CN115792768A - 一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备，其方法包括获取被测器件的标识参数；根据标识参数，确定测试方案；根据测试方案，控制第一继电器电路连接接口板和测试设备；根据测试方案和监测对照规则，确定监测方案；根据监测方案，控制第二继电器电路连接监测设备和第一继电器电路。改善了不能检测集成电路的测试线路是否正常的问题，本发明具有根据测试情况实时监测测试线路的效果。

Description

一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备

技术领域

本申请涉及集成电路测试监测的技术领域，尤其是涉及一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备。

背景技术

目前集成电路测试多使用集成电路自动测试机，检测集成电路功能的完整性。集成电路和接口板连接，接口板和测试系统连接，测试系统用来测试集成电路的功能。集成电路自动测试机会有多条测试线路同时工作，工作时，不能监测多条测试线路是否正常进行检测。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：存在不能检测集成电路的测试线路是否正常的问题。

发明内容

本申请目的一是提供一种集成电路测试的监测方法，具有监测测试线路是否正常运行的的特点。

本申请的上述申请目的一是通过以下技术方案得以实现的：

一种集成电路测试的监测方法，应用于集成电路测试的监测装置，所述监测装置包括第一继电器电路、第二继电器电路、监测设备、测试设备和接口板，所述第一继电器电路与所述接口板连接，所述第一继电器电路分别与所述测试设备和所述第二继电器电路连接，所述监测设备和所述第二继电器电路连接，包括：

获取被测器件的标识参数；

根据所述标识参数，确定测试方案；

根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备；

根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案；

根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路。

通过采用上述技术方案，通过获取被测器件的标识参数来确定被测器件进而确定被测器件需要的测试设备，确定了被测器件和测试设备后就确定的测试方案，然后对被测器件进行测试，根据测试方案控制第一继电器电路闭合，通过测试方案和监测对照规则，确定与上述测试方案对应的监测方案，根据监测方案控制第二继电器电路闭合，监测设备可以检测到对应的测试线路。在检测集成电路的测试线路是否正常的同时可以根据监测方案实时监测测试线路。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述标识参数，确定测试方案，包括：

根据所述标识参数，确定所述被测器件的功能参数；

根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备；

根据所述测试时间和所述测试设备，确定测试方案。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备，包括：

根据所述功能参数，确定多条功能通路和测试设备；

根据所述功能通路和所述测试对照规则，确定测试时间。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备，包括：

根据所述测试方案，确定功能通路、所述功能通路对应的测试设备以及所述功能通路对应的测试时间；

根据所述功能通路、所述测试设备和所述测试时间，控制所述第一继电器电路闭合。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案，包括：

根据所述测试方案，确定功能通路和监测设备；

根据所述功能通路和所述监测对照规则，确定所述功能通路对应的测试线路和所述测试线路对应的监测频次；

当所述监测频次低于监测设备的监测预设值时，

根据监测频次，确定监测方案；

当所述监测频次高于监测设备的监测预设值时，

根据监测频次和频次优化规则，确定监测方案。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路，包括：

根据所述监测方案，确定测试线路和所述测试线路对应的监测频次；

根据所述测试线路和所述监测频次，控制所述第二继电器电路闭合。

本申请目的二是提供一种集成电路测试的监测装置，具有检测集成电路的测试线路是否正常的效果。

本申请的上述申请目的二是通过以下技术方案得以实现的：

一种集成电路测试的监测装置，包括：

接口板，用于连接被测器件；

测试设备，用于测试被测器件；

第一继电器电路，用于连接所述接口板和所述测试设备；

万用表组，用于监测测试电路的工作状况；

第二继电器电路，用于连所述接第一继电器电路和所述万用表组；

控制器，用于执行上述集成电路测试的监测方法的计算机程序指令并控制所述第二继电器电路。

本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述控制器还包括：

数据获取模块，用于获取标识参数和监测对照规则；

功能确定模块，用于根据所述标识参数，确定功能参数；

通路确定模块，用于根据所述功能参数，确定功能通路和测试设备；

测试确定模块，用于根据所述功能通路、所述测试设备和所述监测对照规则，确定测试时间和监测频次；

监测确定模块，用于根据所述测试时间、所述监测频次和频次优化规则，确定监测方案；

监测执行模块，用于根据所述监测方案，输出控制信号。

本申请目的三是提供一种电子设备。

本申请的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：

一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行上述集成电路测试的监测方法的计算机程序。

本申请目的四是提供一种计算机存储介质，能够存储相应的程序。

本申请的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：

一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行上述任一种集成电路测试的监测方法的计算机程序。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.通过获取被测器件的标识参数来确定被测器件进而确定被测器件需要的测试设备，确定了被测器件和测试设备后就确定的测试方案，然后对被测器件进行测试，根据测试方案控制第一继电器电路闭合，通过测试方案和监测对照规则，确定与上述测试方案对应的监测方案，根据监测方案控制第二继电器电路闭合，监测设备可以监测对应的测试线路。在检测集成电路的测试线路是否正常的同时可以根据监测方案实时监测测试线路。

附图说明

图1是本申请提供的集成电路测试的监测方法的流程示意图。

图2是本申请提供的集成电路测试的监测装置的结构示意图。

图3是本申请提供的集成电路测试的监测装置中的控制器的结构示意图。

图4是本申请提供的电子设备的结构示意图。

图中，201、测试设备；202、第一继电器电路；203、接口板；204、被测器件；205、第二继电器电路；206、监测设备；2061、万用表组；2062、控制器；301、CPU；302、ROM；303、RAM；304、I/O接口；305、输入部分；306、输出部分；307、存储部分；308、通信部分；309、驱动器；310、可拆卸介质；401、数据获取模块；402、功能确定模块；403、通路确定模块；404、测试确定模块；405、监测确定模块；406、监测执行模块。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

另外，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

下面结合说明书附图对本申请实施例作进一步详细描述。

本申请实施例提供一种集成电路测试的监测方法，上述方法的主要流程描述如下。

如图1所示：

步骤S101：获取被测器件的标识参数。

具体的，上述标识参数为该被测器件的类别，确定该被测器件的类别后就可以确定被测器件的功能模块为后续确定测试方案提供数据基础。获取标识参数的方式包括通过被测器件的连接管脚和接口板的连接管脚的配合关系可以确定对应的被测器件的类别，即被测器件的连接管脚和接口板的连接管脚连接时，其连接的数量、位置等不相同，由于不同种类被测器件的形状和结构不同，所以被测器件和接口板的连接方式也不相同。还可以在被测器件上贴有包含被测器件类别的标签，通过射频识别系统识别上述标签同样可以获取到被测器件的标识参数。本示例中，不对标识参数的获取方式做唯一限定，只要是能够实现获取被测器件的标识参数即可。

步骤S102：根据标识参数，确定测试方案。

具体的，获取预存在数据库中的标识参数和被测器件的对应关系，通过上述标识参数调取对应的被测器件信息，包括确定被测器件的功能模块、与功能模块对应的多个功能通路以及对应功能通路的接通时间和接通顺序，确定功能模块可以确定测试对应功能模块的测试设备，上述测试设备包括但不限于信号发生器、示波器、万用表、程控电源、下位机、数字驱动电路和上位机。上述数据库中预存有标识参数和被测器件信息的对应关系。

步骤S103：根据测试方案，控制第一继电器电路接通接口板和测试设备。

具体的，获取到功能通路和与上述功能通路对应的接通时间和接通顺序，根据上述接通时间和接通顺序控制第一继电器电路闭合，接通接口板和测试设备即接通被测器件和测试设备，实现测试设备对被测器件的测试。例如，对于某一被测器件来说，在某一段测试时间内的测试线路是固定的，然后根据固定的测试线路控制第一继电器电路闭合，完成这部分测试线路的连接，在下一段测试时间内，当测试线路发生变化时，控制第一继电器电路切换连接的测试线路。在本实施例中，通过测试设备中的上位机来控制第一继电器电路的闭合。

步骤S104：根据测试方案和监测对照规则，确定监测方案。

具体的，根据测试方案，可以确定某一时间段内的测试线路，根据连接的测试线路从数据库中调取对应的监测频次，然后将上述所有的监测频次之和和监测设备的监测上限作比较，当监测设备的监测上限大于上述所有的监测频次之和时，监测设备将按照调取的监测频次进行监测；当监测设备的监测上限小于上述所有的监测频次之和时，根据频次优化规则，对上述监测频次做削减。在一示例中，对某一测试方案的某一时间段内，有两条测试线路，分别为第一线路和第二线路，从数据库中调取对应的监测频次，第一线路的监测频次为100次，第二线路的监测频次为150次，而监测设备的监测上限为200次，则第一线路和第二线路的监测频次之和为100+150=250次，大于监测上限的200次，则对第一线路和第二线路的监测频次进行削减，第一线路需要削减的次数为(250-200)×100/250=20次，则第一线路的监测频次优化后为100-20=80次，对应的第二线路需要削减的次数为(250-200)×150/250=30次，则第二线路的监测频次为150-30=120次。当计算需要削减的次数为小数时，则将需要削减的次数做整数部分加1的操作，例如，计算出需要削减的次数为12.5次时，将12.5的整数部分12做加1操作即13，则需要削减的次数为13次。在本实施例中，对于监测频次的定义为单位时间内需要对测试线路的进行监测的次数，但是对于单位时间的含义不做固定限制，上述单位时间可以为每分钟也可以为每秒。上述数据库中预存有测试线路和其对应的监测频次的对应关系。

步骤S105：根据监测方案，控制第二继电器电路连接监测设备和第一继电器电路。

具体的，根据监测方案可以得到，对某一被测器件的某个测试时间段内的连接的测试线路，根据测试线路可以调取对应测试线路的监测需求即一段时间内的监测频次，根据监测设备的监测上限确定最终监测频次，根据上述最终监测频次控制第二继电器电路闭合进而连接监测设备的第一继电器电路中接通的测试线路，完成测试线路的监测功能。

本申请还提供一种集成电路测试的监测装置，如图2所示，集成电路测试的监测装置包括：接口板203、第一继电器电路202、测试设备201、第二继电器电路205和监测设备206，接口板203和被测器件204连接通过被测器件204和接口板203的连接方式确定被测器件204的种类、型号等，接口板203分别测试设备201和第一继电器电路202连接，测试设备201和第一继电器电路202连接，测试设备201通过获取接口板203的连接方式确定测试设备201，进而控制第一继电器电路202与接口板203连接，将被测器件204和测试设备201连通，测试设备201包括但不限于信号发生器、示波器、万用表、程控电源、下位机、数字驱动电路和上位机。第二继电器电路205分别和第一继电器电路202和监测设备206连接，监测设备206包括万用表组2061和控制器2062，控制器2062控制第二继电器电路205，通过第二继电器电路205将万用表组2061和监测线路连通实现万用表组2061对于被测器件204和测试设备201的连接线路的监测。

参照图3，控制器2062还包括：

数据获取模块401，用于获取标识参数和监测对照规则；

功能确定模块402，用于根据所述标识参数，确定功能参数；

通路确定模块403，用于根据所述功能参数，确定功能通路和测试设备；

测试确定模块404，用于根据所述功能通路、所述测试设备和所述监测对照规则，确定测试时间和监测频次；

监测确定模块405，用于根据所述测试时间、所述监测频次和频次优化规则，确定监测方案；

监测执行模块406，用于根据所述监测方案，输出控制信号。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，所描述的模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本申请实施例公开一种电子设备。参照图4，电子设备包括，包括中央处理单元(CPU)301，其可以根据存储在只读存储器(ROM)302中的程序或者从存储部分307加载到随机访问存储器(RAM)303中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 303中，还存储有系统操作所需的各种程序和数据。CPU 301、ROM 302以及RAM 303通过总线彼此相连。输入/输出(I/O)接口304也连接至总线。

以下部件连接至I/O接口304：包括键盘、鼠标等的输入部分305；包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分306；包括硬盘等的存储部分307；以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分308。通信部分308经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器309也根据需要连接至I/O接口304。可拆卸介质310，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器309上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分307。

特别地，根据本申请的实施例，上文参考流程图图1描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本申请的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在机器可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分308从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质310被安装。在该计算机程序被中央处理单元(CPU)301执行时，执行本申请的装置中限定的上述功能。

需要说明的是，本申请所示的可读存储介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的申请范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离前述申请构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中申请的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

Claims (10)

1.一种集成电路测试的监测方法，应用于集成电路测试的监测装置，所述监测装置包括第一继电器电路、第二继电器电路、监测设备、测试设备和接口板，所述第一继电器电路与所述接口板连接，所述第一继电器电路分别与所述测试设备和所述第二继电器电路连接，所述监测设备和所述第二继电器电路连接，其特征在于，包括：

获取被测器件的标识参数；

根据所述标识参数，确定测试方案；

根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备；

根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案；

根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述标识参数，确定测试方案，包括：

根据所述标识参数，确定所述被测器件的功能参数；

根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备；

根据所述测试时间和所述测试设备，确定测试方案。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述功能参数和测试对照规则，确定测试时间和测试设备，包括：

根据所述功能参数，确定多条功能通路和测试设备；

根据所述功能通路和所述测试对照规则，确定测试时间。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述测试方案，控制所述第一继电器电路接通所述接口板和所述测试设备，包括：

根据所述测试方案，确定功能通路、所述功能通路对应的测试设备以及所述功能通路对应的测试时间；

根据所述功能通路、所述测试设备和所述测试时间，控制所述第一继电器电路闭合。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述测试方案和监测对照规则，确定监测方案，包括：

根据所述测试方案，确定功能通路和监测设备；

根据所述功能通路和所述监测对照规则，确定所述功能通路对应的测试线路和所述测试线路对应的监测频次；

当所述监测频次低于监测设备的监测预设值时，

根据监测频次，确定监测方案；

当所述监测频次高于监测设备的监测预设值时，

根据监测频次和频次优化规则，确定监测方案。

6.根据权利要求5所述的集成电路测试的监测方法，其特征在于，所述根据所述监测方案，控制所述第二继电器电路接通所述监测设备和所述第一继电器电路，包括：

根据所述监测方案，确定测试线路和所述测试线路对应的监测频次；

根据所述测试线路和所述监测频次，控制所述第二继电器电路闭合。

7.一种集成电路测试的监测装置，其特征在于，包括：

接口板(203)，用于连接被测器件(204)；

测试设备(201)，用于测试被测器件(204)；

第一继电器电路(202)，用于连接所述接口板(203)和所述测试设备(201)；

万用表组(2061)，用于监测测试电路的工作状况；

第二继电器电路(205)，用于连接所述接第一继电器电路(202)和所述万用表组(2061)；

控制器(2062)，用于执行如权利要求1-6中任一种方法的计算机程序指令并控制所述第二继电器电路(205)。

8.根据权利要求7所述的集成电路测试的监测装置，其特征在于，所述控制器(2062)还包括：

数据获取模块(401)，用于获取标识参数和监测对照规则；

功能确定模块(402)，用于根据所述标识参数，确定功能参数；

通路确定模块(403)，用于根据所述功能参数，确定功能通路和测试设备；

测试确定模块(404)，用于根据所述功能通路、所述测试设备和所述监测对照规则，确定测试时间和监测频次；

监测确定模块(405)，用于根据所述测试时间、所述监测频次和频次优化规则，确定监测方案；

监测执行模块(406)，用于根据所述监测方案，输出控制信号。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至6中任一种方法的计算机程序。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至6中任一种方法的计算机程序。

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