CN108647149A - 电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质。该方法包括：接收多个电子设备发送的测试配置项请求；根据多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。该方法通过多个电子设备同步并行的执行基于linux系统的多个测试用例，极大的缩短了电子设备测试时间，提高了产线测试效率，并且免去了安卓版本频繁升级带来的适配操作，缩短了产线调试的时间，从而进一步提高了产线测试效率，降低了产品成本。

Description

电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质

技术领域

本申请涉及通信领域，特别是涉及一种电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质。

背景技术

随着电子科学技术的发展，电子设备在人们的生活中占据着举足轻重的地位，而电子设备市场的竞争也日益激烈。以电子终端为例，各家厂商除了在市场的激烈竞争之外，其对于各自产品的生产成本的把控也成为了电子设备降低成本、提高利润的重要手段。通常，电子设备的产线测试流程所需要的产测时长在产品生产的时长中占据极大比例，因此，产线效率成为影响产品成本的重要因素。

目前，在现有的电子设备生产线上，对于电子设备，例如终端产品的板卡测试是通过手动执行各个测试用例，实现板卡的测试。

然而，现有技术的测试效率低。

发明内容

基于此，有必要针对上述产线测试效率低的技术问题，提供一种能够提高产线测试效率的电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种电子设备的测试方法，包括：

接收多个电子设备发送的测试配置项请求；

根据所述多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

第二方面，本发明实施例提供一种电子设备的测试方法，包括：

向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送所述多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；

根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

在其中一个实施例中，所述触发所述多个测试用例并行执行，包括：

从所述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项；

在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作。

在其中一个实施例中，所述待配合测试项包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

在其中一个实施例中，所述根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作，包括：

根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具中的机械臂发送插件测试请求；

其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

在其中一个实施例中，所述根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，包括：

根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；

其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

第三方面，本发明实施例提供一种电子设备的测试装置，包括：接收模块和发送模块；

所述接收模块，用于接收多个电子设备发送的测试配置项请求；

所述发送模块，用于根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

第四方面，本发明实施例提供一种电子设备的测试装置，包括：发送模块和触发模块。

所述发送模块，用于向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；

所述触发模块，用于根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；

其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

第五方面，本发明实施例提供一种电子设备的测试系统，包括：多个电子设备、上位机以及用于夹持所述电子设备的夹具，每个电子设备分别与所述上位机连接；

所述上位机，用于接收多个电子设备发送的测试配置项请求，以及根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例；

所述电子设备，用于向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项，并根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

第六方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

接收多个电子设备发送的测试配置项请求；

根据所述多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

第七方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送所述多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；

根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

上述电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质，根据接收多个电子设备发送的多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使多个电子设备对多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。由于多个电子设备同步向上位机发送测试配置项请求，并且该上位机根据所接收到的测试配置项请求之后同步向多个电子设备发送测试配置项，以使得每个电子设备同步独立地建立多个线程，从而分别自动并且同步地执行多个测试用例，故而使得多个电子设备分别独立的同步完成多个测试项，其相比与传统技术中每次只进行一台电子设备的测试，并且每一台电子设备的测试均将多个测试用例依次采用人工触发的模式依次进行，极大的缩短了电子设备的产线测试时间。并且，由于上述电子设备的测试用例均在linux系统下执行，其启动速度明显高于通常使用的安卓系统，因此进一步缩短了电子设备的产线测试时长；进一步的，常用的安卓系统其迭代升级过于频繁，所携带的测试用例在每次升级安卓版本的时候均需要在新的版本上进行适配，从而导致的版本维护过于繁琐。本实施例通过在linux系统下执行测试用例，在加快了开机速度的同时，免去了每次安卓版本迭代升级带来的适配操作，其进一步增强了版本稳定性，以及缩短了产线调试的时间，从而进一步提高了产线测试效率。本实施例中，由于多个电子设备均基于linux系统，且多个电子设备同步并行的执行多个测试用例，由此极大的缩短了电子设备在产线上的测试时间，大大提高了产线测试效率，并且极大的节约了人力，从而大大降低了电子设备的生产成本。

附图说明

图1为一个实施例提供的电子设备的测试系统的结构示意图；

图1a为一个实施例提供的上位机的内部结构图；

图2为一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图；

图3为另一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图；

图4为又一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图；

图5为一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图；

图6为另一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图；

图7为又一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供的电子设备的测试方法，可以适用于图1所示的电子设备的测试系统，该电子设备的测试系统包括：多个电子设备10、上位机20以及用于夹持所述电子设备10的夹具30，每个电子设备10分别与所述上位机20连接。可选的，上述电子设备10可以为手机终端，还可以为平板电脑，也可以为智能手环、智能手表等智能终端。可选的，上述上位机20可以为PC单机或服务器等具有数据处理功能的计算机设备。上述夹具30可以用于夹持电子设备10，其上可以设置能够放置电子设备10的卡槽和校准电子设备10位置的定位孔以及顶针，该顶针用于与电子设备10的金属触点相连接，从而对电子设备10进行供电以及数据传输等。可选的，上述夹具30还可以具有机械臂，该机械臂能够在触发命令下进行触发操作。其中，电子设备10和上位机20之间可以通过连接线进行连接以实现数据通信，可选的，其可以采用USB连接线，也可以采用串口连接线，只要是采用相同的协议接口即可。

随着电子科学技术的发展，电子产品市场的竞争也日益激烈。对于电子产品的成本控制除了电子元件的硬件成本以外，其生产成本，例如产线效率也是影响电子产品成本的重要方面。因此，提高电子产品的产线效率也是各家厂商着力控制产品成本的重点。而电子产品的产线测试在产品生产的过程中占据极大的时长比例，因此，提高产线测试效率也成为提高产线效率的主要方面。通常，人们对于电子产品的部件的产线测试仍然采用人工进行，例如测试手机的耳机时，通过手机播放音乐，人工听耳机从而判断耳机是否正常。然而，通过该方法其产线测试效率低。

本发明实施例所提供的电子设备的测试方法、装置、系统和存储介质，通过自动的对多个设备进行并行执行多个测试用例，从而实现提高产线效率，降低产品的生产成本，并且提高了电子设备的测试结果的准确性。

需要说明的是，本发明实施例提供的电子设备的测试方法，其执行主体可以是电子设备的测试装置，该装置可以通过软件、硬件或者软硬件结合的方式实现成为上位机或电子设备的部分或者全部。下述方法实施例的执行主体分别以上位机或者电子设备为例来进行说明。

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

图2为一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图，本实施例涉及的是上位机根据所接收的多个电子设备发送的测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项以使电子设备对多个测试配置项进行测试的具体过程。如图2所示，该方法包括：

S101、接收多个电子设备发送的测试配置项请求。

具体的，首先将多个电子设备分别放置在各自对应的夹具的特定位置上，并且将该多个电子设备通过压合夹具，将夹具的顶针与所对应的电子设备的触点电连接，从而使多个电子设备开机。上述多个电子设备开机之后，各自启动Linux系统，通过在Linux系统下，启动adb，并且加载电子设备带有的通信模块，用于分别与上位机建立通信链路，从而分别通过各自建立的通信链路向上位机发送各自准备就绪的状态以及测试配置项请求。

S102、根据所述多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

具体的，上位机接收到上述多个电子设备发送的测试配置项请求之后，即向多个电子设备分别发送多个测试配置项。该测试配置项为需要电子设备执行的测试用例所对应的测试配置项，例如wifi、蓝牙、耳机、LCD、camera等。需要说明的是，该多个电子设备所获取的多个测试配置项均相同，且所获取的测试配置项的时间不分前后次序。其中，在上述多个测试配置项中，每一个测试配置项均对应一个测试用例，用于执行一个测试操作，以确保对应的测试对象在日后的使用中能够正常工作。具体的，每一台电子设备执行多个测试配置项所对应的测试用例的具体过程为：首先，每一台电子设备根据所获得的多个测试配置项建立多个线程，该线程数量可以等于测试配置项的数量，也可以小于测试配置项的数量，其中，每一个线程执行一个测试配置项所对应的测试用例，多个线程分别执行多个测试配置项所对应的多个测试用例，并且，该多个线程同步执行多个测试用例。可选的，每一个线程执行完一个测试用例之后，可以结束该线程，也可以执行其他还未执行的测试用例。

可选的，当上述多个测试用例执行完毕之后，每台电子设备输出各自的测试结果，其将测试结果保存在存储器中。并且，电子设备将上述测试结果发送至上位机中进行存储，可选的，还可以将测试结果显示在上位机的显示装置中；同时，上位机将测试过程中产生的日志进行保存以备进行产线数据的统计和后续问题的回溯。

本实施例中，上位机接收多个电子设备发送的测试配置项请求，并根据该多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使该多个电子设备对该多个测试配置项进行测试，在具体测试时，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的基于Linux系统的测试用例均并行执行，多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例。本实施例中，通过多个电子设备同步向上位机发送测试配置项请求，并且该上位机根据所接收到的测试配置项请求同步向多个电子设备发送测试配置项，以使得每个电子设备同步独立地建立多个线程，从而分别自动并且同步地执行自身的多个测试用例，故而使得多个电子设备分别独立的同步完成多个测试项，其相比与传统技术中每次只进行一台电子设备的测试，并且每一台电子设备的测试均将多个测试用例依次采用人工触发的模式依次进行来说，极大的缩短了电子设备的产线测试时间。并且，由于上述电子设备的测试用例均在linux系统下执行，其启动速度明显高于通常使用的安卓系统，因此进一步缩短了电子设备的产线测试时长；进一步的，常用的安卓系统其迭代升级过于频繁，所携带的测试用例在每次升级安卓版本的时候均需要在新的版本上进行适配，从而导致的版本维护过于繁琐。

本实施例中，通过多个电子设备根据上位机发送测试配置项同步且独立地建立多个线程，从而同步且并行执行各自的多个测试用例，使得多个电子设备分别独立的同步完成多个测试项，其极大的缩短了电子设备的产线测试时间，大大提高了产线测试效率；并且，由于上述电子设备的测试用例均在linux系统下执行，其开机时间缩短，因此在大大缩短了电子设备的产线测试时长的同时，还免去了由于安卓版本频繁迭代升级带来的适配操作，进一步增强了版本测试过程的稳定性，以及缩短了产线调试的时间，从而进一步提高了产线测试效率，大大降低了产品成本。

图3为另一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图，本实施例涉及的是电子设备根据上位机发送的多个测试配置项以执行多个测试用例的具体过程，该实施例的执行主体是电子设备。另外，需要说明的是，下述方法步骤是以一个电子设备的角度来介绍的，图1所示的测试系统中的每个电子设备均按照图3所示的方法步骤执行。如图3所示，该方法包括：

S201、向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行。

具体的，多个电子设备分别放置在各自对应的夹具的特定位置上，并且将该多个电子设备通过压合夹具，将夹具的顶针与所对应的电子设备的触点电连接，从而使多个电子设备开机。上述多个电子设备开机之后，各自启动Linux系统，通过在Linux系统下，各自启动adb，并且各自加载电子设备带有的通信模块，用于分别与上位机建立通信链路，从而分别向通过各自建立的通信链路上位机发送各自准备就绪的状态以及测试配置项请求。上位机根据接收到的多个电子设备发送的测试配置项请求之后，即向多个电子设备分别同时发送多个测试配置项。该多个测试配置项为需要电子设备执行的测试用例所对应的测试配置项。需要说明的是，该多个电子设备所获取的多个测试配置项均相同，且所获取的测试配置项的时间不分前后次序。其中，在上述多个测试配置项中，其每一个测试配置项均对应一个测试用例，用于执行一个测试操作，以确保对应的测试对象在日后的使用中能够正常工作。

S202、根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

具体的，上述每个电子设备均可以根据从上位机所获取的多个测试配置项，根据该多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发该多个测试用例同时执行，其具体过程为：首先，每一台电子设备根据所获得的多个测试配置项建立多个线程，该线程数量可以等于多个测试配置项的数量，也可以小于测试配置项的数量，其中，每一个线程执行一个测试配置项所对应的测试用例，多个线程分别执行多个测试配置项所对应的多个测试用例，并且，该多个线程同步执行多个测试用例。可选的，每一个线程执行完一个测试用例之后，可以结束该线程，也可以用来执行其他还未执行的测试用例。

可选的，当上述多个测试用例执行完毕之后，每台电子设备输出各自的测试结果，其将测试结果保存在存储器中。并且，电子设备将上述测试结果发送至上位机中进行存储，可选的，还可以将测试结果显示在上位机的显示装置中；同时，上位机将测试过程中产生的日志进行保存以备进行产线数据的统计和后续问题的回溯。

本实施例中，每个电子设备均会向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，上位机向电子设备发送多个测试配置项与上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行，以及上述多个电子设备根据多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发该多个测试用例并行执行；其中，电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。通过多个电子设备同步向上位机发送测试配置项请求，以接收上位机同步向多个电子设备发送测试配置项，从而使得每个电子设备同步独立地建立多个线程，以分别自动且同步地执行多个测试用例，故而使得多个电子设备分别独立的同步完成多个测试项，其相比与传统技术中每次只进行一台电子设备的测试，并且每一台电子设备的测试均将多个测试用例依次采用人工触发的模式依次进行，极大的缩短了电子设备的产线测试时间。并且，由于上述电子设备的测试用例均在linux系统下执行，其启动速度明显高于通常使用的安卓系统，因此进一步缩短了电子设备的产线测试时长；进一步的，常用的安卓系统其迭代升级过于频繁，所携带的测试用例在每次升级安卓版本的时候均需要在新的版本上进行适配，从而导致的版本维护过于繁琐。

本实施例中，多个电子设备根据上位机发送多个测试配置项同步且独立地建立多个线程，从而同步且并行执行各自的多个测试用例，使得多个电子设备分别独立的同步完成多个测试项，其极大的缩短了电子设备的产线测试时间，大大提高了产线测试效率；并且，由于上述电子设备的测试用例均在linux系统下执行，其开机时间缩短，因此在大大缩短了电子设备的产线测试时长的同时，还免去了由于安卓版本频繁迭代升级带来的适配操作，进一步增强了版本测试过程的稳定性，以及缩短了产线调试的时间，从而进一步提高了产线测试效率，大大降低了产品成本。

图4为又一个实施例提供的电子设备的测试方法的流程示意图，本实施例涉及的是电子设备触发所述多个测试用例并行执行的具体过程。如图4所示，上述S202具体包括：

S301、从所述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项。

具体的，当上述多个测试配置项中包括需要夹具配合的测试项时，则电子设备将该测试项确定为需要夹具配合的待配合测试项。当测试项需要外部接触机构对电子设备进行触发操作以完成测试，例如按键测试项需要外部接触机构对按键进行按压动作以完成测试，则将该测试项确定为需要夹具配合的待配合测试项。可选的，该接触结构可以是设置在夹具上的机械臂等。

可选的，所述待配合测试项可以包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

具体的，电子设备在制造过程中，按键容易由于安装不到位或按键本身来料不良导致按键功能不正常，因此设置按键测试项。该按键测试项需要模拟正常使用按键的情况，即对按键进行按压操作来测试按键功能是否正常，因此需要外部接触机构对该按键进行按压操作；以及LCD在安装过程中也有可能因为焊接引脚虚焊导致接触不良，或LCD本身来料不良等原因导致LCD对外界的触摸反映不正常，因此需要设置LCD测试项。该LCD测试项需要模拟正常触摸LCD的场景，通过上述外部接触机构对LCD进行触摸的操作来测试LCD是否正常工作，故而将上述按键测试项、LCD测试项中的至少一个确定为待配合测试项。

S302、在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作。

具体的，电子设备在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，由于上述待配合测试项无法通过电子设备自身的测试用例完成测试，而需要借助外部接触机构对电子设备进行按压或触摸等触发操作以进行触发，从而配合电子设备自身的测试用例完成相应的测试，因此，通过上述测试用例向上述夹具发送相应的控制指令，以指示夹具控制其接触机构，例如机械臂，从而实现按压或触摸的触发动作。

可选的，S302中电子设备根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作的具体过程，可以参见后文的具体描述，此处不再赘述。

本实施例中，电子设备通过从上述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项，并在触发多个测试用例并行执行的过程中，根据上述待配合测试项的测试用例控制夹具执行触发动作，从而控制夹具的接触机构，例如机械臂，实现触发操作，上述待配合测试项的测试用例控制夹具执行触发动作，从而代替了人工实现的触发操作，使得整个测试过程实现完全的自动化，其避免了人工执行触发操作导致的操作力度所带来的测试结果不稳定，以及操作时长不一致导致导致的测试时间不可控的问题。

本实施例中，通过电子设备控制夹具的触发机构自动执行触发操作，从而配合完成测试项，其使得上述测试项的测试过程完全自动化，使得其测试结果更稳定，进而保证产品的性能指标一致性更好的同时，其测试速度进一步加快，因而进一步提高了产线效率。

作为上述实施例中S302的一种可能的实施方式，该S302具体可以包括：根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具中的机械臂发送插件测试请求；其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

具体的，当待配合测试项为按键测试项时，电子设备通过sendCMDOperator接口向夹具发送用于指示机械臂执行触发动作的插件测试请求，该夹具中的机械臂在该插件测试请求的指示下，可以执行一次或多次按压操作。可选的，该机械臂的接触部分的位置设置与电子设备的按键位置相对应，使得该机械臂无需进行位移，仅通过机械式的点按即能够实现按键的按压操作；可选的，该机械臂的接触部分的位置还可以设置在其他部位，其通过电子设备发送的插件测试请求，从而移动该机械臂，使得机械臂对准待测试的按键并按压按键。

当上述待配合测试项为LCD测试项时，电子设备通过sendCMDOperator向夹具发送用于指示机械臂执行触发动作的插件测试请求，该夹具中的机械臂在该插件测试请求的指示下，可以执行一次或多次触摸操作。需要说明的是，该机械臂设置的位置与电子设备的LCD的预设测试区域位置相对应，能够实现LCD的预设区域的触摸操作。可选的，上述按压按键的机械臂和上述触摸LCD的机械臂可以为同一个机械臂，也可以是不同的机械臂；当按压按键的机械臂和触摸LCD的机械臂为同一个机械臂时，则测试按键的测试用例和测试LCD的测试用例按照先后次序执行；当按压按键的机械臂和触摸LCD的机械臂为不同的机械臂时，则测试按键的测试用例和测试LCD的测试用例可以分别利用不同的线程同步执行，对此本实施例不作限定。

本实施例中，电子设备根据上述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向夹具中的机械臂发送插件测试请求，该机械臂根据所接收到的插件测试请求执行相应的触发动作，从而自动配合完成上述待配合测试项，其使得上述待配合测试项的测试过程完全自动化，因而其测试结果更稳定，并且测试速度进一步加快，从而使得产品的性能指标一致性更好的同时，进一步提高了产线效率，降低了产品成本。

作为上述实施例中S202的一种可能的实施方式，该S202具体可以包括：根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

具体的，多个电子设备根据上位机发送的多个测试配置项的个数，各自建立多个线程，并且所建立的线程的个数和测试配置项的个数可以相等，同时，每一台电子设备确定每一个测试项对应的测试用例，从而使得所有的测试用例均可以分配到一个单独的线程来执行一个测试用例，故而无需等待部分测试用例执行完成之后，释放出空闲的线程来执行其他还未执行的测试用例，其使得所有的测试用例能够通过其分配的单独的线程同步并行的执行，其最大化的利用了电子设备的资源，并且最大化的节约了测试时间，从而极大的提高了产线测试的效率，进一步降低了产品成本。

应该理解的是，虽然图2-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2-4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

图5为一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图。如图5所示，该装置包括：接收模块11和发送模块12。

具体的，接收模块11，用于接收多个电子设备发送的测试配置项请求。

发送模块12，用于根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

本实施例提供的电子设备的测试装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

图6为另一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图。如图6所示，该装置包括：发送模块13和触发模块14。

具体的，发送模块13，用于向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行。

触发模块14，用于根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

本实施例提供的电子设备的测试装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

图7为又一个实施例提供的电子设备的测试装置的结构示意图。如图7所示，上述触发模块14具体可以包括：确定单元141和控制单元142。

具体的，确定单元141，用于从所述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项；

控制单元142，用于在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作。

本实施例提供的电子设备的测试装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，所述待配合测试项包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

在一个实施例中，上述控制单元142，具体可以用于根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具中的机械臂发送插件测试请求；其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

本实施例提供的电子设备的测试装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，上述控制单元142，具体可以用于根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

本实施例提供的电子设备的测试装置，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

关于电子设备的测试装置的具体限定可以参见上文中对于电子设备的测试方法的限定，在此不再赘述。上述电子设备的测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是前述方法实施例中的上位机，还可以是前述方法实施例中的电子设备，其内部结构图均可以如图1a所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储运算过程数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电子设备的测试方法。

本领域技术人员可以理解，图1a示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

继续参见图1所示的电子设备的测试系统，该系统包括：多个电子设备10、上位机20以及用于夹持所述电子设备10的夹具30，每个电子设备10分别与所述上位机20连接；

所述上位机20，用于接收多个电子设备10发送的测试配置项请求，以及根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备10发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备10对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备10中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备10同步且独立执行各自的测试用例；

所述电子设备10，用于向上位机20发送测试配置项请求，以获取所述上位机20发送的多个测试配置项，并根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述上位机20向所述电子设备10发送多个测试配置项与所述上位机20向其他电子设备10发送测试配置项同步进行，所述电子设备10中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

本实施例提供的电子设备的测试系统，可以执行上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，所述电子设备10，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：从所述多个测试配置项中确定需要夹具30配合的待配合测试项；在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具30执行触发动作。

在一个实施例中，所述待配合测试项包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具30中的机械臂发送插件测试请求；其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

上述实施例提供的系统，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：接收多个电子设备发送的测试配置项请求；根据所述多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

在一个实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送所述多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：从所述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项；在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作。

在一个实施例中，所述待配合测试项包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具中的机械臂发送插件测试请求；其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

上述实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (12)

1.一种电子设备的测试方法，其特征在于，包括：

接收多个电子设备发送的测试配置项请求；

根据多个测试配置项请求分别向所述多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

2.一种电子设备的测试方法，其特征在于，包括：

向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送所述多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；

根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述触发所述多个测试用例并行执行，包括：

从所述多个测试配置项中确定需要夹具配合的待配合测试项；

在触发所述多个测试用例并行执行的过程中，根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待配合测试项包括：按键测试项、LCD测试项中的至少一个。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待配合测试项的测试用例控制所述夹具执行触发动作，包括：

根据所述待配合测试项的测试用例，通过sendCMDOperator接口向所述夹具中的机械臂发送插件测试请求；

其中，所述插件测试请求用于指示所述机械臂执行所述触发动作。

6.根据权利要求2-5任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，包括：

根据所述多个测试配置项的个数，确定并行执行的测试用例的个数以及每个测试项对应的测试用例；

其中，所述并行执行的测试用例的个数等于所述多个测试配置项的个数。

7.一种电子设备的测试装置，其特征在于，包括：接收模块和发送模块；

所述接收模块，用于接收多个电子设备发送的测试配置项请求；

所述发送模块，用于根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；

其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例，每个电子设备中的测试用例均为基于Linux系统的测试用例。

8.一种电子设备的测试装置，其特征在于，包括：发送模块和触发模块；

所述发送模块，用于向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行；

所述触发模块，用于根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；

其中，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

9.一种电子设备的测试系统，其特征在于，所述系统包括：多个电子设备、上位机以及用于夹持所述电子设备的夹具，每个电子设备分别与所述上位机连接；

所述上位机，用于接收多个电子设备发送的测试配置项请求，以及根据多个测试配置项请求分别向多个电子设备发送多个测试配置项，以使所述多个电子设备对所述多个测试配置项进行测试；其中，同一个电子设备中的全部测试配置项对应的测试用例并行执行，所述多个电子设备同步且独立执行各自的测试用例；

所述电子设备，用于向上位机发送测试配置项请求，以获取所述上位机发送的多个测试配置项，并根据所述多个测试配置项确定并行执行的多个测试用例，并触发所述多个测试用例并行执行；其中，所述上位机向所述电子设备发送多个测试配置项与所述上位机向其他电子设备发送测试配置项同步进行，所述电子设备中的测试用例为基于Linux系统的测试用例。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求2至6中任一项所述方法的步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1所述的方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求2至6中任一项所述的方法的步骤。