CN115862499B - 显示面板及其驱动方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及其驱动方法。显示面板包括面板基底；面板基底设置有数据线和呈阵列排布的像素电路，其中，数据线向像素电路分时提供数据信号和检测信号；像素电路对发光器件进行驱动或检测。像素电路包括：驱动模块、数据写入模块和检测模块。驱动模块用于响应其控制端的电位而产生驱动电流，以驱动发光器件发光；数据写入模块用于在显示模式下，将数据信号写入驱动模块的控制端；检测模块用于在检测模式下，将检测信号传输至发光器件的第一极。本发明实施例可以降低显示面板坏点检测的难度，降低检测成本。

Description

显示面板及其驱动方法

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其驱动方法。

背景技术

Mirco LED(微米发光二极管)显示作为新型显示技术，因其具备自发光和寿命长等优势而被广泛关注。Micro LED显示面板中可以单独控制每个发光二极管显示发光。但由于二极管芯片本身的缺陷、巨量转移技术的限制、或使用过程中的损耗等原因，显示面板中的发光二极管存在短路或断路的风险，影响显示效果，甚至可能损坏显示面板。现有技术中，通常采用点屏、拍照等光学手段进行坏点检测；但在检测过程中需要使用复杂的光学设备，操作复杂，检测成本较高。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示面板及其驱动方法，以降低显示面板坏点检测的难度，降低检测成本。

为实现上述技术目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种显示面板，包括面板基底；

所述面板基底设置有数据线和呈阵列排布的像素电路，其中，所述数据线向所述像素电路分时提供数据信号和检测信号；所述像素电路对发光器件进行驱动或检测；

所述像素电路包括：

驱动模块，所述驱动模块和所述发光器件串联连接于第一电源端和第二电源端之间；所述驱动模块用于响应其控制端的电位而产生驱动电流，以驱动所述发光器件发光；

数据写入模块，所述数据写入模块的输入端与所述数据线电连接，所述数据写入模块的输出端与所述驱动模块的控制端电连接；所述数据写入模块用于在显示模式下，将所述数据信号写入所述驱动模块的控制端；

检测模块，所述检测模块的输入端与所述数据线电连接，所述检测模块的输出端与所述发光器件的第一极电连接；所述检测模块用于在检测模式下，将所述检测信号传输至所述发光器件的第一极。

可选地，所述驱动模块包括：驱动晶体管；所述驱动晶体管的栅极作为所述驱动模块的控制端，所述驱动晶体管的第一极与所述第一电源端电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光器件电连接；

或者，所述数据写入模块包括：第一晶体管；所述第一晶体管的栅极接入第一扫描信号，所述第一晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第一晶体管的第二极与所述驱动模块的控制端电连接。

可选地，所述数据写入模块包括：

第二晶体管，所述第二晶体管的栅极接入第一扫描信号，所述第二晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第二晶体管的第二极与所述驱动模块的第一端电连接；

第三晶体管，所述第三晶体管的栅极接入所述第一扫描信号，所述第三晶体管的第一极与所述驱动模块的第二端电连接，所述第三晶体管的第二极与所述驱动模块的控制端电连接；

优选地，所述像素电路还包括：发光控制模块，包括：

第四晶体管，所述第四晶体管的栅极接入发光控制信号，所述第四晶体管的第一极与所述第一电源端电连接，所述第四晶体管的第二极与所述驱动模块的第一端电连接；

第五晶体管，所述第五晶体管的栅极接入所述发光控制信号，所述第五晶体管的第一极与所述驱动模块的第二端电连接，所述第五晶体管的第二极与所述发光器件的第一极电连接。

可选地，所述检测模块包括：

第六晶体管，所述第六晶体管的栅极接入第二扫描信号，所述第六晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第六晶体管的第二极与所述发光器件的第一极电连接，所述发光器件的第二极与所述第二电源端电连接。

可选地，所述显示面板还包括：

级联连接的移位寄存器，所述移位寄存器用于分时向所述数据写入模块提供第一扫描信号，以及向所述检测模块提供第二扫描信号；

第一选择模块，所述第一选择模块串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述数据写入模块的控制端之间；

第二选择模块，所述第二选择模块串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述检测模块的控制端之间；其中，所述第一选择模块和所述第二选择模块分时导通；

优选地，所述第一选择模块包括：第一选择晶体管；所述第一选择晶体管串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述数据写入模块的控制端之间；

所述第二选择模块包括：第二选择晶体管；所述第二选择晶体管串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述检测模块的控制端之间。

可选地，所述第一选择模块包括控制端、第一端和第二端，所述第一选择模块的控制端接入第一选择控制信号，所述第一选择模块的第一端与所述移位寄存器的输出端电连接，所述第一选择模块的第二端与所述数据写入模块的控制端电连接；

所述第二选择模块包括控制端、第一端和第二端，所述第二选择模块的控制端接入第二选择控制信号，所述第二选择模块的第一端与所述移位寄存器的输出端电连接，所述第二选择模块的第二端与所述检测模块的控制端电连接；

优选地，所述显示面板还包括：显示控制模块，所述显示控制模块包括第一选择控制端和第二选择控制端；所述第一选择控制端提供所述第一选择控制信号，所述第二选择控制端提供所述第二选择控制信号。

可选地，所述显示面板还包括显示控制模块，所述显示控制模块包括：

选择单元，包括第一端、第二端和输出端；所述选择单元的输出端与所述数据线对应电连接；所述选择单元用于分时将其第一端和输出端导通，以及将其第二端和输出端导通；

数据信号生成单元，与所述选择单元的第一端电连接；所述数据信号生成单元用于向所述数据线输出所述数据信号；

检测信号生成单元，与所述选择单元的第二端电连接；所述检测信号生成单元用于向所述数据线输出所述检测信号；

电压感测单元和存储器，所述电压感测单元串联连接于所述选择单元的第二端和所述存储器之间；所述电压感测单元用于在检测模式下，感测所述选择单元的第二端的电压，并判断所述发光器件的状态，将状态数据存入所述存储器；

优选地，所述存储器包括多个数据存储单元，所述数据存储单元与所述像素电路一一对应。

可选地，所述检测信号生成单元包括：采样电阻；所述采样电阻的第一端接入直流电源信号，所述采样电阻的第二端作为所述检测信号生成单元的输出端；

优选地，所述采样电阻为可调电阻。

相应地，本发明实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，包括：

显示模式，所述数据线向所述像素电路提供数据信号；所述数据写入模块将所述数据信号写入所述驱动模块的控制端；所述驱动模块响应所述数据信号而产生驱动电流，驱动所述发光器件发光；

检测模式，所述数据线向所述像素电路提供检测信号；所述检测模块将所述检测信号传输至所述发光器件，以检测所述发光器件在所述检测信号的电流通路中的分压。

可选地，在所述显示模式中，所述数据信号生成单元生成所述数据信号；所述选择单元的第一端与输出端之间导通，将所述数据信号传输至所述数据线；

在所述检测模式中，所述检测信号生成单元生成所述检测信号；所述选择单元的第二端与输出端之间导通，将所述检测信号传输至所述数据线；

优选地，在所述检测模块将所述检测信号传输至所述发光器件之后，还包括：

所述电压感测单元感测所述选择单元的第二端的电压，并判断所述发光器件的状态，将状态数据存入所述存储器；

优选地，所述存储器包括多个数据存储单元，所述数据存储单元与所述像素电路一一对应；

将状态数据存入所述存储器，包括：

将所述发光器件的状态数据一一对应存入所述数据存储单元中。

本发明实施例提供的显示面板通过在像素电路中增设检测模块，并设置数据线分时传输数据信号和检测信号，使得像素电路不仅能够用来驱动发光器件进行显示，还能够用来进行发光器件的坏点检测，以通过电性检测的方式检测发光器件的短路和/或断路缺陷。与现有技术相比，本发明实施例无需利用复杂的光学设备进行拍照检测，不仅能够应用于显示面板出厂前的坏点检测，降低检测难度和检测成本；在产品交付给客户后，也能够采用相同的方式进行坏点检测，有利于降低客户的检测难度和检测成本。并且，本发明实施例设置数据线分时传输数据信号和检测信号，无需设置单独的检测线路，有利于简化显示面板的布线，从而有利于高分辨率的产品设计。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种像素电路的驱动时序示意图；

图5是本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种像素电路的驱动时序示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的一种显示控制模块的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的一种发光器件在正常状态下显示面板的等效电路图；

图11是本发明实施例提供的一种发光器件在短路状态下显示面板的等效电路图；

图12是本发明实施例提供的一种发光器件在断路状态下显示面板的等效电路图；

图13是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图14是本发明实施例提供的一种显示面板在显示模式的驱动时序示意图；

图15是本发明实施例提供的一种显示面板在检测模式的驱动时序示意图；

图16是本发明实施例提供的一种显示面板的驱动方法的流程示意图；

图17是本发明实施例提供的一种显示面板在显示模式的驱动方法的流程示意图；

图18是本发明实施例提供的一种显示面板在检测模式的驱动方法的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图参见图1，该显示面板包括面板基底10和焊接于面板基底10上的呈阵列排布的发光器件LED；发光器件LED的第一极21和第二极22分别通过焊接电极23与面板基底10电连接。

下面以图1为例，对发光器件LED可能的状态以及造成缺陷的原因进行说明。图1中示例性地给出了集成倒装结构的发光器件LED，并展示了发光器件LED的三种状态。图1中自左至右第二个发光器件LED处于正常状态，其第一极21和第二极22均通过焊接电极23与面板基底10电连接，两焊接电极23之间不接触，保持绝缘；且发光器件LED本身无缺陷。图1中自左至右第一个发光器件LED处于短路状态，由于焊接电极23的焊料量异常或位置异常，焊接后两焊接电极23相互接触，导致发光器件LED的第一极21和第二极22之间通过焊接电极23短接；发光器件LED短路会在显示面板线路中形成短路点，从而损坏外部驱动电路或由于短路点附近局部过热而损坏周围正常像素电路。图1中自左至右第四个发光器件LED处于断路状态，可能原因是制造工艺缺陷或巨量转移绑定工艺压力过大导致了内部缺陷，使第一极21和第二极22之间断路。基于以上分析可以看出，发光器件易发生断路或短路缺陷；尤其是对于体积远小于常规发光二极管尺寸的Mirco LED(尺寸小于50um)，出现缺陷的风险更大。并且，在显示面板的使用过程中，若不进行坏点检测，短路点或断路点的过热或过压问题会持续累积，最终损坏显示面板。因此，对发光器件的坏点检测十分必要。

示例性地，面板基底10包括层叠设置的衬底层11和驱动电路层12；驱动电路层12中设置有数据线Ld和呈阵列排布的像素电路，其中，数据线Ld向像素电路分时提供数据信号和检测信号；像素电路对发光器件LED进行驱动或检测。

图2是本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图。参见图2，像素电路包括：驱动模块110、数据写入模块120和检测模块130。其中，驱动模块110和发光器件LED串联连接于第一电源端和第二电源端之间；第一电源端用于提供第一电源信号VDD，第二电源端用于提供第二电源信号VSS；驱动模块110用于响应其控制端的电位而产生驱动电流，以驱动发光器件LED发光。数据写入模块120的输入端与数据线Ld电连接，数据写入模块120的输出端与驱动模块110的控制端电连接；数据写入模块120用于在显示模式下，将数据信号写入驱动模块110的控制端。检测模块130的输入端与数据线Ld电连接，检测模块130的输出端与发光器件LED的第一极电连接；检测模块130用于在检测模式下，将检测信号传输至发光器件LED的第一极。

示例性地，发光器件LED可以是Mirco LED等类型的发光二极管；发光器件LED的第一极可以是阳极，与驱动模块110电连接；第二极可以是阴极，接入第二电源信号VSS；其中，第二电源信号VSS可以是接地信号或负电压信号。

本实施例提供的显示面板，可以通过电性检测的方式检测发光器件的状态。示例性地，该显示面板中像素电路的驱动模式包括：检测模式和显示模式。

在检测模式下：数据写入模块120关断，数据信号无法通过数据写入模块120传输至驱动模块110，驱动模块110关断。检测模块130导通，数据线Ld向检测模块130提供检测信号；将检测信号传输至发光器件LED的第一极，以检测发光器件LED在检测信号的电流通路中的分压；根据该分压可判断发光器件LED的状态。示例性地，发光器件LED断路，发光器件LED的第一极的电压约等于检测信号的电压；发光器件LED正常发光，发光器件LED将检测信号进行分压，使其第一极的电压小于检测信号的电压；发光器件LED短路，发光器件LED的第一极的电压约等于第二电源信号VSS的电压。因此，断路状态下发光器件LED第一极的电压大于正常状态下发光器件LED第一极的电压；正常状态下发光器件LED第一极的电压大于短路状态下发光器件LED第一极的电压。

在显示模式下：检测模块130关断，检测信号无法通过检测模块130传输至发光器件LED。数据写入模块120导通，数据线Ld向数据写入模块120提供数据信号，将数据信号写入驱动模块110的控制端；驱动模块110响应数据信号而产生驱动电流，驱动发光器件LED发光。

示例性地，检测模式可以在显示面板出厂前进行；也可以设置检测模式定时运行，在显示面板每运行一段时间后进行一次缺陷检测，可以及时发现显示面板缺陷并进行修复，避免缺陷累积而损坏显示面板。

本发明实施例提供的显示面板通过在像素电路中增设检测模块130，并设置数据线Ld分时传输数据信号和检测信号，使得像素电路不仅能够用来驱动发光器件LED进行显示，还能够用来进行发光器件LED的坏点检测，以通过电性检测的方式检测发光器件LED的短路和/或断路缺陷。与现有技术相比，本发明实施例无需利用复杂的光学设备进行拍照检测，不仅能够应用于显示面板出厂前的坏点检测，降低检测难度和检测成本；在产品交付给客户后，也能够采用相同的方式进行坏点检测，有利于降低客户的检测难度和检测成本。并且，本发明实施例设置数据线Ld分时传输数据信号和检测信号，无需设置单独的检测线路，有利于简化显示面板的布线，从而有利于高分辨率的产品设计。

在上述各实施例的基础上，数据写入模块120和检测模块130的设置方式有多种，下面就其中的几种进行说明，但不作为对本发明的限定。

图3是本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图。参见图3，在本发明的一种实施方式中，可选地，驱动模块110包括：驱动晶体管DTFT；驱动晶体管DTFT的栅极为驱动模块110的控制端；驱动晶体管DTFT的第一极与第一电源端电连接，接入第一电源信号VDD；驱动晶体管DTFT的第二极与发光器件LED的第一极电连接。本实施例设置驱动模块110仅包括一个驱动晶体管DTFT，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图3，在上述各实施方式的基础上，可选地，数据写入模块120包括：第一晶体管M1；第一晶体管M1的栅极接入第一扫描信号S1，第一极与数据线Ld电连接，第二极与驱动晶体管DTFT的栅极电连接。本实施例设置数据写入模块120仅包括一个晶体管，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图3，在上述各实施方式的基础上，可选地，检测模块130包括：第六晶体管M6，第六晶体管M6的栅极接入第二扫描信号S2，第一极与数据线Ld电连接，第二极与发光器件LED的第一极电连接。本实施例设置检测模块130仅包括一个晶体管，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图3，在上述各实施方式的基础上，可选地，像素电路还包括：存储模块140，包括存储电容C1；存储电容C1的第一端接入第一电源信号VDD，第二端与驱动晶体管DTFT的栅极电连接；存储电容C1用于维持驱动晶体管DTFT的栅极电位。

其中，除检测模块130外，像素电路的其他部分为2T1C结构，即本发明实施例在2T1C结构像素电路的基础上，增设了第六晶体管M6，以采用电信号的方式进行显示面板的缺陷检测。

图4是本发明实施例提供的一种像素电路的驱动时序示意图。结合图3和图4，以各晶体管均为P型晶体管为例，该像素电路的驱动过程包括：

显示模式T10：第一扫描信号S1为低电平，第二扫描信号S2为高电平，数据线Ld传输数据信号。第六晶体管M6截止。第一晶体管M1导通，数据信号通过第一晶体管M1传输至驱动晶体管DTFT的栅极，驱动晶体管DTFT响应数据信号而导通并产生驱动电流，驱动发光器件LED发光。

检测模式T20：第一扫描信号S1为高电平，第二扫描信号S2为低电平，数据线Ld传输检测信号。第一晶体管M1截止，检测信号无法传输至驱动晶体管DTFT，驱动晶体管DTFT关断。第六晶体管M6导通，检测信号通过第六晶体管M6传输至发光器件LED的第一极。通过检测发光器件LED在检测信号的电流通路中的分压，能够判断发光器件LED的状态。

通过以上步骤，本发明实施例实现了对2T1C像素电路的改进，在不影响发光器件LED正常显示的基础上，可通过电性检测的方法对发光器件LED的坏点问题进行检测。

图5是本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图。参见图5，在本发明的另一种实施方式中，可选地，驱动模块110包括：驱动晶体管DTFT；驱动晶体管DTFT的栅极为驱动模块110的控制端，第一极与第一电源端电连接，第二极与发光器件LED的第一极电连接。

检测模块130包括：第六晶体管M6，第六晶体管M6的栅极接入第二扫描信号S2，第一极与数据线Ld电连接，第二极与发光器件LED的第一极电连接。

数据写入模块120包括：第二晶体管M2和第三晶体管M3。第二晶体管M2的栅极接入第一扫描信号S1，第一极与数据线Ld电连接，第二极与驱动晶体管DTFT的第一极电连接；第三晶体管M3的栅极接入第一扫描信号S1，第一极与驱动晶体管DTFT的第二极电连接，第二极与驱动晶体管DTFT的栅极电连接。这样设置，在数据写入的过程中，数据写入模块120可以将数据信号和驱动晶体管DTFT的阈值电压共同写入驱动晶体管DTFT的栅极，从而在发光阶段消除驱动晶体管DTFT阈值电压对发光亮度的影响，提高显示均一性。

继续参见图5，在上述各实施方式的基础上，可选地，像素电路还包括：发光控制模块150。发光控制模块150包括：第四晶体管M4和第五晶体管M5；第四晶体管M4的栅极接入第一发光控制信号EM1，第一极与第一电源端电连接，第二极与驱动晶体管DTFT的第一极电连接；第五晶体管M5的栅极接入第二发光控制信号EM2，第一极与驱动晶体管DTFT的第二极电连接，第二极与发光器件LED的第一极电连接。发光控制模块150用于控制驱动晶体管DTFT和发光器件LED之间的电流流路是否连通。

继续参见图5，在上述各实施方式的基础上，可选地，像素电路还包括：栅极初始化模块160。栅极初始化模块160包括第七晶体管M7；第七晶体管M7的栅极接入第三扫描信号S3，第一极接入参考电压信号Vref，第二极与驱动晶体管DTFT的栅极电连接。栅极初始化模块160用于初始化驱动晶体管DTFT的栅极。本实施例设置栅极初始化模块160仅包括一个晶体管，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图5，在上述各实施方式的基础上，可选地，像素电路还包括：阳极初始化模块170。阳极初始化模块170包括第八晶体管M8；第八晶体管M8的栅极接入第三扫描信号S3，第一极接入参考电压信号Vref，第二极与发光器件LED的第一极(阳极)电连接。阳极初始化模块170用于初始化发光器件LED的第一极。本实施例设置阳极初始化模块170仅包括一个晶体管，使电路结构简单，易于实现。

其中，除检测模块130外，像素电路的其他部分为7T1C结构，即本发明实施例在7T1C结构像素电路的基础上，增设了第六晶体管M6，以采用电信号的方式进行显示面板的缺陷检测。

图6是本发明实施例提供的另一种像素电路的驱动时序示意图。结合图5和图6，以各晶体管均为P型晶体管，第八晶体管M8的栅极接入第三扫描信号S3为例，该像素电路的驱动过程包括：

检测模式T20：第一扫描信号S1、第三扫描信号S3、第一发光控制信号EM1和第二发光控制信号EM2均为高电平，第二扫描信号S2为低电平，数据线Ld传输检测信号。第六晶体管M6导通，其它晶体管均截止；检测信号通过第六晶体管M6传输至发光器件LED的第一极。通过检测发光器件LED在检测信号的电流通路中的分压，能够判断发光器件LED的状态。

显示模式：包括初始化阶段T11、数据写入阶段T12和发光阶段T13。具体地：

在初始化阶段T11，第一扫描信号S1、第二扫描信号S2、第一发光控制信号EM1和第二发光控制信号EM2均为高电平，第三扫描信号S3为低电平。第七晶体管M7与第八晶体管M8导通，其它晶体管均截止。参考电压信号Vref经过第七晶体管M7传输至驱动晶体管DTFT的栅极，对驱动晶体管DTFT进行初始化；且参考电压信号Vref经过第八晶体管M8传输至发光器件LED的第一极，对发光器件LED的第一极进行初始化。

在数据写入阶段T12，第二扫描信号S2、第三扫描信号S3、第一发光控制信号EM1和第二发光控制信号EM2均为高电平，第一扫描信号S1为低电平。驱动晶体管DTFT、第二晶体管M2和第三晶体管M3均导通，其它晶体管均截止；数据线Ld传输数据信号。数据信号经过第二晶体管M2、驱动晶体管DTFT的第一极、驱动晶体管DTFT的第二极和第三晶体管M3向驱动晶体管DTFT的栅极传输；驱动晶体管DTFT的栅极逐渐上升，直至Vdata+Vth，其中，Vdata为数据信号，Vth为驱动晶体管DTFT的阈值电压。

在发光阶段T13，第一扫描信号S1、第二扫描信号S2和第三扫描信号S3均为高电平，第一发光控制信号EM1和第二发光控制信号EM2均为低电平。驱动晶体管DTFT、第四晶体管M4和第五晶体管M5均导通，其它晶体管均截止。第一电源端和第二电源端之间形成电流通路，驱动晶体管DTFT产生驱动电流流入发光器件LED的第一极，驱动发光器件LED发光。

通过以上步骤，本发明实施例实现了对7T1C像素电路的改进，在不影响发光器件LED正常显示的基础上，可通过电性检测的方法对发光器件LED的坏点问题进行检测。

在上述各实施方式的基础上，可选地，第八晶体管M8的栅极也可以接入第一扫描信号S1，使阳极初始化过程与数据写入阶段同时进行。

在上述各实施方式的基础上，可选地，第一发光控制信号EM1复用为第二发光控制信号EM2，可以减少信号线的数量，简化显示面板的布线。

需要说明的是，在图5中示例性地示出了第六晶体管M6的第一极连接至第五晶体管M5的第二极(即发光器件LED的阳极)，并非对本发明的限定。在其他实施例中，可选地，第六晶体管M6的第一极连接至第五晶体管M5的第一极。相应地，在检测模式中，控制第二扫描信号S2和第二发光控制信号EM2均有效，第五晶体管M5响应第二发光控制信号EM2导通，第六晶体管响应第二扫描信号S2导通；检测信号经过第六晶体管M6和第五晶体管M5传输至发光器件LED的阳极，即可实现缺陷检测的功能。

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。参见图7，在上述各实施方式的基础上，可选地，显示面板还包括显示控制模块400。显示控制模块400包括：选择单元410、数据信号生成单元420、检测信号生成单元430、电压感测单元440和存储器450。

其中，选择单元410的输出端413与数据线对应电连接；选择单元410用于分时将其第一端411和输出端413导通，控制输出信号Vout为数据信号，以及将其第二端412和输出端413导通，控制输出信号Vout为检测信号。数据信号生成单元420的输出端421与选择单元410的第一端411电连接；数据信号生成单元420用于向数据线Ld输出数据信号。检测信号生成单元430的输出端432与选择单元410的第二端412电连接；检测信号生成单元430用于向数据线输出检测信号；示例性地，检测信号生成单元430的输入端431接入直流电源信号VCC，以使检测信号生成单元430可以生成检测信号；该直流电源信号VCC可以由电压源或电流源提供。电压感测单元440的第一端441与选择单元410的第二端412电连接，电压感测单元440的第二端442与存储器450的输入端451电连接；电压感测单元440用于在检测模式下，感测选择单元410的第二端412的电压，并判断发光器件的状态，将状态数据存入存储器450。

本发明实施例通过在显示控制模块400中设置数据信号生成单元420、检测信号生成单元430和选择单元410来实现向数据线Ld分时提供数据信号和检测信号的功能；并且将电压感测单元440设置在显示控制模块400中，电压感测单元440将检测到的电压信息经过比对分析得到发光器件的状态数据，再将状态数据转换为编码信息存入存储器450。这样，电压感测单元440并不占据像素电路的面积，有利于减小像素电路的面积，实现显示面板的高分辨率。

图8是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。参见图8，在一种实施方式中，可选地，选择单元410包括：选择开关SW，显示控制模块400通过内部控制选择开关SW的连接点来控制选择单元410中的连接通路。

图9是本发明实施例提供的一种显示控制模块的结构示意图。参见图9，在一种实施方式中，可选地，选择单元410包括：第一控制晶体管TS1和第二控制晶体管TS2；第一控制晶体管TS1的栅极接入第一控制信号CTS1，第一极与数据信号生成单元420电连接，第二极作为选择单元410的输出端；第二控制晶体管TS2的栅极接入第二控制信号CTS2，第一极与检测信号生成单元430电连接，第二极作为选择单元410的输出端。显示控制模块400通过内部产生第一控制信号CTS1和第二控制信号CTS2来控制选择单元410中的连接通路。

继续参见图8，在一种实施方式中，可选地，数据信号生成单元420包括数模转换器DAC和放大器OP，用于将显示控制模块400内部产生的初始数据信号进行转换和放大后形成数据信号。

继续参见图8，在一种实施方式中，可选地，检测信号生成单元430包括：采样电阻Rs；采样电阻Rs的第一端接入直流电源信号VCC，第二端作为检测信号生成单元430的输出端。本实施例设置检测信号生成单元430仅包括一采样电阻Rs，使电路结构简单，易于实现。

在上述各实施方式的基础上，可选地，采样电阻Rs为可调电阻。这样，在检测模式中，在检测位于显示控制模块400近区和远区的像素电路时，可以控制采样电阻Rs为不同阻值，避免面板中不同位置的线阻不同给检测结果带来的偏差。例如控制检测显示控制模块400近区的发光器件时采样电阻Rs的阻值大于检测显示控制模块400远区的发光器件时采样电阻Rs的阻值。

在上述各实施方式的基础上，可选地，电压感测单元440通过感测选择单元410的第二端412的电压来判断发光器件LED的状态的具体步骤包括：电压感测单元440将选择单元410的第二端412的电压与理论值进行比较；若选择单元410第二端412的电压在第一理论值的有效范围内，则发光器件正常；若选择单元410第二端412的电压在在第二理论值的有效范围内，则发光器件短路；若选择单元410第二端412的电压在在第三理论值的有效范围内，则发光器件断路。

图10-图12是本发明实施例提供的发光器件在各状态下显示面板的等效电路图，图10-图12中的相同部件采用相同附图标记，采样电阻Rs、线路等效电阻Rc与发光器件LED串联连接于直流电源端和第二电源端之间；P点代表电压感测单元的电压感测点。下面结合图10-图12，对各个理论值的计算方式进行说明。参见图10，A点为发光器件LED的第一极所在端点。正常状态下，第一理论值(记为Vp1)根据以下公式计算：

Vp1＝[VCC-Vth(led)]/(Rs+Rc)]*Rc+Vth(led) (1)

其中，Vth(led)为发光器件的阈值电压(A点电压值)。

参见图11，短路状态下，第二理论值(记为Vp2)根据以下公式计算：

Vp2＝[VCC/(Rs+Rc)]*Rc (2)

参见图12，断路状态下，第三理论值(记为Vp3)根据以下公式计算：

Vp3＝VCC (3)

在上述各实施方式的基础上，可选地，有效范围为理论值的±10％以内。

继续参见图8，在上述各实施方式的基础上，可选地，显示控制模块400中还包括：接口460，与存储器450连接。外部系统可以通过接口460读取存储器450内存储的检测结果。

在上述各实施方式的基础上，可选地，存储器450可以是随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)。存储器450包括多个数据存储单元，数据存储单元与像素电路一一对应。这样，发光器件的状态数据可以一一对应的存储在数据存储单元中，存储器450中存储的检测结果可提供故障像素电路的具体位置坐标，以便于进行修复工作。示例性地，发光器件的状态数据可以以二进制或十六进制等编码方式记录。例如，显示控制模块400内部可约定0x00代表发光器件正常，0x01代表发光器件短路，0x02代表发光器件断路，读取的信息反馈到系统端，系统端可将异常像素的具体信息显示出来用于修复或解析。表1示例性地给出了一种存储器450中检测结果的存储方式。

表1

参见表1，RAM类型的存储器中的数据存储单元与显示面板中的像素电路一一对应。其中，X1，X2，…，Xn表示像素电路的行号；Y1，Y2，…，Ym表示像素电路的列号。以第3行像素电路的具体状态数据为例，具体地，坐标位置(X3,Y1)的状态数据0x00，代表位于第3行第1列的像素电路的发光器件正常；坐标位置(X3,Y2)的状态数据0x01，代表位于第3行第2列的像素电路的发光器件短路；坐标位置(X3,Y4)的状态数据0x02，代表位于第3行第4列的像素电路的发光器件断路。

在上述各实施例的基础上，下面对像素电路对应的移位寄存器的设置方式进行说明，但不作为对本发明的限定。

图13是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。参见图13，在上述各实施方式的基础上，可选地，显示面板还包括：第一选择模块310、第二选择模块320和级联连接的移位寄存器210。移位寄存器210用于分时向数据写入模块120提供第一扫描信号S1，以及向检测模块130提供第二扫描信号S2。第一选择模块310串联连接于移位寄存器210的输出端和数据写入模块120的控制端之间；第二选择模块320串联连接于移位寄存器210的输出端和检测模块130的控制端之间。第一选择模块310和第二选择模块320分时导通。

示例性地，一级移位寄存器210对应一行像素电路100，一级移位寄存器210对应一个第一选择模块310和一个第二选择模块320。本发明实施例通过设置第一选择模块310和第二选择模块320，使得移位寄存器210能够分时提供数据写入模块所需的第一扫描信号S1和检测模块所需的第二扫描信号S2，因此，本发明实施例无需针对检测模块增加一组移位寄存器210，可有效减少显示面板的边框宽度，满足市场对窄边框产品的需求。

继续参见图13，在上述各实施方式的基础上，可选地，第一选择模块310包括控制端、第一端和第二端；第一选择模块310的控制端接入第一选择控制信号，第一选择模块310的第一端与移位寄存器210的输出端电连接，第一选择模块310的第二端与数据写入模块120的控制端电连接。优选地，第一选择模块310包括：第一选择晶体管T1；面板基底10上还设置有第一扫描线；第一选择晶体管T1通过第一扫描线与数据写入模块120的控制端电连接。本实施例设置第一选择模块310仅包括一个选择晶体管，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图13，在上述各实施方式的基础上，可选地，第二选择模块30包括控制端、第一端和第二端；第二选择模块320的控制端接入第二选择控制信号，第二选择模块320的第一端与移位寄存器210的输出端电连接，第二选择模块320的第二端与检测模块130的控制端电连接。优选地，第二选择模块320包括：第二选择晶体管T2；面板基底10上还设置有第二扫描线；第二选择晶体管T2通过第二扫描线与检测模块130的控制端电连接。本实施例设置第二选择模块320仅包括一个选择晶体管，使电路结构简单，易于实现。

继续参见图13，在上述各实施方式的基础上，可选地，显示控制模块400为驱动芯片。显示控制模块400还包括第一选择控制端G1、第二选择控制端G2和输出端；第一选择控制端G1提供第一选择控制信号，第二选择控制端G2提供第二选择控制信号；显示控制模块400的输出端与数据线一一对应连接。

继续参见图13，在上述各实施方式的基础上，可选地，显示控制模块400还包括启动信号输出端ST，与第1级移位寄存器的输入端电连接，用于向第1级移位寄存器提供启动信号；每级移位寄存器210的输出端均与下一级移位寄存器210的输入端电连接，以实现扫描信号的移位输出。

下面结合图13，通过一个具体实施例对显示面板的具体结构进行说明，但不作为对本发明的限定。具体地，如图13所示，像素电路100在显示面板中阵列排布，显示面板例如包括n*m个像素电路100，那么，共有n级移位寄存器210、n个第一选择模块310、n个第二选择模块320、n条第一扫描线、n条第二扫描线和m条数据线。第1级移位寄存器210与第1个第一选择模块310和第1个第二选择模块320电连接；第1个第一选择模块310与第1条第一扫描线Scan1_1电连接；第1条第一扫描线Scan1_1与第1行像素电路100电连接，即第1条第一扫描线Scan1_1依次与第(1,1)个像素电路100、第(1,2)个像素电路100直至第(1,m)个像素电路100电连接；第1个第二选择模块320与第1条第二扫描线Scan2_1电连接；第1条第二扫描线Scan2_1与第1行像素电路100电连接。以此类推，直至第n级移位寄存器210通过第n个第一选择模块310与第n个第二选择模块320与第n行像素电路100连接。显示控制模块400的第1个输出端OUT1与第1条数据线Ld1电连接；第1条数据线Ld1与第1列像素电路100连接，即第1条数据线Ld1依次与第(1,1)个像素电路100、第(2,1)个像素电路100直至第(n,1)个像素电路100电连接。以此类推，直至显示控制模块400的第m个输出端OUTm与第m条数据线Ldm电连接，第m条数据线Ldm与第m列像素电路100连接。

图14是本发明实施例提供的一种显示面板在显示模式的驱动时序示意图。结合图13和图14，在一种实施方式中，可选地，在显示模式中，第一选择控制信号G1始终保持有效，即保持低电平low，使得所有第一选择模块310保持导通，第一扫描信号得以传输；第二选择控制信号G2始终保持无效，即保持高电平high，使得所有第二选择模块320保持关断，第二扫描信号无法传输。

示例性地，像素电路100逐行扫描；显示模式包括：

第一显示阶段T20_1，第1级第一扫描信号S1_1有效，其他级第一扫描信号均无效；第1行像素电路100进行数据写入并发光。

第二显示阶段T20_2，第2级第一扫描信号S1_2有效，其他级第一扫描信号均无效；第2行像素电路100进行数据写入并发光。

第三显示阶段T20_3，第3级第一扫描信号S1_3有效，其他级第一扫描信号均无效；第3行像素电路100进行数据写入并发光。

以此类推，直至第n显示阶段T20_n，第n级第一扫描信号S1_n有效，其他级第一扫描信号均无效；第n行像素电路100进行数据写入并发光，整个显示面板完成一帧显示。

图15是本发明实施例提供的一种显示面板在检测模式的驱动时序示意图。结合图13和图15，在一种实施方式中，可选地，在检测模式中，第一选择控制信号G1始终保持无效，即保持高电平high，使得所有第一选择模块310保持关断，第一扫描信号无法传输；第二选择控制信号G2始终保持有效，即保持低电平low，使得所有第二选择模块320保持导通，第二扫描信号得以传输。

示例性地，像素电路100逐行检测；检测模式包括：

第一检测阶段T10_1，第1级第二扫描信号S2_1有效，其他级第二扫描信号均无效；进行第1行像素电路100中发光器件的状态检测并记录检测结果。

第二检测阶段T10_2，第2级第二扫描信号S2_2有效，其他级第二扫描信号均无效；进行第2行像素电路100中发光器件的状态检测并记录检测结果。

第三检测阶段T10_3，第3级第二扫描信号S2_3有效，其他级第二扫描信号均无效；进行第3行像素电路100中发光器件的状态检测并记录检测结果。

以此类推，直至第n检测阶段T10_n，第n级第二扫描信号S2_n有效，其他级第二扫描信号均无效；进行第n行像素电路100中发光器件的状态检测并记录检测结果，整个显示面板的坏点检测完成。

本发明实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，适用于本发明任意实施例所提供的显示面板，具有相应的有益效果。图16是本发明实施例提供的一种显示面板的驱动方法的流程示意图。参见图16，该显示面板的驱动方法包括：

S110、显示模式，数据线向像素电路提供数据信号；数据写入模块将数据信号写入驱动模块的控制端；驱动模块响应数据信号而产生驱动电流，驱动发光器件发光。

S120、检测模式，数据线向像素电路提供检测信号；检测模块将检测信号传输至发光器件，以检测发光器件在检测信号的电流通路中的分压。

其中，根据发光器件在检测信号的电流通路中的分压可判断发光器件的状态。示例性地，发光器件断路，发光器件的第一极的电压约等于检测信号的电压；发光器件正常发光，发光器件将检测信号进行分压，使其第一极的电压小于检测信号的电压；发光器件短路，发光器件的第一极的电压约等于发光器件第二极连接的第二电源信号的电压。因此，断路状态下发光器件第一极的电压大于正常状态下发光器件第一极的电压；正常状态下发光器件第一极的电压大于短路状态下发光器件第一极的电压。

示例性地，检测模式可以在显示面板出厂前进行；也可以设置检测模式定时运行，在显示面板每运行一段时间后进行一次缺陷检测，可以及时发现显示面板缺陷并进行修复，避免缺陷累积损坏显示面板。

本发明实施例提供的显示面板的驱动方法，通过设置检测模式，并设置数据线分时传输数据信号和检测信号，使得像素电路不仅能够用来驱动发光器件进行显示，还能够用来进行发光器件的坏点检测，以通过电性检测的方式检测发光器件的短路和/或断路缺陷。与现有技术相比，本发明实施例无需利用复杂的光学设备进行拍照检测，不仅能够应用于显示面板出厂前的坏点检测，降低检测难度和检测成本；在产品交付给客户后，也能够采用相同的方式进行坏点检测，有利于降低客户的检测难度和检测成本。并且，本发明实施例设置数据线分时传输数据信号和检测信号，无需设置单独的检测线路，有利于简化显示面板的布线，从而有利于高分辨率的产品设计。

图17是本发明实施例提供的一种显示面板在显示模式的驱动方法的流程示意图。参见图17，在一种实施方式中，可选地，在显示模式下，显示面板的驱动方法包括以下步骤：

S111、数据信号生成单元生成数据信号；选择单元的第一端与输出端之间导通，将数据信号传输至数据线。

S112、移位寄存器生成第一扫描信号，驱动模块控制第一选择模块导通，使第一扫描信号经过第一选择模块传输至数据写入模块。

其中，第一选择模块可以通过第一扫描线将第一扫描信号传输至数据写入模块。

S113、数据写入模块将数据信号写入驱动模块的控制端。

其中，该步骤相当于数据写入阶段，在该阶段之前，还可以设置初始化阶段，对驱动模块进行初始化，以提高显示均一性。

S114、驱动模块响应数据信号而产生驱动电流，驱动发光器件发光。

本实施例通过S111-S114实现了显示模式下对显示面板的驱动。

图18是本发明实施例提供的一种显示面板在检测模式的驱动方法的流程示意图。参见图18，在一种实施方式中，可选地，在检测模式下，显示面板的驱动方法包括以下步骤：

S121、检测信号生成单元生成检测信号；选择单元的第二端与输出端之间导通，将检测信号传输至数据线。

S122、移位寄存器生成第二扫描信号；驱动模块控制第二选择模块导通；使第二扫描信号经过第二选择模块传输至检测模块。

其中，第二选择模块可以通过第二扫描线将第二扫描信号传输至检测模块。

S123、检测模块将检测信号传输至发光器件的第一极。

S124、电压感测单元感测选择单元的第二端的电压，并判断发光器件的状态。

该步骤具体可以是：电压感测单元将选择单元的第二端的电压与理论值进行比较；并根据比较结果判断发光器件的状态。其中，发光器件的状态包括：正常、短路或断路。

S125、电压感测单元将状态数据存入存储器。

其中，存储器可以包括多个数据存储单元，数据存储单元与像素电路一一对应。那么，该步骤具体包括：将发光器件的状态数据一一对应存入数据存储单元中。这样，存储器中存储的检测结果可提供故障像素电路的具体位置坐标，以便于进行修复工作。

本实施例通过S121-S125实现了检测模式下对显示面板的缺陷检测。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (17)

1.一种显示面板，其特征在于，包括面板基底；所述面板基底设置有数据线和呈阵列排布的像素电路，其中，所述数据线向所述像素电路分时提供数据信号和检测信号；所述像素电路对发光器件进行驱动或检测；

所述像素电路包括：

驱动模块，所述驱动模块和所述发光器件串联连接于第一电源端和第二电源端之间；所述驱动模块用于响应其控制端的电位而产生驱动电流，以驱动所述发光器件发光；

数据写入模块，所述数据写入模块的输入端与所述数据线电连接，所述数据写入模块的输出端与所述驱动模块的控制端电连接；所述数据写入模块用于在显示模式下，将所述数据信号写入所述驱动模块的控制端；

检测模块，所述检测模块的输入端与所述数据线电连接，所述检测模块的输出端与所述发光器件的第一极电连接；所述检测模块用于在检测模式下，将所述检测信号传输至所述发光器件的第一极。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述驱动模块包括：驱动晶体管；所述驱动晶体管的栅极作为所述驱动模块的控制端，所述驱动晶体管的第一极与所述第一电源端电连接，所述驱动晶体管的第二极与所述发光器件电连接；

或者，所述数据写入模块包括：第一晶体管；所述第一晶体管的栅极接入第一扫描信号，所述第一晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第一晶体管的第二极与所述驱动模块的控制端电连接。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述数据写入模块包括：

第二晶体管，所述第二晶体管的栅极接入第一扫描信号，所述第二晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第二晶体管的第二极与所述驱动模块的第一端电连接；

第三晶体管，所述第三晶体管的栅极接入所述第一扫描信号，所述第三晶体管的第一极与所述驱动模块的第二端电连接，所述第三晶体管的第二极与所述驱动模块的控制端电连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述像素电路还包括：发光控制模块，包括：

第四晶体管，所述第四晶体管的栅极接入发光控制信号，所述第四晶体管的第一极与所述第一电源端电连接，所述第四晶体管的第二极与所述驱动模块的第一端电连接；

第五晶体管，所述第五晶体管的栅极接入所述发光控制信号，所述第五晶体管的第一极与所述驱动模块的第二端电连接，所述第五晶体管的第二极与所述发光器件的第一极电连接。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测模块包括：

第六晶体管，所述第六晶体管的栅极接入第二扫描信号，所述第六晶体管的第一极与所述数据线电连接，所述第六晶体管的第二极与所述发光器件的第一极电连接，所述发光器件的第二极与所述第二电源端电连接。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：

级联连接的移位寄存器，所述移位寄存器用于分时向所述数据写入模块提供第一扫描信号，以及向所述检测模块提供第二扫描信号；

第一选择模块，所述第一选择模块串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述数据写入模块的控制端之间；

第二选择模块，所述第二选择模块串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述检测模块的控制端之间；其中，所述第一选择模块和所述第二选择模块分时导通。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一选择模块包括：第一选择晶体管；所述第一选择晶体管串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述数据写入模块的控制端之间；

所述第二选择模块包括：第二选择晶体管；所述第二选择晶体管串联连接于所述移位寄存器的输出端和所述检测模块的控制端之间。

8.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，

所述第一选择模块包括控制端、第一端和第二端，所述第一选择模块的控制端接入第一选择控制信号，所述第一选择模块的第一端与所述移位寄存器的输出端电连接，所述第一选择模块的第二端与所述数据写入模块的控制端电连接；

所述第二选择模块包括控制端、第一端和第二端，所述第二选择模块的控制端接入第二选择控制信号，所述第二选择模块的第一端与所述移位寄存器的输出端电连接，所述第二选择模块的第二端与所述检测模块的控制端电连接。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：显示控制模块，所述显示控制模块包括第一选择控制端和第二选择控制端；所述第一选择控制端提供所述第一选择控制信号，所述第二选择控制端提供所述第二选择控制信号。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括显示控制模块，所述显示控制模块包括：

选择单元，包括第一端、第二端和输出端；所述选择单元的输出端与所述数据线对应电连接；所述选择单元用于分时将其第一端和输出端导通，以及将其第二端和输出端导通；

数据信号生成单元，与所述选择单元的第一端电连接；所述数据信号生成单元用于向所述数据线输出所述数据信号；

检测信号生成单元，与所述选择单元的第二端电连接；所述检测信号生成单元用于向所述数据线输出所述检测信号；

电压感测单元和存储器，所述电压感测单元串联连接于所述选择单元的第二端和所述存储器之间；所述电压感测单元用于在检测模式下，感测所述选择单元的第二端的电压，并判断所述发光器件的状态，将状态数据存入所述存储器。

11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述存储器包括多个数据存储单元，所述数据存储单元与所述像素电路一一对应。

12.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，

所述检测信号生成单元包括：采样电阻；所述采样电阻的第一端接入直流电源信号，所述采样电阻的第二端作为所述检测信号生成单元的输出端。

13.根据权利要求12所述的显示面板，其特征在于，所述采样电阻为可调电阻。

14.一种显示面板的驱动方法，其特征在于，所述显示面板包括面板基底；所述面板基底设置有数据线和呈阵列排布的像素电路；所述像素电路对发光器件进行驱动或检测；

所述像素电路包括：驱动模块、数据写入模块和检测模块；所述驱动模块和所述发光器件串联连接于第一电源端和第二电源端之间；所述数据写入模块的输入端与所述数据线电连接，所述数据写入模块的输出端与所述驱动模块的控制端电连接；所述检测模块的输入端与所述数据线电连接，所述检测模块的输出端与所述发光器件的第一极电连接；

所述显示面板的驱动方法包括：

显示模式，所述数据线向所述像素电路提供数据信号；所述数据写入模块将所述数据信号写入所述驱动模块的控制端；所述驱动模块响应所述数据信号而产生驱动电流，驱动所述发光器件发光；

检测模式，所述数据线向所述像素电路提供检测信号；所述检测模块将所述检测信号传输至所述发光器件，以检测所述发光器件在所述检测信号的电流通路中的分压。

15.根据权利要求14所述的显示面板的驱动方法，其特征在于，所述显示面板还包括：显示控制模块；

所述显示控制模块包括：选择单元、数据信号生成单元、检测信号生成单元、电压感测单元和存储器；所述选择单元的输出端与所述数据线对应电连接；所述数据信号生成单元的输出端与所述选择单元的第一端电连接；所述检测信号生成单元的输出端与所述选择单元的第二端电连接；所述电压感测单元串联连接于所述选择单元的第二端和所述存储器之间；

相应地，在所述显示模式中，所述数据信号生成单元生成所述数据信号；所述选择单元的第一端与输出端之间导通，将所述数据信号传输至所述数据线；

在所述检测模式中，所述检测信号生成单元生成所述检测信号；所述选择单元的第二端与输出端之间导通，将所述检测信号传输至所述数据线。

16.根据权利要求15所述的显示面板的驱动方法，其特征在于，在所述检测模块将所述检测信号传输至所述发光器件之后，还包括：

所述电压感测单元感测所述选择单元的第二端的电压，并判断所述发光器件的状态，将状态数据存入所述存储器。

17.根据权利要求16所述的显示面板的驱动方法，其特征在于，所述存储器包括多个数据存储单元，所述数据存储单元与所述像素电路一一对应；

将状态数据存入所述存储器，包括：

将所述发光器件的状态数据一一对应存入所述数据存储单元中。