CN115720545A - 适配查找器工具 - Google Patents

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CN115720545A
CN115720545A CN202180041158.1A CN202180041158A CN115720545A CN 115720545 A CN115720545 A CN 115720545A CN 202180041158 A CN202180041158 A CN 202180041158A CN 115720545 A CN115720545 A CN 115720545A
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Abstract

本申请公开一种设备(100)，包括：基座参考接触部(102)，所述基座参考接触部被配置为与工件上的第一点相对应；尺寸接触部(120)，所述尺寸接触部被配置为相对于所述基座参考接触部沿尺寸轴(124)移动，并且与工件上的第二点相对应；以及指示器(162)，所述指示器与所述尺寸接触部操作地相关联，使得所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动所述指示器的量X％D与所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量D成比例，并且小于所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量。

Description

适配查找器工具
相关申请的交叉引用
本申请要求临时申请63/022,922的2020年5月11日申请日的权益，该申请以引用方式并入本文。
技术领域
本发明涉及一种确定位置的工具，该位置是两点之间距离的所选择的百分比。
背景技术
在例如木材加工、金属加工等的制造领域中，有很多时候可需要在工件中定位某个点。例如，某些切割必须具有一定的深度，该深度是工件的特定厚度，例如，厚度的一半。切割工具的正确设置往往需要可进行调整直到可做出正确设置的试错设置。该过程是对时间的低效利用，并可能导致材料的浪费。因此，该领域存在改进的余地。
附图说明
在以下描述中，根据附图对本发明进行了解释，其中：
图1是适配查找器工具的示例性实施方案的前视图。
图2A是图1的适配查找器工具的另选实施方案的透视图。
图2B是图1的适配查找器工具的另选实施方案的透视图。
图3是沿图1中的线A-A的视图，示出了IC/PC接合部。
图4A是沿图1中的线B-B的视图，示出了IC/基座接合部。
图4B是沿图1中的线A-A的视图，示出了PC/基座接合部。
图5是适配查找器工具的另选实施方案的前视图。
图6是在示例性应用中图5的适配查找器工具的实施方案的前视图。
图7是在另一示例性应用中图5的适配查找器工具的实施方案的前视图。
图8是在示例性应用中图5的适配查找器工具的另选实施方案的前视图。
图9是在示例性应用中图2A的适配查找器的示例性实施方案的透视图。
图10是在另一示例性应用中图2A的适配查找器的示例性实施方案的透视图。
图11是在另一示例性应用中图2A的适配查找器的示例性实施方案的透视图。
图12是在另一示例性应用中图2A的适配查找器的示例性实施方案的透视图。
具体实施方式
本发明人已开发了一种独特和创新的适配查找器工具，该适配查找器工具指示作为两点之间距离的所选择的百分比的位置。该适配查找器工具能够用于各种方式，以简化制造项目。例如，该适配查找器工具能够用于查找一块原材料的中点(或1/3等)。知道这个点能快速有效地设置加工工具。
图1是适配查找器工具100的示例性实施方案的前视图，该适配查找器工具100具有限定基座参考点104的基座参考接触部102。基座参考点104充当待测尺寸的参考端部，并且基座参考接触部102是基座参考点104的物理表现，基座参考接触部接触待测物体或接触待测物体所搁置的平坦表面。基座参考接触部102可以是与基座参考点104相对应的物理点。可替代地，在所示的示例性实施方案中，基座参考接触部102可限定与基座参考点104相对应的基座接触平面106。适配查找器工具100包括基座部件110，该基座部件110包括基座端部112。基座端部112限定基座参考接触部102，无论基座参考接触部102是点还是平面。当基座参考接触部102限定基座接触平面106时(如图1所示，在页面内和页面外)，基座端部112通过本身具有平坦表面114，或者替代地通过使用至少三个接触点(未示出)来限定基座接触平面106来这样做。当基座端部112限定基座接触平面106时，基座端部112被配置为搁置在平坦表面116(例如桌面)上。在这种情况下，平坦表面116与基座接触表面106是共面的。因此，搁置在平坦表面116上的任何物体也搁置在基座接触平面106上。
适配查找器工具100还包括尺寸接触部120，该尺寸接触部120限定尺寸接触点122，该尺寸接触点122被配置为沿连接基座参考点104和尺寸接触点122的尺寸轴124移动。尺寸接触点122是待测尺寸的另一端的参考点，尺寸接触部120是尺寸接触点122的物理表现，并且接触待测物体。尺寸接触部120可以是与尺寸接触点122相对应的物理点。可替代地，在所示的示例性实施方案中，尺寸接触部120是细长的，并且尺寸接触点122与细长的尺寸接触部120相关联。在所示的示例性实施方案中，细长的尺寸接触部120包括尺寸接触平坦表面126(如图1所示，在页面内和页面外)，该尺寸接触平坦表面126平行于由基座参考接触部102限定的基座接触平面106。
因此，在所示的实施方案中，基座参考接触部102限定基座接触平面106，并且尺寸接触部120限定平行于基座接触平面106的尺寸接触平坦表面126。
在本实施方案中，沿尺寸轴124的距离D被限定为基座参考点104与尺寸接触点122之间的最短距离。在该示例性实施方案中，无论在基座参考接触部102与尺寸接触部120之间的什么地方取距离D，距离D都是一样的，所以待测量的尺寸能够横向放置在任何地方，只要它被夹在基座参考点104与尺寸接触点122之间。
在替代的实施方案中(未示出)，基座参考接触部102是点(类似于探头尖端)，尺寸接触部120是点(类似于另一探头尖端)，距离D被限定为基座参考点104与尺寸接触点122之间沿尺寸轴124的距离。因此，待测量的尺寸必须准确地定位在基座参考接触部102与尺寸接触部120之间，以便与距离D重合。在示例性实施方案中，基座参考接触部102可被配置为搁置在平坦表面116的顶部上，并且与基座参考接触部102限定基座接触平面106的实施方案类似地操作。在另一实施方案中，基座参考接触部102可被配置为搁置在待测物体下方，以便基座参考接触部102和尺寸接触部120将待测物体夹在其间(类似于卡尺)。
适配查找器工具100还包括中间部件(IC)140，该中间部件(IC)140包括尺寸接触部120。如图所示，尺寸接触部120可以是中间部件140的附接部分，或者尺寸接触部120可以是单片式中间部件140的整体部分。尺寸接触部被配置为经由IC/基座接合部142沿尺寸轴124相对于基座部件110移动。在所示的示例性实施方案中，IC/基座接合部142包括基座部件110中的第一凹槽146中的第一狭槽144。第一凹槽146包括第一凹槽渐缩部148。中间部件140包括几何形状(在图1中不可见)，该几何形状与第一凹槽146相互作用，以确保中间部件140精确地沿第一狭槽144滑动。第一狭槽144平行于距离D。当基座参考接触部102限定基座接触平面106，并且尺寸接触部120限定平行于基座接触平面106的尺寸接触平坦表面126时，尺寸轴124也与基座接触平面106和尺寸接触平坦表面126成九十(90)度定向。这反过来又使尺寸轴124垂直于平坦表面116定向。
中间部件140沿尺寸轴124沿在底部处由D0至Dmax界定的范围Drange移动，其中，D0对应于尺寸零，Dmax对应于最大尺寸。在示例性实施方案中，Dmax是三英寸。然而，适配查找器能够被缩放，所以任何Dmax都是可能的。Drange是适配查找器工具100能够测量的尺寸的范围。因此，任何尺寸都能够被测量，只要它等于或小于Dmax。
适配查找器工具100还包括具有指示器162的指示器部件160，该指示器162被配置为当尺寸接触部120经由几何布置164沿尺寸轴124移动时，相对于尺寸轴124按比例移动。指示器162指示沿尺寸轴124的位置P，该位置P是在基座参考点104与尺寸接触点122之间沿尺寸轴124的距离D的所选择的百分比“X％D”。在所示的实施方案中，距离D也在基座接触平面106与尺寸接触平坦表面126之间。指示器162可以如图所示是指示器部件160的附接部分，或者指示器162可以是单片式指示器部件160的整体部分。此外，指示器162可以是点、边缘，或平坦表面。
几何布置164包括PC/基座接合部166。在所示的示例性实施方案中，PC/基座接合部166包括基座部件110中的第二凹槽170中的第二狭槽168(在图1中不可见)。第二凹槽170包括第二凹槽渐缩部172。指示器部件160包括几何形状(在图1中不可见)，该几何形状与第二狭槽168相互作用，以确保指示器部件160精确地沿第二狭槽168滑动。第二狭槽168和第二凹槽170相对于尺寸轴124以第二(狭槽)角度180定向。在所示的实施方案中，第二角度180是相对于垂直于尺寸轴124延伸的线182的。当基座参考接触部102限定基座接触平面106时，第二角度180是相对于基座接触平面106的。
几何布置164还包括中间部件140的中间臂190，该中间臂190相对于尺寸轴124以第一(臂)角度192延伸。几何布置164还包括在中间臂190与指示器部件160之间的IC/PC接合部200。IC/PC接合部200包括在中间臂190与指示器部件160之间的滑动接合部202，当中间部件140沿尺寸轴124移动时，该滑动接合部202准许指示器部件160的PC滑动表面204沿中间部件140的中间臂190的IC滑动表面206滑动。IC/PC接合部200和PC/基座接合部166的几何形状决定了X％D中X的数值将是多少。具体地，指示器162将指示的距离D的百分比将取决于第一角度192选择什么角度以及第二角度180选择什么角度。
在示例性实施方案中，第一角度192是四十五(45)度，并且第二角度也是四十五(45)度。在该示例性实施方案中，这导致X的数值是五十(50)，所以X％D是50％D。这意味着指示器162将指示为沿尺寸轴124的尺寸D的50％(一半)的位置P的尺寸。例如，如果具有两英寸的尺寸的物体被夹在基座参考点104与尺寸接触点122之间，则距离D将是两(2)英寸，所以指示器将指示沿尺寸轴124的为一(1)英寸的位置P。在基座参考接触部102限定基座接触平面106，并且尺寸接触部120限定尺寸接触平坦表面126的实施方案中，指示器将指示距离基座接触平面106一(1)英寸(并且因此，沿尺寸轴124距离平坦表面116一(1)英寸)的位置P。此类配置可以被认为是“半数查找器”。
如果用户想在工件中找到中点，该用户只需将工件放置在平坦表面116上，并将尺寸接触部120降低到该工件上。指示器162会自动指示作为中点的位置P。用户可使用指示器162的位置P来标记工件上的中点。如果平坦表面116是工具(例如台锯或铣削台)的工作表面，则指示器162可用于相对于物体的中点定位锯片或铣削头。以这种方式，锯或钻头将会在物体中正确地居中，而需要的试错切割更少或不需要进行任何试错切割。
图2A是适配查找器工具208的另选实施方案的透视图。在图1的示例性实施方案中，尺寸接触部120是中间部件140的附接部分。在图2A的另选的示例性实施方案中，尺寸接触部120是单片式中间部件140的整体部分。在图1的示例性实施方案中，可拆卸的尺寸部分可以与各种形状和/或长度的尺寸接触部120随意交换。这扩大了平坦表面116可用于测量的部分。此外，如果待测物体具有特定的几何形状，则尺寸接触部120可被成形用于适应特定几何形状所带来的挑战，使得能够取得尺寸D的准确测量。
同样地，在图1的实施方案中，指示器162是指示器部件160的附接部分。在图2A的另选的示例性实施方案中，指示器162是单片式指示器部件160的整体部分。在图1的示例性实施方案中，可拆卸的指示器部件160可以与各种形状和/或长度的指示器部件160随意交换。这扩大了指示器的使用方式。例如，如果工具具有特定的几何形状，则指示器162可被成形为用于适应特定几何形状所带来的挑战。
图2B是适配查找器工具220的另选实施方案的透视图。在图2B的另选的示例性实施方案中，类似于图2A的示例性实施方案，尺寸接触部120是单片式中间部件140的整体部分。同样，图2B的指示器162是单片式指示器部件160的整体部分。在图2B的示例性实施方案中，单片式指示器部件160的形状类似于指示器部件160的形状加上图1的示例性实施方案的指示器162的形状。换一种说法，图2B的示例性实施方案将指示器部件160与指示器162组合成单片式主体。也可以说，图2B的单片式指示器部件160是图2A的单片式指示器部件160的重塑版本。
图3是沿图1中的线A-A的视图，示出了IC/PC接合部200的示例性实施方案。在所示的示例性实施方案中，IC/PC接合部200是滑动接合部202，其中，IC滑动接头凸起210适配到配合的PC凹槽212中，并且PC滑动接头凸起214适配到配合的IC凹槽216中。在示例性实施方案中，PC凹槽212和IC凹槽216都是在页面内外延伸的狭槽/沟槽，如图3所示。IC滑动接头凸起210和PC滑动接头凸起214可采取配合的形状(例如狭槽/沟槽的缺损形(negativeshape))，并且可在页面内外伸长，如图3所示。可替代地，IC滑动接头凸起210和PC滑动接头凸起214中的一个可被成形为销状或将在狭槽/沟槽中按预期滑动的任何其他合适的形状。
在所示的示例性实施方案中，中间部件140和指示器部件160相对于基座部件110的移动要求部件之间有松动/缝隙。这种松动会防止指示器162做出准确的指示。因此，适配查找器工具100必须能够松动以进行定位，并且然后必须消除松动，使得指示器162能够做出准确的指示。为了实现这一点，接合部中的每个都需要接合部分之间的参考(例如已知)的相互作用。例如，在IC/PC接合部200中，当松动被去除时，指示器部件的PC滑动表面204与中间部件的IC滑动表面206邻接。
为了实现这一点，PC凹槽212具有PC凹槽渐缩部220，并且配合的IC凹槽216具有与PC凹槽渐缩部220配合的IC凹槽渐缩部222，以确保在IC/PC接合部200的任何其他部分相互接触之前(例如，在IC滑动接头凸起210在配合的PC凹槽212中降到最低点之前等)，参考PC滑动表面204与参考IC滑动表面206邻接。通过这样做，可以知道，当要作出指示时，指示器部件160与中间部件140之间永远不会有不需要的间隙，因此，指示将是准确和可重复的。
图4A是沿图1中的线B-B的视图，示出了IC/基座接合部142的示例性实施方案。在所示的示例性实施方案中，IC/基座接合部142包括基座部件110中的第一凹槽146中的第一狭槽144。第一凹槽146包括第一凹槽渐缩部148。IC/基座接合部142是滑动接合部230，其中，第一凹槽IC凸起232适配到第一凹槽146中并与第一凹槽146配合。在示例性实施方案中，第一凹槽IC凸起232可采取配合的形状(例如第一凹槽146的缺损形)，并可在页面内外伸长，如图4A所示。可替代地，第一凹槽IC凸起232可包括两个销或将按照预期在第一凹槽146中滑动并保持中间部件140的取向的任何其他合适的形状。
在所示的示例性实施方案中，第一凹槽IC凸起232包括第一凹槽IC凸起渐缩部234和第一凹槽IC凸起参考表面236。第一凹槽146包括第一凹槽参考表面238。第一凹槽IC凸起渐缩部234与第一凹槽渐缩部148配合，以确保在IC/基座接合部230的任何其他部分相互接触之前，第一凹槽IC凸起参考表面236与第一凹槽参考表面238邻接。通过这样做，可以知道，当要作出指示时，中间部件140与基座部件110之间永远不会有不需要的间隙，因此，指示将是准确和可重复的。
为了实现第一凹槽IC凸起渐缩部234和第一凹槽渐缩部148的配合，IC螺柱240穿过第一狭槽144并进入IC螺母242。拧紧IC螺母242将中间部件140拉向基座部件110，并且这使得第一凹槽IC凸起渐缩部234和第一凹槽渐缩部148配合，直到第一凹槽IC凸起参考表面236与第一凹槽参考表面238邻接。
在该示例性实施方案中，中间部件140将指示器部件160夹在中间部件140与基座部件110之间。因此，拧紧IC螺母242也将IC滑动接头凸起210压入配合的PC凹槽212，并且同样也将PC滑动接头凸起214压入配合的IC凹槽216(参见图3)。这使得IC凹槽渐缩部222和PC凹槽渐缩部220配合，以确保在IC/PC接合部200的任何其他表面相互接触之前，PC滑动表面204与IC滑动表面206接合。
图4B是沿图1中的线C-C的视图，示出了PC/基座接合部166的示例性实施方案。在所示的示例性实施方案中，PC/基座接合部166包括基座部件110中的第二凹槽170中的第二狭槽168。第二凹槽170包括第二凹槽渐缩部172。PC/基座接合部166是滑动接合部250，其中，第二凹槽PC凸起252适配到第二凹槽170中并与第二凹槽170配合。在示例性实施方案中，第二凹槽PC凸起252可采取配合的形状(例如第二凹槽170的缺损形)，并且可在页面内外伸长，如图4B所示。可替代地，第二凹槽PC凸起252可以是两个销或将按照预期在第二凹槽170中滑动并保持指示器部件160取向的任何其他合适的形状。
在所示的示例性实施方案中，第二凹槽PC凸起252包括第二凹槽PC凸起渐缩部254和第二凹槽PC凸起参考表面256。第二凹槽170包括第二凹槽参考表面258。第二凹槽PC凸起渐缩部254与第二凹槽渐缩部172配合，以确保在PC/基座接合部166的任何其他部分相互接触之前，第二凹槽PC凸起参考表面256与第二凹槽参考表面258邻接。通过这样做，可以知道，当要作出指示时，指示器部件160与基座部件110之间永远不会有不需要的间隙，因此，指示将是准确和可重复的。
为了实现第二凹槽PC凸起渐缩部254和第二凹槽渐缩部172的配合，PC螺柱260穿过第二狭槽168并进入PC螺母262。拧紧PC螺母262将指示器部件160拉向基座部件110，并且这使得第二凹槽PC凸起渐缩部254和第二凹槽渐缩部172配合，直到第二凹槽PC凸起参考表面256与第二凹槽参考表面258邻接。
接合部、参考表面和渐缩部的示例性实施方案并不意味着是限制性的。技术人员将认识到，接合部可重新配置，使得不同的表面具有渐缩部，并且不同的表面为参考表面。
图5是适配查找器工具500的另选实施方案的前视图。该另选实施方案与图1的实施方案类似，除了第一角度192和第二角度180以及由此产生的作为距离D的百分比的X的数值之外。在该示例性实施方案中，第一角度192是49.1度。第二角度180是30度。在该示例性实施方案中，这导致X的数值是1/3，所以X％D是33.3％D。
这意味着指示器162将指示为沿尺寸轴124的尺寸D的三分之一(1/3)的位置P的尺寸。例如，如果具有三英寸的尺寸的物体被夹在基座参考点104与尺寸接触点122之间，则距离D将是三(3)英寸，所以指示器将指示沿尺寸轴124的为一(1)英寸的位置P。在基座参考接触部102限定基座接触平面106，并且尺寸接触部120限定尺寸接触平坦表面126的实施方案中，指示器将指示距离基座接触平面106一(1)英寸(并且因此，沿尺寸轴124距离平坦表面116一(1)英寸)的位置P。此类配置可以被认为是“三分之一查找器”。
图5的实施方案是通过改变IC滑动表面206的第一角度192、调整第二角度180、以及调整PC滑动表面204的取向以匹配重新定向的IC滑动表面204而得出的。第一狭槽144仍然平行于尺寸轴124。因此，改变这些参数(例如，改变第一角度192和第二角度180两者)是实现所需的距离D百分比X的一种方法。
在另选实施方案中，为了改变距离D的百分比X，第二角度180可保持在四十五(45)度，第一角度192可以被调整，并且PC滑动表面204可以被调整以匹配重新定向的IC滑动表面204。例如，与第一角度为四十五(45)度的实施方案中的第一实施方案相比，将第一角度192从四十五(45)度增加到更大的值将导致指示器部件160水平地向右移动的距离更小。由于四十五(45)度的第二角度180将使指示器部件160与水平地移动完全一样地进行竖直地移动，并且由于指示器部件160的水平移动已经变小，因此结果将是指示器162沿尺寸轴124(竖直地)移动的距离D的百分比更小。同样的原理反过来也适用。如果第一角度192减小，第二角度180保持在四十五(45)度，并且PC滑动表面204被调整到与重新定向的IC滑动表面204匹配，则距离D的百分比X将增大。因此，改变第一角度192而不改变第二角度180是实现所需的距离D的百分比X的另一种方法。
在另一个另选实施方案中，第一角度192可保持在四十五(45)度，第二角度180可以被调整，并且PC滑动表面204可以被调整到与IC滑动表面204匹配，以产生所需的距离D的百分比X。例如，减小第二角度180同时将第一角度192保持在四十五(45)度将减小距离D的百分比X。因此，改变第二角度180但不改变第一角度192是实现所需的距离D的百分比的另一种方法。
技术人员将认识到，第一角度192和第二角度180的不止一种组合可产生相同的距离D的百分比X，并且根据上述公开的原理工作的所有各种配置应被理解为落入本公开的范围。
图6是在示例性应用中图5的适配查找器工具500的实施方案的前视图。在本应用中，适配查找器工具500被配置为1/3查找器。基座端部112搁置在平坦表面116上，在本示例中，该平坦表面116是铣削机600的工作表面。尺寸接触部120搁置在具有0.75英寸尺寸D的工件602上。在本示例性实施方案中，指示器162的底部表面604是指示X％D(在本示例性实施方案中为1/3D)位置P的参考表面，在本示例性实施方案例中该位置P为0.25英寸。底部表面604被用作参考，因此铣削头612可以被正确地定位。
图7是在示例性应用中图5的适配查找器工具500的实施方案的特写的前视图。与图6一样，在该应用中，基座端部112搁置在平坦表面116上，在本示例中，该平坦表面116是铣削机600的工作表面。在本示例性实施方案中，指示器162的边缘700是指示X％D(在本示例性实施方案中为1/3D)位置P的参考。边缘700被用作参考，因此，在本示例性实施方案中，铣削头702能够使用铣削头702上的指示标记704来正确地定位。
在另选的示例性实施方案中，指示器162可以容易地被配置成使得上表面706用作参考，以指示为X％D的位置P。
图8是在示例性应用中图5的适配查找器工具500的另选实施方案的前视图。与图6一样，在该应用中，基座端部112搁置在平坦表面116上，在本示例中，该平坦表面116是铣削机600的工作表面。在该示例性实施方案中，指示器附件800固定到指示器162，并且因此固定到指示器部件160。在该示例性实施方案中，指示器附件800具有抵靠在指示器162的底部表面604上的上表面802。因此，指示器附件800的上表面802成为指示X％D(在本示例性实施方案中为1/3D)的位置P的参考。上表面802被用作参考，因此铣削头612可以被正确地定位。
指示器附件800可采取任何形状，使得指示器附件800的任何部分都能够成为指示X％D的位置P的参考。
图9是在示例性应用中图2A的适配查找器工具208的实施方案的前视图。适配查找器工具208的基座端部112放置在平坦表面116上，在本应用中，该平坦表面116是台锯902的工作表面900。工件904搁置在平坦表面116上，并且尺寸接触部120搁置在工件904上。当锯片910处于其扫掠(sweep)的顶部时，指示器162的平坦表面搁置在锯片910上。在该示例性实施方案中，适配查找器工具208是半数查找器，因此指示器162提供了允许锯片被快速设置到工件904的一半深度的参考。这极大地简化了某些切割的设置，例如用于类似接头的槽口。
图10是在示例性应用中图2A的适配查找器工具208的实施方案的前视图。适配查找器工具208的基座端部112放置在平坦表面116上，在本应用中，该平坦表面116是铣削机1002的工作表面1000。工件1004搁置在平坦表面116上，并且尺寸接触部120搁置在工件1004上。在该示例性实施方案中，适配查找器工具208是半数查找器，因此指示器162的边缘指示为工件1004的一半厚度的位置P。然后，指示器162的边缘被用作参考，因此可以调整铣削头1010，以正确地定位铣削头1010上旨在处于与位置P相同高度的点。
图11是在示例性应用中图2A的适配查找器工具208的实施方案的透视图。适配查找器工具208的基座端部112放置在平坦表面116上，在本应用中，该平坦表面116是钻床1102的工作表面1100。工件1104搁置在平坦表面116上，并且尺寸接触部120搁置在工件1104上。在该示例性实施方案中，适配查找器工具208是半数查找器，因此指示器162的边缘指示为工件1104的一半厚度的位置P。然后，指示器162的边缘被用作参考，因此钻头1110的冲程末端能够被调整为对应于工件1104的一半厚度。工件1104中产生的孔将是一半厚度。
图12是在示例性应用中图2A的适配查找器工具208的实施方案的透视图。适配查找器工具208的基座端部112放置在平坦表面116上，在本应用中，该平坦表面116是带锯1202的工作表面1200。工件1204搁置在平坦表面116上，并且尺寸接触部120搁置在工件1204上。在该示例性实施方案中，适配查找器工具208是半数查找器，因此指示器162的边缘和平坦表面指示为工件1104的一半厚度的位置P。一旦指示该位置P，适配查找器工具208能够被移动。在该示例性实施方案中，适配查找器工具208的基座端部112放置在带锯1202的围栏1210上。指示工件1204的一半厚度的位置P由指示器162指示，并且围栏1210可以针对该参考位置P进行调整，使得锯片1212可以正确地定位，以在工件1204中进行正确的切割。
本文所公开的适配查找器工具减少了与在制造期间做出的许多切割的试错设置相关联的时间和精力损失。因此，适配查找器代表了本领域中的改进。
虽然已在本文示出和描述了本发明的各种实施方案，但显而易见的是，这些实施方案仅以示例的方式提供。在不背离本发明的情况下，可以进行许多变化、在各实施方案之间交换特征、进行改变和替换。因此，本发明仅受所附权利要求的精神和范围的限制。

Claims (22)

1.一种设备，包括：
基座参考接触部，所述基座参考接触部被配置为与工件上的第一点相对应；
尺寸接触部，所述尺寸接触部被配置为相对于所述基座参考接触部沿尺寸轴移动，并且与所述工件上的第二点相对应；以及
指示器，所述指示器与所述尺寸接触部操作地相关联，使得所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动所述指示器的量与所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量成比例，并且小于所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量。
2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述设备还包括基座端部，所述基座端部被配置为搁置在平坦表面上，并且其中，所述基座端部限定所述基座参考接触部。
3.根据权利要求2所述的设备，其中，当所述基座端部设置在所述平坦表面上时，所述尺寸轴垂直于所述平坦表面，并且所述尺寸接触部被配置为移动远离所述平坦表面并且将物体夹在所述平坦表面与所述尺寸接触部之间。
4.根据权利要求1所述的设备，还包括：
基座部件，所述基座部件包括所述基座参考接触部；
中间部件即IC，所述中间部件包括所述尺寸接触部，并且被配置为与所述基座部件相互作用，以使所述中间部件沿所述尺寸轴移动；以及
指示器部件即PC，所述指示器部件包括所述指示器，并且被配置为与所述基座部件和所述中间部件相互作用，以使所述指示器部件沿所述尺寸轴的移动与所述尺寸接触部的移动成比例。
5.根据权利要求4所述的设备，
其中，所述中间部件包括中间臂，所述中间臂以相对于所述尺寸轴的第一角度从所述中间部件延伸；
其中，所述基座部件还包括：平行于所述尺寸轴设置的第一狭槽，所述中间部件沿所述第一狭槽移动；以及与所述第一狭槽成第二角度设置的第二狭槽，所述指示器部件沿所述第二狭槽移动；
其中，所述中间臂与所述指示器部件之间的IC/PC接合部使所述指示器部件在所述中间部件沿所述第一狭槽移动时沿所述中间臂移动；以及
其中，所述第一角度和所述第二角度确定所述指示器部件沿所述第一狭槽移动并由此沿所述尺寸轴移动的量与所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量的比例。
6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述第一角度是45度，所述第二角度是45度，并且与所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量成比例且小于所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量的所述量是50％。
7.根据权利要求5所述的设备，其中，所述第一角度是49.1度，所述第二角度是30度，并且与所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量成比例且小于所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动的量的所述量是1/3。
8.一种设备，包括：
基座参考接触部，所述基座参考接触部限定基座参考点；
尺寸接触部，所述尺寸接触部限定尺寸接触点，所述尺寸接触点被配置为沿连接所述基座参考点和所述尺寸接触点的尺寸轴移动；以及
指示器，所述指示器被配置为在所述尺寸接触部沿所述尺寸轴移动时相对于所述尺寸轴移动，并且指示沿所述尺寸轴的位置，所述位置是所述基座参考点和所述尺寸接触部之间沿所述尺寸轴的距离的所选择的百分比。
9.根据权利要求8所述的设备，其中，所述基座参考接触部限定包含所述基座参考点的基座接触平面，并且其中，所述尺寸轴垂直于所述基座接触平面。
10.根据权利要求9所述的设备，还包括基座部件，所述基座部件包括基座端部，所述基座端部被配置为搁置在平坦表面上，其中，所述基座端部形成所述基座参考接触部。
11.根据权利要求10所述的设备，其中，当所述基座端部设置在所述平坦表面上时，所述尺寸接触部被配置为移动远离所述平坦表面并将物体夹在所述平坦表面与所述尺寸接触部之间。
12.根据权利要求8所述的设备，还包括：
基座部件，所述基座部件包括所述基座参考接触部；
中间部件即IC，所述中间部件包括所述尺寸接触部，并且被配置为经由IC/基座接合部沿所述尺寸轴移动；以及
指示器部件即PC，所述指示器部件包括所述指示器，并且被配置为与所述基座部件和所述中间部件相互作用，以使所述指示器沿所述尺寸轴的移动与所述尺寸接触部的移动成比例。
13.根据权利要求12所述的设备，还包括几何布置，所述几何布置决定了在所述中间部件沿所述尺寸轴移动时，所述指示器部件沿所述尺寸轴移动的所选择的百分比。
14.根据权利要求13所述的设备，其中，所述几何布置包括：
所述中间部件的中间臂，所述中间臂相对于所述尺寸轴以第一角度延伸；
所述中间臂与所述指示器部件之间的IC/PC接合部；以及
所述指示器部件与所述基座部件之间的PC/基座接合部，当所述中间部件经由所述IC/基座接合部沿所述尺寸轴移动时，所述指示器部件沿所述PC/基座接合部移动。
15.根据权利要求14所述的设备，其中，所述IC/基座接合部包括在所述基座部件中的第一狭槽，并且平行于所述尺寸轴定向；并且其中，所述PC/基座接合部包括在所述基座部件中的第二狭槽，并且相对于所述尺寸轴以第二角度定向。
16.根据权利要求15所述的设备，其中，所述IC/PC接合部包括其间的滑动接合部，当所述中间部件沿所述尺寸轴移动时，所述滑动接合部允许所述指示器部件沿所述中间部件滑动。
17.根据权利要求15所述的设备，其中，所述第一角度决定了当所述中间部件沿所述尺寸轴移动时所述指示器部件的水平移动，并且所述第二角度决定了所述指示器部件响应于所述水平移动的竖直移动。
18.根据权利要求15所述的设备，其中，所述第一角度是45度，所述第二角度是45度，并且所选择的百分比是50％。
19.根据权利要求15所述的设备，其中，所述第一角度是49.1度，所述第二角度是30度，并且所选择的百分比是1/3。
20.一种设备，包括：
基座参考接触部；
尺寸接触部，所述尺寸接触部被配置为相对于所述基座参考接触部移动，并限定所述尺寸接触部与所述基座参考接触部之间的距离；以及
指示器，所述指示器被配置为以所述距离的所选择的百分比指向所述基座接触部与所述尺寸接触部之间的方位。
21.根据权利要求20所述的设备，其中，所述基座参考接触部与物体的底部相关联，并且所述尺寸接触部与所述物体的顶部相关联，使得所述距离等于所述物体的在所述尺寸接触部与所述基座参考接触部之间的尺寸。
22.根据权利要求21所述的设备，其中，所述基座参考接触部被配置为搁置在平坦表面上，并且其中，当所述基座接触部搁置在所述平坦表面上时，所述尺寸接触部沿垂直于所述平坦表面的尺寸轴移动，并且所述尺寸接触部接触也搁置在所述平坦表面上的所述物体的顶部。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024010579A1 (en) * 2022-07-06 2024-01-11 Henry Wang Router bit with indexing feature

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1703736A (en) * 1926-12-10 1929-02-26 Alfred P Jacob Measuring instrument
US2627118A (en) * 1948-07-19 1953-02-03 Le Roy F Young Vernier controlled indicator rod clamp
US3672065A (en) * 1970-11-09 1972-06-27 Raymond G Voss Angle gage mechanism
US4458422A (en) * 1981-05-22 1984-07-10 Mitutoyo Mfg. Co. Ltd. Height gauge
JPS58186001A (ja) * 1982-04-24 1983-10-29 Ryohei Tanmachi 分割測定具
US4607434A (en) * 1984-01-27 1986-08-26 Francis John G R Saw guide with cut location indicator
US4779354A (en) * 1987-08-27 1988-10-25 Hill Michael J Variable angle protractor
US5207007A (en) * 1991-11-25 1993-05-04 Cucinotta Anthony J Set-up tool
US5546670A (en) * 1994-10-05 1996-08-20 Chiang; Vance Multi-purpose measuring instrument for wood working machines
US6263584B1 (en) * 1997-08-08 2001-07-24 Barry S. Owens Alignment apparatus and method of using same
US6665946B1 (en) * 1998-07-17 2003-12-23 Paul Reilly Machine alignment system
US5996946A (en) * 1998-08-07 1999-12-07 Boice Industrial Corporation Height gauge support stand
US6138372A (en) * 1998-12-09 2000-10-31 Newman; Roger R. Router guide apparatus
US6637988B1 (en) 2001-11-15 2003-10-28 Joon Park Adjustable pocket drilling fixture
US20050044740A1 (en) * 2003-08-25 2005-03-03 Hansen Andrew H. Fractional measuring caliper
US7044694B2 (en) 2003-09-08 2006-05-16 Black & Decker Inc. Router bit with position stop
US7448419B1 (en) 2005-09-16 2008-11-11 Sommerfeld Marc S Setup jig for a router bit
US7260897B1 (en) 2006-03-28 2007-08-28 Neff Leslie A Lock miter gauge
US8904660B2 (en) * 2011-09-19 2014-12-09 Antanas GRAZULIS Straightedge guide
US9120241B2 (en) * 2012-03-13 2015-09-01 Will Holladay Portable adjustable saw guide device for cutting a notch
JP5674858B2 (ja) * 2013-05-10 2015-02-25 ファナック株式会社 ワイヤ放電加工機の傾斜した回転軸の基準点測定方法および測定治具
US20210138602A1 (en) * 2019-11-11 2021-05-13 Harold Metcalfe Wood Router Support Device
JP7097925B2 (ja) * 2020-05-28 2022-07-08 株式会社ミツトヨ 自動測定装置

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