CN115855165A - 一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及火电设备技术领域，具体提供了一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统，该方法包括：确定需要进行精密点检的设备，根据重要度指标确定待点检设备的初始测试周期；获取待点检设备的历史精密点检信息，根据历史精密点检信息调整待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；根据第一测试周期对待点检设备进行精密点检，获取第一测试周期内的精密点检结果，当精密点检结果大于等于标准值时，则对第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期。在本发明中，通过获取火电设备多维度的数据信息对火电设备进行精密点检时的检测周期进行调整，能够有效提高检测周期的有效性和准确性。

Description

一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统

技术领域

本发明涉及火电设备技术领域，具体而言，涉及一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统。

背景技术

精密点检是指用精密检测仪器、仪表，对设备进行综合性测试，调查，或在设备不解体情况下，运用诊断技术、特殊仪器、工具或特殊方法测定设备的振动、温度、裂纹、绝缘、温升、变形等物理量，并经过测得的数据，对照标准进行分析、比较，判定，定量地确定设备的技术状况和劣化程度。

由于火电设备众多，在对火电设备进行精密点检时，主要采用精密检测仪器、仪表，对设备进行离线测试，在正常运行情况下，运用振动、红外、超声、电流频谱、油液等检测仪器测定表征设备运行状态的物理量，并对照标准确定设备的技术状况和劣化程度。

中国专利申请CN113405822A一种火电设备精密点检方法，步骤如下：S1，确定纳入精密点检的设备；S2，确定设备测点的位置及数量；S3，确定测试周期；S4，按照每种设备的工作原理和物化特性，创建与之匹配的技术手段；S5，根据测试周期和对应的技术手段进行测试；S6，评价测试结果；所述设备测试周期根据设备的重要度确定，并且根据设备的运行状态动态调整，当设备运行状态劣化时，增加测试频率。该发明的优点是根据设备的重要度以及运行状态动态调整测试周期。

然而，如何通过获取火电设备多维度的信息对火电设备进行精密点检，以便及时的调整火电设备精密点检时的检测周期，成为当前急需解决的问题。

发明内容

鉴于此，本发明提出了一种用于火电设备的多维度精密点检方法及系统，旨在解决如何根据火电设备多维度的信息对火电设备进行精密点检，以便及时的调整火电设备精密点检时的检测周期的问题。

一个方面，本发明提出了一种用于火电设备的多维度精密点检方法，包括：

确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

进一步地，在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

进一步地，在获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期时，包括：

在确定所述初始测试周期Ti后，获取所述待点检设备的历史精密点检信息，所述历史精密点检信息包括历史精密点检结果数据和待点检设备的历史维护数据，根据所述历史精密点检结果数据和历史维护数据对所述初始测试周期Ti进行调整；其中，

在获取所述历史精密点检信息后，判断是否获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据：

若仅获取到历史精密点检结果数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整，以获取所述第一测试周期；

若同时获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，以及获取所述待点检设备的历史维修次数，并根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期。

进一步地，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整时，包括：

在获取到所述历史精密点检结果数据后，根据所述历史精密点检结果数据建立历史结果矩阵B，设定B（C₁，D₁，E₁，C₂，D₂，E₂，C₃，D₃，E₃，...，C_n，D_n，E_n），其中，C₁~C_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的振动通频值，D₁~D_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的红外温度值，E₁~E_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的超声值；

预先设定预设标准振动通频差值c0、预设标准红外温度差值d0和预设标准超声差值e0；预先设定第一预设调节系数z1、第二预设调节系数z2和第三预设调节系数z3，且1＞z1＞z2＞z3＞0.8；

获取所述历史结果矩阵B内最近两个周期内的振动通频值、红外温度值和超声值，获取相邻两次振动通频差值，记为C_n-1-C_n，获取相邻两次红外温度差值，记为D_n-1-D_n,获取相邻两次超声差值，记为E_n-1-E_n；

将C_n-1-C_n、D_n-1-D_n和E_n-1-E_n分别与c0、d0和e0进行比对，根据比对结果选取调节系数，以对所述初始测试周期Ti进行调整：

当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0时，则不对所述初始测试周期Ti进行调整；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第一预设调节系数z1对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z1，且Ti*z1取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n＞e0，或者当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第二预设调节系数z2对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z2，且Ti*z2取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0以及E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第三预设调节系数z3对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z3，且Ti*z3取整数；

在选定第m预设调节系数zm对所述初始测试周期Ti进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期。

进一步地，在将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期时，包括：

在根据所述历史精密点检结果数据建立所述历史结果矩阵B后，还根据所述历史结果矩阵B确定振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01，其中，c01=(C₁+C₂+C₃+...+C_n)/n，d01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n，e01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n;

预先设定预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea，根据所述振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01分别与所述预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea之间的关系对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整：

当c01≤ca、d01≤da和e01≤ea时，则不对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整；

当c01＞ca、d01≤da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第一预设调节系数z1对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z1，且Ti*zm*z1取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01＞ea，或者当c01＞ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第二预设调节系数z2对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z2，且Ti*zm*z2取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01＞ea时，则选定所述第三预设调节系数z3对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z3，且Ti*zm*z3取整数。

在选定第m预设调节系数zm对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm*zm作为所述第一测试周期。

进一步地，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期时，包括：

在获取到所述历史维护数据后，根据所述历史维护数据确定所述待点检设备的历史维修次数Q0；

预先设定第一预设维修次数Q1、第二预设维修次数Q2、第三预设维修次数Q3和第四预设维修次数Q4，且Q1＜Q2＜Q3＜Q4;预先设定第一预设修正系数y1、第二预设修正系数y2、第三预设修正系数y3和第四预设修正系数y4，且1＜y1＜y2＜y3＜y4＜1.5；

在获取调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm后，根据历史维修次数Q0与各预设维修次数之间的关系选定修正系数，对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正：

当Q1≤Q0＜Q2时，则选定所述第一预设修正系数y1对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y1或Ti*zm*zm*y1；

当Q2≤Q0＜Q3时，则选定所述第二预设修正系数y2对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y2或Ti*zm*zm*y2；

当Q3≤Q0＜Q4时，则选定所述第三预设修正系数y3对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y3或Ti*zm*zm*y3；

当Q4≤Q0时，则选定所述第四预设修正系数y4对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y4或Ti*zm*zm*y4；

在选定第i预设修正系数yi对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正后，i=1，2，3，4，将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期。

进一步地，在将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期后，包括：

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，所述精密点检结果包括第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1；其中，

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1均小于标准值时，则不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

进一步地，预先设定所述标准值，所述标准值包括预设标准振动通频值C10、预设标准红外温度值D10和预设标准超声值E10，并在获取第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1后，包括：

预先设定第一补偿系数r1、第二补偿系数r2、第三补偿系数r3和第四补偿系数r4，且0.8＜r1＜r2＜r3＜r4＜1；

当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1＜E10时，不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，具体为：

当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1≥E10时，选定所述第一补偿系数r1对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r1或Ti*zm*zm*yi*r1，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1≥E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第二补偿系数r2对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r2或Ti*zm*zm*yi*r2，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第三补偿系数r3对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r3或Ti*zm*zm*yi*r3，作为所述第二测试周期。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于，本发明通过确定需要进行精密点检的设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期，获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期，根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。在本发明中，通过获取火电设备多维度的数据信息对火电设备进行精密点检时的检测周期进行调整，能够有效提高检测周期的有效性和准确性。

另一方面，本发明还提出了一种用于火电设备的多维度精密点检系统，包括：

确定模块，用于确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取模块，用于获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

处理模块，用于根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

进一步地，所述确定模块还用于在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

可以理解的是，上述用于火电设备的多维度精密点检方法及系统具备相同的有益效果，在此不再赘述。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1为本发明实施例提供的用于火电设备的多维度精密点检方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的用于火电设备的多维度精密点检系统的功能框图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

参阅图1所示，本实施例公开了一种用于火电设备的多维度精密点检方法，包括以下步骤：

步骤S100：确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期。

具体而言，在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

步骤S200：获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

具体而言，在获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期时，包括：

在确定所述初始测试周期Ti后，获取所述待点检设备的历史精密点检信息，所述历史精密点检信息包括历史精密点检结果数据和待点检设备的历史维护数据，根据所述历史精密点检结果数据和历史维护数据对所述初始测试周期Ti进行调整；其中，

在获取所述历史精密点检信息后，判断是否获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据：

若仅获取到历史精密点检结果数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整，以获取所述第一测试周期；

若同时获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，以及获取所述待点检设备的历史维修次数，并根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期。

具体而言，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整时，包括：

在获取到所述历史精密点检结果数据后，根据所述历史精密点检结果数据建立历史结果矩阵B，设定B（C₁，D₁，E₁，C₂，D₂，E₂，C₃，D₃，E₃，...，C_n，D_n，E_n），其中，C₁~C_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的振动通频值，D₁~D_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的红外温度值，E₁~E_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的超声值；

预先设定预设标准振动通频差值c0、预设标准红外温度差值d0和预设标准超声差值e0；预先设定第一预设调节系数z1、第二预设调节系数z2和第三预设调节系数z3，且1＞z1＞z2＞z3＞0.8；

获取所述历史结果矩阵B内最近两个周期内的振动通频值、红外温度值和超声值，获取相邻两次振动通频差值，记为C_n-1-C_n，获取相邻两次红外温度差值，记为D_n-1-D_n,获取相邻两次超声差值，记为E_n-1-E_n；

将C_n-1-C_n、D_n-1-D_n和E_n-1-E_n分别与c0、d0和e0进行比对，根据比对结果选取调节系数，以对所述初始测试周期Ti进行调整：

当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0时，则不对所述初始测试周期Ti进行调整；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第一预设调节系数z1对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z1，且Ti*z1取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n＞e0，或者当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第二预设调节系数z2对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z2，且Ti*z2取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0以及E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第三预设调节系数z3对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z3，且Ti*z3取整数；

在选定第m预设调节系数zm对所述初始测试周期Ti进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期。

具体而言，在将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期时，包括：

在根据所述历史精密点检结果数据建立所述历史结果矩阵B后，还根据所述历史结果矩阵B确定振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01，其中，c01=(C₁+C₂+C₃+...+C_n)/n，d01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n，e01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n;

预先设定预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea，根据所述振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01分别与所述预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea之间的关系对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整：

当c01≤ca、d01≤da和e01≤ea时，则不对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整；

当c01＞ca、d01≤da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第一预设调节系数z1对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z1，且Ti*zm*z1取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01＞ea，或者当c01＞ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第二预设调节系数z2对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z2，且Ti*zm*z2取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01＞ea时，则选定所述第三预设调节系数z3对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z3，且Ti*zm*z3取整数。

在选定第m预设调节系数zm对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm*zm作为所述第一测试周期。

具体而言，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期时，包括：

在获取到所述历史维护数据后，根据所述历史维护数据确定所述待点检设备的历史维修次数Q0；

预先设定第一预设维修次数Q1、第二预设维修次数Q2、第三预设维修次数Q3和第四预设维修次数Q4，且Q1＜Q2＜Q3＜Q4;预先设定第一预设修正系数y1、第二预设修正系数y2、第三预设修正系数y3和第四预设修正系数y4，且1＜y1＜y2＜y3＜y4＜1.5；

在获取调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm后，根据历史维修次数Q0与各预设维修次数之间的关系选定修正系数，对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正：

当Q1≤Q0＜Q2时，则选定所述第一预设修正系数y1对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y1或Ti*zm*zm*y1；

当Q2≤Q0＜Q3时，则选定所述第二预设修正系数y2对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y2或Ti*zm*zm*y2；

当Q3≤Q0＜Q4时，则选定所述第三预设修正系数y3对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y3或Ti*zm*zm*y3；

当Q4≤Q0时，则选定所述第四预设修正系数y4对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y4或Ti*zm*zm*y4；

在选定所述第i预设修正系数yi对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正后，i=1，2，3，4，将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期。

步骤S300：根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

具体而言，在将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期后，包括：

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，所述精密点检结果包括第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1；其中，

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1均小于标准值时，则不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

具体而言，预先设定所述标准值，所述标准值包括预设标准振动通频值C10、预设标准红外温度值D10和预设标准超声值E10，并在获取第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1后，包括：

预先设定第一补偿系数r1、第二补偿系数r2、第三补偿系数r3和第四补偿系数r4，且0.8＜r1＜r2＜r3＜r4＜1；

当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1＜E10时，不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，具体为：

当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1≥E10时，选定所述第一补偿系数r1对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r1或Ti*zm*zm*yi*r1，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1≥E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第二补偿系数r2对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r2或Ti*zm*zm*yi*r2，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第三补偿系数r3对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r3或Ti*zm*zm*yi*r3，作为所述第二测试周期。

具体而言，根据火电设备的历史数据，设定其多个监测值的标准值，当第一测试周期内的监测值与标准值存在较大差异时，判断其火电设备运行可能存在隐患，设定补偿系数缩短测试周期，通过缩短测试周期，增加测试次数，更加及时的监测故障，进行检修。

可以看出，在本实施例中，通过获取火电设备多维度的数据信息对火电设备进行精密点检时的检测周期进行调整，能够有效提高检测周期的有效性和准确性。

基于上述实施例的另一种优选的实施方式中，参阅图2所示，本实施方式提供了一种用于火电设备的多维度精密点检系统，包括：

确定模块，用于确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取模块，用于获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

处理模块，用于根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

具体而言，所述确定模块还用于在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

可以理解的还是，上述实施例中通过获取火电设备多维度的数据信息对火电设备进行精密点检时的检测周期进行调整，能够有效提高检测周期的有效性和准确性。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，包括：

确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

2.根据权利要求1所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

3.根据权利要求2所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期时，包括：

在确定所述初始测试周期Ti后，获取所述待点检设备的历史精密点检信息，所述历史精密点检信息包括历史精密点检结果数据和待点检设备的历史维护数据，根据所述历史精密点检结果数据和历史维护数据对所述初始测试周期Ti进行调整；其中，

在获取所述历史精密点检信息后，判断是否获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据：

若仅获取到历史精密点检结果数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整，以获取所述第一测试周期；

若同时获取到所述历史精密点检结果数据和历史维护数据，则确定相邻两次的历史精密点检结果数据的差值，以及获取所述待点检设备的历史维修次数，并根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期。

4.根据权利要求3所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整时，包括：

在获取到所述历史精密点检结果数据后，根据所述历史精密点检结果数据建立历史结果矩阵B，设定B（C₁，D₁，E₁，C₂，D₂，E₂，C₃，D₃，E₃，...，C_n，D_n，E_n），其中，C₁~C_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的振动通频值，D₁~D_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的红外温度值，E₁~E_n分别为第1次精密点检至第n次精密点检获取到的待点检设备的超声值；

预先设定预设标准振动通频差值c0、预设标准红外温度差值d0和预设标准超声差值e0；预先设定第一预设调节系数z1、第二预设调节系数z2和第三预设调节系数z3，且1＞z1＞z2＞z3＞0.8；

获取所述历史结果矩阵B内最近两个周期内的振动通频值、红外温度值和超声值，获取相邻两次振动通频差值，记为C_n-1-C_n，获取相邻两次红外温度差值，记为D_n-1-D_n,获取相邻两次超声差值，记为E_n-1-E_n；

将C_n-1-C_n、D_n-1-D_n和E_n-1-E_n分别与c0、d0和e0进行比对，根据比对结果选取调节系数，以对所述初始测试周期Ti进行调整：

当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0时，则不对所述初始测试周期Ti进行调整；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第一预设调节系数z1对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z1，且Ti*z1取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n≤e0，或者当C_n-1-C_n≤c0、D_n-1-D_n＞d0和E_n-1-E_n＞e0，或者当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n≤d0和E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第二预设调节系数z2对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z2，且Ti*z2取整数；

当C_n-1-C_n＞c0、D_n-1-D_n＞d0以及E_n-1-E_n＞e0时，则选定所述第三预设调节系数z3对所述初始测试周期Ti进行调整，调整后的初始测试周期为Ti*z3，且Ti*z3取整数；

在选定第m预设调节系数zm对所述初始测试周期Ti进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期。

5.根据权利要求4所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在将调整后的初始测试周期Ti*zm作为所述第一测试周期时，包括：

在根据所述历史精密点检结果数据建立所述历史结果矩阵B后，还根据所述历史结果矩阵B确定振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01，其中，c01=(C₁+C₂+C₃+...+C_n)/n，d01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n，e01=(D₁+D₂+D₃+...+D_n)/n;

预先设定预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea，根据所述振动通频平均值c01、红外温度平均值d01和超声平均值e01分别与所述预设标准振动通频平均值ca、预设标准红外温度平均值da和预设标准超声平均值ea之间的关系对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整：

当c01≤ca、d01≤da和e01≤ea时，则不对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整；

当c01＞ca、d01≤da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第一预设调节系数z1对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z1，且Ti*zm*z1取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01≤ea，或者当c01≤ca、d01＞da和e01＞ea，或者当c01＞ca、d01≤da和e01＞ea时，则选定所述第二预设调节系数z2对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z2，且Ti*zm*z2取整数；

当c01＞ca、d01＞da和e01＞ea时，则选定所述第三预设调节系数z3对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整，再次调整后的测试周期为Ti*zm*z3，且Ti*zm*z3取整数；

在选定第m预设调节系数zm对调整后的初始测试周期Ti*zm再次进行调整后，m=1，2，3，则将调整后的初始测试周期Ti*zm*zm作为所述第一测试周期。

6.根据权利要求5所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在根据相邻两次的历史精密点检结果数据的差值对所述初始测试周期Ti进行调整后，再根据所述历史维修次数对调整后的初始测试周期Ti进行修正，以获取所述第一测试周期时，包括：

在获取到所述历史维护数据后，根据所述历史维护数据确定所述待点检设备的历史维修次数Q0；

预先设定第一预设维修次数Q1、第二预设维修次数Q2、第三预设维修次数Q3和第四预设维修次数Q4，且Q1＜Q2＜Q3＜Q4;预先设定第一预设修正系数y1、第二预设修正系数y2、第三预设修正系数y3和第四预设修正系数y4，且1＜y1＜y2＜y3＜y4＜1.5；

在获取调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm后，根据历史维修次数Q0与各预设维修次数之间的关系选定修正系数，对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正：

当Q1≤Q0＜Q2时，则选定所述第一预设修正系数y1对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y1或Ti*zm*zm*y1；

当Q2≤Q0＜Q3时，则选定所述第二预设修正系数y2对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y2或Ti*zm*zm*y2；

当Q3≤Q0＜Q4时，则选定所述第三预设修正系数y3对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y3或Ti*zm*zm*y3；

当Q4≤Q0时，则选定所述第四预设修正系数y4对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正，修正后的测试周期为Ti*zm*y4或Ti*zm*zm*y4；

在选定第i预设修正系数yi对调整后的初始测试周期Ti*zm或Ti*zm*zm进行修正后，i=1，2，3，4，将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期。

7.根据权利要求6所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，在将修正后的测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi作为所述第一测试周期后，包括：

根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，所述精密点检结果包括第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1；其中，

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1均小于标准值时，则不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

8.根据权利要求7所述的用于火电设备的多维度精密点检方法，其特征在于，预先设定所述标准值，所述标准值包括预设标准振动通频值C10、预设标准红外温度值D10和预设标准超声值E10，并在获取第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1后，包括：

预先设定第一补偿系数r1、第二补偿系数r2、第三补偿系数r3和第四补偿系数r4，且0.8＜r1＜r2＜r3＜r4＜1；

当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1＜E10时，不对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整；

当第一测试周期振动通频值△C1、第一测试周期红外温度值△D1和第一测试周期超声值△E1至少其中之一大于等于标准值时，则对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行调整，具体为：

当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1＜C10、△D1＜D10且△E1≥E10时，选定所述第一补偿系数r1对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r1或Ti*zm*zm*yi*r1，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1＜E10，或者，当△C1≥C10、△D1＜D10且△E1≥E10，或者，当△C1＜C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第二补偿系数r2对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r2或Ti*zm*zm*yi*r2，作为所述第二测试周期；

当△C1≥C10、△D1≥D10且△E1≥E10时，选定所述第三补偿系数r3对所述第一测试周期Ti*zm*yi或Ti*zm*zm*yi进行补偿，补偿后的测试周期为Ti*zm*yi*r3或Ti*zm*zm*yi*r3，作为所述第二测试周期。

9.一种用于火电设备的多维度精密点检系统，其特征在于，包括：

确定模块，用于确定需要进行精密点检的设备，标记为待点检设备，并且确定所述待点检设备的重要度指标，根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期；

获取模块，用于获取所述待点检设备的历史精密点检信息，根据所述历史精密点检信息调整所述待点检设备的初始测试周期，并获取第一测试周期；

处理模块，用于根据所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，获取所述第一测试周期内的精密点检结果，当所述精密点检结果小于标准值时，则继续按所述第一测试周期对所述待点检设备进行精密点检，当所述精密点检结果大于等于标准值时，则对所述第一测试周期进行调整，以获取第二测试周期，并根据所述第二测试周期对所述待点检设备进行精密点检。

10.根据权利要求9所述的用于火电设备的多维度精密点检系统，其特征在于，所述确定模块还用于在根据所述重要度指标确定所述待点检设备的初始测试周期时，包括：

确定所述待点检设备的重要度指标A0，预先设定第一预设重要度指标A1、第二预设重要度指标A2、第三预设重要度指标A3和第四预设重要度指标A4，且A1＞A2＞A3＞A4；

预先设定第一预设测试周期T1、第二预设测试周期T2、第三预设测试周期T3和第四预设测试周期T4，且0＜T1＜T2＜T3＜T4；

根据所述重要度指标A0与各预设重要度指标之间的关系确定所述待点检设备的初始测试周期：

当A0≥A1时，选取所述第一预设测试周期T1作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A1＞A0≥A2时，选取所述第二预设测试周期T2作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A2＞A0≥A3时，选取所述第三预设测试周期T3作为所述待点检设备的初始测试周期；

当A3＞A0≥A4时，选取所述第四预设测试周期T4作为所述待点检设备的初始测试周期；

在选定第i预设测试周期Ti作为所述待点检设备的初始测试周期后，i=1，2，3，4，则此时的待点检设备的初始测试周期为Ti，记为初始测试周期Ti。

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