CN113567835A - 一种一体化电路测试及写号的方法及设备 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种一体化电路测试及写号的方法，包括：通过电路测试及写号设备：确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；通过所述目标接口启动所述目标电路；等待第一预设时长；通过所述目标接口读取目标电路的目标电流；确定所述目标电流满足预设条件；通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。本申请还提供执行所述方法的设备。本公开的技术方案能够将电气参数测试以及各种功能性测试和操作，有共性的工作流程，经过整合后，在相互之间不会发生干涉的情况下，在一个测试工作站位下，同一时间内利用一组测试治具和测试仪器设备来完成。

Description

一种一体化电路测试及写号的方法及设备

技术领域

本申请涉及电路领域，特别涉及一种一体化电路测试及写号的方法及设备。

背景技术

当前智能家居、智能穿戴、智能出行等领域都应用了大量智能电子设备，而智能电子设备必然离不开电路结构的支持，例如采用模拟IC、数字IC等。随着智能电子设备工业化水平的发展，呈现体积小，功耗低，功能多等特点。这样对智能电子设备中的电路结构的集成度、功耗、功能复杂度提出了更高的要求。

在智能电子设备厂验环节，对电路结构电气参数的测试必不可少，由于电路复杂度增大，功能增多，因此同时需要对电路做大量功能性测试和操作，例如射频功能测试、芯片编号写入操作等。

在实际厂验环节中，对智能电子设备电气参数测试需要在单独的测试工作站位上，利用一组测试治具和测试仪器设备来完成，而对电路的芯片编号写入需要在另一个测试工作站位上，利用另外一组测试治具和测试仪器设备来完成。电气参数测试以及各种功能性测试和操作都是在不同的测试工作站位上进行，各环节没有相互配合，导致人力、测试治具、测试仪器设备、测试工作站位的浪费，造成生产成本增高和效益降低的问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本公开提出了一种将智能电子设备中的电路结构厂验环节的电气参数测试以及各种功能性测试和操作整合形成一个完整的方法及相应的执行设备。

本公开一方面提供一种一体化电路测试及写号的方法，包括通过电路测试及写号设备：确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；通过所述目标接口启动所述目标电路；等待第一预设时长；通过所述目标接口读取所述目标电路的目标电流；确定所述目标电流满足预设条件；保持所述目标电路当前的工作状态，并通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法，还包括：在确定所述目标电流满足预设条件后，立即通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法，还包括：在所述确定所述目标电流满足预设条件后，待第二预设时长；以及通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法，还包括：通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，确定所述目标编号写入成功；以及运行验号流程。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，确定所述目标电流满足预设条件包括：在正常工作状态下，确定所述目标电路的工作电流满足预设条件。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，确定所述目标电流满足预设条件包括：在待机工作状态下，确定所述目标电路的待机电流满足预设条件。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号发生在所述确定所述目标电流满足预设条件之前；以及所述方法还包括：当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述目标电流不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，所述通过所述目标接口启动所述目标电路包括：通过目标接口由独立于所述目标电路的所述电路测试及写号设备自带的目标电源向所述目标电路供电。所述目标电源包括程控电源。所述目标电路包括智能锁具主板。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，所述目标编号包括IMEI号、MEID号和MAC地址中的至少一个。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的方法中，所述目标接口包括WIFI接口，Zigbee接口、RS485接口、RS232接口、RS422接口、USB接口、和HDMI接口中的至少一个。

本公开的另一方面提供一种一体化电路测试及写号的设备，包括：存储器，存储至少一组指令集，用于执行电路测试及写号的方法；处理器，同所述存储器通信连接，所述处理器运行时执行存储器中的所述电路测试及写号的方法指令集。

在一些实施例中，所述的一体化电路测试及写号的设备，还包括：测试治具，通过所述目标接口与所述目标电路电连接，并通过I/O组件与处理器进行数据通信；以及目标电源，所述目标电源的第一端在工作时与所述的一体化电路测试及写号设备外部的供电电源电连接，第二端包括供电接口，所述供电接口工作时与测试治具电连接，为所述一体化电路测试及写号的设备提供功率源，以及提供标准的电压和电流信号，作为电路测试过程中的参考信号值。

在一些实施例中，所述的一种一体化电路测试及写号的设备，还包括：所述存储器中存储至少一组所述目标编号，用于写号时进行调用；以及所述存储器中可以存储所述回收目标编号，用于目标编号回收后再次被调用。

在一些实施例中，所述的一种一体化电路测试及写号设备，还包括运行有MES系统，通过MES系统对所述指令、目标编号、目标电流测试数据进行管理维护。

本公开的技术方案能够将电气参数测试以及各种功能性测试和操作，有共性的工作流程，经过整合后，在相互之间不会发生干涉的情况下，在一个测试工作站位下，同一时间内利用一组测试治具和测试仪器设备来完成。本公开的技术方案能够减少厂验环节对电路结构的重复操作，整体上减少厂验环节的操作时间，还能减少人力，测试治具、测试仪器设备、测试工作站位的使用数量，从而降低智能电子设备厂验环节的人工、物料成本。

附图说明

为了更清楚地说明本说明书实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的设备100的结构示意图；

图2是根据本公开的一些实施例提供的操作机200的结构示意图；

图3是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的方法S100-1的流程示意图；

图4是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的方法S100-2的流程示意图；以及

图5是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的方法S100-3的流程示意图。

具体实施方式

以下描述提供了本申请的特定应用场景和要求，目的是使本领域技术人员能够制造和使用本申请中的内容。对于本领域技术人员来说，对所公开的实施例的各种局部修改是显而易见的，并且在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用。因此，本申请不限于所示的实施例，而是与权利要求一致的最宽范围。

这里使用的术语仅用于描述特定示例实施例的目的，而不是限制性的。

考虑到以下描述，本申请的这些特征和其他特征、以及结构的相关元件的操作和功能、以及部件的组合和制造的经济性可以得到明显提高。参考附图，所有这些形成本申请的一部分。然而，应该清楚地理解，附图仅用于说明和描述的目的，并不旨在限制本申请的范围。

以下描述可以显著改进本申请的这些和其他特征，以及结构的相关元件的操作和功能，以及组件的组合和制造的经济效率。所有这些都参考附图形成本申请的一部分。然而，应该清楚地理解，附图仅用于说明和描述的目的，并不旨在限制本申请的范围。还应理解，附图未按比例绘制。

以下给出本公开技术方案中涉及的本领域技术名词的解释：

MES：Manufacturing Execution System，是一套面向制造企业车间执行层的生产信息化管理系统。

IMEI号：国际移动设备识别码(International Mobile Equipment Identity，IMEI)，用于在移动网络中识别每一部独立的移动终端设备，相当于移动终端设备的身份证。

MEID号：移动设备识别码(Mobile Equipment Identifier)是CDMA移动终端的身份识别码，也是每台CDMA移动终端唯一的识别码通过这个识别码，网络端可以对该终端进行跟踪和监管。

MAC地址：媒体存取控制位址(Media Access Control Address)，用于在网络中唯一标示一个网卡，一台设备若有一或多个网卡，则每个网卡都需要并会有一个唯一的MAC地址。

图1是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的设备100的结构示意图。所述设备100可以包括测试治具110、目标电源120和操作机200。

在一些实施例中，所述操作机200可以是通用计算机或专用计算机，与所述测试治具通信连接，通过测试治具下发测试参数，获取所述目标电流值，并完成写入目标编号的操作。所述操作机200还可以是服务器、个人电脑、便携式电脑(比如笔记本计算机、平板电脑等)，也可以是有其他计算能力的电子设备。例如，所述操作机200中运行有MES系统，通过MES系统对所述指令、目标编号、目标电流测试数据进行管理维护。所述操作机200可以包括一个或多个形式的处理器220，以及不同形式的存储器230。所述存储器230中可以存储至少一组指令集，用于执行电路测试及写号的方法；所述存储器230中可以存储至少一组所述目标编号，用于写号时进行调用；所述存储器230中还可以存储所述回收目标编号，用于目标编号回收后再次被调用。所述处理器220与存储器230通信连接，运行时执行存储器230中的所述电路测试及写号的方法指令集。

所述操作机200通过所述测试治具110同目标电路002连接并对所述目标电路002进行测试及写号。在一些实施例中，所述测试治具110可以包括目标接口111；所述目标电路001可以包括电路接口002。所述目标电路001的所述电路接口002可以作为测试及写号的接入点。所述测试治具110可以根据目标电路001的设计需求，预留有至少一个与所述电路接口002对接的目标接口111。所述测试治具110可以通过所述目标接口111与所述目标电路001实现电连接，以及通过I/O组件260(见图2)实现与所述操作机200的数据通信。所述目标接口111可以是，WIFI接口，Zigbee接口、RS485接口、RS232接口、RS422接口、USB接口、HDMI接口中的一个或多个，或者其他可以提供相应功能的接口。

所述目标电源120是所述设备100的内部自带电源，同所述测试治具110电连接并且可以通过所述测试治具110为所述目标电路001提供电力。比如，所述目标电源120可以是程控电源；所述目标电源120还可以同时连接在外部供电电源004上。比如图1所示，所述目标电源120可以包括第一端，也可以包括第二端。在工作时，所述目标电源120的所述第一端与所述的一体化电路测试及写号设备100的外部供电电源004电连接；所述第二端包括供电接口，所述供电接口工作时与测试治具110电连接，为所述测试治具110以及所述目标电路001提供功率源。同时在目标电源120内还可以设置滤波器，以过滤由所述外部供电电源004的接地线产生的低频信号的干扰，这样可以为所述测试治具110提供标准的电压和/或电流信号，作为电路测试过程中的参考信号值。在一些实施例中，所述的外部供电电源004可以是交流市电。

图2是根据本公开的一些实施例提供的操作机200的结构示意图。

例如，所述操作机200可以包括通信端口250，该通信端口250可以连接到网络003或从其连接的网络003中出来，以促进数据通信，操作人员可以远程访问以执行其中的操作指令。操作机200还可包括以一个或多个处理器的形式的处理器220，仅仅为了说明问题，在本申请中数据处理装置200中仅描述了一个处理器220。所述操作机200还可以包括内部通信总线210可以连接不同的设备组件，以及不同形式的存储器230，例如磁盘232(非暂时性存储器)以及只读存储器(ROM)234或随机存取存储器(RAM)236等等，用于存储要处理和/或传输的各种数据文件。所述存储介质可以是所述操作机200本地的存储介质，也可以是所述操作机200共享的存储介质(比如利用通信端口250从网络003中获取的共享存储介质，例如云端平台)。所述操作机200还可以包括存储在ROM 234，RAM 246和/或要由处理器220执行的其他类型的非暂时性存储介质中的程序指令。

所述操作机200还可以包括I/O组件260来支持同所述一体化电路测试及写号的设备100中其他功能组件之间的数据通信。所述操作机200还可以经由网络003来接收远程访问和获取数据。

所述处理器220可以是一个或多个处理器的形式，在一些实施例中，处理器220可以包括一个或多个硬件处理器，例如微控制器，微处理器，精简指令集计算机(RISC)，专用集成电路(ASIC)，特定于应用的指令集处理器(ASIP)，中央处理单元(CPU)，图形处理单元(GPU)，物理处理单元(PPU)，微控制器单元，数字信号处理器(DSP)，现场可编程门阵列(FPGA)，高级RISC机器(ARM)，可编程逻辑器件(PLD)，能够执行一个或多个功能的任何电路或处理器等，或其任何组合。仅出于说明的目的，在所述操作机200中仅描述了一个处理器220。

然而，本领域普通技术人员可以理解的是，本申请中的操作机200还可以包括多个处理器。因此本申请中所述的由一个处理器执行的方法/步骤/操作也可以由多个处理器共同或分别执行。例如，如果在本申请中，所述操作机200的处理器可以同时执行步骤A和步骤B。应当理解的是，步骤A和步骤B也可以由两个不同的处理器共同执行。例如，第一处理器执行步骤A，第二处理器执行步骤B，或者第一处理器和第二处理器共同执行步骤A和B。

图3是根据本公开的一些实施例提供的一种一体化电路测试及写号的方法S100-1的流程示意图。所述方法S100-1可以由所述一体化电路测试及写号的设备100来执行。比如，一些步骤可以由所述操作机200来执行。具体地，所述处理器220在进行电路测试及写号时可以同所述存储器230通信连接，并且读取存储在所述存储器230中的所述一组或者多组指令。所述一组或者多组指令指示所述处理器220完成所述方法S100-1的流程。

以下呈现的所述方法S100-1的操作，旨在是说明性的而非限制性的。在一些实施例中，所述方法S100-1在实现时可以添加一个或多个未描述的额外操作，和/或删减一个或多个此处所描述的操作。此外，图中所示的和下文描述的执行顺序并不对此加以限制。

S110，确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接。

比如，在实际生产线上，所述目标电路001可以是通过人工的方式连接到所述目标接口111上的，也可以是通过其他机器(比如自动设备)连接到所述目标接口上111。所述测试治具110通过目标接口111与目标电路001完成电连接。当所述连接完成之后，所述处理器220便可以探测到所述目标接口111上出现了相应的负载。比如，所述目标接口111可以包括WIFI接口、Zigbee接口、RS485接口、RS232接口、RS422接口、USB接口、和HDMI接口中的任意一个或多个，或者其他可以提供相应功能的接口。比如，所述目标电路001可以是智能锁具主板，还可以是其他智能电子设备的电路结构。

S120，通过所述目标接口启动所述目标电路。

比如，所述处理器220可以控制所述一体化电路测试及写号的设备100通过所述目标接口111向所述目标电路001发送指令，进而启动所述目标电路001。具体地，步骤S120可以包括步骤S121、S122、S123。

S121，启动所述目标电源，向所述目标电路供电。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111可以指示，由独立于所述目标电路001的所述电路测试及写号设备100自带的所述目标电源120向所述目标电路001供电。

S122，指示所述目标电路完成系统启动。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111向所述目标电路001发送握手指令，激活目标电路001，并等待所述目标电路001完成系统启动。

S123，获取所述目标电路的启动自检信息。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111获取所述目标电路001的启动自检信息，包括系统版本信息，启动时间信息，以及运行状态信息。

S130，等待第一预设时长。

比如，在所述目标电路001启动完成后，所述处理器220等待一段预设时长。当所述目标电路001稳定运行后，所述处理器220再执行后续流程方法。所述第一预设时长可以根据不同的目标电路进行设定。

S140，通过所述目标接口读取目标电路的目标电流，确定所述目标电流满足预设条件。

具体地，步骤S140可以包括步骤S141、S142。

S141，在正常工作状态下，确定所述目标电路的工作电流满足预设条件。

比如，当所述目标电路001完成启动并处于正常工作状态后，所述处理器220通过所述目标接口111向所述目标电路001发送读取目标电路工作电流的指令，然后从所述目标接口111接收反馈的目标电路工作电流数据。所述处理器220将所述目标电路工作电流数据与所述参考信号进行比较，判断是否满足预设条件。如果工作电流满足预设条件，则表示所述目标电路运行正常，所述处理器220继续执行流程步骤S142，否则表示所述目标电路运行不正常，属于不合格产品，则所述处理器220将目标电路关闭。

S142，在待机工作状态下，确定所述目标电路的待机电流满足预设条件。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111向所述目标电路001发送指令，指示所述目标电路001进入待机工作状态。当所述目标电路001处于待机工作状态，所述处理器220通过所述目标接口111向所述目标电路001发送读取目标电路待机电流的指令，然后从所述目标接口111接收反馈的目标电路待机电流数据。所述处理器220将所述目标电路待机电流数据与所述参考信号进行比较，判断是否满足预设条件。如果待机电流满足预设条件，则表示所述目标电路运行正常，所述处理器220继续执行流程步骤S124；否则表示所述目标电路运行不正常，属于不合格产品，则所述处理器220将目标电路关闭。

S124，目标电路由待机工作状态恢复正常工作状态。

比如，所述目标电路001已经进入待机工作状态，此时所述处理器220无法向已经处于待机状态的所述目标电路001中的目标芯片写入目标编号。所述处理器220通过所述目标接口111指示所述目标电路001由待机工作状态恢复至正常工作状态。

S150，保持目标电路当前的工作状态，并通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

比如，所述处理器220确定所述目标电路001的目标电流满足预设条件后，指示所述目标电路001保持当前的工作状态。所述处理器220调用存储于存储器230中的目标编号，然后可以立即通过所述目标接口111对所述目标电路001中的目标芯片写入目标编号。这样所述处理器220能够减少指令执行时间。或者所述处理器220调用存储于存储器230中的目标编号，然后也可以等待第二预设时长，再通过所述目标接口111对目标电路001中的目标芯片写入目标编号。这样所述处理器220能够减少目标电流的读取指令与目标编号的写入指令发送冲突的可能。所述第二预设时长可以根据不同的目标电路进行设定。

S160，通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，确定所述目标编号写入成功，然后运行验号流程。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111读取所述目标芯片中已经写入的目标编号。所述处理器220将读取的所述已经写入的目标编号与从存储器230中调用的目标编号进行比较，然后运行验号流程。在一些实施例中，所述目标编号可以是IMEI号，MEID号，MAC地址，以及其他公共的地址编号中的任意一个或者多个。

S180，通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。

比如，所述处理器220通过所述目标接口111向所述目标电路001发送释放指令，然后等待目标电路001完成系统关闭。当所述目标电路001系统关闭后，所述处理器220通过所述目标接口111指示所述目标电路001完成下电。

图4是根据本公开的一些实施例提供的另一种一体化电路测试及写号的方法S100-2的流程示意图。图4中同图3中编号相同的步骤内容相同。所述方法S100-2可以由所述一体化电路测试及写号的设备100来执行。比如，一些步骤可以由所述操作机200来执行。具体地，所述处理器220在进行电路测试及写号时可以同所述存储器230通信连接，并且读取存储在所述存储器230中的所述一组或者多组指令。所述一组或者多组指令指示所述处理器220完成所述方法S100-2的流程。

S110，确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接。

S120，通过所述目标接口启动所述目标电路。

S130，等待第一预设时长。

S141，在正常工作状态下，确定所述目标电路的工作电流满足预设条件。

如果所述工作电流满足预设条件，则表示所述目标电路001运行正常。所述处理器220继续执行流程步骤S150。

如果所述工作电流不满足预设条件，则表示所述目标电路001运行不正常，属于不合格产品。所述处理器220将目标电路001关闭。

S150，等待第二预设时长，保持目标电路当前的工作状态，并通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。比如，处理器220可以根据不同的目标电路001设置合理的等待第二预设时长。这样处理器220可以减少读取指令和写入指令发生冲突的可能。

S142，在待机工作状态下，确定所述目标电路的待机电流满足预设条件。

如果所述待机电流满足预设条件，则表示所述目标电路001运行正常。所述处理器220继续执行流程步骤S160运行验号流程。

如果所述待机电流不满足预设条件，则认为所述目标电路001运行不正常，需要进行产品质量复检。由于上述编号通常由相关管理部门进行分配，需要占用公共资源并支付许可使用费，因此如果目标电路001是不合格产品，则需要回收所述目标编号。因此，如果待机电流不满足预设条件，所述处理器220则执行流程步骤S170回收所述目标编号。

S160，通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，确定所述目标编号写入成功，然后运行验号流程。

S170，当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述目标电流不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。比如，所述处理器220通过所述目标接口111对所述目标电路001中的目标芯片写入目标编号，发生在所述处理器220确定所述目标电流满足预设条件之前。当所述目标编号已经写入所述目标电路001后，所述处理器220判断所述目标电流满足预设条件，则继续执行流程步骤；否则所述处理器220将所述目标编号回收，形成回收目标编号，然后关闭目标电路。所述回收目标编号存储于存储器230中，可以被再次调用。

S180，通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。

图5是根据本公开的一些实施例提供的另一种一体化电路测试及写号的方法S100-3的流程示意图。图5中同图3以及图4中编号相同的步骤内容相同。所述方法S100-3可以由所述一体化电路测试及写号的设备100来执行。比如，一些步骤可以由所述操作机200来执行。具体地，所述处理器220在进行电路测试及写号时可以同所述存储器230通信连接并且读取存储在所述存储器230中的所述一组或者多组指令。所述一组或者多组指令指示所述处理器220完成所述方法S100-3的流程。

S110，确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接。

S120，通过所述目标接口启动所述目标电路。

S130，等待第一预设时长。

S150，保持目标电路当前的工作状态，并通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

S141，在正常工作状态下，确定所述目标电路的工作电流满足预设条件。

如果所述工作电流满足预设条件，则表示所述目标电路001运行正常。所述处理器220执行流程步骤S142。

如果所述工作电流不满足预设条件，则表示所述目标电路001运行不正常，属于不合格产品，需要进行产品质量复检。所述处理器220执行流程步骤S170回收目标编号，然后所述处理器220指示所述目标电路完成关闭。

S142，在待机工作状态下，确定所述目标电路的待机电流满足预设条件。

如果所述待机电流满足预设条件，则表示所述目标电路001运行正常。所述处理器220执行流程步骤S160。

如果所述待机电流不满足预设条件，则表示所述目标电路001运行不正常，属于不合格产品，需要进行产品质量复检。所述处理器220执行流程步骤S170回收目标编号，然后所述处理器220指示所述目标电路完成关闭。

S160，通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，确定所述目标编号写入成功，然后运行验号流程。

S170，当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述目标电流不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。

S180，通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。

对于图4以及图5中本公开示出的实施例，处理器220执行步骤S150对目标电路001写入目标编号，先于步骤S142确定所述目标电路001的待机电流满足预设条件。这样，目标电路001能够避免在测完待机电流后，需要重新启动恢复正常工作状态，才能被写入目标编号。目标电路001能够避免在电路测试及写号过程中重复启动。同时，通过设置目标编号回收机制，本方法可以避免先写入目标编号然后再测待机电流可能带来的目标编号浪费。

本公开另一方面提供一种计算机可读存储介质。所述存储介质中存储有所述一体化电路测试及写号的方法指令。当所述指令被处理器执行时，所述指令指导所述处理器实施本公开所述的一体化电路测试及写号的方法的步骤。在一些可能的实施方式中，本公开的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式，其包括程序代码。用于实现上述方法的程序产品可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)包括程序代码，并可以在数据处理设备上运行。然而，本公开的程序产品不限于此，在本公开中，可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统(例如处理器220)使用或者与其结合使用。所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。所述计算机可读存储介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读存储介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质，该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本公开操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言一诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言-诸如″C″语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在处理器220上执行、部分地在一体化电路测试及写号的设备100上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在数据处理设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备上执行。

综上所述，在阅读本详细公开内容之后，本领域技术人员可以明白，前述详细公开内容可以仅以示例的方式呈现，并且可以不是限制性的。尽管这里没有明确说明，本领域技术人员可以理解本公开意图囊括对实施例的各种合理改变，改进和修改。这些改变，改进和修改旨在由本公开提出，并且在本公开的示例性实施例的精神和范围内。

此外，本公开中的某些术语已被用于描述本公开的实施例。例如，″一个实施例″，″实施例″和/或″一些实施例″意味着结合该实施例描述的特定特征，结构或特性可以包括在本公开的至少一个实施例中。因此，可以强调并且应当理解，在本公开的各个部分中对″实施例″或″一个实施例″或″替代实施例″的两个或更多个引用不一定都指代相同的实施例。此外，特定特征，结构或特性可以在本公开的一个或多个实施例中适当地组合。

应当理解，在本公开的实施例的前述描述中，为了帮助理解一个特征，出于简化本公开的目的，本公开有时将各种特征组合在单个实施例、附图或其描述中。或者，本公开又是将各种特征分散在多个本公开的实施例中。然而，这并不是说这些特征的组合是必须的，本领域技术人员在阅读本公开的时候完全有可能将其中一部分特征提取出来作为单独的实施例来理解。也就是说，本公开中的实施例也可以理解为多个次级实施例的整合。而每个次级实施例的内容在于少于单个前述公开实施例的所有特征的时候也是成立的。

在一些实施方案中，表达用于描述和要求保护本公开的某些实施方案的数量或性质的数字应理解为在某些情况下通过术语″约″，″近似″或″基本上″修饰。例如，除非另有说明，否则″约″，″近似″或″基本上″可表示其描述的值的±20％变化。因此，在一些实施方案中，书面描述和所附权利要求书中列出的数值参数是近似值，其可以根据特定实施方案试图获得的所需性质而变化。在一些实施方案中，数值参数应根据报告的有效数字的数量并通过应用普通的舍入技术来解释。尽管阐述本公开的一些实施方案列出了广泛范围的数值范围和参数是近似值，但具体实施例中都列出了尽可能精确的数值。

本文引用的每个专利，专利公开，专利公开的出版物和其他材料，例如文章，书籍，公开，出版物，文件，物品等，可以通过引用结合于此。用于所有目的的全部内容，除了与其相关的任何起诉文件历史，可能与本文件不一致或相冲突的任何相同的，或者任何可能对权利要求的最宽范围具有限制性影响的任何相同的起诉文件历史。现在或以后与本文件相关联。举例来说，如果在与任何所包含的材料相关联的术语的描述、定义和/或使用与本文档相关的术语、描述、定义和/或之间存在任何不一致或冲突时，使用本文件中的术语为准。

最后，应理解，本文公开的实施例是对原理的说明。其他修改后的实施例也在本公开的范围内。因此，本公开披露的实施例仅仅作为示例而非限制。本领域技术人员可以根据本公开中的实施例采取替代配置来实现本公开中的技术方案。因此，本公开的实施例不限于公开中被精确地描述过的那些实施例。

Claims (15)

1.一种一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，包括通过电路测试及写号设备：

确定目标接口，通过所述目标接口与目标电路完成连接；

通过所述目标接口启动所述目标电路；

等待第一预设时长；

通过所述目标接口读取所述目标电路的目标电流；

确定所述目标电流满足预设条件；

保持所述目标电路当前的工作状态，并通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号；以及

通过所述目标接口指示所述目标电路完成关闭。

2.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，在所述确定所述目标电流满足预设条件后，立即通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

3.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，在所述确定所述目标电流满足预设条件后，还包括：

等待第二预设时长；以及

通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号。

4.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，还包括：通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号后，

确定所述目标编号写入成功；以及

运行验号流程。

5.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述确定所述目标电流满足预设条件包括：在正常工作状态下，确定所述目标电路的工作电流满足预设条件。

6.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述确定所述目标电流满足预设条件包括：在待机工作状态下，确定所述目标电路的待机电流满足预设条件。

7.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述通过所述目标接口对所述目标电路中的目标芯片写入目标编号发生在所述确定所述目标电流满足预设条件之前；以及

所述方法还包括：当所述目标编号已经写入所述目标电路后，所述目标电流不满足预设条件，则将所述目标编号回收，形成回收目标编号。

8.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述通过所述目标接口启动所述目标电路包括：通过目标接口由独立于所述目标电路的所述电路测试及写号设备自带的目标电源向所述目标电路供电。

9.如权利要求8所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述目标电源包括程控电源。

10.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述目标电路包括智能锁具主板。

11.如权利要求1所述的一体化电路测试及写号的方法，其特征在于，所述目标编号包括IMEI号、MEID号和MAC地址中的至少一个。

12.一种一体化电路测试及写号的设备，其特征在于，包括：

存储器，存储至少一组指令集，用于执行电路测试及写号的方法；以及

处理器，同所述存储器通信连接，所述处理器运行时执行存储器中的所述电路测试及写号的方法指令集，并且根据所述电路测试及写号的方法指令集执行权利要求1至11中任意一项所述的方法。

13.如权利要求12所述的一种一体化电路测试及写号的设备，其特征在于，还包括：

测试治具，通过所述目标接口与所述目标电路电连接，并通过I/O组件与处理器进行数据通信；以及

目标电源，所述目标电源的第一端在工作时与所述的一体化电路测试及写号设备外部的供电电源电连接，第二端包括供电接口，所述供电接口工作时与测试治具电连接，为所述一体化电路测试及写号的设备提供功率源，以及提供标准的电压和电流信号，作为电路测试过程中的参考信号值。

14.如权利要求12所述的一种一体化电路测试及写号的设备，其特征在于，还包括，所述存储器中存储至少一组所述目标编号，用于写号时进行调用；以及所述存储器中可以存储回收目标编号，用于目标编号回收后再次被调用。

15.如权利要求12所述的一种一体化电路测试及写号的设备，其特征在于，还包括MES系统，通过所述MES系统对所述指令、目标编号、目标电流测试数据进行管理维护。

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