CN115312637A - 一种Micro-LED显示装置及其制造方法 - Google Patents
一种Micro-LED显示装置及其制造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115312637A CN115312637A CN202211237158.1A CN202211237158A CN115312637A CN 115312637 A CN115312637 A CN 115312637A CN 202211237158 A CN202211237158 A CN 202211237158A CN 115312637 A CN115312637 A CN 115312637A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- micro
- layer
- led
- substrate
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 107
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 claims abstract description 42
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 40
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 23
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 37
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 13
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 7
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 5
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N ZrO2 Inorganic materials O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 4
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 3
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 4
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002042 Silver nanowire Substances 0.000 description 1
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- SOQBVABWOPYFQZ-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);titanium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Ti+4] SOQBVABWOPYFQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/15—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
- H01L27/153—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
- H01L27/156—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/44—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0025—Processes relating to coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及一种Micro‑LED显示装置及其制造方法,涉及微发光二极管显示制造领域。在本发明的Micro‑LED显示装置的制造方法中,通过将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板,然后再将第一转移基板上的Micro‑LED单元转移至驱动基板,有效提高了转移效率。且通过在转移工序之前,在任意相邻两个所述Micro‑LED单元之间形成第一金属柱,然后形成像素限定材料层以包裹每个所述Micro‑LED单元和每个所述第一金属柱,由于第一金属柱的存在可以避免多个Micro‑LED单元所组成的发光层变形翘曲,进而可以提高转移精度。且由于纳米线网格层的存在,可以提高像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性以及像素限定材料层与Micro‑LED单元的接合稳固性。
Description
技术领域
本发明涉及微发光二极管显示制造领域,具体涉及一种Micro-LED显示装置及其制造方法。
背景技术
Micro-LED显示利用微米尺寸的无机LED器件作为发光像素,来实现主动发光矩阵式显示。从显示技术原理来讲,Micro-LED与有机发光二极管OLED、量子点发光二极管QLED都属于主动发光式显示技术。但不同的是,Micro-LED显示使用无机GaN等LED芯片,其具有发光性能优异、寿命长等优点。但是目前的Micro-LED显示装置在芯片、背板、巨量转移、全彩化、接合、驱动和检测维修等方面仍然存在一些技术瓶颈。
发明内容
本发明的目的是克服上述现有技术的不足,提供一种Micro-LED显示装置及其制造方法。
为实现上述目的,本发明提出的一种Micro-LED显示装置的制造方法,包括以下步骤:
提供多个外延基底,在每个所述外延基底上均外延生长N型半导体层、量子阱有源发光层和P型半导体层;
提供第一转移基板,将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板;
对每个所述外延基底上的所述N型半导体层、所述量子阱有源发光层和所述P型半导体层进行图案化处理,以在所述第一转移基板上形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元;
在所述第一转移基板上形成钝化层,所述钝化层覆盖每个所述Micro-LED单元的顶面和侧面;
在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱;
在所述第一转移基板上旋涂或喷涂纳米线溶液以形成纳米线网格层,所述纳米线网格层覆盖所述Micro-LED单元的顶面和侧面以及所述第一金属柱的顶面和侧面;
在所述第一转移基板上形成像素限定材料层,所述像素限定材料包裹每个所述Micro-LED单元和每个所述第一金属柱;
对所述像素限定材料层进行平坦化处理,以暴露每个所述Micro-LED单元的P型半导体层,接着在每个所述Micro-LED单元的P型半导体层上形成导电电极;
提供一驱动基板,将所述第一转移基板上的每个所述Micro-LED单元转移至所述驱动基板。
去除所述第一转移基板和所述外延基底。
作为优选的技术方案,在所述第一转移基板上设置多个第一凹槽,每个所述外延基底嵌入到相应的所述第一凹槽中。
作为优选的技术方案,所述第一凹槽的深度等于所述外延基底的厚度。
作为优选的技术方案,所述钝化层的材质是氧化铝、氧化硅、氮化硅、二氧化锆、氧化铪中的一种或多种。
作为优选的技术方案,所述第一金属柱为铜柱或铝柱,所述第一金属柱通过化学气相沉积工艺、物理气相沉积工艺、电镀工艺或化学镀工艺形成。
作为优选的技术方案,所述纳米线溶液中的纳米线为金属材料纳米线、绝缘材料纳米线或半导体材料纳米线。
作为优选的技术方案,所述纳米线网格层中存在孔隙,在形成像素限定材料层的过程中,所述纳米线网格层增加像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性。
作为优选的技术方案,本发明还提出一种Micro-LED显示装置,其采用上述制造方法制造形成的。
本发明的有益效果在于:
在本发明的Micro-LED显示装置的制造方法中,通过将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板,然后再将第一转移基板上的Micro-LED单元转移至驱动基板,有效提高了转移效率。且通过在转移工序之前,在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱,然后形成像素限定材料层以包裹每个所述Micro-LED单元和每个所述第一金属柱,由于第一金属柱的存在可以避免多个Micro-LED单元所组成的发光层变形翘曲,进而可以提高转移精度。且由于纳米线网格层的存在,可以提高像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性以及像素限定材料层与Micro-LED单元的接合稳固性。
附图说明
图1显示为本发明实施例中在外延基底上外延生长N型半导体层、量子阱有源发光层和P型半导体层的结构示意图。
图2显示为本发明实施例中将多个外延基底转移至第一转移基板的结构示意图。
图3显示为本发明实施例中在第一转移基板上形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元的结构示意图。
图4显示为本发明实施例中在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱的结构示意图。
图5显示为本发明实施例中在第一转移基板上形成像素限定材料层以及在每个Micro-LED单元的P型半导体层上形成导电电极的结构示意图。
图6显示为本发明实施例中将第一转移基板上的每个所述Micro-LED单元转移至驱动基板的结构示意图。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳实施方式。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本申请的公开内容理解的更加透彻全面。
如图1~图6所示,本实施例提供一种Micro-LED显示装置的制造方法,包括:
如图1所示,提供多个外延基底100,在每个所述外延基底100上均外延生长N型半导体层101、量子阱有源发光层102和P型半导体层103。
在具体的实施例中,所述外延基底100具体可以为蓝宝石基底、碳化硅基底或氮化镓基底,更具体的,在蓝宝石外延基底100上外延生长N型氮化镓层和P型氮化镓层以分别作为N型半导体层101和P型半导体层103。
如图2所示,提供第一转移基板200,将多个所述外延基底100转移至所述第一转移基板200。
在具体的实施例中,所述第一转移基板200具体可以为树脂基板、玻璃基板、金属基板、陶瓷基板等合适的刚性基板。在更优选的实施例中,预先在所述第一转移基板200上设置多个第一凹槽201,每个所述外延基底100嵌入到相应的所述第一凹槽201中,更优选的,所述第一凹槽201的深度等于所述外延基底100的厚度,进而使得,所述外延基底100的表面与所述第一转移基板200的表面齐平,进而使得所述N型半导体层101、量子阱有源发光层102和P型半导体层103突出于所述第一转移基板200。
如图3所示,对每个所述外延基底100上的所述N型半导体层101、所述量子阱有源发光层102和所述P型半导体层103进行图案化处理,以在所述第一转移基板100上形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元104。
在具体的实施例中,利用光刻胶掩膜对所述N型半导体层101、所述量子阱有源发光层102和所述P型半导体层103进行湿法刻蚀处理,以形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元104,然后在去除所述光刻胶掩膜。
在具体的实施例中,多个呈阵列排布的Micro-LED单元104可以为N×N的阵列,其中N≥3。
如图4所示,在所述第一转移基板上形成钝化层(未图示),所述钝化层覆盖每个所述Micro-LED单元104的顶面和侧面,进而消除每个所述Micro-LED单元104的表面缺陷态。接着在任意相邻两个所述Micro-LED单元104之间形成第一金属柱300。接着在所述第一转移基板200上旋涂或喷涂纳米线溶液以形成纳米线网格层(未图示),所述纳米线网格层覆盖所述Micro-LED单元104的顶面和侧面以及所述第一金属柱300的顶面和侧面。
在具体的实施例中,所述钝化层的材质是氧化铝、氧化硅、氮化硅、二氧化锆、氧化铪中的一种或多种。所述第一金属柱300为铜柱或铝柱,所述第一金属柱通过化学气相沉积工艺、物理气相沉积工艺、电镀工艺或化学镀工艺形成。所述纳米线溶液中的纳米线为金属材料纳米线、绝缘材料纳米线或半导体材料纳米线,更具体的,所述纳米线为银纳米线、镍纳米线、金纳米线、硅纳米线、二氧化硅纳米线、二氧化钛纳米线等合适的纳米线。由于所述纳米线网格层中存在孔隙,在形成像素限定材料层400的过程中,所述纳米线网格层增加像素限定材料层400与所述第一金属柱300的接合稳固性。
在具体的实施例中,通过原子层沉积工艺沉积厚度为20-50纳米的氧化铝层作为钝化层,接着通过电镀铜形成铜柱以作为第一金属柱300。
如图5所示,在所述第一转移基板200上形成像素限定材料层400,所述像素限定材料400包裹每个所述Micro-LED单元104和每个所述第一金属柱300。
在具体的实施例中,所述像素限定材料层400为掺有黑色染料的树脂材料,进而通过旋涂、模塑、涂覆等合适的工艺形成。
接着对所述像素限定材料层300进行平坦化处理,以暴露每个所述Micro-LED单元104的P型半导体层103,接着在每个所述Micro-LED单元104的P型半导体层103上形成导电电极105。
在更优选的实施例中,所述导电电极105为金属铜柱,且为了电流的更好传输与扩展,在形成所述导电电极105之前,预先形成一电流扩展层(未图示)。
如图6所示,提供一驱动基板500,将所述第一转移基板200上的每个所述Micro-LED单元104转移至所述驱动基板500。
在具体的实施例中,在转移过程中,所述导电电极105与所述驱动基板500中的像素电极电连接,且所述像素限定材料层300与所述驱动基板500固定连接,然后去除所述第一转移基板200和所述外延基底100。
在具体的实施例中,为了便于多个所述Micro-LED单元104的电连接,在所述像素限定材料层300形成公共电极层600。
如图6所示,本发明还提出一种Micro-LED显示装置,其采用上述制造方法制造形成的。
在其他优选的技术方案中,本发明提出的一种Micro-LED显示装置的制造方法,包括以下步骤:
提供多个外延基底,在每个所述外延基底上均外延生长N型半导体层、量子阱有源发光层和P型半导体层;
提供第一转移基板,将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板;
对每个所述外延基底上的所述N型半导体层、所述量子阱有源发光层和所述P型半导体层进行图案化处理,以在所述第一转移基板上形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元;
在所述第一转移基板上形成钝化层,所述钝化层覆盖每个所述Micro-LED单元的顶面和侧面;
在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱;
在所述第一转移基板上旋涂或喷涂纳米线溶液以形成纳米线网格层,所述纳米线网格层覆盖所述Micro-LED单元的顶面和侧面以及所述第一金属柱的顶面和侧面;
在所述第一转移基板上形成像素限定材料层,所述像素限定材料包裹每个所述Micro-LED单元和每个所述第一金属柱;
对所述像素限定材料层进行平坦化处理,以暴露每个所述Micro-LED单元的P型半导体层,接着在每个所述Micro-LED单元的P型半导体层上形成导电电极;
提供一驱动基板,将所述第一转移基板上的每个所述Micro-LED单元转移至所述驱动基板。
去除所述第一转移基板和所述外延基底。
进一步的,在所述第一转移基板上设置多个第一凹槽,每个所述外延基底嵌入到相应的所述第一凹槽中。
进一步的,所述第一凹槽的深度等于所述外延基底的厚度。
进一步的,所述钝化层的材质是氧化铝、氧化硅、氮化硅、二氧化锆、氧化铪中的一种或多种。
进一步的,所述第一金属柱为铜柱或铝柱,所述第一金属柱通过化学气相沉积工艺、物理气相沉积工艺、电镀工艺或化学镀工艺形成。
进一步的,所述纳米线溶液中的纳米线为金属材料纳米线、绝缘材料纳米线或半导体材料纳米线。
进一步的,所述纳米线网格层中存在孔隙,在形成像素限定材料层的过程中,所述纳米线网格层增加像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性。
进一步的,本发明还提出一种Micro-LED显示装置,其采用上述制造方法制造形成的。
在本发明的Micro-LED显示装置的制造方法中,通过将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板,然后再将第一转移基板上的Micro-LED单元转移至驱动基板,有效提高了转移效率。且通过在转移工序之前,在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱,然后形成像素限定材料层以包裹每个所述Micro-LED单元和每个所述第一金属柱,由于第一金属柱的存在可以避免多个Micro-LED单元所组成的发光层变形翘曲,进而可以提高转移精度。且由于纳米线网格层的存在,可以提高像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性以及像素限定材料层与Micro-LED单元的接合稳固性。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (8)
1.一种Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:包括以下步骤:
提供多个外延基底,在每个所述外延基底上均外延生长N型半导体层、量子阱有源发光层和P型半导体层;
提供第一转移基板,将多个所述外延基底转移至所述第一转移基板;
对每个所述外延基底上的所述N型半导体层、所述量子阱有源发光层和所述P型半导体层进行图案化处理,以在所述第一转移基板上形成多个呈阵列排布的Micro-LED单元;
在所述第一转移基板上形成钝化层,所述钝化层覆盖每个所述Micro-LED单元的顶面和侧面;
在任意相邻两个所述Micro-LED单元之间形成第一金属柱;
在所述第一转移基板上旋涂或喷涂纳米线溶液以形成纳米线网格层,所述纳米线网格层覆盖所述Micro-LED单元的顶面和侧面以及所述第一金属柱的顶面和侧面;
在所述第一转移基板上形成像素限定材料层,所述像素限定材料包裹每个所述Micro-LED单元和每个所述第一金属柱;
对所述像素限定材料层进行平坦化处理,以暴露每个所述Micro-LED单元的P型半导体层,接着在每个所述Micro-LED单元的P型半导体层上形成导电电极;
提供一驱动基板,将所述第一转移基板上的每个所述Micro-LED单元转移至所述驱动基板;
去除所述第一转移基板和所述外延基底。
2.根据权利要求1所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:在所述第一转移基板上设置多个第一凹槽,每个所述外延基底嵌入到相应的所述第一凹槽中。
3.根据权利要求2所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:所述第一凹槽的深度等于所述外延基底的厚度。
4.根据权利要求1所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:所述钝化层的材质是氧化铝、氧化硅、氮化硅、二氧化锆、氧化铪中的一种或多种。
5.根据权利要求1所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:所述第一金属柱为铜柱或铝柱,所述第一金属柱通过化学气相沉积工艺、物理气相沉积工艺、电镀工艺或化学镀工艺形成。
6.根据权利要求1所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:所述纳米线溶液中的纳米线为金属材料纳米线、绝缘材料纳米线或半导体材料纳米线。
7.根据权利要求1所述的Micro-LED显示装置的制造方法,其特征在于:所述纳米线网格层中存在孔隙,在形成像素限定材料层的过程中,所述纳米线网格层增加像素限定材料层与所述第一金属柱的接合稳固性。
8.一种Micro-LED显示装置,其特征在于,采用权利要求1-7任一项所述的Micro-LED显示装置的制造方法制造形成的。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211237158.1A CN115312637B (zh) | 2022-10-11 | 2022-10-11 | 一种Micro-LED显示装置及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211237158.1A CN115312637B (zh) | 2022-10-11 | 2022-10-11 | 一种Micro-LED显示装置及其制造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115312637A true CN115312637A (zh) | 2022-11-08 |
CN115312637B CN115312637B (zh) | 2022-12-16 |
Family
ID=83867646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202211237158.1A Active CN115312637B (zh) | 2022-10-11 | 2022-10-11 | 一种Micro-LED显示装置及其制造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115312637B (zh) |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102376826A (zh) * | 2010-08-06 | 2012-03-14 | 晶元光电股份有限公司 | 半导体光电元件及其制作方法 |
CN108899337A (zh) * | 2018-07-05 | 2018-11-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 微发光二极管基板及其制备方法、显示面板 |
CN109166878A (zh) * | 2018-09-29 | 2019-01-08 | 华南理工大学 | 具有增透钝化层的纳米孔led阵列芯片及其制备方法 |
CN109802018A (zh) * | 2019-03-27 | 2019-05-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 微发光二极管阵列基板的制作方法 |
JP2019125780A (ja) * | 2018-01-16 | 2019-07-25 | 優顕科技股▲ふん▼有限公司Ultra Display Technology Corp. | 導電性フィルム、光電半導体装置及びその製造方法 |
CN110491895A (zh) * | 2019-07-23 | 2019-11-22 | 北京工业大学 | NP电极共平面倒装Micro-LED微显示阵列及制作方法 |
US20200074917A1 (en) * | 2018-09-04 | 2020-03-05 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Backlight source and manufacture method thereof, display device |
CN111403430A (zh) * | 2020-04-02 | 2020-07-10 | 亿信科技发展有限公司 | 一种微米发光二极管器件及其制作方法、显示面板 |
US20210005642A1 (en) * | 2019-07-05 | 2021-01-07 | Century Technology (Shenzhen) Corporation Limited | Method for transferring light emitting elements, display panel, method for making display panel, and substrate |
CN113314654A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-08-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光基板及其制备方法、显示设备 |
CN113571542A (zh) * | 2021-07-08 | 2021-10-29 | Tcl华星光电技术有限公司 | 一种发光组件、其制作方法及发光装置 |
CN114284309A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-05 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 发光芯片的转移方法、显示面板和显示装置 |
TW202217783A (zh) * | 2020-10-30 | 2022-05-01 | 中國商京東方科技集團股份有限公司 | 發光二極體基板及其製作方法、顯示裝置 |
CN115084337A (zh) * | 2022-07-21 | 2022-09-20 | 罗化芯显示科技开发(江苏)有限公司 | 一种微型发光二极管芯片的巨量转移方法 |
-
2022
- 2022-10-11 CN CN202211237158.1A patent/CN115312637B/zh active Active
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102376826A (zh) * | 2010-08-06 | 2012-03-14 | 晶元光电股份有限公司 | 半导体光电元件及其制作方法 |
JP2019125780A (ja) * | 2018-01-16 | 2019-07-25 | 優顕科技股▲ふん▼有限公司Ultra Display Technology Corp. | 導電性フィルム、光電半導体装置及びその製造方法 |
CN108899337A (zh) * | 2018-07-05 | 2018-11-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 微发光二极管基板及其制备方法、显示面板 |
US20200074917A1 (en) * | 2018-09-04 | 2020-03-05 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Backlight source and manufacture method thereof, display device |
CN109166878A (zh) * | 2018-09-29 | 2019-01-08 | 华南理工大学 | 具有增透钝化层的纳米孔led阵列芯片及其制备方法 |
CN109802018A (zh) * | 2019-03-27 | 2019-05-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 微发光二极管阵列基板的制作方法 |
US20210005642A1 (en) * | 2019-07-05 | 2021-01-07 | Century Technology (Shenzhen) Corporation Limited | Method for transferring light emitting elements, display panel, method for making display panel, and substrate |
CN110491895A (zh) * | 2019-07-23 | 2019-11-22 | 北京工业大学 | NP电极共平面倒装Micro-LED微显示阵列及制作方法 |
CN111403430A (zh) * | 2020-04-02 | 2020-07-10 | 亿信科技发展有限公司 | 一种微米发光二极管器件及其制作方法、显示面板 |
TW202217783A (zh) * | 2020-10-30 | 2022-05-01 | 中國商京東方科技集團股份有限公司 | 發光二極體基板及其製作方法、顯示裝置 |
CN113314654A (zh) * | 2021-05-27 | 2021-08-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光基板及其制备方法、显示设备 |
CN113571542A (zh) * | 2021-07-08 | 2021-10-29 | Tcl华星光电技术有限公司 | 一种发光组件、其制作方法及发光装置 |
CN114284309A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-05 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 发光芯片的转移方法、显示面板和显示装置 |
CN115084337A (zh) * | 2022-07-21 | 2022-09-20 | 罗化芯显示科技开发(江苏)有限公司 | 一种微型发光二极管芯片的巨量转移方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN115312637B (zh) | 2022-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11804584B2 (en) | Micro light-emitting element and device, and use and production method thereof | |
US9825013B2 (en) | Transfer-bonding method for the light emitting device and light emitting device array | |
KR101106148B1 (ko) | 발광 소자 | |
US20230109132A1 (en) | Display panel and manufacturing method thereof | |
TWI521690B (zh) | 發光元件的轉移方法以及發光元件陣列 | |
JP7285491B2 (ja) | ナノワイヤ発光スイッチデバイス及びその方法 | |
WO2011090836A2 (en) | Manufacturing process for solid state lighting device on a conductive substrate | |
CN110610931A (zh) | 多色Micro LED分区分批次制备方法 | |
US7982238B2 (en) | Light-emitting diode | |
JP2024123056A (ja) | Ledアレイ | |
CN115312637B (zh) | 一种Micro-LED显示装置及其制造方法 | |
CN209929308U (zh) | 显示面板 | |
CN117253955A (zh) | 一种Micro LED显示芯片及其制备方法 | |
CN113270441B (zh) | Led芯片结构及其制备方法、显示模组以及电子设备 | |
CN215342604U (zh) | Led芯片结构及显示模组 | |
CN114725253A (zh) | Micro-LED显示基板及其制造方法 | |
CN209929299U (zh) | 显示面板 | |
TW202121676A (zh) | Led陣列及形成led陣列之方法 | |
CN111863871A (zh) | 一种显示面板及其制备方法 | |
CN115295690B (zh) | 微发光二极管显示基板边缘处的微发光二极管转移方法 | |
CN110690329A (zh) | 一种单端电学接触、单端载流子注入的μLED发光与显示器件及其制备方法 | |
CN220796782U (zh) | 一种Micro LED显示芯片 | |
CN114975699B (zh) | 一种全彩氮化物半导体Micro-LED阵列的单片集成制备方法 | |
KR102563505B1 (ko) | Led 디바이스 및 그 제조 방법 | |
CN115295689B (zh) | 一种Micro-LED芯片的转移方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |