CN115575792B - 一种多背板架构的ate测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种多背板架构的ATE测试设备，属于计算机技术领域，多背板架构的ATE测试设备包括：PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板，用于传输信号，测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板，用于提供与待测芯片的接口，N个PCIE接口通过通信背板与测试功能板组的PCIE接口连接，测试功能板组与接口转接板连接，以使测试功能板组通过接口转接板测试待测芯片。

Description

一种多背板架构的ATE测试设备
技术领域
本发明属于计算机技术领域，具体涉及一种多背板架构的ATE测试设备。
背景技术
针对高速信号ATE(Automatic Test Equipment)设备，接口线缆的损耗对测试结果影响很大。目前测试设备多采用线缆线缆连接，线缆对高速信号的衰减造成测试频率较低。
公开于本申请背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本申请的一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种一种多背板架构的ATE测试设备，以解决目前测试设备多采用线缆线缆连接，线缆对高速信号的衰减造成测试频率较低的技术问题。
为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：
第一方面，本发明实施例提供了一种多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，包括：
PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口；
通信背板，用于传输信号；
测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能；
接口转接板，用于提供与待测芯片的接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片。
可选地，所述通信背板用于传输信号包括：
所述通信背板用于传输所述PCIE扩展板与所述测试功能板组之间的通信信号；
所述通信信号用于提供所述测试功能板组到所述计算机的数据传输通道。
可选地，所述测试功能板组包括N个测试功能板，每个所述测试功能板具有至少一个PCIE接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板分别与所述N个测试功能板的PCIE接口一一对应连接。
可选地，所述接口转接板包括N个测试接口；
所述接口转接板通过所述N个测试接口与所述N个测试功能板连接。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：
同步板，所述同步板通过所述通信背板与所述测试功能板组连接，以向所述测试功能板组提供所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号；
其中，在所述测试功能板组包括多个测试功能板的情况下，所述同步板还用于提供所述多个测试功能板的同步功能。
可选地，所述通信背板用于传输信号包括：
所述通信背板用于传输所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号和同步信号；
其中，所述同步信号为所述同步板向所述多个测试功能板提供的同步功能对应的信号。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：电源模块和电源背板；
所述电源模块通过所述电源背板与所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组连接，用以为所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组提供电源。。
可选地，所述电源背板与所述通信背板在结构布局上处于同一平面，与所述测试功能板组的通信连接器、电源连接器在结构布局上处于同一平面。
可选地，所述接口转接板与所述测试功能板组的测试接口连接器在结构布局上处于同一平面。。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备，还包括：
DUT板，所述DUT板与所述接口转接板连接，所述接口转接板将测试信号传输至所述DUT板。
在本发明实施例中，PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板用于传输信号，测试功能板组用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板用于提供与待测芯片的接口，所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片。通过测试功能板与接口转接板的直接连接，减少测试接口的线缆，减小信号的衰减。同时采用连接器直接连接到接口转接板，减少信号的连接线缆，可以降低设备的硬件成本。
附图说明
图1是本发明实施例提供的多背板架构的ATE测试设备的逻辑示意图；
图2是本发明实施例提供的多背板架构的ATE测试设备的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例、参照附图做进一步说明。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。
应当理解，在本公开的各种实施例中，各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本公开实施例的实施过程构成任何限定。
应当理解，在本公开中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本发明实施例提供的卫星地图的显示方法进行详细地说明。
实施例一
参照图1，示出了本发明实施例提供的一种多背板架构的ATE测试设备的逻辑示意图。
本发明提供的一种多背板架构的ATE测试设备，包括：
PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口；
通信背板，用于传输信号；
测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能
接口转接板，用于提供与待测芯片的接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片。
PCIE(peripheral component interconnect express)扩展板，在PCIE插槽不够，需要扩展，而又没有足够的可容纳扩展箱的空间时，就只需增加PCIE扩展背板，集成到设备底板上，再用扩展卡和电缆连接使用，其数据传输速率高。本发明实施例中，利用PCIE扩展板将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口很好的解决了计算机PCIE插槽不够的问题。
通信背板为无源单板，用于传输连接在通信背板接口上的通信信号，本发明实施例采用通信背板的方式可省略线缆，以减少信号损耗。
测试功能板组，通常由多个测试功能板组成，为ATE测试提供所需的功能，测多个试功能板可以是同一功能的相同板卡，也可以是不同功能的板卡。
本发明实施例中N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，测试功能板组与接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片，通过通信背板实现了测试功能板组与PCIE扩展板的连接，并实现信号的直接传输，通过接口转接板与测试功能板组的直接连接，实现了对于待测芯片的功能测试。
在本发明实施例中，PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板用于传输信号，测试功能板组用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板用于提供与待测芯片的接口，所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片。通过测试功能板与接口转接板的直接连接，减少测试接口的线缆，减小信号的衰减。同时采用连接器直接连接到接口转接板，减少信号的连接线缆，可以降低设备的硬件成本。
可选地，所述通信背板用于传输信号包括：
所述通信背板用于传输所述PCIE扩展板与所述测试功能板组之间的通信信号；
所述通信信号用于提供所述测试功能板组到所述计算机的数据传输通道。
本实施例中，通信背板分别与PCIE扩展板和测试功能板组连接，因此传输PCIE扩展板与测试功能板组之间的通信信号，由于PCIE扩展板将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，也即通信背板提供了测试功能板组到所述计算机的数据传输通道。
可选地，所述测试功能板组包括N个测试功能板，每个所述测试功能板具有至少一个PCIE接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板分别与所述N个测试功能板的PCIE接口一一对应连接。
本发明实施中，N个测试功能板可以是同一功能的相同板卡，也可以是不同功能的板卡。
可选地，所述接口转接板包括N个测试接口；
所述接口转接板通过所述N个测试接口与所述N个测试功能板连接。
本发明实施例中，接口转接板设置有测试接口，通过测试接口与测试功能板实现直接连接，并可通过测试接口传输测试信号。进一步，测试接口可以设置N个，与测试功能板的数量对应，以实现信号的独立传输。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：
同步板，所述同步板通过所述通信背板与所述测试功能板组连接，以向所述测试功能板组提供所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号；
其中，在所述测试功能板组包括多个测试功能板的情况下，所述同步板还用于提供所述多个测试功能板的同步功能。
本发明实施例中，同步板向测试功能板组提供触发信号以及时钟信号，以触发测试功能板组实现测试功能及提供测试功能组实现测试功能的时刻或时长信息。
一种可能的实施方式中，在测试功能板组具有N个测试功能板的情况下，由于N各测试功能板的功能可以相同、可以不同，因此需要同步板传输同步信号，以使得N个测试功能板分别执行测试功能或同时执行测试功能，也即各个测试功能板卡可以分开独立工作和协调同步工作。
可选地，所述通信背板用于传输信号包括：
所述通信背板用于传输所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号和同步信号；
其中，所述同步信号为所述同步板向所述多个测试功能板提供的同步功能对应的信号。
本发明实施例中，同步板通过通信背板与测试功能板组连接，因此同步板提供的触发信号、时钟信号通过通信背板传输给测试功能板组，当测试功能板组具有多个测试功能板的情况下，同步板还需要传输同步信号，也即，通过通信背板传输同步信号至多个测试功能板中。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：电源模块和电源背板，
所述电源模块通过所述电源背板与所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组连接，用以为所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组提供电源。
具体来说，测试功能板组提供测试功能，也即测试功能板组为有源板，因此需要电源，本发明实施例中，通过设置电源背板的方式，使得电源模块通过背板为测试功板组提供电源，这样在测试功能板组具有N个测试功能板的情况下，可设置电源背板具有N个接口，以使得电源可通过电源背板的N个接口给N个测试功能板提供电源。
一种实施方式中，测试功能板、通信背板和电源背板的接口可以相同，以实现个测试功能板的接口兼容，提高设备的灵活性和扩展能力。
可选地，所述电源背板与所述通信背板在结构布局上处于同一平面，与所述测试功能板组的通信连接器、电源连接器在结构布局上处于同一平面。
如图2所示，通过设置电源背板、所述通信背板在结构布局上处于同一平面，与所述测试功能板组的通信连接器、电源连接器在结构布局上处于同一平面，可以更好的实现电源背板与测试功能板组的连接以及通信背板与测试功能板组的连接。
可选地，所述接口转接板与所述测试功能板组的测试接口连接器在结构布局上处于同一平面。
如图2所示，通过设置接口转接板与测试功能板组处于同一平面，可以更好的实现接口转接板与测试功能板组的连接。
可选地，所述多背板架构的ATE测试设备，还包括：
DUT板，所述DUT板与所述接口转接板连接，所述接口转接板将测试信号传输至所述DUT板。
DUT(Device Under Test)板，本发明实施例中，接口转接板还可以与DUT板连接，以将测试信号传输至所述DUT板。
一种可能的实施方式中，多背板架构的ATE测试设备包括接口转接板、电源背板、通信背板、同步板、PCIE扩展板、测试功能板。接口转接板、电源背板、通信背板、同步板、PCIE扩展板分别为一块，测试功能板为N块；接口转接板、电源背板、通信背板为无源单板，接口转接板传输测试信号到DUT板，电源背板提供各板卡的电源，通信背板传输PCIE信号和触发信号和时钟信号；同步板与N个测试功能板通过信号连接，传输同步信号；PCIE扩展板与N个测试功能板通过信号连接，传输通信信号，通信信号提供各测试功能板到上位机的数据传输通道。本发明实施例中通过设置多背板连接方式，可以实现供电、通信、测试信号的分开传输，降低信号间的感染，实现测试信号的直接输出。
本发明实施例中的虚拟系统可以是装置，也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。
此外，需要说明的是，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。
另外，未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的智能认知方法和系统，此处不再赘述。
以上仅为本发明的较佳实施方式而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本公开的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本公开进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本公开各实施例技术方案的范围。

Claims (7)

1.一种多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，包括：
PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口；
通信背板，用于传输信号；
测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能；
接口转接板，用于提供与待测芯片的接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板与所述测试功能板组的PCIE接口连接，所述测试功能板组与所述接口转接板连接，以使所述测试功能板组通过所述接口转接板测试所述待测芯片；
其中，所述多背板架构的ATE测试设备还包括：
同步板，所述同步板通过所述通信背板与所述测试功能板组连接，以向所述测试功能板组提供所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号；
其中，在所述测试功能板组包括多个测试功能板的情况下，所述同步板还用于提供所述多个测试功能板的同步功能；
其中，所述通信背板用于传输信号包括：
所述通信背板用于传输所述PCIE扩展板与所述测试功能板组之间的通信信号和传输所述测试功能板需要的触发信号、时钟信号和同步信号；
所述通信信号用于提供所述测试功能板组到所述计算机的数据传输通道；
所述同步信号为所述同步板向所述多个测试功能板提供的同步功能对应的信号。
2.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述测试功能板组包括N个测试功能板，每个所述测试功能板具有至少一个PCIE接口；
所述N个PCIE接口通过所述通信背板分别与所述N个测试功能板的PCIE接口一一对应连接。
3.根据权利要求2所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述接口转接板包括N个测试接口；
所述接口转接板通过所述N个测试接口与所述N个测试功能板连接。
4.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，还包括：电源模块和电源背板；
所述电源模块通过所述电源背板与所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组连接，用以为所述同步板、所述PCIE扩展板、所述测试功能板组提供电源。
5.根据权利要求4所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述电源背板与所述通信背板在结构布局上处于同一平面，与所述测试功能板组的通信连接器、电源连接器在结构布局上处于同一平面。
6.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，所述接口转接板与所述测试功能板组的测试接口连接器在结构布局上处于同一平面。
7.根据权利要求1所述的多背板架构的ATE测试设备，其特征在于，还包括：
DUT板，所述DUT板与所述接口转接板连接，所述接口转接板将测试信号传输至所述DUT板。
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