CN115561622A - 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统 - Google Patents

一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN115561622A
CN115561622A CN202211258885.6A CN202211258885A CN115561622A CN 115561622 A CN115561622 A CN 115561622A CN 202211258885 A CN202211258885 A CN 202211258885A CN 115561622 A CN115561622 A CN 115561622A
Authority
CN
China
Prior art keywords
unique
chip
writing
initial
updated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202211258885.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN115561622B (zh
Inventor
苏广峰
姜有伟
杨伟清
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ante Semiconductor Technology Jiangsu Co ltd
Original Assignee
Ante Semiconductor Technology Jiangsu Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ante Semiconductor Technology Jiangsu Co ltd filed Critical Ante Semiconductor Technology Jiangsu Co ltd
Priority to CN202211258885.6A priority Critical patent/CN115561622B/zh
Publication of CN115561622A publication Critical patent/CN115561622A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN115561622B publication Critical patent/CN115561622B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F21/00Security arrangements for protecting computers, components thereof, programs or data against unauthorised activity
    • G06F21/60Protecting data
    • G06F21/64Protecting data integrity, e.g. using checksums, certificates or signatures
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/061Improving I/O performance
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/1201Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details comprising I/O circuitry

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Bioethics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

本申请提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统,涉及芯片领域,方法包括:在芯片中设置至少2个PROM,向其中一个PROM中写入初始唯一ID,若初始唯一ID存在错误,则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成;芯片出厂时,向剩余的PROM写入空白标识符;读取识别芯片的唯一ID时,读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID,提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号,对编号按先后顺序进行排序,根据编号对各唯一标识符进行排序,以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。解决了现有技术中芯片写入唯一ID的容错率低的技术问题。所有PROM均经过写入操作,内部数据不可再被篡改,保证了市场中该款芯片的唯一ID的唯一性。

Description

一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统
在第1方面的一些实施方式中,PROM的数量为2个或3个。
在第1方面的一些实施方式中,读取识别芯片的唯一ID时,芯片的CPU先调取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID并将各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID临时保存至存储单元中,然后对存储单元中的初始唯一ID和更新唯一ID的编号进行排序,向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号,删除存储单元中临时保存的初始唯一ID和更新唯一ID。
在本申请的第2方面中,提供了一种芯片测试中写入唯一ID的系统,包括通过总线连接的:
至少2个PROM,其中一个PROM用于写入初始唯一ID,其他PROM用于写入更新唯一ID;
CPU和存储单元,存储单元中存储有计算机程序,计算机程序适于被CPU执行以实现如第1方面所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,存储单元还用于临时保存初始唯一ID和更新唯一ID;
读写接口,与外部读写装置连接,适于读取PROM中的数据或向PROM中写入数据。
在第2方面的一些实施方式中,还包括与总线连接的:
EPROM,用于写入定位标识符。
在第2方面的一些实施方式中,PROM的数量为2个。
本申请具有如下有益效果:
在向某个PROM中写入数据错误时,可以向其他PROM中写入新数据,例如初始唯一ID错误,则写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由各自的编号区分,各编号能够按先后顺序进行排序,从而得到初始唯一ID和更新唯一ID的排序,将读取的初始唯一ID和所有更新唯一ID中的最后一个编号对应的唯一ID作为芯片的唯一ID,解决了现有技术中芯片写入唯一ID的容错率低的技术问题。空白标识符可以用原始数据进行覆盖,例如用高压写入信号为全部0的数据,芯片出厂后,所有PROM均经过写入操作,内部数据不可再被篡改,保证了市场中该款芯片的唯一ID的唯一性。
技术领域
本申请涉及芯片技术领域,尤其涉及一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统。
背景技术
芯片是一种集成电路,或称微电路、微芯片、晶片,在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。
为了便于外接设备识别安装有芯片的设备,通常在芯片中写入唯一标识(唯一ID),现有技术中的芯片中通常具有PROM(可编程只读存储器,既Programmable Red-OnlyMemory),利用PROM的只允许写入一次数据的特性,防止对芯片的唯一ID进行篡改。
然而在数据写入是一旦发生错误就会导致整个芯片报废,写入唯一ID的容错率低。
发明内容
本申请提供一种芯片测试中写入唯一ID的方法及系统,用于解决现有技术中写入唯一ID的容错率低的技术问题。
在本申请的第1方面中,提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法,包括:在芯片中设置至少2个PROM,向其中一个PROM中写入初始唯一ID,若初始唯一ID存在错误,则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成;芯片出厂时,向剩余的PROM写入空白标识符;读取识别芯片的唯一ID时,读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID,提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号,对编号按先后顺序进行排序,根据编号对各唯一标识符进行排序,以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。
在第1方面的一些实施方式中,所述编号为时序编号,时序编号具有唯一性。
在第1方面的一些实施方式中,将向PROM中写入唯一ID时的时间戳作为所述编号。
在第1方面的一些实施方式中,在芯片中设置一个EPROM,向EPROM中写入定位标识符,定位标识符与最后一个编号相同;读取芯片的唯一ID时,先读取EPROM中的定位标识符,然后读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID,以EPROM中的定位标识符为关键词在初始唯一ID和所有更新唯一ID中查找,若初始唯一ID中存在与定位标识符相同的初始唯一ID,则将初始唯一ID作为芯片的唯一ID,若更新唯一ID中存在与定位标识相同的更新唯一ID,则将更新唯一ID作为芯片的唯一ID。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例中芯片测试中写入唯一ID的系统的结构示意图。
附图标记:
100、PROM;200、EPROM;300、总线;400、CUP;500、读写接口;600、存储单元。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请的实施方式作进一步详细描述,本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释,而非旨在限定本申请。
在现有技术中,EPROM是一种断电后仍能保留数据的计算机储存芯片——即非易失性的(非挥发性)。它是一组浮栅晶体管,被一个提供比电子电路中常用电压更高电压的电子器件分别编程。一旦编程完成后,EPROM只能用强紫外线照射来擦除。通过封装顶部能看见硅片的透明窗口,很容易识别EPROM,这个窗口同时用来进行紫外线擦除。可以将EPROM的玻璃窗对准阳光直射一段时间就可以擦除。PROM只允许写入一次,所以也被称为“一次”(One Time Progarmming ROM,OTP-ROM)。PROM在出厂时,存储的内容全为1,用户可以根据需要将其中的某些单元写入数据0(部分的PROM在出厂时数据全为0,则用户可以将其中的部分单元写入1),以实现对其“编程”的目的。PROM的典型产品是“双极性熔丝结构”,如果我们想改写某些单元,则可以给这些单元通以足够大的电流,并维持一定的时间,原先的熔丝即可熔断,这样就达到了改写某些位的效果。现有技术中的芯片采用PROM写入唯一ID,在写入过程中存在错误率,当写入错误时,则需要将芯片作废处理,唯一ID的写入容错率低。
如图1所示,在本申请的实施例1中,提供了一种芯片测试中写入唯一ID的方法,包括:在芯片中设置至少2个PROM100,向其中一个PROM100中写入初始唯一ID,若初始唯一ID存在错误,则向其他PROM100中的一个PROM100中写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成;芯片出厂时,向剩余的PROM100写入空白标识符;读取识别芯片的唯一ID时,读取各PROM100中的初始唯一ID和更新唯一ID,提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号,对编号按先后顺序进行排序,根据编号对各唯一标识符进行排序,以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。
通过实施例1的上述实施方式,在向某个PROM100中写入数据错误时,可以向其他PROM100中写入新数据,例如初始唯一ID错误,则写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由各自的编号区分,各编号能够按先后顺序进行排序,从而得到初始唯一ID和更新唯一ID的排序,将读取的初始唯一ID和所有更新唯一ID中的最后一个编号对应的唯一ID作为芯片的唯一ID,解决了现有技术中芯片写入唯一ID的容错率低的技术问题。例如,初始唯一ID为221001092532C00000238957,其中“221001092532”为编号,“C00000238957”为唯一标识符,当预期的初始唯一ID是C00000238958时,与C00000238957不同,存在写入错误,此时,向其他PROM100中写入更新唯一ID:221001092952C00000238958,编号更新为“221001092952”,唯一ID更正为“C00000238958”,应当理解,上述示例中使用的是十进制字符,旨在便于理解初始唯一ID和更新唯一ID的编码格式。
空白标识符可以用原始数据进行覆盖,例如用高压写入信号为全部0的数据,芯片出厂后,所有PROM100均经过写入操作,内部数据不可再被篡改,保证了市场中该款芯片的唯一ID的唯一性。
在实施例1的一些实施方式中,所述编号为时序编号,时序编号具有唯一性。
在实施例1的一些实施方式中,将向PROM100中写入唯一ID时的时间戳作为所述编号。
在实施例1的一些实施方式中,在芯片中设置一个EPROM200,向EPROM200中写入定位标识符,定位标识符与最后一个编号相同;读取芯片的唯一ID时,先读取EPROM200中的定位标识符,然后读取各PROM100中的初始唯一ID和更新唯一ID,以EPROM200中的定位标识符为关键词在初始唯一ID和所有更新唯一ID中查找,若初始唯一ID中存在与定位标识符相同的初始唯一ID,则将初始唯一ID作为芯片的唯一ID,若更新唯一ID中存在与定位标识相同的更新唯一ID,则将更新唯一ID作为芯片的唯一ID。
通过实施例1的上述实施方式,外部读写设备读取芯片的唯一ID时,优先读取EPROM200中的定位标识符,根据定位标识符定位PROM100,从而读取该PROM100中的唯一ID,不需要进行额外的排序计算,提高了读取速度。当EPROM200中的数据被篡改后,可以通过读取所有PROM100中的所数据并排序锁定唯一ID,从而判断出EPROM200中的数据是否被篡改。
在实施例1的一些实施方式中,向EPROM200中写入定位标识符时,芯片中的CPU先对编号按先后顺序进行排序,并向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号;用紫外线擦除EPROM200中的数据,然后将最后一个编号作为定位标识符写入EPROM200中。
在实施例1的一些实施方式中,PROM100的数量为2个或3个。
通过实施例1的上述实施方式,芯片写入唯一ID过程中错误率比较低,因此将PROM100的数量设置为2个或3个能够降低芯片的制造成本,同时保证芯片写入唯一ID时有较高的容错率。
在实施例1的一些实施方式中,读取识别芯片的唯一ID时,芯片的CPU先调取各PROM100中的初始唯一ID和更新唯一ID并将各PROM100中的初始唯一ID和更新唯一ID临时保存至存储单元600中,然后对存储单元600中的初始唯一ID和更新唯一ID的编号进行排序,向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号,删除存储单元600中临时保存的初始唯一ID和更新唯一ID。
通过实施例1的上述实施方式,存储单元600可以集成在芯片中或采用外部读写设备中的存储器,当集成在芯片中时,存储单元600通过总线300与芯片的CPU以及PROM100连接。
如图1所示,在本申请的实施例2中,提供了一种芯片测试中写入唯一ID的系统,包括通过总线300连接的:
至少2个PROM100,其中一个PROM100用于写入初始唯一ID,其他PROM100用于写入更新唯一ID;
CPU和存储单元600,存储单元600中存储有计算机程序,计算机程序适于被CPU执行以实现如实施例1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,存储单元600还用于临时保存初始唯一ID和更新唯一ID;
读写接口500,与外部读写装置连接,适于读取PROM100中的数据或向PROM100中写入数据。
在实施例2的一些实施方式中,还包括与总线300连接的:
EPROM200,用于写入定位标识符。
在实施例2的一些实施方式中,PROM100的数量为2个。
以上实施例仅是对本申请的解释,其并不是对本申请的限制,本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本申请的实施方式做出没有创造性贡献的修改,但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (10)

1.一种芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,包括:在芯片中设置至少2个PROM,向其中一个PROM中写入初始唯一ID,若初始唯一ID存在错误,则向其他PROM中的一个PROM中写入更新唯一ID,初始唯一ID和更新唯一ID由编号和唯一标识符组成;芯片出厂时,向剩余的PROM写入空白标识符;读取识别芯片的唯一ID时,读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID,提取初始唯一ID和更新唯一ID中的编号,对编号按先后顺序进行排序,根据编号对各唯一标识符进行排序,以最后一个唯一标识符作为芯片的唯一ID。
2.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,所述编号为时序编号,时序编号具有唯一性。
3.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,将向PROM中写入唯一ID时的时间戳作为所述编号。
4.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,在芯片中设置一个EPROM,向EPROM中写入定位标识符,定位标识符与最后一个编号相同;读取芯片的唯一ID时,先读取EPROM中的定位标识符,然后读取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID,以EPROM中的定位标识符为关键词在初始唯一ID和所有更新唯一ID中查找,若初始唯一ID中存在与定位标识符相同的初始唯一ID,则将初始唯一ID作为芯片的唯一ID,若更新唯一ID中存在与定位标识相同的更新唯一ID,则将更新唯一ID作为芯片的唯一ID。
5.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,向EPROM中写入定位标识符时,芯片中的CPU先对编号按先后顺序进行排序,并向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号;用紫外线擦除EPROM中的数据,然后将最后一个编号作为定位标识符写入EPROM中。
6.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,PROM的数量为2个或3个。
7.根据权利要求1所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,其特征在于,读取识别芯片的唯一ID时,芯片的CPU先调取各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID并将各PROM中的初始唯一ID和更新唯一ID临时保存至存储单元中,然后对存储单元中的初始唯一ID和更新唯一ID的编号进行排序,向与芯片连接的显示装置反馈最后一个编号,删除存储单元中临时保存的初始唯一ID和更新唯一ID。
8.一种芯片测试中写入唯一ID的系统,其特征在于,包括通过总线连接的:
至少2个PROM,其中一个PROM用于写入初始唯一ID,其他PROM用于写入更新唯一ID;
CPU和存储单元,存储单元中存储有计算机程序,计算机程序适于被CPU执行以实现如权利要求1至7任一项所述的芯片测试中写入唯一ID的方法,存储单元还用于临时保存初始唯一ID和更新唯一ID;
读写接口,与外部读写装置连接,适于读取PROM中的数据或向PROM中写入数据。
9.根据权利要求8所述的芯片测试中写入唯一ID的系统,其特征在于,还包括与总线连接的:
EPROM,用于写入定位标识符。
10.根据权利要求8所述的芯片测试中写入唯一ID的系统,其特征在于,PROM的数量为2个。
CN202211258885.6A 2022-10-14 2022-10-14 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统 Active CN115561622B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211258885.6A CN115561622B (zh) 2022-10-14 2022-10-14 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202211258885.6A CN115561622B (zh) 2022-10-14 2022-10-14 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN115561622A true CN115561622A (zh) 2023-01-03
CN115561622B CN115561622B (zh) 2023-10-03

Family

ID=84745399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202211258885.6A Active CN115561622B (zh) 2022-10-14 2022-10-14 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN115561622B (zh)

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5530938A (en) * 1992-02-05 1996-06-25 Seiko Instruments Inc. Non-volatile memory card device having flash EEPROM memory chips with designated spare memory chips and the method of rewriting data into the memory card device
US20020141583A1 (en) * 2001-01-29 2002-10-03 Eastman Kodak Company Copy protection using a preformed ID and a unique ID on a programmable CD-ROM
JP2006065946A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Victor Co Of Japan Ltd 記録再生装置、中央情報管理サーバ、記録再生方法及び中央情報管理方法
JP2007095244A (ja) * 2005-08-30 2007-04-12 Victor Co Of Japan Ltd 記録再生装置及び記録再生方法
CN101345833A (zh) * 2008-08-21 2009-01-14 宝利微电子系统控股公司 具有唯一标识的电视机芯片及写入唯一标识的方法
JP2009223435A (ja) * 2008-03-13 2009-10-01 Denso Corp データ記憶方法及び装置、並びにプログラム
CN103309626A (zh) * 2013-07-03 2013-09-18 盛科网络(苏州)有限公司 实现网络芯片多读写端口存储器的方法及相应存储器
US20150143098A1 (en) * 2013-11-21 2015-05-21 Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. Method for updating firmware of an electronic device within a computer
CN104992194A (zh) * 2015-06-19 2015-10-21 苏州市产品质量监督检验所 一种基于nfc和二维码的证书防伪鉴定方法及其系统
US20160224247A1 (en) * 2015-02-02 2016-08-04 Yeong-Jae WOO Memory system, including memory device capable of overwrite operation, and method of operating the memory system
CN107068194A (zh) * 2017-04-20 2017-08-18 聚辰半导体(上海)有限公司 一种应用在eeprom上的错误纠正编码及相应的eeprom
JP2018010698A (ja) * 2014-09-15 2018-01-18 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. データ書込み要求処理方法及びストレージアレイ
CN108664209A (zh) * 2017-03-29 2018-10-16 旺宏电子股份有限公司 存储器系统、及其读取方法与写入方法
CN109711515A (zh) * 2018-12-17 2019-05-03 武汉天喻聚联网络有限公司 一种双频智能rfid标签芯片及电子标签
CN111046628A (zh) * 2019-11-20 2020-04-21 福建星云电子股份有限公司 一种芯片唯一id生成方法
CN114943205A (zh) * 2022-06-08 2022-08-26 北京金橙子科技股份有限公司 一种身份识别编码uuid生成方法、系统、存储介质及电子设备

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5530938A (en) * 1992-02-05 1996-06-25 Seiko Instruments Inc. Non-volatile memory card device having flash EEPROM memory chips with designated spare memory chips and the method of rewriting data into the memory card device
US20020141583A1 (en) * 2001-01-29 2002-10-03 Eastman Kodak Company Copy protection using a preformed ID and a unique ID on a programmable CD-ROM
JP2006065946A (ja) * 2004-08-26 2006-03-09 Victor Co Of Japan Ltd 記録再生装置、中央情報管理サーバ、記録再生方法及び中央情報管理方法
JP2007095244A (ja) * 2005-08-30 2007-04-12 Victor Co Of Japan Ltd 記録再生装置及び記録再生方法
JP2009223435A (ja) * 2008-03-13 2009-10-01 Denso Corp データ記憶方法及び装置、並びにプログラム
CN101345833A (zh) * 2008-08-21 2009-01-14 宝利微电子系统控股公司 具有唯一标识的电视机芯片及写入唯一标识的方法
WO2010020194A1 (zh) * 2008-08-21 2010-02-25 宝利微电子系统控股公司 具有唯一标识的电视机芯片及写入唯一标识的方法
CN103309626A (zh) * 2013-07-03 2013-09-18 盛科网络(苏州)有限公司 实现网络芯片多读写端口存储器的方法及相应存储器
US20150143098A1 (en) * 2013-11-21 2015-05-21 Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. Method for updating firmware of an electronic device within a computer
JP2018010698A (ja) * 2014-09-15 2018-01-18 華為技術有限公司Huawei Technologies Co.,Ltd. データ書込み要求処理方法及びストレージアレイ
US20160224247A1 (en) * 2015-02-02 2016-08-04 Yeong-Jae WOO Memory system, including memory device capable of overwrite operation, and method of operating the memory system
CN104992194A (zh) * 2015-06-19 2015-10-21 苏州市产品质量监督检验所 一种基于nfc和二维码的证书防伪鉴定方法及其系统
CN108664209A (zh) * 2017-03-29 2018-10-16 旺宏电子股份有限公司 存储器系统、及其读取方法与写入方法
CN107068194A (zh) * 2017-04-20 2017-08-18 聚辰半导体(上海)有限公司 一种应用在eeprom上的错误纠正编码及相应的eeprom
CN109711515A (zh) * 2018-12-17 2019-05-03 武汉天喻聚联网络有限公司 一种双频智能rfid标签芯片及电子标签
CN111046628A (zh) * 2019-11-20 2020-04-21 福建星云电子股份有限公司 一种芯片唯一id生成方法
CN114943205A (zh) * 2022-06-08 2022-08-26 北京金橙子科技股份有限公司 一种身份识别编码uuid生成方法、系统、存储介质及电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN115561622B (zh) 2023-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6947323B2 (en) Chip protection register unlocking
US5509018A (en) Flash-erase-type nonvolatile semiconductor storage device
US7290109B2 (en) Memory system and memory card
US6917547B2 (en) Non-volatile semiconductor memory device
US5448577A (en) Method for reliably storing non-data fields in a flash EEPROM memory array
KR101029938B1 (ko) 플래시 메모리 시스템 개시 동작
US7180775B2 (en) Different numbers of bits per cell in non-volatile memory devices
EP2494450B1 (en) One-time programmable memory device and methods thereof
CN1856841B (zh) 对每个存储块具有保护功能的非易失性半导体存储器件
US4592024A (en) Semiconductor ROM
TWI380165B (en) Systems and methods for programmable chip enable and chip address in semiconductor memory
US6108236A (en) Smart card comprising integrated circuitry including EPROM and error check and correction system
US20080310242A1 (en) Systems for programmable chip enable and chip address in semiconductor memory
JP2005190288A (ja) メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリの制御方法
CN101127245A (zh) 电熔丝电路、存储器器件和电子部件
CN111352594B (zh) eFuse中写入数据、读取数据的方法及装置
US6259630B1 (en) Nonvolatile semiconductor memory device equipped with verification circuit for identifying the address of a defective cell
CN113314180B (zh) 一种多次编程电子熔丝装置
EP0098079A2 (en) Semiconductor memory device with redundancy decoder circuit
CN115561622B (zh) 一种芯片测试中写入唯一id的方法及系统
US7068538B2 (en) Memory circuit with non-volatile identification memory and associated method
CN116230060B (zh) 一次性可编程存储器的数据编程校验方法和装置
EP4365904A1 (en) Method and memory system for redundantly storing sensible data and adjusting a reference value
JPH0528798A (ja) 半導体メモリの検定装置
KR101531886B1 (ko) Eeprom 소자

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant