随性接近一致以及保证设备的精确性。
附图说明
图1是本申请提供一种铣床伺服联动跟随性调试方法的流程图;
图2是本申请中步骤S2的运行流程框图;
图3是本申请中步骤S4的运行流程框图;
图4是本申请中步骤S5的运行流程框图;
图5是本申请提供的一种铣床伺服联动跟随性调试系统的流程图。
图中,1、数据采样模块;2、图形分析模块;3、数据存储模块;4、偏差调试模块;5、运行调整模块。
具体实施方式
以下结合附图1-附图5,对本申请作进一步详细说明。
本申请公开了一种铣床伺服联动跟随性调试方法,参照图1,包括以下步骤:
S1、获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形。
系统首先获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,其中,运动控制指令为系统提前设定的对设备即铣床的运动进行控制,使得设备按照运动控制指令进行运动。而伺服转矩指令是控制伺服驱动器的转矩来达到对铣床进一步地控制,以输出稳定的转矩来控制铣床工作,使得铣床有序地进行工作。
为了使铣床实现自动控制的效果,铣床的运动控制系统均采用伺服控制器来控制。伺服系统用来精确地跟随或复现某个过程的反馈控制系统。伺服控制器可以使得铣床的位置、方位、状态等输出能跟随输入量,即系统给定值的变化而变化的自动控制器。伺服驱动器可以实现自动控制铣床工作,可以控制铣床的转角(或位移),使其能自动地、连续地、精确地复规输入指令的变化规律。伺服驱动器对设备的控制是动态的随动过程,以使得设备在运行中所达到的运行状态也是动态的平衡状态,可以对设备进行微调从而保证设备稳定持续地工作。
伺服驱动控制器主要包括三种控制方式:速度控制方式、转矩控制方式和位置控制方式。在本实施例中,伺服驱动器是采用转矩控制方式来实现对铣床的运动控制。转矩控制方式是通过外部模拟量的输入或直接的地址的赋值来设定电机轴对外的输出转矩的大小,可以通过实时的改变模拟量的设定来改变设定的力矩大小,也可通讯方式改变对应的地址的数值来实现,从而在对铣床进行控制时使得铣床可以按照既定的转矩进行工作。驱动控制器通过使用转矩控制方式对设备进行控制,从而保证电机输出的转矩恒定,能比较精确地控制设备对工件进行表面加工,提高工件加工的精确度。
铣床结构因用途而各异,各坐标轴可能会有不同的机械特性,在数控加工过程中因多轴动态性能不匹配会引起加工工件轮廓误差,直接影响数控加工的尺寸精度。因此对铣床的控制中需要对铣床在保证伺服驱动器中的每个轴具有一定的刚性强度外,对多轴联动时再对轴与轴之间进行同步微调,使得每个轴的刚性强度基本一致,以此保证铣床加工后的工件精度更高。在本实施例中,采用的是两轴来进行配置。
在获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令后,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成采样图形。其中伺服反馈位置指令为当前铣床根据运动控制指令运行后的状态,而转矩反馈指令为伺服驱动器在接收系统的伺服转矩指令后运行的状态。采用伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据可以很好地得知设备在伺服控制器的控制下的运行状态。通过采样数据从而生成采样图形,这里的采样图形为铣床在伺服驱动器的控制下的运行状态。采样图形是根据设备的运行状态来生成的,设备的运行状态不同,所生成的采样图形也各不相同。
参照图2,生成采样图形后进行如下步骤:
S2、根据伺服反馈位置指令和运动控制指令对设备进行计算指令轨迹偏差,并分析采样图形生成偏差分析结果,采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形。
其中,根据伺服反馈位置指令和运动控制指令对设备进行计算指令轨迹偏差,并通过轨迹误查区别设备两轴的刚性强弱。系统针对自己发出的运动控制指令及接收到的伺服反馈位置指令进行计算,以得出指令轨迹偏差,伺服驱动器在接收系统发出的运动控制指令后对铣床进行控制,并向系统发出伺服反馈位置指令,运动控制指令和伺服反馈位置指令的偏差即为指令轨迹偏差。指令轨迹偏差反映的是伺服驱动器是否按照系统的运动控制指令在控制铣床。
在计算出指令轨迹偏差后对采样图形进行分析以生成偏差分析结果,采样图形有三种:菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形,每种采样图形各不相同,采样图形是根据设备的运行状态及设备本身有关,通过对采样分析的具体步骤如下:
S21、分析菱形采样图形包括:
获取设备的运行指令轨迹,并计算伺服反馈位置与运行指令轨迹的位置误差;
根据位置误差获取两个轴跟随性的强弱,并将位置误差和运行指令轨迹的位置数据存储至设备中。
具体的,首先获取到设备即铣床在伺服控制器对设备进行控制后的运行指令轨迹,运行指令轨迹可以得知设备当前运行状态,通过运行指令轨迹与伺服反馈位置进行计算位置误差,位置误差为驱动控制器预设设备的状态与设备当前的运行状态之间的误差,可以反映出当前设备是否按照驱动控制器的控制进行运行。
根据位置误差来得知两个轴跟随性的强弱,其中,位置误差会显示两轴各自的误差,从而可以得知两轴跟随性的强弱,使得系统获取到两轴跟随性强弱以对两轴进行调整。在获取到两轴跟随性强弱后,将位置误差与运行指令轨迹的位置数据存储至设备中。
S22、分析圆度采样图形为直接将获取到的数据存储至设备中。
在采样图形为圆度采样图形时,直接将获取到的数据存储至设备中即可。
S23、分析龙门机床双轴平衡调谐采样图形包括:
分别获取两轴的位置反馈信息,并计算两轴的位置反馈信息误差;
根据两轴的位置反馈信息分别获取两轴的响应速度,并将位置反馈信息误差存储至设备中。
对龙门机床双轴平衡调谐采样图形进行分析时,主要对两轴进行分析,通过两轴的位置反馈信息分别获取两轴的相应速度,从而得知两轴的跟随性强弱。在获取到两轴跟随性强弱后将位置反馈信息存储至设备中。
S3、将偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中。
其中,偏差分析结果为系统根据不同的采样图形而最终得到的结果,将偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中的作用是以备后续对采样数据进行在线快速分析,以快速得出指令轨迹偏差。设备中的数据越多,后续对采样数据进行分析的速度即越快。
将偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中后,参照图3,进行如下步骤:
S4、通知下位机将指令轨迹偏差传送至上位机,上位机接收指令轨迹偏差并针对采样图形进行分类调试。
其中,上位机和下位机,一般是指集中控制系统中的PC机和现场的工控机。上位机主要用来发出操作指令和显示结果数据,下位机则主要用来监测和执行上位机的操作指令。系统中的下位机在接收到指令轨迹偏差后传送至上位机中,下位机将指令轨迹偏差转化为相应的数字信号以传送至上位机中,以便上位机接收到指令轨迹偏差并针对采样图形进行分类调试。
其中,对采样图形进行分类调试包括以下步骤:
S41、根据菱形采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形分别生成运行轨迹和运行误差曲线,并根据运行误差曲线调整相应轴的运行参数,使得两轴联动跟随性一致。
在分析菱形采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形均先生成运行轨迹和运行误差曲线。其中,运行轨迹为当前设备的运行轨迹,而运行误差曲线为系统预设设备的运行轨迹曲线,将运行轨迹和运行误差曲线进行比对,以清晰得出当前设备运行轨迹与系统预设的运行轨迹之间的差距,从而便于对出现误差的部分进行调整。
S42、根据圆度采样图形生成真圆度图,并显示圆度误差,根据圆度误差进行调整。
在分析圆度采样图形时直接生成真圆度图,并显示圆度误差。其中,圆度误差为系统预设的圆度图,而真圆度图是根据设备当前运行状态生成的。将圆度误差与真圆度图进行比对,以清晰得知当前设备的运行状态与系统预设的运行状态之间的差距,从而针对有误差的部分进行微调。
在采样图形分类调试后,参照图4,进行以下步骤:
S5、接收来自上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
上位机在分析完采样图形后,并针对误差部分生成调试指令。其中,包括以下步骤:
S51、调试指令为上位机根据采样图形进行调试后并根据调试结果生成的指令。
调试指令是在上位机对采样图形进行分析后通过调试误差部分生成的,调试指令根据采样图形所存在的误差进行分部分调试,以使得设备能及时进行调整。
S52、下位机接收调试指令并转化为相应的调整信号传送至设备中。
上位机将调试指令发送至下位机中,下位机在接收到调试指令后将调试指令解释为相应的调整信号以使得驱动控制器能识别并对设备进行调整。
S53、驱动控制器进行调整两个轴的刚性强度。
驱动控制器在收到调整信号后对设备进行调整,从而调整两个轴的刚性强度,使得两轴的跟随性接近一致。
本申请还公开一种铣床伺服联动跟随性调试系统,参照图5,包括:
数据采样模块1,获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;
图形分析模块2,根据伺服反馈位置指令和运动控制指令对设备进行计算指令轨迹偏差,并分析采样图形生成偏差分析结果;采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形;
数据存储模块3,将偏差分析结果以及伺服转矩指令和转矩反馈指令均存储至设备中;
偏差调试模块4,通知下位机将指令轨迹偏差传送至上位机,上位机接收指令轨迹偏差并针对采样图形进行分类调试;
运行调整模块5,接收来自上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
数据采样模块1在设备运行中实时获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,在接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令后生成相应的采样图形,图形分析模块2先根据伺服反馈位置指令和运动控制指令对设备进计算指令轨迹偏差,并对采样图形进行分析以生成偏差分析结果,数据存储模块3将图形分析模块2生成的偏差分析结果及伺服转矩指令和转矩反馈指令共同存储至设备中。偏差调试模块4在接收到指令轨迹偏差后针对采样图形进行分类调试,运行调整模块5在接收到偏差调试模块4中的调试指令后通知下位机对设备进行调整,以使得两轴跟随性接近一致,使得设备精确度提高。
本具体实施方式的实施例均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,其中相同的零部件用相同的附图标记表示。故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;
根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并分析所述采样图形生成偏差分析结果,所述采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形;
将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备中;
通知所述下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试;
接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
2.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并通过所述轨迹误查区别所述设备两轴的刚性强弱。
3.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述分析菱形采样图形包括:
获取所述设备的运行指令轨迹,并计算所述伺服反馈位置与所述运行指令轨迹的位置误差;
根据所述位置误差获取两个轴跟随性的强弱,并将所述位置误差和所述运行指令轨迹的位置数据存储至所述设备中。
4.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述分析圆度采样图形为直接将获取到的数据存储至所述设备中。
5.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述分析龙门机床双轴平衡调谐采样图形包括:
分别获取两轴的位置反馈信息,并计算两轴的位置反馈信息误差;
根据所述两轴的位置反馈信息分别获取两轴的响应速度,并将所述位置反馈信息误差存储至设备中。
6.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备,以备后续对所述采样数据进行在线快速分析,以快速得出所述指令轨迹偏差。
7.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述通知下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机为所述下位机将所述指令轨迹偏差转化为相应的数字信号以传送至所述上位机中。
8.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试包括以下步骤:
根据所述菱形采样图形和所述龙门机床双轴平衡调谐采样图形分别生成运行轨迹和运行误差曲线,并根据所述运行误差曲线调整相应轴的运行参数,使得两轴联动跟随性一致;
根据所述圆度采样图形生成真圆度图,并显示圆度误差,根据所述圆度误差进行调整。
9.根据权利要求1所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,所述接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整包括:
所述调试指令为所述上位机根据所述采样图形进行调试后并根据调试结果生成的指令;
所述下位机接收所述调试指令并转化为相应的调整信号传送至所述设备中;
所述驱动控制器根据所述调整信号进行调整两个轴的刚性强度。
10.一种铣床伺服联动跟随性调试系统,采用权利要求1-9任一项所述的一种铣床伺服联动跟随性调试方法,其特征在于,包括:
数据采样模块,获取对设备的运动控制指令和伺服转矩指令,接收来自设备的伺服反馈位置指令和转矩反馈指令作为采样数据并生成相应的采样图形;
图形分析模块,根据所述伺服反馈位置指令和所述运动控制指令对所述设备进行计算指令轨迹偏差,并分析所述采样图形生成偏差分析结果;所述采样图形包括菱形采样图形、圆度采样图形和龙门机床双轴平衡调谐采样图形;
数据存储模块,将所述偏差分析结果以及所述伺服转矩指令和所述转矩反馈指令均存储至设备中;
偏差调试模块,通知所述下位机将所述指令轨迹偏差传送至上位机,所述上位机接收所述指令轨迹偏差并针对所述采样图形进行分类调试;
运行调整模块,接收来自所述上位机的调试指令并通知下位机控制设备进行调整。
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