CN113985040A - 一种实验室检测设备精度控制的控制方法及装置 - Google Patents

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CN113985040A CN202111149937.1A CN202111149937A CN113985040A CN 113985040 A CN113985040 A CN 113985040A CN 202111149937 A CN202111149937 A CN 202111149937A CN 113985040 A CN113985040 A CN 113985040A
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Abstract

本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种实验是检测设备精度控制的控制方法及装置,该方法包括:获取实验室检测设备的精度控制数据,该精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,按照第二控制方法得到的测量偏差值;采用多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;在异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,从多方面对精度控制数据进行分析,能够保证实际质量控制活动的统计分析的及时性、一致性以及可靠性,有利于实验室检测精度和稳定性的提升。

Description

一种实验室检测设备精度控制的控制方法及装置
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种实验室检测设备精度控制的控制方法及装置。
背景技术
在钢铁实验的实验室,会开展一系列的质量控制活动,这些质量控制活动,能够确保检测结果的可靠性,保证检测结果的有效性,及时发现检测结果的系统性偏差、测量系统不稳定和测量过程失控等影响检测结果的问题,用于降低实验室的技术质量风险。
质量控制活动会产生一系列质控数据,如何有效且实时地发现、判定质控数据异常,并及时提示采取针对性地纠正或预防措施,是一项复杂而又艰巨的工作。据了解,大多数实验室主要的控制方法是判断某检测单值是否超过设定的管理控制限,或者在此基础上,再利用SPC控制图、MSA测量系统分析等手段来发现质量控制活动中的一些潜在和隐含的问题点。
但是,实际质量控制活动过程中,常常是依靠检测单值来判断异常,这样无法保证实际质量控制活动的统计分析的及时性、一致性、可靠性。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的实验室检测设备精度控制的控制方法及装置。
第一方面,本发明提供了一种实验室检测设备精度控制的控制方法,包括:
获取实验室检测设备的精度控制数据,所述精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,以及按照第二控制方法得到的测量偏差值;
采用多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,所述多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;
在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
优选地,所述第一控制方法为对已测样品的多次重复测量、或者同类检测设备前后多次测量;所述第二控制方法为采用标准物质或者内部参考样品对检测设备进行测量。
优选地,所述采用所述多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,包括:
在采用单次测量值异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断时,基于所述精度控制数据,获得单次测量值以及控制图,基于所述单次测量值与控制图之间的判断规则,获得异常判断结果;
在采用设备间或方法间统计异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于所述精度控制数据,获得所述设备间或方法间测量数据差值的均值和统计得到的P值,基于所述设备间或方法间测量数据差值的均值,采用统计得到的P值与第一阈值进行比较,获得异常判断结果,所述P值为在一个周期内设备间或方法间测量数据差值的均值出现的概率;
在采用控制限单值变化异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于初始控制限和预设周期控制限,获得控制限单值变化系数,将所述控制限单值变化系数与预设范围进行比较,获得异常判断结果;
在采用控制限周期波动系数异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于连续的多个周期控制限,获得所述控制限周期波动系数,将所述控制限周期波动系数与第二阈值进行比较,获得异常判断结果。
优选地,所述单次测量值与控制图之间的判断规则,包括:
对应于所述第一控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第一判断规则;对应于所述第二控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第二判断规则。
优选地,在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为第一控制方法的单次测量值异常时,判断第二控制方法中的单次测量值是否异常;
若是,对检测设备进行校准和精度维护;
在所述异常判断结果为第二控制方法的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护。
优选地,在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为所述P值超出第一阈值时,或者
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现单次大于预设范围的最大值时,或者
在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现首次大于第二阈值时,
判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;
若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和所述第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新;
若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
优选地,在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续小于预设范围的最小值时,对检测设备的控制限进行调整;
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续大于预设范围的最大值时,对检测设备进行校准和精度维护;
在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现连续大于第二阈值时,对检测设备进行校准和精度维护。
第二方面,本发明还提供了一种实验室检测设备精度控制的控制装置,包括:
获取模块,用于获取实验室检测设备的精度控制数据,所述精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,或者按照第二控制方法得到的测量偏差值;
获得模块,用于采用多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,所述多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;
执行模块,用于在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
第三方面,本发明还提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现上述述的方法步骤。
第四方面,本发明还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上法步骤。
本发明实施例中的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
本发明提供了一种实验是检测设备精度控制的控制方法,包括:获取实验室检测设备的精度控制数据,该精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,以及按照第二控制方法得到的测量偏差值;采用多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;在异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,采用多种异常判断方式分别对精度控制数据进行异常判断,从多方面对精度控制数据进行分析,能够保证实际质量控制活动的统计分析的及时性、一致性以及可靠性,有利于实验室检测精度和稳定性的提升。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考图形表示相同的部件。在附图中:
图1示出了本发明实施例中实验室检测设备精度控制的控制方法的步骤流程示意图;
图2示出了本发明实施例中精度控制数据在控制图A区外的示意图;
图3示出了本发明实施例中精度控制数据是连续3个点中2个点落在控制图A区中或之外的第2点的示意图;
图4示出了本发明实施例中精度控制数据是连续5个点中4个点落在控制图B区中或之外的第4点的示意图;
图5示出了本发明实施例中精度控制数据在控制图C区单侧(上或者下)或C区外连续的第9个及以上点的示意图;
图6示出了本发明实施例中精度控制数据点是连续增大或减小的第6个及以上点的示意图;
图7示出了本发明实施例中实验室检测设备精度控制的控制装置的结构示意图;
图8示出了本发明实施例中实现实验室检测设备精度控制的控制方法的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
实施例一
本发明的实施例提供了一种实验室检测设备精度控制的控制方法,如图1所示,包括:
S101,获取实验室检测设备的精度控制数据,该精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,以及按照第二控制方法跌倒的测量偏差值。
S102,采用多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,该多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式。
S103,在异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
在具体的实施方式中,钢铁行业检测实验室物理检测设备包括力学检测和物理性能检测。其中,力学检测包括拉伸、硬度试验等;物理性能检测包括磁性能、电性能试验等。
这些检测设备具体是通过第一控制方法来得到精度控制数据,以及第二控制方法来得到精度控制数据。其中,第一控制方法为对已测样品的多次重复检测、或者同类检测设备前后多次检测;第二控制方法为采用标准物质或者内部参考样品对检测设备进行检测。
由此,S101,获得实验室检测设备的精度控制数据。
对于第一控制方法得到的测量偏差值以及第二控制方法得到的测量偏差值,需要设定相应的精度控制限,该精度控制限是允许检测偏差值正常波动的最大值。通常,根据该精度控制限来判断检测设备是否异常,具体地,该精度控制限有设定的控制限范围,具体如下表所示:
Figure BDA0003286880180000061
Figure BDA0003286880180000071
在获取实验室检测设备的精度控制数据之后,执行S102,采用多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,该多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式以及控制限周期波动系数异常判断方式。
下面分别对每种异常判断方式进行详细描述。
第一种异常判断方式:
在采用单次测量值异常判断方式对精度控制数据进行异常判断时,基于精度控制数据,获得单次测量值以及控制图,基于单次测量值与控制图之间的判断规则,获得异常判断结果。
首先,用xi表示精度控制数据,可以是第一控制方法得到的多次重复检测的测量偏差值,以及第二控制方法得到的检测值与标准值或者参考值之间的测量偏差值。然后,基于精度控制数据,建立控制图。该控制图时单值-移动偏差控制图。
单次测量值与控制图之间的判断规则与控制方法类型相关。对应于第一控制方法,单次测量值与控制图之间对应第一判断规则;对于第二控制方法,单次测量值与控制图之间对应第二判断规则。
其中,根据正态分布,得到控制图中,将-1σ~1σ之间确定为C区,将1σ~2σ以及-1σ~-2σ确定为B区,将2σ~3σ以及-2σ~-3σ确定为A区。
对于第一判断规则,在精度控制数据在控制图A区外,如图2所示;或者精度控制数据是连续3个点中2个点落在控制图A区中或之外的第2点,如图3所示;或者精度控制数据是连续5个点中4个点落在控制图B区中或之外的第4点,如图4所示。其中,画“×”的精度控制数据为异常状态的数据。
对于第二判断规则,在精度控制数据在控制图A区外,如图2所示;或者精度控制数据在控制图C区单侧(上或者下)或C区外连续的第9个及以上点,如图5所示;精度控制数据点是连续增大或减小的第6个及以上点,如图6所示;精度控制数据是连续3个点中两个点落在控制图A区之中或之外的第2点,如图3所示;精度控制数据是连续5个点中4个点落在控制图B区之中或之外的第4点,如图4所示。其中,画“×”的精度控制数据为异常状态的数据。
由此,可以确定出第一控制方法的单次测量值异常,以及第二控制方法的单次测量值异常。
对应的S103中,在异常判断结果为第一控制方法的单次测量值异常时,判断第二控制方法中的单次测量值是否异常;
若是,执行的异常处理措施是对检测设备进行校准和精度维护;
在异常判断结果为第二控制方法的单次测量值异常时,执行的异常处理措施是对检测设备进行校准和精度维护。
若第二控制方法中的单次测量值无异常,则设备是正常的,无需进行异常处理措施。
第二种异常判断方式:
在采用设备间或方法间统计异常判断方式对精度控制数据进行判断时,基于精度控制数据,获得设备间或方法间测量数据差值的均值和统计得到的P值,基于设备间或方法间测量数据差值的均值,采用统计得到的P值与第一阈值进行比较,获得异常判断结果,P值为在一个周期内设备间或方法间测量数据差值的均值出现的概率。
首先,获取设备间或方法间测量差值的均值,对于两台套设备或两种方法采用双样本T检验,3台套及以上设备或3中及以上方法采用单因子方差分析,由此而得到计算统计的P值,该P值为在一个周期内设备间或方法间测量数据差值的均值出现的概率。
接着,在得到该P值之后,将该P值与第一阈值进行比较,在P值低于该第一阈值时,认为设备间或方法间测量偏差值均值存在系统差,在P值超出第一阈值时,确定异常判断结果为异常。其中,该第一阈值一般设定为0.05,但是,在考虑到成本等因素,可以将该第一阈值设定为0.1。
对应地,在异常时,执行S103,执行对应的异常处理措施。
具体地,在异常判断结果为P值超出第一阈值时,通过判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新。
若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
采用这样的处理措施,能够有效避免上述的异常情况,提高了精度控制的准确性。
第三种异常判断方式:
在采用控制限单值变化异常判断方式对精度控制数据进行判断时,基于初始控制限和预设周期控制限,获得控制限单值变化系数,将控制限单值变化系数与预设范围进行比较,获得异常判断结果。
先获取初始控制限D0,该初始控制限D0按照公式D0=K*S来得到,K为精度控制数据中存在测量波动原因不明的数据的概率水平,S为精度控制数据的标准偏差。
随着,精度控制数据的不断采集,在一定时间段的周期内,获取预设周期控制限Di,同样按照上述的公式,得到该预设周期控制限。由于采集数据的时间不同,因此,随着时间的变化,环境等因素的变化,控制限也在随之变化。
控制限单值变化系数C的计算公式如下:
Figure BDA0003286880180000101
将该控制限单值变化系数C与预设范围进行比较,该预设范围为0.7~1.1。在0.7≤C≤1.1,确认该控制限单值无异常。在C<0.7或者C>1.1时,确认该控制限单值有异常,其中,在C<0.7时,D0需重新设定;在C>1.1时,检测设备出现不明原因异常,需停止分析来查找异常原因。其中,该控制限单值变化系数C的允许波动范围根据检测设备、控制成本等进行相应调整。
对于控制限单值变化系数C的异常判断结果可以分为多种情况:
第一种情况,控制限单值变化系数单次小于设定范围的最小值
第二种情况,所述控制限单值变化系数出现持续小于预设范围的最小值
第三种情况,控制限单值变化系数出现单次大于预设范围的最大值;
第四种情况,控制限单值变化系数出现持续大于预设范围的最大值。
其中,第一种情况,检测设备正常。第二种情况,执行的异常处理措施是对检测设备的控制限进行调整;第三种情况,执行的处理措施:
判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新。
若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
针对第四种情况,执行的异常处理措施是对检测设备进行校准和精度维护。
采用这样的处理措施,能够有效避免上述的异常情况,提高了精度控制的准确性。
第四种异常判断方式:
在采用控制限周期波动系数异常判断方式对精度控制数据进行判断时,基于连续的多个周期控制限,获得控制限周期波动系数,将控制限周期波动系数与第二阈值进行比较,获得异常判断结果。
通过获取连续的多个周期控制限,按照如下公式,获得控制限周期波动系数S:
Figure BDA0003286880180000111
将该控制限周期波动系数S与第二阈值进行比较,第二阈值为20%,在S≤20%时,该控制限周期波动系数S正常,即无异常;在S大于20%时,检测设备的控制限周期波动系数S存在异常,需要停止分析查找原因。其中该第二阈值可根据检测设备、控制成本等进行相应调整。
对于控制限周期波动系数S的异常判断结果可以分为多种情况:
第一种情况,控制限周期波动系数出现首次大于第二阈值;
第二种情况,控制限周期波动系数出现连续大于第二阈值。
针对第一种情况,执行的异常处理措施:
判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新。
若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
针对第二种情况,执行的异常处理措施为对检测设备进行校准和精度维护。
采用这样的处理措施,能够有效避免上述的异常情况,提高了精度控制的准确性。
在经过上述的异常处理措施之后,需重新对实验室检测设备按照上述的多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,直到没有异常。
本发明实施例中的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:
本发明提供了一种实验是检测设备精度控制的控制方法,包括:获取实验室检测设备的精度控制数据,该精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,或者按照第二控制方法得到的测量偏差值;采用多种异常判断方式对精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;在异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,采用多种异常判断方式分别对精度控制数据进行异常判断,从多方面对精度控制数据进行分析,能够保证实际质量控制活动的统计分析的及时性、一致性以及可靠性,有利于实验室检测精度和稳定性的提升。
实施例二
基于相同的发明构思,本发明实施例还提供了一种实验室检测设备精度控制的控制装置,如图7所示,包括:
获取模块701,用于获取实验室检测设备的精度控制数据,所述精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,或者按照第二控制方法得到的测量偏差值;
获得模块702,用于采用多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,所述多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;
执行模块703,用于在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
在一种可选的实施方式中,所述第一控制方法为对已测样品的多次重复测量、或者同类检测设备前后多次测量;所述第二控制方法为采用标准物质或者内部参考样品对检测设备进行测量。
在一种可选的实施方式中,获得模块702,包括:
第一获得单元,用于在采用单次测量值异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断时,基于所述精度控制数据,获得单次测量值以及控制图,基于所述单次测量值与控制图之间的判断规则,获得异常判断结果;
第二获得单元,用于在采用设备间或方法间统计异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于所述精度控制数据,获得所述设备间或方法间测量数据差值的均值和统计得到的P值,基于所述设备间或方法间测量数据差值的均值,采用统计得到的P值与第一阈值进行比较,获得异常判断结果,所述P值为在一个周期内设备间或方法间测量数据差值的均值出现的概率;
第三获得单元,用于在采用控制限单值变化异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于初始控制限和预设周期控制限,获得控制限单值变化系数,将所述控制限单值变化系数与预设范围进行比较,获得异常判断结果。
第四获得单元,用于在采用控制限周期波动系数异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于连续的多个周期控制限,获得所述控制限周期波动系数,将所述控制限周期波动系数与第二阈值进行比较,获得异常判断结果。
在一种可选的实施方式中,所述单次测量值与控制图之间的判断规则,包括:
对应于所述第一控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第一判断规则;对应于所述第二控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第二判断规则。
在一种可选的实施方式中,所述执行模块,具体用于:在所述异常判断结果为第一控制方法的单次测量值异常时,判断第二控制方法中的单次测量值是否异常;若是,对检测设备进行校准和精度维护;在所述异常判断结果为第二控制方法的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护。
在一种可选的实施方式中,所述执行模块,具体用于:在所述异常判断结果为所述P值超出第一阈值时,或者在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现单次大于预设范围的最大值时,或者在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现首次大于第二阈值时,判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和所述第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新;若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
在一种可选的实施方式中,所述执行模块703,具体用于:在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续小于预设范围的最小值时,对检测设备的控制限进行调整;在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续大于预设范围的最大值时,对检测设备进行校准和精度维护;在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现连续大于第二阈值时,对检测设备进行校准和精度维护。
实施例三
基于相同的发明构思,本发明实施例提供了一种计算机设备,如图8所示,包括存储器804、处理器802及存储在存储器804上并可在处理器802上运行的计算机程序,所述处理器802执行所述程序时实现上述钢铁行业实验室检测设备精度控制的控制方法的步骤。
其中,在图8中,总线架构(用总线800来代表),总线800可以包括任意数量的互联的总线和桥,总线800将包括由处理器802代表的一个或多个处理器和存储器804代表的存储器的各种电路链接在一起。总线800还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起,这些都是本领域所公知的,因此,本文不再对其进行进一步描述。总线接口806在总线800和接收器801和发送器803之间提供接口。接收器801和发送器803可以是同一个元件,即收发机,提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。处理器802负责管理总线800和通常的处理,而存储器804可以被用于存储处理器802在执行操作时所使用的数据。
实施例四
基于相同的发明构思,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实验室检测设备精度控制的控制方法的步骤。
在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述,构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外,本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白,可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容,并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
类似地,应当理解,为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在上面对本发明的示例性实施例的描述中,本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该公开的方法解释成反映如下意图:即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如下面的权利要求书所反映的那样,发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
本领域那些技术人员可以理解,可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件,以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外,可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如,在下面的权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
本发明的各个部件实施例可以以硬件实现,或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现,或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解,可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的实验室检测设备精度控制的控制装置、计算机设备中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如,计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上,或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到,或者在载体信号上提供,或者以任何其他形式提供。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims (10)

1.一种实验室检测设备精度控制的控制方法,其特征在于,包括:
获取实验室检测设备的精度控制数据,所述精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,以及按照第二控制方法得到的测量偏差值;
采用多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,所述多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;
在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
2.如权利要求1所述的控制方法,其特征在于,所述第一控制方法为对已测样品的多次重复测量、或者同类检测设备前后多次测量;所述第二控制方法为采用标准物质或者内部参考样品对检测设备进行测量。
3.如权利要求1所述的控制方法,其特征在于,所述采用所述多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,包括:
在采用单次测量值异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断时,基于所述精度控制数据,获得单次测量值以及控制图,基于所述单次测量值与控制图之间的判断规则,获得异常判断结果;
在采用设备间或方法间统计异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于所述精度控制数据,获得所述设备间或方法间测量数据差值的均值和统计得到的P值,基于所述设备间或方法间测量数据差值的均值,采用统计得到的P值与第一阈值进行比较,获得异常判断结果,所述P值为在一个周期内设备间或方法间测量数据差值的均值出现的概率;
在采用控制限单值变化异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于初始控制限和预设周期控制限,获得控制限单值变化系数,将所述控制限单值变化系数与预设范围进行比较,获得异常判断结果;
在采用控制限周期波动系数异常判断方式对所述精度控制数据进行判断时,基于连续的多个周期控制限,获得所述控制限周期波动系数,将所述控制限周期波动系数与第二阈值进行比较,获得异常判断结果。
4.如权利要求3所述的控制方法,其特征在于,所述单次测量值与控制图之间的判断规则,包括:
对应于所述第一控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第一判断规则;对应于所述第二控制方法,所述单次测量值与控制图之间对应第二判断规则。
5.如权利要求1所述的控制方法,其特征在于,在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为第一控制方法的单次测量值异常时,判断第二控制方法中的单次测量值是否异常;
若是,对检测设备进行校准和精度维护;
在所述异常判断结果为第二控制方法的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护。
6.如权利要求1所述的控制方法,其特征在于,在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为所述P值超出第一阈值时,或者
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现单次大于预设范围的最大值时,或者
在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现首次大于第二阈值时,
判断第一控制方法中的单次测量值以及第二控制方法中的单次测量值是否异常;
若第一控制方法中的单次测量值异常,或者第一控制方法中的单次测量值和所述第二控制方法中的单次测量值均无异常,对检测设备的检测内容或检测范围,以及检测方法的检测范围进行更新;
若第二控制方法中的单次测量值异常时,对检测设备进行校准和精度维护、或者对检测方法进行工艺参数调整、或者对检测设备与检测方法间的匹配性进行调整。
7.如权利要求1所述的控制方法,其特征在于,在所述异常判断结果异常时,执行对应的异常处理措施,包括:
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续小于预设范围的最小值时,对检测设备的控制限进行调整;
在所述异常判断结果为所述控制限单值变化系数出现持续大于预设范围的最大值时,对检测设备进行校准和精度维护;
在所述异常判断结果为所述控制限周期波动系数出现连续大于第二阈值时,对检测设备进行校准和精度维护。
8.一种实验室检测设备精度控制的控制装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取实验室检测设备的精度控制数据,所述精度控制数据为按照第一控制方法得到的测量偏差值,以及按照第二控制方法得到的测量偏差值;
获得模块,用于采用多种异常判断方式对所述精度控制数据进行异常判断,获得异常判断结果,所述多种异常判断方式包括:单次测量值异常判断方式、设备间或方法间统计异常判断方式、控制限单值变化异常判断方式、控制限周期波动系数异常判断方式;
执行模块,用于在所述异常判断结果为异常时,执行对应的异常处理措施。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。
10.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。
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