CN115701573A - 触控显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种触控显示面板包括像素电路基板、彩色滤光基板与显示介质层。像素电路基板包括多个像素结构、多条数据线、多个触控感测电极、多条触控信号线以及至少一测试电路。设置在显示区的多个像素结构各自具有彼此电性连接的主动元件与像素电极。这些数据线电性连接这些像素结构的多个主动元件。这些触控感测电极重叠设置于这些像素结构的多个像素电极。这些触控信号线电性连接这些触控感测电极。至少一测试电路电性连接这些触控信号线或这些数据线的至少一部分。测试电路包括彼此电性连接的周边走线、第一测试垫与第二测试垫。第一测试垫和第二测试垫分别设置在显示区的第一侧和第二侧。显示介质层设置在像素电路基板与彩色滤光基板之间。

Description

触控显示面板

技术领域

本发明涉及一种显示面板，尤其涉及一种触控显示面板。

背景技术

显示器的应用日益广泛，举凡家用的视听娱乐、公共场合的信息显示看板、电竞用的显示器和移动式电子产品都有其身影。近几年来，显示器在车用领域或穿戴式电子产品的应用也逐渐拓展开来，例如：车用后视镜、车用仪表板、多功能电子表/手环等。这类电子装置所搭载的显示器大都具有触控功能。由于内嵌式触控(In-cell touch)技术具有易薄型化的优势，因此逐渐成为触控显示器的主流技术之一。其中，一种将显示用的共电极层切分出多个电极图案以同时作为触控感测电极的技术方案被提出。此种设计可让此类触控显示面板的显示晶片和触控晶片整合在一起，从而降低生产成本并且增加后段模组的制程良率。然而，随着显示画面解析度的提升，采用此类方案的触控显示面板，在进行面板的画质检测时，低灰阶的测试画面容易出现例如棋盘格及色偏的现象而影响面板显示质量的判断结果，造成误检并影响后段制程的良率。

发明内容

本发明是针对一种触控显示面板，其生产良率较佳。

根据本发明的实施例，触控显示面板包括像素电路基板、彩色滤光基板与显示介质层。像素电路基板具有显示区以及显示区以外的周边区。像素电路基板包括多个像素结构、多条数据线、多个触控感测电极、多条触控信号线以及至少一测试电路。这些像素结构设置在显示区内，且各自具有彼此电性连接的主动元件与像素电极。这些数据线电性连接这些像素结构的多个主动元件。这些触控感测电极重叠设置于这些像素结构的多个像素电极，且结构上彼此分离。这些触控信号线电性连接这些触控感测电极。至少一测试电路设置在周边区内，且电性连接这些触控信号线或这些数据线的至少一部分。测试电路包括周边走线、第一测试垫与第二测试垫。周边走线从显示区的第一侧延伸至显示区的第二侧。第一侧相对于第二侧。第一测试垫和第二测试垫分别设置在显示区的第一侧和第二侧，并且电性连接周边走线。彩色滤光基板与像素电路基板相对设置。显示介质层设置在像素电路基板与彩色滤光基板之间。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，多个触控感测电极在第一方向上排成q个触控电极串。至少一测试电路为彼此电性绝缘的m个测试电路。每一个触控电极串电性连接m个测试电路，其中m和q为大于1的正整数。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，每一个触控电极串具有p个触控感测电极，此p个触控感测电极分别电性连接m个测试电路，其中p为大于1的正整数。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，m个测试电路各自还包括n个测试垫，设置在第一测试垫与第二测试垫之间，并且电性连接周边走线，其中n为正整数。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，测试电路还包括n个测试垫，设置在第一测试垫与第二测试垫之间，并且电性连接周边走线，其中n为正整数。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，多个触控感测电极在垂直于第一测试垫、第二测试垫与n个测试垫的排列方向上排成多个触控电极串。这些触控电极串电性连接周边走线，且n个测试垫与这些触控电极串在所述排列方向上交替排列。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，多个像素结构包括在第一方向上交替排列的多个第一像素结构、多个第二像素结构与多个第三像素结构。多条数据线包括电性连接这些第一像素结构的多条第一数据线、电性连接这些第二像素结构的多条第二数据线以及电性连接这些第三像素结构的多条第三数据线。至少一测试电路包括彼此电性绝缘的第一测试电路、第二测试电路与第三测试电路。第一测试电路电性连接这些第一数据线。第二测试电路电性连接这些第二数据线。第三测试电路电性连接这些第三数据线。显示区的第一侧和第二侧为显示区在第一方向上的相对两侧，且第一像素结构、第二像素结构与第三像素结构分别用于显示不同的颜色。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，第一测试电路、第二测试电路与第三测试电路的至少一者各自还包括n个测试垫，设置在第一测试垫与第二测试垫之间，并且电性连接周边走线，其中n为正整数。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，多个触控感测电极在第一方向上排成多个第一触控电极串和多个第二触控电极串。这些第一触控电极串和这些第二触控电极串在所述第一方向上交替排列。至少一测试电路还包括彼此电性绝缘的第四测试电路与第五测试电路。这些第一触控电极串电性连接第四测试电路。这些第二触控电极串电性连接第五测试电路。

在根据本发明的实施例的触控显示面板中，第四测试电路与第五测试电路各自还包括n个测试垫，设置在第一测试垫与第二测试垫之间，并且电性连接周边走线，其中n为正整数。

基于上述，在本发明的实施例的触控显示面板中，位于周边区内的测试电路经由周边走线与显示区内的多条触控信号线或多条数据线的至少一部分电性连接。通过在显示区的相对两侧设置与周边走线电性连接的第一测试垫和第二测试垫，可避免测试信号随着传递路径越长而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题，有助于提升触控显示面板的生产良率。

附图说明

图1是本发明的第一实施例的触控显示面板的剖视示意图；

图2是图1的像素电路基板的俯视示意图；

图3是本发明的第二实施例的触控显示面板的俯视示意图；

图4是本发明的第三实施例的触控显示面板的俯视示意图；

图5是本发明的第四实施例的触控显示面板的俯视示意图；

图6是本发明的第五实施例的触控显示面板的俯视示意图。

附图标记说明

10：触控显示面板；

100、100A、100B、100C、100D：像素电路基板；

110：基板；

200：彩色滤光基板；

300：显示介质层；

DA：显示区；

DAs1：第一侧；

DAs2：第二侧；

DL、DL1、DL2、DL3：数据线；

GL：扫描线；

PA：周边区；

PE：像素电极；

PL、PL1、PL2、PL3、PL4、PL5：周边走线；

PX：像素结构；

T：主动元件；

TC、TC’、TC1、TC2、TC3、TC4、TC5、TC3A、TC4A、TC5A、TC1B、TC2B、TC3B、TC4B：测试电路；

TE1、TE2、TE3、TE4：触控感测电极；

TES、TES1、TES2、TES3、TES4：触控电极串；

TL1、TL2、TL3、TL4、TL-A、TL-B、TL1A、TL2A、TL3A、TL4A、TL1B、TL2B、TL3B、TL4B：触控信号线；

TPa、TPb、TPc、TPd、TPe、TP1a、TP1b、TP1c、TP1d、TP1e、TP2a、TP2b、TP2c、TP3a、TP3b、TP3c、TP4a、TP4b、TP4c、TP5a、TP5b、TP5c：测试垫；

X、Y、Z：方向。

具体实施方式

现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。

图1是本发明的第一实施例的触控显示面板的剖视示意图。图2是图1的像素电路基板的俯视示意图。请参照图1及图2，触控显示面板10包括像素电路基板100、彩色滤光基板200与显示介质层300。彩色滤光基板200与像素电路基板100相对设置，且显示介质层300设置在像素电路基板100与彩色滤光基板200之间。举例来说，在本实施例中，彩色滤光基板200可包括遮光图案层(未示出)与滤光图案层(未示出)。遮光图案层具有多个开口，且这些开口可定义出触控显示面板10的多个像素区。滤光图案层可包括多种滤光图案，这些滤光图案分别重叠设置于这些像素区，且适于让不同颜色(或波长)的光线通过，使触控显示面板10具有彩色显示的效果。

显示介质层300例如是液晶层，且此液晶层的多个液晶分子例如是以扭转形变(twist deformation，TN)、垂直配向(vertical alignment，VA)、共面切换(in-planeswitching，IPS)、光学补偿双折射(optically compensated birefringence，OCB)、电控双折射(electrically controlled birefringence，ECB)、或其他合适的液晶模式进行操作，本发明并不加以限制。

像素电路基板100具有显示区DA和显示区DA以外的周边区PA。像素电路基板100包括基板110、多个像素结构PX、多条数据线DL与多条扫描线GL。举例来说，这些数据线DL可沿着方向X排列于基板110上并且在方向Y上延伸，而这些扫描线GL可沿着方向Y排列于基板110上并且在方向X上延伸，其中方向X可选地垂直于方向Y，但不以此为限。这些像素结构PX可分别设置在前述的多个像素区(未示出)内，且分别与对应的一条数据线DL和对应的一条扫描线GL电性连接。更具体地说，像素结构PX包括彼此电性连接的主动元件T和像素电极PE，其中主动元件T电性连接于像素电极PE与数据线DL(或扫描线GL)之间。

进一步而言，像素电路基板100还包括多个触控感测电极和多条触控信号线。结构上彼此分离的这些触控感测电极分别与对应的一条触控信号线电性连接，且在基板110表面的法线方向(例如方向Z)上重叠于多个像素结构PX的多个像素电极PE。在本实施例中，这些触控感测电极在不同的操作时间内具有不同的功用。例如：在触控时间内，作为触控感测电极；在显示时间内，还可作为显示像素的共电极。

举例来说，在本实施例中，这些触控感测电极可沿着方向X排成四个触控电极串TES，且每一个触控电极串TES的触控感侧电极数量为四个，分别是触控感测电极TE1、触控感测电极TE2、触控感测电极TE3和触控感测电极TE4，但不以此为限。这四个触控感测电极沿着方向Y排列于基板110上，且分别电性连接触控信号线TL1、触控信号线TL2、触控信号线TL3与触控信号线TL4。需说明的是，在本实施例中，触控感测电极的数量是以十六个为例进行示例性地说明，并不表示本发明以附图揭示内容为限制。在其他实施例中，触控显示面板在水平方向或垂直方向上配置的触控感测电极数量可根据不同的产品需求而调整，例如：多个触控感测电极可沿着方向X排成q个触控电极串TES，每一个触控电极串TES具有p个触控感测电极，且p和q为大于1的正整数。

一般来说，在触控显示面板与驱动电路板进行接合前，会先针对触控显示面板进行画质的检测以剔除显示异常的触控显示面板进入后续的组立流程，造成不必要的成本损耗。因此，触控显示面板还包括设置在周边区PA内且用于产生检测画面的测试电路。在本实施例中，像素电路板100的测试电路TC可选地电性连接多条触控信号线。详细而言，测试电路TC包括周边走线PL和两个测试垫TPa、TPb。周边走线PL从显示区DA的第一侧DAs1延伸至显示区的第二侧DAs2，且电性连接多条触控信号线。此处第一侧DAs1和第二侧DAs2例如是显示区DA在方向X上的相对两侧，但不以此为限。

应注意的是，测试电路TC的两个测试垫TPa、TPb分别设置在显示区DA的第一侧DAs1与第二侧DAs2，并且电性连接于周边走线PL的相对两端部。据此，检测机台可经由这两个测试垫TPa、TPb将测试信号由显示区DA的相对两侧(例如图2的左右两侧)传递至多个触控感测电极，以避免测试信号随着传递路径越长而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题。换句话说，可增加显示质量的检测正确率，从而提升触控显示面板10在后续的组立制程中的整体良率。

以下将列举另一些实施例以详细说明本揭露，其中相同的构件将标示相同的符号，并且省略相同技术内容的说明，省略部分请参考前述实施例，以下不再赘述。

图3是本发明的第二实施例的触控显示面板的俯视示意图。请参照图3，本实施例的像素电路基板100A与图2的像素电路基板100的主要差异在于：测试电路的数量不同。在本实施例中，像素电路基板100A设有五个测试电路，分别是测试电路TC1、测试电路TC2、测试电路TC3、测试电路TC4和测试电路TC5。其中，测试电路TC1和测试电路TC2电性连接多条触控信号，而测试电路TC3、测试电路TC4和测试电路TC5电性连接多条数据线。

在本实施例中，多个触控感测电极可排成第一触控电极串TES1、第二触控电极串TES2、第三触控电极串TES3和第四触控电极串TES4，且这些触控电极串可沿着方向X排列于基板110上。特别注意的是，电性连接第一触控电极串TES1和第三触控电极串TES3的多条触控信号线TL-A与测试电路TC1的周边走线PL1电性连接，而电性连接第二触控电极串TES2和第四触控电极串TES4的多条触控信号线TL-B与测试电路TC2的周边走线PL2电性连接。其中，测试电路TC1的周边走线PL1的相对两端部分别设有两个测试垫TP1a、TP1b；相似地，测试电路TC2的周边走线PL2的相对两端部分别设有两个测试垫TP2a、TP2b。

另一方面，在本实施例中，多条数据线可包括多条第一数据线DL1、多条第二数据线DL2和多条第三数据线DL3，且第一数据线DL1、第二数据线DL2和第三数据线DL3在方向X上交替排列。举例来说，在本实施例中，电性连接第一数据线DL1的像素结构PX适于显示红色，电性连接第二数据线DL2的像素结构PX适于显示绿色，而电性连接第三数据线DL3的像素结构PX适于显示蓝色，但不以此为限。

这些第一数据线DL1可电性连接测试电路TC3的周边走线PL3，这些第二数据线DL2可电性连接测试电路TC4的周边走线PL4，而这些第三数据线DL3可电性连接测试电路TC5的周边走线PL5。其中，周边走线PL3、周边走线PL4和周边走线PL5分别从显示区DA的第一侧DAs1延伸至显示区DA的第二侧DAs2，且各自的两端部分别设有两个测试垫。更具体地说，测试电路TC3的相对两端部设有测试垫TP3a、TP3b，测试电路TC4的相对两端部设有测试垫TP4a、TP4b，测试电路TC5的相对两端部设有测试垫TP5a、TP5b。

通过这些测试电路在各自的周边走线的相对两端部设置两个测试垫，且检测机台经由这两个测试垫将对应的测试信号由显示区DA的相对两侧(例如图3的左右两侧)传递至多个触控感测电极或多个像素结构PX，可避免测试信号随着传递路径越长而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题。

需说明的是，在本实施例中，多个触控电极串所电性连接的测试电路数量是以两个为例进行示例性的说明，并不表示本发明以附图揭示内容为限制。举例来说，在其他实施例中，像素电路基板可具有m个测试电路，这些触控电极串与此m个测试电路电性连接，且m为大于2的正整数。

图4是本发明的第三实施例的触控显示面板的俯视示意图。请参照图4，本实施例的像素电路基板100B与图3的像素电路基板100A的主要差异在于：电性连接像素结构PX(或数据线)的测试电路的测试垫数量不同。在本实施例中，电性连接多条第一数据线DL1的测试电路TC3A具有三个测试垫TP3a、TP3b、TP3c，电性连接多条第二数据线DL2的测试电路TC4A具有三个测试垫TP4a、TP4b、TP4c，而电性连接多条第三数据线DL3的测试电路TC5A具有三个测试垫TP5a、TP5b、TP5c。

因此，检测机台可经由这三个测试垫将对应的测试信号由显示区DA的中间及显示区DA的相对两侧传递至多个像素结构PX，以进一步避免测试信号随着传递路径越长而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题。应可理解的是，本发明并不加以限制每一个测试电路所连接的测试垫数量。举例来说，在其他实施例中，测试电路可具有n个测试垫，其中n为大于1且不等于3的正整数。

特别说明的是，在图3示出的像素电路基板100A中，连接触控电极串的测试电路，例如：测试电路TC1和测试电路TC2，也可以相似于本实施例的测试电路TC3A、测试电路TC4A和测试电路TC5A的配置方式设置三个测试垫，且此三个测试垫均匀地分布在对应的周边走线的延伸路径上，以缩短测试信号由检测机台传递至多个触控电极串的路径长度。

图5是本发明的第四实施例的触控显示面板的俯视示意图。请参照图5，本实施例的像素电路基板100C与图2的像素电路基板100的主要差异在于：电性连接多个触控电极串的测试电路数量不同，且每一个测试电路的测试垫数量也不同。在本实施例中，多个触控电极串所电性连接的测试电路数量为四个，例如是测试电路TC1B、测试电路TC2B、测试电路TC3B和测试电路TC4B。

特别注意的是，每一个测试电路电性连接这些触控电极串的每一者的其中一个触控感测电极。举例来说，测试电路TC1B分别经由多条触控信号线TL1A和多条触控信号线TL4B与第一触控电极串TES1的触控感测电极TE1、第二触控电极串TES2的触控感测电极TE4、第三触控电极串TES3的触控感测电极TE1和第四触控电极串TES4的触控感测电极TE4电性连接，测试电路TC2B分别经由多条触控信号线TL2A和多条触控信号线TL1B与第一触控电极串TES1的触控感测电极TE2、第二触控电极串TES2的触控感测电极TE1、第三触控电极串TES3的触控感测电极TE2和第四触控电极串TES4的触控感测电极TE1电性连接，测试电路TC3B分别经由多条触控信号线TL3A和多条触控信号线TL2B与第一触控电极串TES1的触控感测电极TE3、第二触控电极串TES2的触控感测电极TE2、第三触控电极串TES3的触控感测电极TE3和第四触控电极串TES4的触控感测电极TE2电性连接，测试电路TC4B分别经由多条触控信号线TL4A和多条触控信号线TL3B与第一触控电极串TES1的触控感测电极TE4、第二触控电极串TES2的触控感测电极TE3、第三触控电极串TES3的触控感测电极TE4和第四触控电极串TES4的触控感测电极TE3电性连接。

也就是说，在本实施例中，每一个触控电极串与每一个测试电路连接的触控感测电极数量为一个。因此，通过这些测试电路的设置数量可得知每一个触控电极串具有四个触控感测电极。然而，本发明不限于此，根据其他实施例，每一个触控电极串的触控感测电极数量也可以为q个，且q为不等于4的正整数。

进一步而言，在本实施例中，每一个测试电路配置的测试垫数量为三个，且这些测试垫分别连接其周边走线的相对两端部和周边走线的中间部。此处周边走线的中间部是指周边走线在方向Y上大致对齐显示区DA中间的部分，而周边走线的两端部在方向Y上大致对齐显示区DA的相对两侧。相较于图2示出的测试电路TC，本实施例的测试电路还具有设置在周边走线的中间部的测试垫，例如：测试电路TC1B的测试垫TP1c、测试电路TC2B的测试垫TP2c、测试电路TC3B的测试垫TP3c以及测试电路TC4B的测试垫TP4c。据此，可进一步避免测试信号在传递至多个触控感测电极(即显示时间内的共电极)的过程中，因传递路径增加而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题。

应可理解的是，本发明并不加以限制每一个测试电路所连接的测试垫数量。举例来说，在其他实施例中，测试电路可具有n个测试垫，且n为大于1且不等于3的正整数。

图6是本发明的第五实施例的触控显示面板的俯视示意图。请参照图6，本实施例的像素电路基板100D与图2的像素电路基板100的差异在于：测试电路的测试垫数量不同。为了进一步改善测试信号随着传递路径增加而衰减的现象，本实施例的测试电路TC’配置了五个测试垫，分别为测试垫TPa、测试垫TPb、测试垫TPc、测试垫TPd和测试垫TPe，且这些测试垫的设置处大致上均匀地分布在周边走线PL的延伸路径上。举例来说，这些测试垫和多个触控电极串TES在这些触控电极串TES的排列方向(例如方向X)上交替排列。因此，通过这些均匀分布在显示区DA的宽度范围内的测试垫，可有效缩短测试信号的传递路径，进而提升显示区DA内不同区域的显示效果的一致性。应可理解的是，本发明并不加以限制每一个测试电路所连接的测试垫数量。举例来说，在其他实施例中，测试电路可具有n个测试垫，且n为大于1且不等于5的正整数。

纵上所述，在本发明的实施例的触控显示面板中，位于周边区内的测试电路经由周边走线与显示区内的多条触控信号线或多条数据线的至少一部分电性连接。通过在显示区的相对两侧设置与周边走线电性连接的第一测试垫和第二测试垫，可避免测试信号随着传递路径越长而衰减的现象，从而改善检测画面出现非预期图案和/或色偏的问题，有助于提升触控显示面板的生产良率。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种触控显示面板，其特征在于，包括：

像素电路基板，具有显示区以及所述显示区以外的周边区，所述像素电路基板包括：

多个像素结构，设置在所述显示区内，所述多个像素结构各自具有彼此电性连接的主动元件与像素电极；

多条数据线，电性连接所述多个像素结构的多个所述主动元件；

多个触控感测电极，重叠设置于所述多个像素结构的多个所述像素电极，且结构上彼此分离；

多条触控信号线，电性连接所述多个触控感测电极；以及

至少一测试电路，设置在所述周边区内，且电性连接所述多条触控信号线或所述多条数据线的至少一部分，所述测试电路包括：

周边走线，从所述显示区的第一侧延伸至所述显示区的第二侧，所述第一侧相对于所述第二侧；以及

第一测试垫与第二测试垫，分别设置在所述显示区的所述第一侧与所述第二侧，并且电性连接所述周边走线；

彩色滤光基板，与所述像素电路基板相对设置；以及

显示介质层，设置在所述像素电路基板与所述彩色滤光基板之间。

2.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述多个触控感测电极在第一方向上排成q个触控电极串，所述至少一测试电路为彼此电性绝缘的m个测试电路，每一所述q个触控电极串电性连接所述m个测试电路，其中m和q为大于1的正整数。

3.根据权利要求2所述的触控显示面板，其特征在于，每一所述q个触控电极串具有p个触控感测电极，所述p个触控感测电极分别电性连接所述m个测试电路，其中p为大于1的正整数。

4.根据权利要求2所述的触控显示面板，其特征在于，所述m个测试电路各自还包括n个测试垫，设置在所述第一测试垫与所述第二测试垫之间，并且电性连接所述周边走线，其中n为正整数。

5.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述测试电路还包括n个测试垫，设置在所述第一测试垫与所述第二测试垫之间，并且电性连接所述周边走线，其中n为正整数。

6.根据权利要求5所述的触控显示面板，其特征在于，所述多个触控感测电极在垂直于所述第一测试垫、所述第二测试垫与所述n个测试垫的排列方向上排成多个触控电极串，所述多个触控电极串电性连接所述周边走线，且所述n个测试垫与所述多个触控电极串在所述排列方向上交替排列。

7.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述多个像素结构包括在第一方向上交替排列的多个第一像素结构、多个第二像素结构与多个第三像素结构，所述多条数据线包括电性连接所述多个第一像素结构的多条第一数据线、电性连接所述多个第二像素结构的多条第二数据线以及电性连接所述多个第三像素结构的多条第三数据线，所述至少一测试电路包括彼此电性绝缘的第一测试电路、第二测试电路与第三测试电路，所述第一测试电路电性连接所述多条第一数据线，所述第二测试电路电性连接所述多条第二数据线，所述第三测试电路电性连接所述多条第三数据线，其中所述显示区的所述第一侧与所述第二侧为所述显示区在所述第一方向上的相对两侧，且所述第一像素结构、所述第二像素结构与所述第三像素结构分别用于显示不同的颜色。

8.根据权利要求7所述的触控显示面板，其特征在于，所述第一测试电路、所述第二测试电路与所述第三测试电路的至少一者各自还包括：

n个测试垫，设置在所述第一测试垫与所述第二测试垫之间，并且电性连接所述周边走线，其中n为正整数。

9.根据权利要求7所述的触控显示面板，其特征在于，所述多个触控感测电极在第一方向上排成多个第一触控电极串和多个第二触控电极串，所述多个第一触控电极串和所述多个第二触控电极串在所述第一方向上交替排列，所述至少一测试电路还包括彼此电性绝缘的第四测试电路与第五测试电路，所述多个第一触控电极串电性连接所述第四测试电路，所述多个第二触控电极串电性连接所述第五测试电路。

10.根据权利要求9所述的触控显示面板，其特征在于，所述第四测试电路与所述第五测试电路各自还包括：

n个测试垫，设置在所述第一测试垫与所述第二测试垫之间，并且电性连接所述周边走线，其中n为正整数。

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