CN115686956A - 内存分级方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种内存分级方法，包含：测试步骤，以至少一个测试项目组对内存进行测试，各个该测试项目组具有可靠性测试；以及分级步骤，依据至少一个该测试项目组的测试结果，将该内存分级为对应的级别，该测试结果包含可靠性测试结果，其中，该可靠性测试依序为：对于该内存执行写入数据操作，该写入数据操作为将数据写入至该内存；对该内存停止充电；等候预定时间；对该内存充电；检查该内存的数据完整性；及依据该数据完整性产生该可靠性测试结果。

Description

内存分级方法

技术领域

本发明涉及内存技术领域，具体是指一种内存分级方法。

背景技术

内存为用于计算机的重要组件，用以储存工作数据及机械码。而计算机的使用环境依使用需求有极大的变化，使得内存也有多种分级以配合使用需求。举例而言，内存分成一般用及力求稳定使用的工业级、电竞级等。为了确保内存能在对应的使用环境正常运作，现有技术中会将内存置于对应的使用环境下进行测试。而为了将内存分级为一般用、工业级、电竞级三种，则需提供三个使用环境，造成维持环境的成本。

发明内容

因此，本发明的目的即在提供一种内存分级方法，以共同的标准测试出内存是否能在对应环境下稳定使用。

本发明为解决现有技术的问题所采用的技术手段为提供一种内存分级方法，依序包含以下步骤：测试步骤，以至少一个测试项目组对内存进行测试，其中各个该测试项目组具有至少一个测试项目，该测试项目的其中一个为可靠性测试；以及分级步骤，处理单元依据至少一个该测试项目组的测试结果而将该内存分级为对应的级别，该测试结果包含可靠性测试结果，其中，该可靠性测试依序为：该处理单元对于该内存执行写入数据操作，该写入数据操作为将数据写入至该内存；对该内存停止充电；等候预定时间；对该内存充电；检查该内存的数据完整性；及依据该数据完整性产生该可靠性测试结果。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，其中该测试项目组为多数个，在该测试步骤中，多数个该测试项目组为依序先后进行测试，该可靠性测试为在相同环境下进行测试。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，在有该测试项目组的多数个该测试项目未全数通过时，排序在后的该测试项目组为不进行测试。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，多数组该测试项目组的该预定时间互为相异，排序在先的该测试项目组的该预定时间比排序在后的该测试项目组的该预定时间还短。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，该预定时间为关联于该测试项目组对应的级别所属耐热温度。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，该处理单元依据映像表对于该内存执行该写入数据操作，该映像表为记录有该处理单元的内存逻辑位置以及该内存的内存实体位置之间的关系，该写入数据操作为将数据依据该处理单元的该内存逻辑位置的顺序写入至该内存的该内存实体位置。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，该写入数据的顺序为完整写入一行后，再完整写入次一行。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，在该分级步骤后，执行写入步骤，为将该测试结果写入该内存。

在本发明的一实施例中为提供一种内存分级方法，其中该可靠性测试为先写入该内存的全部位置后，再检查该内存的数据完整性。

经由本发明的内存分级方法所采用的技术手段，由于内存在严苛环境比一般环境下能保留数据的时间较短，因此，力求稳定使用的工业级、电竞级的内存需要有较长的数据保留时间。本发明的内存分级方法通过中断充电而测试数据保留时间的长短是否符合安全范围内，而得知内存是否能在对应环境下稳定使用。

附图说明

图1为本发明的第一实施例的内存分级方法的流程图。

图2为本发明的第一实施例的内存分级方法的可靠性测试的流程图。

图3a为本发明的第一实施例的内存分级方法在写入时的示意图。

图3b为本发明的第一实施例的内存分级方法在读取时的示意图。

附图标记

100 内存分级方法

m 内存

S10 测试步骤

S20 分级步骤

S30 写入步骤

具体实施方式

以下根据图1至图3b，而说明本发明的实施方式。该说明并非为限制本发明的实施方式，而为本发明之实施例的一种。

如图1至图2所示，依据本发明的一实施例的内存分级方法100，一种内存分级方法100，依序包含以下步骤：测试步骤S10以及分级步骤S20。

在测试步骤S10中是以处理单元对于内存m进行测试，处理单元及内存m为设置于同一主板上。在测试步骤S10中，通过至少一个测试项目组对内存m进行测试。各个测试项目组具有多数个测试项目。每一个测试项目组的其中一个测试项目为可靠性测试。举例而言，在本实施例中，测试项目组为三组，分别为测试组A、测试组B及测试组C。这三组测试项目组较佳地是在相同的测试环境下进行。在其他实施例中，也可以仅有一个测试项目组。除了可靠性测试以外，各个测试项目组还可包含缺陷测试、电性测试、结构强度测试……等的测试项目。

测试项目组为依据严苛程度排序，较宽松的测试项目组排序在前，较严苛的测试项目组排序在后，并依序进行测试。因此，在测试完第一个测试项目组后，即能排除不可用或低阶的内存进行后续测试项目组的测试。当然，在其他实施例中，也可以是较严苛的测试项目组排序在前，较宽松的测试项目组排序在后，或者是依据其他标准排序。

在分级步骤中，依据至少一个测试项目组的测试结果，处理单元将内存分级为对应的级别。各个测试项目组为对应指定级别的所有条件。举例而言，测试组A的测试结果通过，则内存分级为A级或以上，而需进一步以测试组B对内存进行测试。在本实施例中，测试组A的测试结果通过而测试组B的测试结果未通过的内存为A级，测试组B的测试结果通过而测试组C的测试结果未通过的内存为B级，测试组C的测试结果通过的内存为C级。各个测试项目组的测试结果包含可靠性测试结果。

在有测试项目组的多数个测试项目未全数通过时，排序在后的测试项目组为不进行测试。举例而言，测试组B有测试项目未通过的内存即能确定分级为A级，而无须以测试组C的测试项目进行测试。

如图2所示，依据本发明的实施例的内存分级方法100，可靠性测试依序为：处理单元写入数据至内存、在对内存停止充电、等候预定时间、对内存充电、检查内存的数据完整性，及依据数据完整性产生可靠性测试结果。

详细而言，在本实施例中，处理单元是依据映像表对于内存执行写入数据操作。映像表为记录有处理单元的内存逻辑位置以及内存实体位置之间的关系。写入数据操作为将数据依据处理单元的内存逻辑位置的顺序写入至内存的内存实体位置。

在本实施例中，如图3a所示，依据本发明的一实施例的内存分级方法100，写入数据的顺序为完整写入内存实体位置的一行后，再完整写入次一行，直到写入内存m全部的内存实体位置，以利于系统针对内存充电时间能完整作用于内存上。

类似地，如图3b所示，依据本发明的一实施例的内存分级方法100，读取数据的顺序为读取内存实体位置的一行后，再读取次一行，直到读取内存m全部的内存实体位置。

而在其他实施例中，处理单元也可以依随机顺序而写入数据至内存的实体位置。

在本实施例中，可靠性测试为先写入内存m全部的内存实体位置、停止充电、等候预定时间、对内存m充电，再检查内存m的数据完整性。而在其他实施例中，也可以是利用管线的原理，对于内存m分区而分别执行写入数据、停止充电、等候预定时间、对内存m充电及检查内存m的数据完整性。

依据本发明的一实施例的内存分级方法100，预定时间在不同的测试项目组为相异。由于内存在严苛环境比一般环境下能保留数据的时间较短，因此，力求稳定使用的工业级、电竞级的内存需要有较长的数据保留时间。内存能通过越长的预定时间的可靠性测试，则代表内存储存数据的能力越强，而更加适用于严苛环境。在本实施例中，排序在先的测试项目组的预定时间比排序在后的测试项目组的预定时间还短，也就是测试组A的预定时间＜测试组B的预定时间＜测试组C的预定时间。

预定时间为依据以下条件而的设定：内存于测试项目组所对应的使用环境要求的数据保留时间，以及内存于测试环境下的数据保留时间相对于使用环境要求的数据保留时间之间的对比关系。

举例而言，若工业级的内存的使用环境要求的数据保留时间要达100ms。在得知内存于测试环境下的数据保留时间为工业级的使用环境下的数据保留时间的二倍，即能得出工业级所对应的测试项目组的预定时间为200ms。

其中，使用环境要求可以包括各个级别要达到的级别所属耐热温度、级别所属抗突波能力、级别所属抗静电能力……等的一个或多个。

因此，在进行测试步骤S10时，内存m能在所选定的测试环境下进行，而无须将内存m置于严苛的使用环境下进行测试。并且，能对不同耐热能力、抗突波能力、抗静电能力……等的内存m进行分级。

内存的数据完整性检查为检查写入数据如果没有变更，表示写入数据能够维持预定时间的不充电的情况下为不丢失，则产生为通过的可靠性测试结果。如写入数据有丢失，则产生为不通过的可靠性测试结果。

如图1所示，依据本发明的一实施例的内存分级方法100，分级步骤S20后还包括写入步骤S30。在写入步骤S30中，处理单元为将测试结果写入内存m(例如：EEPROM、SPIROM……等)的特定字段。而在其他实施例中，也可不包含写入步骤，而在卷标、包装表现出内存的分级。

以上的叙述以及说明仅为本发明的较佳实施例的说明，本领域技术人员当可依据以上所界定的保护范围以及上述的说明而作其他的修改，只是这些修改仍应是为本发明的发明精神而在本发明的保护范围中。

Claims (9)

1.一种内存分级方法，其特征在于，所述的方法依序包含以下步骤：

测试步骤，以至少一个测试项目组对内存进行测试，其中各个所述的测试项目组具有至少一个测试项目，所述的测试项目的其中一个为可靠性测试；以及

分级步骤，处理单元依据至少一个所述的测试项目组的测试结果而将所述的内存分级为对应的级别，所述的测试结果包含可靠性测试结果，

其中，所述的可靠性测试依序为：

所述的处理单元对于所述的内存执行写入数据操作，所述的写入数据操作为将数据写入至所述的内存；

对所述的内存停止充电；

等候预定时间；

对所述的内存充电；

检查所述的内存的数据完整性；及

依据所述的数据完整性产生所述的可靠性测试结果。

2.根据权利要求1所述的内存分级方法，其特征在于，所述的测试项目组为多数个，在所述的测试步骤中，多数个所述的测试项目组为依序先后进行测试，所述的可靠性测试为在相同环境下进行测试。

3.根据权利要求2所述的内存分级方法，其特征在于，在有所述的测试项目组的多数个所述的测试项目未全数通过时，排序在后的所述的测试项目组为不进行测试。

4.根据权利要求2所述的之内存分级方法，其特征在于，多数组所述的测试项目组的所述的预定时间互为相异，排序在先的所述的测试项目组的所述的预定时间比排序在后的所述的测试项目组的所述的预定时间还短。

5.根据权利要求1或2中任一项所述的内存分级方法，其特征在于，所述的预定时间为关联于所述的测试项目组对应的级别所属耐热温度。

6.根据权利要求1所述的内存分级方法，其特征在于，所述的处理单元依据映像表对于所述的内存执行所述的写入数据操作，所述的映像表为记录有所述的处理单元的内存逻辑位置以及所述的内存的内存实体位置之间的关系，所述的写入数据操作为将数据依据所述的处理单元的所述的内存逻辑位置的顺序写入至所述的内存的所述的内存实体位置。

7.根据权利要求1所述的内存分级方法，其特征在于，所述的写入数据的顺序为完整写入一行后，再完整写入次一行。

8.根据权利要求1所述的内存分级方法，其特征在于，所述的可靠性测试为先写入所述的内存的全部位置后，再检查所述的内存的数据完整性。

9.根据权利要求1所述的内存分级方法，其特征在于，在所述的分级步骤后，执行写入步骤，为将所述的测试结果写入所述的内存。

Images