CN115266025A - 温度测试装置及温度测试系统 - Google Patents

温度测试装置及温度测试系统 Download PDF

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CN115266025A
CN115266025A CN202210784804.XA CN202210784804A CN115266025A CN 115266025 A CN115266025 A CN 115266025A CN 202210784804 A CN202210784804 A CN 202210784804A CN 115266025 A CN115266025 A CN 115266025A
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Abstract

本发明涉及光通信技术领域,公开了一种温度测试装置及温度测试系统,温度测试装置包括分流组件、测试箱以及温度感应组件,分流组件设有进气口以及多个气道,进气口用于与热流仪的出气口连通,气道连通于进气口,测试箱设有多个容纳腔以及多个插孔,各容纳腔连通于各气道,容纳腔用于容纳待测物料,各插孔连通于各容纳腔,温度感应组件包括多个温度探头,各温度探头插设于各插孔,用于检测各插孔对应的容纳腔内的待测物料的温度。采用本实施例的温度测试装置及温度测试系统,能够同时对多个光模块进行温度测试,测试效率较高,且热流仪的利用率较高。

Description

温度测试装置及温度测试系统
技术领域
本发明涉及光通信技术领域,尤其涉及一种温度测试装置及温度测试系统。
背景技术
为了保障光模块出厂后的产品可靠性,通常需要对光模块进行温度测试,以确定在不同温度环境下光模块的稳定性是否符合要求。相关技术中,常采用热流仪测试设备对光模块进行温度测试,具体通过热流仪向光模块输送气流以使光模块达到测试温度,并通过贴设于光模块的温度传感器检测光模块的实际温度,以便于调节热流仪的气流。
然而,传统的热流仪测试设备只能针对单个光模块进行温度测试,测试效率较低,且热流仪的利用率较低。
发明内容
本发明实施例公开了一种温度测试装置及温度测试系统,能够同时对多个光模块进行温度测试,测试效率较高,且热流仪的利用率较高。
第一方面,本发明实施例公开了一种温度测试装置,包括分流组件、测试箱以及温度感应组件,所述分流组件设有进气口以及多个气道,所述进气口用于与热流仪的出气口连通,所述气道连通于所述进气口,所述测试箱设有多个容纳腔以及多个插孔,各所述容纳腔连通于各所述气道,所述容纳腔用于容纳待测物料,各所述插孔连通于各所述容纳腔,所述温度感应组件包括多个温度探头,各所述温度探头插设于各所述插孔,用于检测各所述插孔对应的所述容纳腔内的所述待测物料的温度。
本实施例通过分流组件的进气口与热流仪的出气口连通以接收热流仪的气流,并经分流组件的多个气道将气流分别流向侧箱的多个容纳腔。同时,利用测试箱的多个插孔插设温度感应组件的多个温度探头,利用多个温度探头检测位于各容纳腔内的待测物料的温度,以便于调节热流仪的气流。这样,一个热流仪输出的气流能够同时调节多个容纳腔内的多个待测物料的温度,从而对多个待测物料进行温度测试,测试效率较高,且热流仪的利用率较高。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述分流组件包括进气块以及叠置于所述进气块的分流块,所述进气块朝向所述分流块的一侧设有分气槽,所述进气块背离所述分流块的一侧设有所述进气口,所述进气口还连通于所述分气槽,所述气道包括多个第一子气道,多个所述第一子气道设于所述分流块,多个所述第一子气道连通于所述分气槽,各所述容纳腔连通于各所述第一子气道。
本实施例通过热流仪的出气口向进气块的进气口输送气流,气流可进入分气槽后,经过多个第一子气道分流至多个容纳腔,从而实现气流的分流,热流仪提供的气流能够作用于多个待测物料,提高测试效率以及热流仪的利用率。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述分流组件还包括调节块以及多个调节部件,所述调节块设于所述进气块和所述分流块之间,所述气道还包括与所述分气槽连通的多个第二子气道,多个所述第二子气道设于所述调节块,各所述第二子气道连通于各所述第一子气道,所述调节块的一侧设有多个连接孔,各所述连接孔连通于各所述第二子气道,各所述调节部件连接于各所述连接孔,用于调节各所述第二子气道的气流量。
本实施例通过调节部件调节第二子气道的气流量,一方面,能够调节流向多个容纳腔的气流的气流量,从而能够调节容纳腔内的待测物料的温度,使待测物料达到测试温度。另一方面,多个调节部件相互独立,调节不同第二子气道的气流量,这样,多个待测物料同时进行温度测试时,各待测物料的温度测试能够独立进行,不互相干涉。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述测试箱包括底座以及盖体,所述盖体盖合连接于所述底座以与所述底座之间形成多个所述容纳腔以及与多个所述容纳腔连通的排气腔,所述底座对应所述排气腔的位置设置有与所述排气腔连通的排气孔,所述盖体设有多个所述插孔。
本实施例通过排气腔供容纳腔排出气流,并将气流经排气孔排出排气腔,温度测试系统调节待测物料的温度的效率较高,温度测试精度较高,且能够避免容纳腔内气压过高而导致爆炸的情况发生。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述盖体包括固定盖以及活动盖,所述固定盖盖合连接于所述底座以与所述底座之间形成多个所述容纳腔,所述固定盖设有多个所述插孔,所述活动盖可活动连接于所述底座以相对所述底座以及所述固定盖盖合或打开,所述活动盖盖合于所述底座时与所述底座之间形成所述排气腔。
本实施例通过活动活动盖以使活动盖相对底座打开,此时,能够将待测物料放置于容纳腔,而后活动盖以使活动盖相对底座盖合,此时,热流仪提供的气流能够经分流组件进入容纳腔内作用于待测物料,从而对待测物料进行温度测试。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述固定盖具有第一倾斜面,所述活动盖具有与所述第一倾斜面相匹配的第二倾斜面,所述第一倾斜面和/或所述第二倾斜面设有第一密封件,所述活动盖盖合于所述固定盖时,所述第一密封件压合于所述第一倾斜面和所述第二倾斜面之间,和/或,所述活动盖和所述底座的盖合连接面之间设有第二密封件,所述第二密封件用于在所述活动盖和所述底座盖合时密封所述排气腔。
本实施例通过第一密封件密封第一倾斜面和第二倾斜面,能够提高活动盖和固定盖之间的气密性,减少热流仪提供的气流外漏的风险,提高热流仪提供的气流的利用率,并且,能够避免在盖合过程中,第一密封件受损或相对第一倾斜面和第二倾斜面发生位置移动的情况发生,有效保障第一密封件的密封效果,此外,还通过第二密封件密封活动盖和底座的连接面,能够提高活动盖和底座之间的气密性,排气腔和容纳腔的密封性较高,减少热流仪提供的气流外漏的风险,提高热流仪提供的气流的利用率。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述底座设有第一连接部,所述活动盖设有第二连接部,所述第二连接部用于与所述第一连接部可拆卸式连接,以保持所述活动盖盖合于所述底座。
本实施例通过第一连接部与第二连接部连接,活动盖盖合于底座时,能够对活动盖和底座进行固定,保持活动盖与底座之间的密封连接,避免气流将活动盖与底座分离的情况发生,保障温度测试的正常进行
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述测试箱还包括测试板,所述测试板部分设于所述底座和所述盖体之间以用于与位于所述容纳腔的待测物料电连接,所述测试板的其余部分位于所述底座和所述盖体外。
本实施例通过测试板与待测物料电连接,当对待测物料进行性能测试时,可将测试板与对应的测试仪器进行电连接,使得位于容纳腔外的测试仪器获取位于容纳腔内的待测物料的性能数据。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述温度感应组件还包括支架、滑块以及多个安装座,所述支架连接于所述测试箱,且位于所述插孔上方,各所述安装座连接于各所述插孔,各所述安装座设有所述温度探头,所述滑块滑动设于所述支架和所述安装座之间,所述滑块可相对所述支架滑动以带动所述安装座相对所述插孔滑动,以使所述温度探头接触位于所述容纳腔内的所述待测物料。
本实施例通过滑动滑块,使滑块朝靠近测试箱的方向运动,此时,滑块带动安装座向插孔内的方向运动,设于安装座的温度探头随之运动并接触位于容纳腔内的待测物料,这样,温度探头能够对待测物料进行温度检测。而当温度测试完成后,可通过滑动滑块,使滑块朝远离测试箱的方向运动,此时,滑块带动安装座向插孔外的方向运动,设于安装座的温度探头随之运动,并与位于容纳腔内的待测物料间隔开(未接触),这样,在将测试完成的待测物料取出容纳腔时,待测物料与温度探头之间不互相干涉,能够避免温度探头受到待测物料的作用而受损的情况发生。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述滑块朝向所述测试箱的一侧设有第一导向孔,所述测试箱设有第一导向柱,所述第一导向柱连接于所述第一导向孔,所述第一导向柱套设有第一弹性件,所述第一弹性件的两端分别抵止于所述测试箱和所述滑块。
本实施例通过第一弹性件恢复弹性形变,其弹性作用力作用于滑块,使得滑块自动向远离测试箱的方向运动,带动安装座和温度探头运动,进而使得温度探头与待测物料隔开,实现自动分离,温度测试装置的自动化程度较高。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述滑块的一侧设有第一按压部,所述测试箱设有第二按压部,所述第二按压部用于抵止于所述第一按压部以使所述滑块相对所述支架滑动。
本实施例通过第二按压部按压滑块,能够使得滑块向靠近测试箱的方向运动,以使安装座带动温度探头与位于容纳腔内的待测物料接触,操作较为方便。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述安装座设有第二导向柱,所述滑块滑动连接于所述第二导向柱,所述第二导向柱套设有第二弹性件,所述第二弹性件的两端分别抵止于所述安装座和所述滑块。
本实施例通过第二弹性件抵消行程公差或尺寸公差,避免滑块继续带动安装座和温度探头运动导致温度探头与容纳腔内的待测物料相互挤压而导致损坏温度探头和待测物料的情况发生。
第二方面,本发明实施例公开了一种温度测试系统,包括热流仪以及第一方面的温度测试装置,所述热流仪具有所述出气口,所述出气口连通于所述分流组件的所述进气口。第二方面的温度测试系统具有第一方面的测试装置的有益效果,在此不赘述。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,所述温度测试系统包括多个所述温度测试装置以及分气管道,所述分气管道连接于所述热流仪的出气口以及多个所述温度测试装置的所述进气口,用于接收所述热流仪的出气口的气流并分流至多个所述温度测试装置的所述进气口。
本实施例通过分气管道将热流仪的气流分流至多个温度测试装置,这样,一个热流仪能够为多个温度测试装置进行温度测试提供气流,提高热流仪的利用率。且多个温度测试装置能够增加同时进行温度测试的待测物料的数量,提高温度测试效率。
与现有技术相比,本发明的实施例至少具有如下有益效果:
本发明实施例中,通过分流组件的进气口与热流仪的出气口连通以接收热流仪的气流,并经分流组件的多个气道将气流分别流向侧箱的多个容纳腔。同时,利用测试箱的多个插孔插设温度感应组件的多个温度探头,利用多个温度探头检测位于各容纳腔内的待测物料的温度,以便于调节热流仪的气流。这样,一个热流仪输出的气流能够同时调节多个容纳腔内的多个待测物料的温度,从而对多个待测物料进行温度测试,测试效率较高,且热流仪的利用率较高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本技术领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一公开的一种温度测试系统的结构示意图;
图2是本发明实施例一公开的一种温度测试系统的内部结构示意图;
图3是本发明实施例一公开的分流组件的分解结构示意图;
图4是本发明实施例一公开的测试箱的分解结构示意图;
图5是本发明实施例一公开的一种温度测试系统(省略分流组件)的分解结构示意图;
图6是本发明实施例一公开的一种温度测试系统(具有误码仪)的结构示意图;
图7是本发明实施例一公开的温度感应组件的分解结构示意图;
图8是本发明实施例一公开的温度感应组件与测试箱的内部结构示意图;
图9是本发明实施例二公开的另一种温度测试系统的结构示意图。
主要附图标记说明
100、温度测试系统;1、热流仪;1a、出气口;21、分流组件;21a、进气口;21b、气道;21c、第一子气道;21d、第二子气道;211、进气块;211a、分气槽;212、分流块;213、调节块;213a、连接孔;214、调节部件;22、测试箱;22a、容纳腔;22b、插孔;22c、排气腔;221、底座;221a、排气孔;221b、第一连接部;222、盖体;2221、固定盖;2221a、第一倾斜面;2222、活动盖;2222a、第二倾斜面;2222b、第二连接部;223、测试板;224、第一导向柱;225、第二按压部;23、温度感应组件;231、温度探头;232、支架;233、滑块;233a、第一导向孔;233b、第一按压部;234、安装座;234a、第二导向柱;3、待测物料;41、第一密封件;42、第二密封件;5、承载板;6、误码仪;71、第一弹性件;72、第二弹性件;8、分气管道。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明中,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本发明及其实施例,并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位,或以特定方位进行构造和操作。
并且,上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外,还可能用于表示其他含义,例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解这些术语在本发明中的具体含义。
此外,术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如,可以是固定连接,可拆卸连接,或整体式构造;可以是机械连接,或电连接;可以是直接相连,或者是通过中间媒介间接相连,又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外,术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同),并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明,“多个”的含义为两个或两个以上。
本发明公开了一种温度测试装置及温度测试系统,温度测试装置包括分流组件、测试箱、温度感应组件,分流组件设有进气口以及多个气道,进气口用于与热流仪的出气口连通,气道连通于进气口,测试箱设有多个容纳腔以及多个插孔,各容纳腔连通于各气道,容纳腔用于容纳待测物料,各插孔连通于各容纳腔,温度感应组件包括多个温度探头,各温度探头插设于各插孔,用于检测各插孔对应的容纳腔内的待测物料的温度。能够同时对多个光模块进行温度测试,测试效率较高,且热流仪的利用率较高。
为了便于理解技术方案,以下将以温度测试系统为例,结合附图对本申请的温度测试装置和温度测试系统的结构进行详细说明。
实施例一
请参阅图1和图2,为本发明实施例一提供的一种温度测试系统100,包括热流仪1和温度测试装置,热流仪1具有出气口1a,温度测试装置包括分流组件21、测试箱22、温度感应组件23,分流组件21设有进气口21a以及多个气道21b,进气口21a与热流仪1的出气口1a连通,气道21b连通于进气口21a,测试箱22设有多个容纳腔22a以及多个插孔(暂未示出),各容纳腔22a连通于各气道21b,容纳腔22a用于容纳待测物料3,各插孔22b连通于各容纳腔22a,温度感应组件23包括多个温度探头(暂未示出),各温度探头插设于各插孔,用于检测各插孔对应的容纳腔22a内的待测物料3的温度。
其中,待测物料3可为光模块。光模块在实际应用时,不同温度环境下的性能(例如功耗、误码率、灵敏度等)的稳定性要求较高,通常需要在投入实际应用前对光模块进行温度测试,要求在不同温度区域内满足稳定性要求。
本实施例通过分流组件21的多个气道21b分别连通测试箱22的多个容纳腔22a,这样,分流组件21的进气口21a与热流仪1的出气口1a连通并接收热流仪1的气流时,气流能够经分流组件21的多个气道21b分流至测试箱22的多个容纳腔22a,从而调节位于多个容纳腔22a内的多个待测物料3的温度,同时,利用测试箱22的多个插孔22b插设温度感应组件23的多个温度探头231,利用多个温度探头231检测位于各容纳腔22a内的待测物料3的温度,以便于了解待测物料3的温度,从而通过调节热流仪1的气流,使待测物料3的温度达到测试温度。这样,一个热流仪1输出的气流能够同时调节多个容纳腔22a内的多个待测物料3的温度,从而对多个待测物料3进行温度测试,测试效率较高,且热流仪1的利用率较高。
一些实施例中,如图2和图3所示,分流组件21包括进气块211以及叠置于进气块211的分流块212,进气块211朝向分流块212的一侧设有分气槽211a,进气块211背离分流块212的一侧设有进气口21a,进气口21a还连通于分气槽211a,气道21b包括多个第一子气道21c,多个第一子气道21c设于分流块212,多个第一子气道21c连通于分气槽211a,各容纳腔22a连通于各第一子气道21c。这样,当热流仪1的出气口1a向进气块211的进气口21a输送气流时,气流可进入分气槽211a后,经过多个第一子气道21c分流至多个容纳腔22a,从而实现气流的分流,热流仪1提供的气流能够作用于多个待测物料3,提高测试效率以及热流仪1的利用率。
示例性地,分流组件21还包括调节块213以及多个调节部件214,调节块213设于进气块211和分流块212之间,气道21b还包括与分气槽211a连通的多个第二子气道21d,多个第二子气道21d设于调节块213,各第二子气道21d连通于各第一子气道21c,调节块213的一侧设有多个连接孔213a,各连接孔213a连通于各第二子气道21d,各调节部件214连接于各连接孔213a,用于调节各第二子气道21d的气流量。具体地,调节部件214可为旋钮,通过转动调节部件214使调节部件214相对连接孔213a转动,并改变调节部件214伸入第二子气道21d的长度,从而改变第二子气道21d的内部空间大小,进而调节第二子气道21d的气流量。这样,当热流仪1提供的气流达到分气槽211a后,能够分流至多个第二子气道21d,通过多个第二子气道21d分别与多个第一子气道21c连通,分流的气流能够分别流向多个容纳腔22a以作用于多个待测物料3。一方面,通过多个调节部件214调节第二子气道21d的气流量,能够调节流向多个容纳腔22a的气流的气流量,从而能够调节容纳腔22a内的待测物料3的温度,使待测物料3达到测试温度。另一方面,多个调节部件214相互独立,调节不同第二子气道21d的气流量,这样,多个待测物料3同时进行温度测试时,各待测物料3的温度测试能够独立进行,不互相干涉。
例如,当部分容纳腔22a内的待测物料3进行测试的测试温度与其他部分的容纳腔22a内的测试物料的测试温度不同时,可通过多个调节部件214对多个第二子气道21d的气流量进行调节,使得部分容纳腔22a对应的第二子气道21d的气流量与其余部分容纳腔22a对应的第二子气道21d的气流量不同,进而使流向部分容纳腔22a的气流的气流量与流向其余部分容纳腔22a的气流量不同。
而当需要进行温度测试的待测物料3的数量小于容纳腔22a的数量,此时,部分容纳腔22a容纳有待测物料3,其余容纳腔22a未容纳有待测物料3,则可通过多个调节部件214对多个第二子气道21d的气流量进行调节,使得部分容纳腔22a对应的第二子气道21d的气流量大于零,其余部分容纳腔22a对应的第二子气道21d的气流量为零,这样,容纳有待测物料3的容纳腔22a能够接收到热流仪1提供的气流,从而对待测物料3进行温度测试,而未容纳腔22a有待测物料3的容纳腔22a则不接受热流仪1提供的气流,避免造成热流仪1气流的浪费,热流仪1的利用率较高。
一些其他实施例中,用于实现气流量调节的调节部件214和连接孔213a可设于分流块212,则此时,连接孔213a连通于第一子气道21c,用于对多个第一子气道21c的气流量进行调节。
一些实施例中,如图4和图5所示,测试箱22包括底座221以及盖体222,盖体222盖合连接于底座221以与底座221之间形成多个容纳腔22a以及与多个容纳腔22a连通的排气腔22c,底座211对应排气腔22c的位置设置有与排气腔22c连通的排气孔221a,盖体222设有多个插孔22b。这样,进入容纳腔22a的气流作用于待测物料3以调节待测物料3的温度后,气流可自容纳腔22a流向排气腔22c汇聚,并经排气孔221a排出排气腔22c。一方面,气流作用于待测物料3后,气流的热量传递至待测物料3,气流自身的温度降低,若不将气流排出容纳腔22a,温度较低的气流会影响后续进入容纳腔22a的温度较高的气流对待测物料3进行温度调节,温度调节效率较低。另一方面,若不将气流排出容纳腔22a,气流持续在容纳腔22a内进行汇聚,会增大容纳腔22a内的气压影响温度测试的精度,并且气压超过一定阈值后存在爆炸的可能。因此,本实施例通过排气腔22c供容纳腔22a排出气流,并将气流经排气孔221a排出排气腔22c,温度测试系统100调节待测物料3的温度的效率较高,温度测试精度较高,且能够避免容纳腔22a内气压过高而导致爆炸的情况发生。
其中,容纳腔22a形成于盖体222和底座221之间,可理解为盖体222的一部分和底座221的一部分共同形成容纳腔22a,或者,容纳腔22a单独形成于盖体222或底座221,本实施例对此不作具体限定,可根据实际情况进行选择。
进一步地,排气孔221a的孔径大于或等于进气口21a的孔径。在对待测物料3进行温度测试时,热流仪1向进气块211的进气口21a提供气流,气流进入分气槽211a后经过第二子气道21d和第一子气道21c分流进入多个容纳腔22a,并作用于各容纳腔22a内的待测物料3以调节待测物料3的温度后,气流从多个容纳腔22a流向排气腔22c汇聚,并经过排气孔221a排出排气腔22c,此时,若进气口21a的孔径大于排气孔221a的孔径,则气流进入进气口21a的速率大于排气孔221a排出气流的速率,这将造成气流在容纳腔22a和排气腔22c内不断积累,会增大容纳腔22a内的气压影响温度测试的精度,并且气压超过一定阈值后存在爆炸的可能。因此,本实施例的排气孔221a的孔径大于或等于进气口21a的孔径,这样,排气孔221a的排气速率大于或等于进气口21a的进气速率,气流能够及时排出,保持容纳腔22a和排气腔22c内的气压平衡,温度测试精度较高,且能够避免容纳腔22a内气压过高而导致爆炸的情况发生。
一些实施例中,盖体222包括固定盖2221以及活动盖2222,固定盖2221盖合连接于底座221以与底座221之间形成多个容纳腔22a,固定盖2221设有多个插孔22b,活动盖2222可活动连接于底座221以相对底座221以及固定盖2221盖合或打开,活动盖2222盖合于底座221时与底座221之间形成排气腔22c。这样,通过活动活动盖2222以使活动盖2222相对底座221打开,此时,能够将待测物料3放置于容纳腔22a,而后活动活动盖2222以使活动盖2222相对底座221盖合,此时,热流仪1提供的气流能够经分流组件21进入容纳腔22a内作用于待测物料3,从而对待测物料3进行温度测试。
其中,容纳腔22a形成于固定盖2221和底座221之间,可理解为固定盖2221的一部分和底座221的一部分共同形成容纳腔22a,或者,容纳腔22a单独形成于固定盖2221或底座221,本实施例对此不作具体限定,可根据实际情况进行选择。
示例性地,固定盖2221具有第一倾斜面2221a,活动盖2222具有与第一倾斜面2221a相匹配的第二倾斜面2222a,第一倾斜面2221a和/或第二倾斜面2222a设有第一密封件41,活动盖2222盖合于固定盖2221时,第一密封件41压合于第一倾斜面2221a和第二倾斜面2222a之间。一方面,通过第一密封件41密封第一倾斜面2221a和第二倾斜面2222a,能够提高活动盖2222和固定盖2221之间的气密性,减少热流仪1提供的气流外漏的风险,提高热流仪1提供的气流的利用率。另一方面,将固定盖2221和活动盖2222的配合面(即第一倾斜面2221a和第二倾斜面2222a)设计为倾斜面,活动盖2222活动至与固定盖2221盖合时,第二倾斜面2222a倾斜朝向第一倾斜面2221a运动,并与第一倾斜面2221a共同挤压第一密封件41,这一过程中,第一密封件41受到的作用力与第一密封件41的形变方向一致,能够避免在盖合过程中,第一密封件41受损或相对第一倾斜面2221a和第二倾斜面2222a发生位置移动的情况发生,有效保障第一密封件41的密封效果。
可选地,活动盖2222和底座221的盖合连接面之间设有第二密封件42,第二密封件42用于在活动盖2222和底座221盖合时密封排气腔22c。这样,通过第二密封件42密封活动盖2222和底座221的连接面,能够提高活动盖2222和底座221之间的气密性,排气腔22c和容纳腔22a的密封性较高,减少热流仪1提供的气流外漏的风险,提高热流仪1提供的气流的利用率。
一些实施例中,底座221设有第一连接部221b,活动盖2222设有第二连接部2222b,第二连接部2222b用于与第一连接部221b可拆卸式连接,以保持活动盖2222盖合于底座221。可选地,第一连接部221b和第二连接部2222b可为实现卡扣连接的卡扣部件或实现磁吸连接的磁吸部件等可拆卸连接的部件,本实施例对此不作具体限定。这样,活动盖2222盖合于底座221时,通过第一连接部221b与第二连接部2222b连接,能够对活动盖2222和底座221进行固定,保持活动盖2222与底座221之间的密封连接,避免气流将活动盖2222与底座221分离的情况发生,保障温度测试的正常进行,而当温度测试完成后,可通过解除第一连接部221b与第二连接部2222b的连接,此时,活动盖2222可相对底座221打开,取出待测物料3。当然,在进行温度测试前,也可通过解除第一连接部221b与第二连接部2222b的连接,使得活动盖2222可相对底座221打开,以便于将待测物料3放置于容纳腔22a。
示例性地,如图5和图6所示,测试箱22还包括测试板223,测试板223部分设于底座221和盖体222之间以用于与位于容纳腔22a的待测物料3电连接,测试板223的其余部分位于底座221和盖体222外。这样,通过测试板223与待测物料3电连接,当对待测物料3进行性能测试时,可将测试板223与对应的测试仪器进行电连接,使得位于容纳腔22a外的测试仪器获取位于容纳腔22a内的待测物料3的性能数据。其中,测试仪器可为误码仪6、功耗检测仪器、灵敏度检测仪器等,本实施例对此不作具体限定。
可选地,温度测试装置还包括承载板5以及误码仪6,测试箱22设于承载板5,误码仪6设于承载板5,误码仪6位于承载板5的一侧,误码仪6用于电连接于位于容纳腔22a内的待测物料3。具体地,误码仪6可电连接于测试板223,通过测试板223与待测物料3进行电连接。一方面,通过承载板5承载测试箱22和误码仪6,误码仪6布置于测试箱22的一侧,温度测试装置的整体结构较为紧凑,能够减小温度测试装置的整体体积。另一方面,通过误码仪6与待测物料3电连接,误码仪6能够对待测物料3的误码率进行测试,从而判断待测物料3在测试温度下的误码率是否符合要求。
一些实施例中,如图5和图7所示,温度感应组件23还包括支架232、滑块233以及多个安装座234,支架232连接于测试箱22,且位于插孔22b上方,各安装座234连接于各插孔22b,各安装座234设有温度探头231,滑块233滑动设于支架232和安装座234之间,滑块233可相对支架232滑动以带动安装座234相对插孔22b滑动,以使温度探头231接触位于容纳腔22a内的待测物料3。具体地,支架232设于固定盖2221,支架232用于为保持与固定盖2221固定,承载其他部件(例如滑块233、温度探头231等)并为其他部件提供相对固定盖2221活动的基准,即,其他部件相对固定盖2221的相对活动以相对支架232活动而产生。当待测物料3放置于容纳腔22a内时,可通过滑动滑块233,使滑块233朝靠近测试箱22的方向运动,此时,滑块233带动安装座234向插孔22b内的方向运动,设于安装座234的温度探头231随之运动并接触位于容纳腔22a内的待测物料3,这样,温度探头231能够对待测物料3进行温度检测。而当温度测试完成后,可通过滑动滑块233,使滑块233朝远离测试箱22的方向运动,此时,滑块233带动安装座234向插孔22b外的方向运动,设于安装座234的温度探头231随之运动,并与位于容纳腔22a内的待测物料3间隔开(未接触),这样,在将测试完成的待测物料3取出容纳腔22a时,待测物料3与温度探头231之间不互相干涉,能够避免温度探头231受到待测物料3的作用而受损的情况发生。
进一步地,如图7和图8所示,滑块233朝向测试箱22的一侧设有第一导向孔233a,测试箱22设有第一导向柱224,第一导向柱224连接于第一导向孔233a,第一导向柱224套设有第一弹性件71,第一弹性件71的两端分别抵止于测试箱22和滑块233。具体地,第一导向柱224可为凸设于测试箱22的凸柱或与设于测试箱22的螺柱、螺栓等。本实施例通过第一导向柱224连接第一导向孔233a,滑块233能够相对测试箱22发生滑动,并且,通过第一弹性件71的两端分别抵止于测试箱22和滑块233,当施加作用力使滑块233朝靠近测试箱22的方向运动以使安装座234带动温度探头231与待测物料3接触,此时,第一弹性件71受到压缩,温度测试装置对待测物料3进行温度测试。而当温度测试装置完成温度测试后,对滑块233施加的作用力撤去,此时,第一弹性件71恢复弹性形变,其弹性作用力作用于滑块233,使得滑块233自动向远离测试箱22的方向运动,带动安装座234和温度探头231运动,进而使得温度探头231与待测物料3隔开,实现自动分离,温度测试装置的自动化程度较高。
一些其他实施例中,第一导向柱224与第一弹性件71可分别独立设置。即,第一导向柱224主要是用于与第一导向孔223a连接,以实现滑块233相对测试箱22发生滑动,而第一弹性件71主要用于提供弹性作用力,第一导向柱224与第一弹性件71分别独立设置时,第一弹性件71可不套设于第一导向柱224。采用第一弹性件71套设于第一导向柱224的方案,能够利用第一导向柱224对第一弹性件71进行定位及弹性形变的方向进行导向,避免第一弹性件71在受到压缩时,向第一弹性件71的径向方向发生较大的形变,而影响第一弹性件71的使用寿命。
在本实施例中,再次参阅图5和图7,滑块233的一侧设有第一按压部233b,测试箱22设有第二按压部225,第二按压部225用于抵止于第一按压部233b以使滑块233相对支架232滑动。其中,第一按压部233b可为设于滑块233一侧的凸起结构(例如凸柱或凸块等),第二按压部225为设于测试箱22的折弯结构(例如L字型、T字型或弧状结构),从而第二按压部225能够与第一按压部233b相抵止。这样,通过第二按压部225按压滑块233,能够使得滑块233向靠近测试箱22的方向运动,以使安装座234带动温度探头231与位于容纳腔22a内的待测物料3接触,操作较为方便。
为了使得第二按压部225能够抵止于第一按压部233b以使滑块233相对支架232滑动,则第二按压部225应当相对第一按压部233b可发生活动。
作为一种可选的实施方式,第二按压部225活动连接于测试箱22,这样,可通过使得第二按压部225相对测试箱22活动,从而第二按压部225能够抵止于第一按压部233b以使滑块233相对支架232滑动。
作为另一种可选的实施方式,如图5所示,第二按压部225设于测试箱22的活动盖2222。这样,当活动盖2222相对固定盖2221活动并与底座221盖合时,第二按压部225随着活动盖2222运动并抵止于第一按压部233b以使滑块233相对支架232滑动,此时,滑动带动安装座234和温度探头231运动,进而使得温度探头231与待测物料3接触。而当活动盖2222相对固定盖2221活动并与底座221相对打开时,第二按压部225随着活动盖2222运动并与第一按压部233b分离,此时,滑块233在第一弹性件71的弹性作用下自动向远离测试箱22的方向运动,带动安装座234和温度探头231运动,进而使得温度探头231与待测物料3隔开,实现自动分离,并且活动盖2222相对底座221打开,可将待测物料3取离容纳腔22a。即,当将待测物料3放置于容纳腔22a后,在使活动盖2222相对底座221盖合的同时,能够使得温度探头231与待测物料3接触,而当使活动盖2222相对底座221打开以便于取出容纳腔22a内的待测物料3的同时,温度探头231能够自动与待测物料3分离,这样,能够简化温度测试操作、提高温度测试效率。
一些实施例中,如图7和图8所示,安装座234设有第二导向柱234a,滑块233滑动连接于第二导向柱234a,第二导向柱234a套设有第二弹性件72,第二弹性件72的两端分别抵止于安装座234和滑块233。这样,当滑块233向靠近测试箱22的方向滑动时,第二弹性件72受到滑块233的作用推动安装座234带动温度探头231与容纳腔22a内的待测物料3接触,若温度探头231与待测物料3接触后,由于行程公差或尺寸公差,此时,滑块233仍存在继续向靠近测试箱22的方向滑动的情况,则通过第二弹性件72收缩,能够为滑块233继续运动提供行程,保持安装座234和温度探头231位置不变,进而避免滑块233继续带动安装座234和温度探头231运动导致温度探头231与容纳腔22a内的待测物料3相互挤压而导致损坏温度探头231和待测物料3的情况发生。并且,在滑块233向远离测试箱22的方向滑动以使安装座234带动温度探头231与待测物料3分离时,第二弹性件72能够恢复弹性形变,恢复滑块233与安装座234之间的距离,以便于下一次温度测试的操作。
可选地,第二导向柱234a可为凸设于安装座234的的凸柱或与设于安装座234的螺柱、螺栓等。如图7和图8所示,本实施例以第二导向柱234a为螺柱为例进行说明,则第二导向柱234a的螺纹部分(螺柱上设有螺纹的一段)固定连接于安装座234对应的螺纹孔,滑块233滑动连接于第二导向柱234a的光杆部分(螺柱上未设置螺纹的一段),第二导向柱234a的螺帽(即螺杆的头部)抵接于滑块233背离安装座234的一面,能够实现限位作用。
一些其他实施例中,第二导向柱234a与第二弹性件72可分别独立设置。即,第二导向柱234a主要是用于与滑块233连接,以实现滑块233相对安装座234发生滑动,而第二弹性件72主要用于提供弹性作用力,第二导向柱234a与第二弹性件72分别独立设置时,第二弹性件72可不套设于第二导向柱234a。采用第二弹性件72套设于第二导向柱234a的方案,能够利用第二导向柱234a对第二弹性件72进行定位及弹性形变的方向进行导向,避免第二弹性件72在受到压缩时,向第二弹性件72的径向方向发生较大的形变,而影响第二弹性件72的使用寿命。
本发明实施例一提供了一种温度测试系统100,通过分流组件21的进气口21a与热流仪1的出气口1a连通以接收热流仪1的气流,并经分流组件21的多个气道21b将气流分别流向测试箱22的多个容纳腔22a。同时,利用测试箱22的多个插孔22b插设温度感应组件23的多个温度探头231,利用多个温度探头231检测位于各容纳腔22a内的待测物料3的温度,以便于调节热流仪1的气流。这样,一个热流仪1输出的气流能够同时调节多个容纳腔22a内的多个待测物料3的温度,从而对多个待测物料3进行温度测试,测试效率较高,且热流仪1的利用率较高。
实施例二
请参阅图9,为本发明实施例二提供的另一种温度测试系统100,本发明实施例二的温度测试系统100与实施例一的温度测试系统100的区别之处在于:
温度测试系统100包括多个温度测试装置以及分气管道8,分气管道8连接于热流仪1的出气口以及多个温度测试装置的进气口,用于接收热流仪1的出气口的气流并分流至多个温度测试装置的进气口。
本实施例通过分气管道8将热流仪1的气流分流至多个温度测试装置,这样,一个热流仪1能够为多个温度测试装置进行温度测试提供气流,提高热流仪1的利用率。且多个温度测试装置能够增加同时进行温度测试的待测物料的数量,提高温度测试效率。
可选地,多个温度测试装置对待测物料的测试种类可为相同或不同,相同时,多个温度测试装置可增加同时进行温度测试的待测物料3的数量,而当多个温度测试装置的测试种类不同时,各温度测试装置的分别测试待测物料3的不同性能。例如,当一批待测物料放置于其中一温度测试装置中进行对误码率进行测试时,另一批待测物料可放置于另一温度测试装置中进行灵敏度测试,在完成测试后,可更换两批待测物料的位置,从而更换测试种类,无需更换温度测试装置的测试种类(更换时需要改变测试板以及与其连接的测试仪器),提高温度测试效率。
本发明实施例二提供了一种温度测试系统100,能够同时对多个光模块进行温度测试,测试效率较高,且热流仪1的利用率较高。
以上对本发明施例公开的一种温度测试装置及温度测试系统进行了详细的介绍,本文应用了个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的一种温度测试装置及温度测试系统与其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (14)

1.一种温度测试装置,其特征在于,包括:
分流组件,所述分流组件设有进气口以及多个气道,所述进气口用于与热流仪的出气口连通,所述气道连通于所述进气口;
测试箱,所述测试箱设有多个容纳腔以及多个插孔,各所述容纳腔连通于各所述气道,所述容纳腔用于容纳待测物料,各所述插孔连通于各所述容纳腔;以及
温度感应组件,所述温度感应组件包括多个温度探头,各所述温度探头插设于各所述插孔,用于检测各所述插孔对应的所述容纳腔内的所述待测物料的温度。
2.根据权利要求1所述的温度测试装置,其特征在于,所述分流组件包括进气块以及叠置于所述进气块的分流块,所述进气块朝向所述分流块的一侧设有分气槽,所述进气块背离所述分流块的一侧设有所述进气口,所述进气口还连通于所述分气槽,所述气道包括多个第一子气道,多个所述第一子气道设于所述分流块,多个所述第一子气道连通于所述分气槽,各所述容纳腔连通于各所述第一子气道。
3.根据权利要求2所述的温度测试装置,其特征在于,所述分流组件还包括调节块以及多个调节部件,所述调节块设于所述进气块和所述分流块之间,所述气道还包括与所述分气槽连通的多个第二子气道,多个所述第二子气道设于所述调节块,各所述第二子气道连通于各所述第一子气道,所述调节块的一侧设有多个连接孔,各所述连接孔连通于各所述第二子气道,各所述调节部件连接于各所述连接孔,用于调节各所述第二子气道的气流量。
4.根据权利要求1所述的温度测试装置,其特征在于,所述测试箱包括底座以及盖体,所述盖体盖合连接于所述底座以与所述底座之间形成多个所述容纳腔以及与多个所述容纳腔连通的排气腔,所述底座对应所述排气腔的位置设置有与所述排气腔连通的排气孔,所述盖体设有多个所述插孔。
5.根据权利要求4所述的温度测试装置,其特征在于,所述盖体包括固定盖以及活动盖,所述固定盖盖合连接于所述底座以与所述底座之间形成多个所述容纳腔,所述固定盖设有多个所述插孔,所述活动盖可活动连接于所述底座以相对所述底座以及所述固定盖盖合或打开,所述活动盖盖合于所述底座时与所述底座之间形成所述排气腔。
6.根据权利要求5所述的温度测试装置,其特征在于,所述固定盖具有第一倾斜面,所述活动盖具有与所述第一倾斜面相匹配的第二倾斜面,所述第一倾斜面和/或所述第二倾斜面设有第一密封件,所述活动盖盖合于所述固定盖时,所述第一密封件压合于所述第一倾斜面和所述第二倾斜面之间,和/或,所述活动盖和所述底座的盖合连接面之间设有第二密封件,所述第二密封件用于在所述活动盖和所述底座盖合时密封所述排气腔。
7.根据权利要求5所述的温度测试装置,其特征在于,所述底座设有第一连接部,所述活动盖设有第二连接部,所述第二连接部用于与所述第一连接部可拆卸式连接,以保持所述活动盖盖合于所述底座。
8.根据权利要求4所述的温度测试装置,其特征在于,所述测试箱还包括测试板,所述测试板部分设于所述底座和所述盖体之间以用于与位于所述容纳腔的待测物料电连接,所述测试板的其余部分位于所述底座和所述盖体外。
9.根据权利要求1至8任一项所述的温度测试装置,其特征在于,所述温度感应组件还包括支架、滑块以及多个安装座,所述支架连接于所述测试箱,且位于所述插孔上方,各所述安装座连接于各所述插孔,各所述安装座设有所述温度探头,所述滑块滑动设于所述支架和所述安装座之间,所述滑块可相对所述支架滑动以带动所述安装座相对所述插孔滑动,以使所述温度探头接触位于所述容纳腔内的所述待测物料。
10.根据权利要求9所述的温度测试装置,其特征在于,所述滑块朝向所述测试箱的一侧设有第一导向孔,所述测试箱设有第一导向柱,所述第一导向柱连接于所述第一导向孔,所述第一导向柱套设有第一弹性件,所述第一弹性件的两端分别抵止于所述测试箱和所述滑块。
11.根据权利要求9所述的温度测试装置,其特征在于,所述滑块的一侧设有第一按压部,所述测试箱设有第二按压部,所述第二按压部用于抵止于所述第一按压部以使所述滑块相对所述支架滑动。
12.根据权利要求9所述的温度测试装置,其特征在于,所述安装座设有第二导向柱,所述滑块滑动连接于所述第二导向柱,所述第二导向柱套设有第二弹性件,所述第二弹性件的两端分别抵止于所述安装座和所述滑块。
13.一种温度测试系统,其特征在于,所述温度测试系统包括热流仪以及如权利要求1至12任一项所述的温度测试装置,所述热流仪具有所述出气口,所述出气口连通于所述分流组件的所述进气口。
14.根据权利要求13所述的温度测试系统,其特征在于,所述温度测试系统包括多个所述温度测试装置以及分气管道,所述分气管道连接于所述热流仪的出气口以及多个所述温度测试装置的所述进气口,用于接收所述热流仪的出气口的气流并分流至多个所述温度测试装置的所述进气口。
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