CN115524311A - 基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 - Google Patents
基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115524311A CN115524311A CN202211168313.9A CN202211168313A CN115524311A CN 115524311 A CN115524311 A CN 115524311A CN 202211168313 A CN202211168313 A CN 202211168313A CN 115524311 A CN115524311 A CN 115524311A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- cosine
- dimensional
- image
- axis
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 81
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 37
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 6
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000021615 conjugation Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 17
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 20
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 9
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 8
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 7
- 238000011158 quantitative evaluation Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
- G01B11/2527—Projection by scanning of the object with phase change by in-plane movement of the patern
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/254—Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T17/00—Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/42—Global feature extraction by analysis of the whole pattern, e.g. using frequency domain transformations or autocorrelation
- G06V10/431—Frequency domain transformation; Autocorrelation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4735—Solid samples, e.g. paper, glass
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2200/00—Indexing scheme for image data processing or generation, in general
- G06T2200/04—Indexing scheme for image data processing or generation, in general involving 3D image data
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Geometry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Computer Graphics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法属于结构光三维成像技术领域;该方法通过生成不同频率的余弦斜条纹图案,在漫反射板和样品上分别形成固定光波下余弦斜条纹图像,再进行傅里叶变换得到图像频谱,并进行滤波和傅里叶逆变换,得到直流分量和一阶频谱分量的空域表达形式,进而得到图像像素点所对应样品表面漫反射率和包裹相位,对包裹相位进行展开得到绝对相位并计算图像像素点所对应的样品表面三维坐标,最后实现样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像;本发明同采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法相比,提高了样品表面三维坐标的测量准确度,并实现了样品表面漫反射测量,进而实现漫反射率和三维形貌一体成像。
Description
技术领域:
本发明基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法属于结构光三维成像技术领域。
背景技术:
基于数字条纹投射的结构光三维成像方法是应用于空间几何尺寸的精确测量和定位的一种现代光学成像方法,其具有非接触、高准确度、高效率的优点而广泛应用于工业检测、逆向工程、虚拟现实和生物医学等诸多领域。傅里叶变换三维成像方法作为一种典型的结构光三维成像方法,其仅需投射少幅甚至一幅条纹图案就可实现三维表面形貌成像,在原理上最具实时性。因此,它特别适合用于动态三维成像和在线三维成像这类实时性要求高的场合。傅里叶变换三维成像方法需要对条纹图像进行傅里叶变换、滤波和逆变换来实现三维成像,被测表面三维形貌仅由条纹图像一阶频谱分量来表征。然而,目前傅里叶变换三维成像方法普遍采用余弦正条纹图案进行投射,只能对余弦正条纹图像进行一维分割提取,致使一阶频谱分量提取质量差,结果导致被测表面三维坐标的测量准确度低。
样品表面漫反射率作为表征样品特性的物理量,是一种重要的光学指标。目前,普遍采用积分球方法实现漫反射的测量,该方法通过积分球克服漫反射测量中随机因素的影响,提高测量的稳定性和重复性,然而积分球方法仅能实现单点漫反射率测量,无法实现样品表面漫反射率成像,且测量设备价格昂贵。
发明内容:
为了提高样品表面三维坐标的测量准确度,同时实现样品表面漫反射率成像的功能,本发明公开了一种基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法,相比采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法,本发明方法采用斜条纹图案实现了条纹图像频谱的二维分割提取,有效缓解了一阶频谱分量与零阶频谱分量和二阶频谱分量的混叠,有效改善了一阶频谱分量提取质量,提高了样品表面三维坐标的测量准确度,本发明方法还能够测量样品表面的漫反射率,进而实现了样品表面漫反射率和三维形貌一体成像。
本发明的目的是这样实现的:
基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法,包括以下步骤:
步骤a、计算机生成3幅不同频率的二维余弦斜条纹图案:
其中,(x,y)为图案像素点坐标;I1(x,y)为第1幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I2(x,y)为第2幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I3(x,y)为第3幅二维余弦斜条纹图案像素强度;IDC为二维余弦条纹图案的平均强度;IAC为二维余弦条纹图案的调制强度;和分别为二维余弦斜条纹图案I1(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I2(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I3(x,y)沿x轴和y轴的频率;
步骤b、计算机控制水平放置的投影仪将步骤a中的第1幅余弦斜条纹图案I1(x,y)垂直投射到可见光波段漫反射为98%的标准漫反射板上,CCD相机光轴与投影仪光轴相交形成夹角α,标准漫反射板上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;Rref为标准漫反射版的漫反射率,Rref=0.98;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
步骤c、计算机控制水平放置的投影仪按时序依次将步骤a中的3幅二维余弦斜条纹图案I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)垂直投射到被测样品表面上,被测样品表面与标准漫反射板的空间深度位置相同,被测样品表面上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的3幅余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;R(x0,y0)为图像像素点(x0,y0)所对应的被测样品表面的漫反射率;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
其中,为二维傅里叶变换运算;为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱;和分别为余弦斜条纹图像沿x0轴和y0轴的空间频率;为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭;
步骤e、采用二维频域低通滤波器分隔提取出步骤d中和的零阶频谱分量和然后对和进行二维傅里叶逆变换得到余弦斜条纹图像和的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和MTFsystem·R(x0,y0)·IDC;再采用二维频域带通滤波器分隔提取出步骤d中和的一阶频谱分量和然后对 和进行二维傅里叶逆变换得到相应的空域表达形式和
步骤f、根据步骤e获得的余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·R(x0,y0)·IDC计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面漫反射率R(x0,y0);
其中,atan{}为反正切函数;Im[]为取虚部函数;Re[]为取实部函数;
步骤h、根据步骤g中所获得的包裹相位和并采用基于数论的三频时间相位展开方法将包裹相位展开为绝对相位φ(x0,y0),然后根据三角测量原理使用绝对相位φwrapped(x0,y0)计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0);
步骤i、根据步骤f得到的样品表面漫反射率R(x0,y0)和步骤h得到的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0)实现样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像。
有益效果:
第一、同采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法相比,本发明方法采用斜条纹图案实现了条纹图像频谱的二维分割提取,有效缓解了一阶频谱分量与零阶频谱分量和二阶频谱分量的混叠,有效改善了一阶频谱分量提取质量,提高了样品表面三维坐标的测量准确度。
第二、本发明方法通过标准漫反射板上形成的斜条纹图像的直流分量和样品表面上形成的斜条纹图像的直流分量实现了样品表面的漫反射测量。
第三、本发明方法实现了样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像。
附图说明:
图1为基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像系统示意图;
图6为实验一中本发明方法得到的被测水平面漫反射率和三维形貌一体成像结果(图中灰度表示漫反射率值);
图7为实验一中采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法得到的被测水平面深度成像误差图;
图8为实验一中本发明方法得到的被测水平面深度成像误差图;
图9为实验一中本发明方法得到的被测水平面漫反射率成像误差图;
图14为实验二中本发明方法得到的被测斜面漫反射率和三维形貌一体成像结果(图中灰度表示漫反射率值);
图15为实验二中采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法得到的被测斜面深度成像误差图;
图16为实验二中本发明方法得到的被测斜面深度成像误差图;
图17为实验二中本发明方法得到的被测平面漫反射率成像误差图;
其中:1-投影仪,2-CCD相机,3-计算机,4-滤光片,5-标准漫反射板,6-被测样品,7-二维余弦斜条纹图案,8-固定光波下的余弦斜条纹图像。
具体实施方式
下面结合附图对本发明具体实施方式作进一步详细描述。
具体实施方式一
以下是本发明基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法的理论实施方式。
该具体实施方式下的基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法,包括以下步骤:
步骤a、计算机生成3幅不同频率的二维余弦斜条纹图案:
其中,(x,y)为图案像素点坐标;I1(x,y)为第1幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I2(x,y)为第2幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I3(x,y)为第3幅二维余弦斜条纹图案像素强度;IDC为二维余弦条纹图案的平均强度;IAC为二维余弦条纹图案的调制强度;和分别为二维余弦斜条纹图案I1(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I2(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I3(x,y)沿x轴和y轴的频率;
步骤b、计算机控制水平放置的投影仪将步骤a中的第1幅余弦斜条纹图案I1(x,y)垂直投射到可见光波段漫反射为98%的标准漫反射板上,CCD相机光轴与投影仪光轴相交形成夹角α,标准漫反射板上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;Rref为标准漫反射版的漫反射率,Rref=0.98;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
步骤c、计算机控制水平放置的投影仪按时序依次将步骤a中的3幅二维余弦斜条纹图案I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)垂直投射到被测样品表面上,被测样品表面与标准漫反射板的空间深度位置相同,被测样品表面上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的3幅余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;R(x0,y0)为图像像素点(x0,y0)所对应的被测样品表面的漫反射率;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
其中,为二维傅里叶变换运算;为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱;和分别为余弦斜条纹图像沿x0轴和y0轴的空间频率;为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭;
步骤e、采用二维频域低通滤波器分隔提取出步骤d中和的零阶频谱分量和然后对和进行二维傅里叶逆变换得到余弦斜条纹图像和的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和MTFsystem·R(x0,y0)·IDC;再采用二维频域带通滤波器分隔提取出步骤d中和的一阶频谱分量和然后对 和进行二维傅里叶逆变换得到相应的空域表达形式和
步骤f、根据步骤e获得的余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·R(x0,y0)·IDC计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面漫反射率R(x0,y0);
其中,atan{}为反正切函数;Im[]为取虚部函数;Re[]为取实部函数;
步骤h、根据步骤g中所获得的包裹相位和并采用基于数论的三频时间相位展开方法将包裹相位展开为绝对相位φ(x0,y0),然后根据三角测量原理使用绝对相位φwrapped(x0,y0)计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0);
步骤i、根据步骤f得到的样品表面漫反射率R(x0,y0)和步骤h得到的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0)实现样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像。
具体实施方式二
以下是本发明基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法的仿真实验实施方式。
下面通过仿真成像实验来证明,本发明一种基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法与采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法相比,具有提高样品表面三维坐标测量准确度的技术优势,以及本发明方法能够实现样品表面的漫反射测量和样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像的技术优势。
所采用的仿真成像实验系统在3DMAX仿真环境中构建,该系统包括一台分辨率为1024×768像素的投影仪、一台分辨率为2048×1536像素的相机和一个已知漫反射率为0.98且均匀的参考平面组成;已知漫反射率为0.98且均匀的参考平面作为标准漫反射板,相机光轴与投影仪光轴相交形成夹角25°,投影仪投射单色红光来模拟滤光片的作用。
使用仿真成像实验系统实现了本发明方法和采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法,其中3幅斜条纹图案沿x轴的频率分别为1/18像素-1、1/20像素-1和1/22像素-1,沿y轴的频率分别为1/18像素-1、1/20像素-1和1/22像素-1;3幅正条纹图案沿x轴的频率分别为1/18像素-1、1/20像素-1和1/22像素-1,沿y轴的频率均为0;采用这些投射图案分别对漫反射率为0.4的均匀水平面和漫反射率为0.6的均匀斜面进行了仿真测量,被测水平面和被测斜面均与其相应的参考平面的空间深度位置相同,被测水平面与被测斜面的法线夹角为25°,根据本发明方法获得了被测水平面和被测斜面的漫反射率和空间三维坐标,实现了被测水平面和被测斜面的漫反射率和三维形貌一体成像。
需要说明的是,采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法为结构光三维成像技术领域中的常用方法,本领域技术人员对其充分知晓、能够根据专业知识自主实现,在本发明中没有必要进行具体描述。
实验一、水平面仿真成像实验
实验过程如图2至图5所示,本发明方法得到的被测水平面漫反射率和三维形貌一体成像结果如图6所示,图中灰度表示漫反射率值,采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法得到的被测水平面深度成像误差图如图7所示,本发明方法得到的被测水平面深度成像误差图和漫反射率成像误差图分别如图8和图9所示。被测水平面的深度成像误差定量评价参见表1:
表1水平面的深度成像误差
本发明方法得到的被测水平面的漫反射率定量评价参见表2:
表2水平面的漫反射率成像误差
实验二、斜面仿真成像实验
实验过程如图10至图13所示,本发明方法得到的被测斜面漫反射率和三维形貌一体成像结果如图14所示,图中灰度表示漫反射率值,采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法得到的被测斜面深度成像误差图如图15所示,本发明方法得到的被测斜面深度成像误差图和漫反射率成像误差图分别如图16和图17所示。被测斜面的深度成像误差定量评价参见表1:
表3斜面的深度成像误差
本发明方法得到的被测斜面的漫反射率定量评价参见表2:
表4斜面的漫反射率成像误差
由图6和图14可知,本发明方法能够实现被测样品表面漫反射率和三维形貌一体成像;通过分别对比图7和图8、图15和图16并由表1和表3可知,与采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法相比,本发明方法的深度平均绝对误差、均方根误差和最大绝对误差均显著减小,提高了样品表面三维坐标的测量准确度,这是因为采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法仅在一维频率方向上进行一阶频谱分量分隔提取,而本发明方法在二维频率方向上进行一阶频谱分量分隔提取,这有效缓解了一阶频谱分量与零阶频谱分量和二阶频谱分量的混叠,有效改善了一阶频谱分量提取质量;由图9、图17、表2和表4可知,本发明方法能够测量样品表面的漫反射率,且测量准确度高;仿真实验结果验证了本发明方法的有益效果。
Claims (1)
1.基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤a、计算机生成3幅不同频率的二维余弦斜条纹图案:
其中,(x,y)为图案像素点坐标;I1(x,y)为第1幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I2(x,y)为第2幅二维余弦斜条纹图案像素强度,I3(x,y)为第3幅二维余弦斜条纹图案像素强度;IDC为二维余弦条纹图案的平均强度;IAC为二维余弦条纹图案的调制强度;和分别为二维余弦斜条纹图案I1(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I2(x,y)沿x轴和y轴的频率,和分别为二维余弦斜条纹图案I3(x,y)沿x轴和y轴的频率;
步骤b、计算机控制水平放置的投影仪将步骤a中的第1幅余弦斜条纹图案I1(x,y)垂直投射到可见光波段漫反射为98%的标准漫反射板上,CCD相机光轴与投影仪光轴相交形成夹角α,标准漫反射板上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;Rref为标准漫反射版的漫反射率,Rref=0.98;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
步骤c、计算机控制水平放置的投影仪按时序依次将步骤a中的3幅二维余弦斜条纹图案I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)垂直投射到被测样品表面上,被测样品表面与标准漫反射板的空间深度位置相同,被测样品表面上形成的余弦斜条纹图像经滤光片滤光后成像到CCD相机上以形成固定光波下的3幅余弦斜条纹图像
其中,(x0,y0)为图像像素点坐标;MTFsystem为成像系统的调制传递函数;R(x0,y0)为图像像素点(x0,y0)所对应的被测样品表面的漫反射率;和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率; 和分别为余弦斜条纹图像沿相机像面坐标系x0轴和y0轴的空间载波频率;
其中,为二维傅里叶变换运算;为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱,为余弦斜条纹图像傅里叶变换后的频谱;和分别为余弦斜条纹图像沿x0轴和y0轴的空间频率;为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的一阶频谱分量,且 为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭,为的复共轭;
步骤e、采用二维频域低通滤波器分隔提取出步骤d中和的零阶频谱分量和然后对和进行二维傅里叶逆变换得到余弦斜条纹图像和的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和MTFsystem·R(x0,y0)·IDC;再采用二维频域带通滤波器分隔提取出步骤d中和的一阶频谱分量和然后对 和进行二维傅里叶逆变换得到相应的空域表达形式和
步骤f、根据步骤e获得的余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·Rref·IDC和余弦斜条纹图像的直流分量MTFsystem·R(x0,y0)·IDC计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面漫反射率R(x0,y0);
其中,atan{}为反正切函数;Im[]为取虚部函数;Re[]为取实部函数;
步骤h、根据步骤g中所获得的包裹相位和并采用基于数论的三频时间相位展开方法将包裹相位展开为绝对相位φ(x0,y0),然后根据三角测量原理使用绝对相位φwrapped(x0,y0)计算得到图像像素点(x0,y0)所对应的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0);
步骤i、根据步骤f得到的样品表面漫反射率R(x0,y0)和步骤h得到的样品表面三维坐标X(x0,y0)、Y(x0,y0)和Z(x0,y0)实现样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211168313.9A CN115524311A (zh) | 2022-09-23 | 2022-09-23 | 基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211168313.9A CN115524311A (zh) | 2022-09-23 | 2022-09-23 | 基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115524311A true CN115524311A (zh) | 2022-12-27 |
Family
ID=84699422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202211168313.9A Pending CN115524311A (zh) | 2022-09-23 | 2022-09-23 | 基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115524311A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117405044A (zh) * | 2023-12-13 | 2024-01-16 | 华东交通大学 | 基于多频偏振条纹技术的工件三维测量方法及其系统 |
-
2022
- 2022-09-23 CN CN202211168313.9A patent/CN115524311A/zh active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117405044A (zh) * | 2023-12-13 | 2024-01-16 | 华东交通大学 | 基于多频偏振条纹技术的工件三维测量方法及其系统 |
CN117405044B (zh) * | 2023-12-13 | 2024-02-27 | 华东交通大学 | 基于多频偏振条纹技术的工件三维测量方法及其系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Gorthi et al. | Fringe projection techniques: whither we are? | |
CN106931910B (zh) | 一种基于多模态复合编码和极线约束的高效三维图像获取方法 | |
US9863861B2 (en) | Method and apparatus for particle size determination | |
CN102184566A (zh) | 基于微型投影仪手机平台的便携式三维扫描系统及方法 | |
CN113108721B (zh) | 基于多光束自适应互补匹配的高反光物体三维测量方法 | |
WO2013107076A1 (zh) | 一种光学三维测量中的自适应窗口傅里叶相位提取法 | |
CN103940371A (zh) | 一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法 | |
CN109087348B (zh) | 一种基于自适应区域投射的单像素成像方法 | |
CN111174730B (zh) | 一种基于相位编码的快速相位解包裹方法 | |
CN107388963B (zh) | 将小波分析和低通滤波结合的数字莫尔条纹相位提取方法 | |
CN111256628A (zh) | 墙面平整度检测方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
CN115524311A (zh) | 基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法 | |
Chen et al. | High-speed 3D surface profilometry employing trapezoidal phase-shifting method with multi-band calibration for colour surface reconstruction | |
CN113587852A (zh) | 一种基于改进三步相移的彩色条纹投影三维测量方法 | |
Sutton et al. | Development and assessment of a single-image fringe projection method for dynamic applications | |
CN113188477A (zh) | 基于三通道正弦条纹投影的彩色物体快速三维测量方法 | |
CN112014408B (zh) | 一种基于结构光原理对pcb板进行重建的检测方法 | |
CN109916332B (zh) | 一种带载频单幅干涉条纹相位重构方法 | |
Jin et al. | The measurement method for the size of the hole on the part surface based on grating image processing | |
Zhang et al. | BimodalPS: Causes and corrections for bimodal multi-path in phase-shifting structured light scanners | |
Hu et al. | Improved three-step phase shifting profilometry using digital fringe pattern projection | |
CN115200509A (zh) | 一种基于条纹投影测量模型的测量方法、装置和控制设备 | |
Siddiolo et al. | A direction/orientation-based method for shape measurement by shadow moiré | |
CN117387524B (zh) | 一种高动态范围三维测量方法及系统 | |
CN118189857B (zh) | 基于单相机-投影仪系统的数字图像相关的三维测量方法及系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |