CN115904915B - 芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器 - Google Patents

芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器 Download PDF

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Abstract

本发明实施例提供一种芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器,属于芯片测试技术领域。所述芯片功能验证系统包括:一个或多个分布式处理器,分别位于一个或多个测试位处,且分别被配置有被测芯片接口,用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能;主控处理器,经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,用于经由该第一CAN总线发送控制所述一个或多个分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。本发明的芯片功能验证系统可以支持多芯片并行测试,且能够有效消除测试指令和测试信号的传输时延。

Description

芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域,具体地涉及一种芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器。
背景技术
随着集成电路设计规模越来越大,复杂度越来越高,相应的验证方法学也随之越来越丰富,出现了各种各样的存储芯片专用测试系统。现有的芯片功能测试系统,尤其是存储芯片的测试系统,主要采用专用的测试板卡提供测试输入信号,并通过芯片输出信号的采集确认芯片功能是否正常。对于多芯片测试,为减少测试系统连线,采用测试信号复用的技术进行芯片轮询测试。
本申请发明人在实现本发明的过程中发现,现有的芯片功能测试系统主要存在两个技术问题。一是芯片的并行测试能力不足,不能支持多芯片并行测试;二是功能测试覆盖不足,由于测试系统输出驱动信号端口离被测芯片具有一定的距离,测试信号时钟信号发出后到达芯片输入端口存在延时t1,芯片输出数据到达测试系统输入端口存在延时t2,在高速通信时t1和t2两者累加有可能导致测试系统采样时刻读取的数据不是芯片输出的有效数据,进而会导致测试误报失败。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种芯片功能验证系统,该系统能够支持多芯片并行测试,且有效消除测试信号的传输时延。
为了实现上述目的,本发明实施例提供一种芯片功能验证系统,包括:一个或多个分布式处理器,分别位于一个或多个测试位处,且分别被配置有被测芯片接口,用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能;主控处理器,经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,用于经由该第一CAN总线发送控制所述一个或多个分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。
可选的,所述分布式处理器还配置有触摸按键,各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号。
进一步的,所述主控处理器通过所述第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
可选的,所述分布式处理器还配置有指示灯,所述指示灯用于指示对应的分布式处理器的工作状态。
进一步的,所述各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号,包括:
所述主控处理器通过所述第一CAN总线发送编号开始指令;
各个分布式处理器收到所述开始指令后点亮对应的指示灯;以及
分布式处理器在配置的触摸按键被触发后熄灭对应的指示灯,并向所述第一CAN总线发送自身的编号,
其中,每个分布式处理器发送的自身的编号能够被所述主控处理器和每个其他分布式处理器接收到;
所述自身的编号根据预定的规则和/或接收到的前一个编号计算得到。
优选的,所述芯片功能验证系统还包括第二CAN总线,所述主控处理器能够与任意一个所述分布式处理器独享所述第二CAN总线,以进行详细测试的数据交互。
进一步的,所述主控处理器能够通过所述第一CAN总线和所述第二CAN总线升级所有的分布式处理器的测试程序;
所述升级所有的分布式处理器的测试程序包括:通过所述第一CAN总线发送升级指令;通过所述第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;以及通过所述第一CAN总线发布升级执行命令,其中,所述第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,所述主控处理器等待所有的分布式处理器通过所述第一CAN总线反馈的确认信号后,所述主控处理器继续通过所述第二CAN总线广播下一个升级数据包。
另一方面,本发明提供一种芯片功能验证方法,该方法用于一种芯片功能验证系统中的主控处理器,所述芯片功能验证系统还包括一个或多个分布式处理器,所述主控处理器经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,所述一个或多个分布式处理器分别位于一个或多个测试位处且分别被配置有被测芯片接口,所述芯片功能验证方法包括:
经由所述第一CAN总线,向所述一个或多个分布式处理器发送执行测试的指令;以及
接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。
可选的,所述分布式处理器还配置有触摸按键和指示灯,所述指示灯用于指示对应的分布式处理器的工作状态,各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号;以及所述芯片功能验证方法还包括:经由所述第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
进一步的,所述各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号,包括:经由所述第一CAN总线发送编号开始指令;接收并保存各个分布式处理器发送的自身的编号。
其中,每个分布式处理器发送的自身的编号能够被所述主控处理器和每个其他分布式处理器接收到;所述自身的编号根据预定的规则和/或接收到的前一个编号计算得到。
优选的,所述芯片功能验证系统还包括第二CAN总线;以及所述芯片功能验证方法还包括:与任意一个所述分布式处理器独享所述第二CAN总线,进行数据交互。
进一步的,所述芯片功能验证方法还包括升级所有的分布式处理器的测试程序的步骤:通过所述第一CAN总线发送升级指令;通过所述第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;以及通过所述第一CAN总线发布升级执行命令。其中,所述第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,等待所有的分布式处理器通过所述第一CAN总线反馈的确认信号后,继续通过所述第二CAN总线广播下一个升级数据包。
另一方面,本发明提供一种机器可读存储介质,该机器可读存储介质上存储有指令,该指令用于使得机器执行本申请上述任一项所述的芯片功能验证方法。
另一方面,本发明提供一种处理器,用于运行程序,其中,所述程序被运行时用于执行本申请上述任一项所述的芯片功能验证方法。
通过上述技术方案,分布式处理器负责测试芯片功能,并通过第一CAN总线将测试结果反馈至主控处理器,可以支持多芯片并行测试;分布式处理器与被测试芯片紧邻,可以有效消除测试信号的传输时延,支持高速信号的测试。通过第一和第二CAN总线,主控处理器还可以对各分布式处理器测试程序进行升级。通过为分布式处理器配置触摸按键和指示灯,主控处理器控制分布式处理器依次通过检测触摸按键进行测试工位编号,实现被测试芯片的身份识别和点名指示。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例,但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中:
图1是本发明的芯片功能验证系统的一个实施例的示意图;以及
图2是本发明的芯片功能验证系统的另一个实施例的组成结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例,并不用于限制本发明实施例。
本发明的芯片功能验证系统的一个实施例如图1所示,该芯片功能验证系统包括:一组分布式处理器,每个分布式处理器位于一个对应的测试位处,且分别被配置有被测芯片接口,用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能;主控处理器,经由第一CAN总线与每个分布式处理器相连,用于经由该第一CAN总线发送控制各分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。
在本实施例中,测试位根据芯片功能验证系统的空间布置而设,并不要求一定有实体;分布式处理器用于测试被测试芯片的功能,因而应根据被测试芯片的功能选用合适的型号,且与被测试芯片的数量一一对应,每个被测试芯片通过被测芯片接口接入对应的分布式处理器。
为使得本实施例可用于测试高速信号,应将各分布式处理器与被测试芯片紧邻布置。
有现有技术相比本实施例的技术优势在于:
1、通过与被测试芯片一一对应的分布式处理器可实现多芯片并行测试;
2、将各分布式处理器与被测试芯片紧邻布置,可以有效消除测试信号的通信时延,能够支持测试被测芯片的高速信号处理功能。
为使本实施例有更好的技术效果,本申请还提供如下的优选实施方式:
在一些实施方式中,分布式处理器还配置有触摸按键,具体的,触摸按键可以是电容按键,当电容按键被依次触发,对应的各分布式处理器通过检测电容按键得到的信号对测试位进行编号并将编号信息汇总给主控处理器。主控处理器可以通过编号识别不同测试位的被测芯片并进行点名指示,具体的,主控处理器通过第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
在一些实施方式中,分布式处理器还配置有指示灯,指示灯用于指示分布式处理器的工作状态。
在一些实施方式中,在各分布式处理器配置有触摸按键和指示灯的情况下,通过主控处理器的控制,分布式处理器可以依次通过检测电容按键进行测试工位编号,其过程包括:
主控处理器通过第一CAN总线发送编号开始指令;
各个分布式处理器收到所述开始指令后点亮对应的指示灯;
待所有测试工位均点亮器对应的指示灯后,控制各测试工位的触摸按键依次被触发;
接收到触摸信号的分布式处理器向第一CAN总线发送自己的编号,同时熄灭其对应的指示灯;
直至所有的指示灯均熄灭时,完成所有测试工位编号。
在此过程中,每个分布式处理器发送的自己的编号可以被其他测试位的分布式处理器和主控处理器接收到,接收到触摸信号的分布式处理器可以在接收到的前一编号的基础上根据预定的编号规则生成自己的编号。预定的规则可以是按照自然数依次累加1进行编号,也可以是本领域技术人员可知的规则进行编号。
在完成所有测试工位编号后,主控处理器可以通过第一CAN总线发送点名信号,通过分布式处理器开始对被测试芯片的功能测试,并控制对应测试工位的指示灯点亮,以灯光提示该测试位正在进行单独测试。
在一些实施方式中,芯片功能验证系统还包括第二CAN总线,当主控处理器对某指定的测试芯片进行点名测试时,主控处理器能够与相应的分布式处理器独享第二CAN总线,以进行测试数据的交互。
在一些实施方式中,主控处理器通过第一CAN总线和第二CAN总线升级分布式处理器的测试程序,其过程可以是:
通过第一CAN总线广播升级指令;
通过第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;
通过第一CAN总线发布升级执行命令。
在以上过程中,第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,主控处理器等待所有的分布式处理器通过第一CAN总线反馈的确认信号后,主控处理器继续通过第二CAN总线广播下一个升级数据包。
上述升级过程,通过并行数据传输可以明显加快测试程序的升级速度。
本发明的芯片功能验证系统的另一实施例,用于同时验证每组80颗存储芯片的高速存取功能,单一测试板卡同时支持80颗存储芯片并行测试,多板卡叠放可以同时支持800颗芯片功能测试,测试结果通过第一CAN总线进行汇总,该系统的原理如图2所示。
本实施例的芯片功能验证系统由主控处理器、与被测试芯片一一对应的分布式处理器(编号依次为#1、#2、#3...#n)、CAN总线(CAN1和CAN2)和被测芯片接口组成。
分布式处理器负责芯片具体功能的测试,并将测试结果通过CAN1总线反馈至主控处理器;分布式处理器与被测试芯片DUT紧邻,可以支持SPI高速信号的测试,支持100MHz频率的测试。
主控处理器负责测试结果的汇总,同时主控处理器可以通过CAN1和CAN2总线对分布式处理器测试程序进行升级。
分布式处理器包括核心芯片MCU和包括电容按键key和指示灯led的外围电路,通过主控处理器的控制,分布式处理器可以依次通过检测电容按键key进行测试工位编号,实现被测试芯片DUT的身份识别和点名指示功能。
在本实施例中,采用双路CAN总线连接所有分布式测试处理器(编号依次为#1、#2、#3...#n),实现了分级信息交互;CAN1总线负责测试结果汇总和控制交互,CAN2总线负责单一被测芯片的详细信息交互;测试主控器通过CAN1总线可以控制某个测试处理器#x,由编号为#x的处理器与测试主控器建立独享CAN2总线的信息交互通道,详细进行测试过程信息交互。
在本实施例中,通过触摸按键依次触发进行测试位编号,实现测试芯片身份识别,可以灵活、快速的测试指定编号的芯片。编号的具体方法为:
首先由CAN1总线发送编号开始指令,所有测试工位处理器收到指令后均点亮器对应的指示灯,然后依次点击对应测试工位的触摸按键,收到触摸信号的工位处理器熄灭其对应的指示灯,同时向CAN1总线汇报自己的编号,整个通信过程中所有工位的处理器均可以收到编号信息,因此可以逐个触摸对应工位的触摸按键完成所有测试工位的编号任务,完成所有测试工位编号后所有指示灯均处于熄灭状态。
完成编号后主控芯片可以通过CAN1总线发送点名信号,控制被测试工位进行5秒点亮,进行测试位灯光提示。
在本实施例中,可通过CAN总线对分布式处理器程序进行升级,具体方法为:
首先通过CAN1总线发送升级指令,然后通过CAN2总线依次广播升级数据包,CAN2每次广播完升级数据包后,主控处理器等待所有分布式处理器通过CAN1反馈接收确认信号,确认所有分布式处理器接收到该包数据后,主控处理器继续通过CAN2广播下一包升级数据包,直至所有分布式处理器均完整接收到升级程序后完成升级数据发布,最后通过CAN1总线发布升级执行命令。
相比现有技术,本实施例的技术优势包括:
1、通过并行分布式处理器实现了存储芯片的并行测试,极大地提高了芯片的测试速度,以32Mb的SPI接口flash测试芯片为例,如果采用主控芯片进行轮询测试,测试时间与被测芯片的数量相关。采用本实施例的测试方案,可以实现所有存储芯片的同时测试;
2、采用双路CAN总线连接所有分布式测试处理器,可实现分级信息交互;CAN1总线负责测试结果汇总和控制交互,CAN2总线负责单一被测芯片的详细信息交互;通过总线技术减少了系统连线。
3、可通过CAN总线对分布式处理器程序进行升级,可以针对不同功能测试需求灵活配置测试程序。
4、可以快速实现测试工位处理器编号功能,实现被测试芯片的身份识别和点名指示功能,对于出问题的芯片可以指示芯片位置。
本发明还提供一种芯片功能验证方法的实施例,该方法实施例可用于前述的任一种芯片功能验证系统实施例中的主控处理器,其技术特征对应于前述的芯片功能验证系统的实施例,实施步骤如下:
经由第一CAN总线,向并行的分布式处理器发送执行测试的指令;
接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果。
在一些实施方式中,并行的分布式处理器还配置有触摸按键和指示灯,所述指示灯用于指示对应的分布式处理器的工作状态,各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号。本实施例的芯片功能验证方法还包括:经由所述第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
在一些实施方式中,并行的各分布式处理器根据对应的触摸按键被触发的顺序而被编号,应用于主控处理器的芯片功能验证方法还包括如下对并行的各分布式处理器或测试工位编号的步骤:
经由第一CAN总线发送编号开始指令;
接收并保存各个分布式处理器发送的自身的编号。
其中,每个分布式处理器发送的自身的编号能够被所述主控处理器和每个其他分布式处理器接收到;所述自身的编号根据预定的规则和/或接收到的前一个编号计算得到。
在一些实施方式中,在对应的芯片功能验证系统包括第二CAN总线的情况下,应用于芯片功能验证系统的主控处理器的芯片功能验证方法还包括如下对指定的测试芯片进行点名测试的步骤:
通过第一CAN总线发送点名信号;
通过与指定的测试芯片对应的分布式处理器开始对被测试芯片的功能测试,并控制对应测试工位的指示灯点亮,以灯光提示该测试位正在进行单独测试;
与指定的测试芯片对应的分布式处理器独享所述第二CAN总线,接收测试结果。
在一些实施方式中,芯片功能验证方法还包括升级所有的分布式处理器的测试程序的步骤:
通过所述第一CAN总线发送升级指令;
通过所述第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;
通过所述第一CAN总线发布升级执行命令。
其中,所述第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,等待所有的分布式处理器通过所述第一CAN总线反馈的确认信号后,继续通过所述第二CAN总线广播下一个升级数据包。
本发明实施例提供了一种机器可读存储介质,其上存储有程序,该程序被处理器执行时实现所述的芯片功能验证方法。
本发明实施例提供了一种处理器,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行所述的芯片功能验证方法。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器 (CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存 (PRAM)、静态随机存取存储器 (SRAM)、动态随机存取存储器 (DRAM)、其他类型的随机存取存储器 (RAM)、只读存储器 (ROM)、电可擦除可编程只读存储器 (EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘 (DVD) 或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体 (transitory media),如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片功能验证系统,包括:
一个或多个分布式处理器,分别位于一个或多个测试位处,且分别被配置有被测芯片接口,用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能;
主控处理器,经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,用于经由该第一CAN总线发送控制所述一个或多个分布式处理器执行测试的指令以及接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果;以及
第二CAN总线,所述主控处理器能够与任意一个所述分布式处理器独享所述第二CAN总线,以进行详细测试的数据交互,
其中,
所述主控处理器能够通过所述第一CAN总线和所述第二CAN总线升级所有的分布式处理器的测试程序;
所述升级所有的分布式处理器的测试程序包括:
通过所述第一CAN总线发送升级指令;
通过所述第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;以及
通过所述第一CAN总线发布升级执行命令,
其中,所述第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,所述主控处理器等待所有的分布式处理器通过所述第一CAN总线反馈的确认信号后,所述主控处理器继续通过所述第二CAN总线广播下一个升级数据包。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述分布式处理器还配置有触摸按键,各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述主控处理器通过所述第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述分布式处理器还配置有指示灯,所述指示灯用于指示对应的分布式处理器的工作状态。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号,包括:
所述主控处理器通过所述第一CAN总线发送编号开始指令;
各个分布式处理器收到所述开始指令后点亮对应的指示灯;以及
分布式处理器在配置的触摸按键被触发后熄灭对应的指示灯,并向所述第一CAN总线发送自身的编号,
其中,每个分布式处理器发送的自身的编号能够被所述主控处理器和每个其他分布式处理器接收到;
所述自身的编号根据预定的规则和/或接收到的前一个编号计算得到。
6.一种芯片功能验证方法,该方法用于一种芯片功能验证系统中的主控处理器,所述芯片功能验证系统还包括一个或多个分布式处理器和第二CAN总线,所述主控处理器经由第一CAN总线与所述一个或多个分布式处理器相连,所述一个或多个分布式处理器分别位于一个或多个测试位处且分别被配置有被测芯片接口,所述芯片功能验证方法包括:
经由所述第一CAN总线,向所述一个或多个分布式处理器发送执行测试的指令;
接收并汇总各分布式处理器发送的测试结果;
在所述主控处理器需要任意一个测试位的被测试芯片的详细测试数据时,所述主控处理器与相应的分布式处理器独享所述第二CAN总线,进行数据交互;以及
所述芯片功能验证方法还包括升级所有的分布式处理器的测试程序的步骤:
通过所述第一CAN总线发送升级指令;
通过所述第二CAN总线依次广播各个升级数据包,直至所有的分布式处理器均完整接收到升级程序所需的所有的升级数据包;以及
通过所述第一CAN总线发布升级执行命令,
其中,所述第二CAN总线每次广播完一个升级数据包后,等待所有的分布式处理器通过所述第一CAN总线反馈的确认信号后,继续通过所述第二CAN总线广播下一个升级数据包。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述分布式处理器还配置有触摸按键和指示灯,所述指示灯用于指示对应的分布式处理器的工作状态,各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号;以及
所述芯片功能验证方法还包括:
经由所述第一CAN总线对完成编号的任意指定的测试位的分布式处理器发送单独的控制信号。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述各分布式处理器根据该分布式处理器的触摸按键被触发的顺序而被编号,包括:
经由所述第一CAN总线发送编号开始指令;
接收并保存各个分布式处理器发送的自身的编号,
其中,每个分布式处理器发送的自身的编号能够被所述主控处理器和每个其他分布式处理器接收到;
所述自身的编号根据预定的规则和/或接收到的前一个编号计算得到。
9.一种机器可读存储介质,该机器可读存储介质上存储有指令,该指令用于使得机器执行如权利要求6-8中任意一项所述的芯片功能验证方法。
10.一种处理器,其特征在于,用于运行程序,其中,所述程序被运行时用于执行:如权利要求6-8中任意一项所述的芯片功能验证方法。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110286314A (zh) * 2019-06-27 2019-09-27 深圳米飞泰克科技有限公司 基于单片机的异步通讯并行测试系统及测试方法
CN111273931A (zh) * 2020-01-20 2020-06-12 宁波吉利汽车研究开发有限公司 一种车载行车电脑并行升级方法及装置
CN113492114A (zh) * 2021-09-08 2021-10-12 苏州贝克微电子有限公司 一种用于集成电路的半导体芯片测试方法及其测试装置
CN113567835A (zh) * 2021-07-23 2021-10-29 上海创米科技有限公司 一种一体化电路测试及写号的方法及设备
CN114610549A (zh) * 2022-02-24 2022-06-10 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种串口闪存芯片测试系统和测试方法
CN115561620A (zh) * 2022-09-22 2023-01-03 北京奕斯伟计算技术股份有限公司 基于grpc的芯片测试方法、芯片测试装置及存储介质

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6779140B2 (en) * 2001-06-29 2004-08-17 Agilent Technologies, Inc. Algorithmically programmable memory tester with test sites operating in a slave mode
CN102928725A (zh) * 2011-08-10 2013-02-13 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试监控方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110286314A (zh) * 2019-06-27 2019-09-27 深圳米飞泰克科技有限公司 基于单片机的异步通讯并行测试系统及测试方法
CN111273931A (zh) * 2020-01-20 2020-06-12 宁波吉利汽车研究开发有限公司 一种车载行车电脑并行升级方法及装置
CN113567835A (zh) * 2021-07-23 2021-10-29 上海创米科技有限公司 一种一体化电路测试及写号的方法及设备
CN113492114A (zh) * 2021-09-08 2021-10-12 苏州贝克微电子有限公司 一种用于集成电路的半导体芯片测试方法及其测试装置
CN114610549A (zh) * 2022-02-24 2022-06-10 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种串口闪存芯片测试系统和测试方法
CN115561620A (zh) * 2022-09-22 2023-01-03 北京奕斯伟计算技术股份有限公司 基于grpc的芯片测试方法、芯片测试装置及存储介质

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