CN115201501A - 一种分析仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种分析仪，其包括架体、旋转机构、机械臂、耦合机构和旋转码盘，旋转机构设于架体；机械臂穿设于架体，并与旋转机构连接，旋转机构驱动机械臂转动。耦合机构包括第一耦合组件和第二耦合组件，第一耦合组件和第二耦合组件均安装于架体，并呈间隔设置。旋转码盘套设于机械臂，并与旋转机构间隔设置，旋转码盘的外周设有凸出于旋转码盘外缘的定位结构和检测结构，其中，第一耦合组件用于检测定位结构以使机械臂复位，第二耦合组件用于探测检测结构以使机械臂转动至不同工作位置。本发明技术方案旨在改进旋转码盘的结构，减少旋转码盘的加工精度和加工成本，同时避免双光线耦合器断供带来的生产问题，保证了生产线的高效运行。

Description

一种分析仪

技术领域

本发明涉及生物分析技术领域，特别涉及一种分析仪。

背景技术

全自动生化分析仪中的三维精密运动机械臂能够同时实现机械臂的旋转、升降运动，是生化分析仪器关键部件之一，由于其可替代手工操作进行自动加样、取样、移液等动作，所以在旋转时对其定位要求极高。

现有的分析仪中机械臂的旋转定位主要通过码盘和耦合器配合实现旋转定位，其中耦合器发出两束感应光线，通过两束感应光线检测码盘的豁口来定位和移动机械臂。这种耦合器为厂家制造，将两个光耦封装在同一个塑料壳内，光耦位置相对固定无法更改，从而在加工码盘豁口时，内外圈豁口沿直径方向的相对位置必须与光耦位置匹配，导致加工精度要求高，从而加工成本增加。同时，双感应光线的耦合器较单束光线的耦合器价格贵，目前市场上采购比较困难，增加成本的同时面临断供的风险。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种分析仪，旨在改进旋转码盘的结构，减少旋转码盘的加工精度和加工成本，同时避免双光线耦合器断供带来的生产问题，保证了生产线的高效运行。

为实现上述目的，本发明提出的分析仪包括：

架体；

旋转机构，所述旋转机构设于所述架体；

机械臂，所述机械臂穿设于所述架体，并与所述旋转机构连接，所述旋转机构驱动所述机械臂转动；

耦合机构，所述耦合机构包括第一耦合组件和第二耦合组件，所述第一耦合组件和所述第二耦合组件均安装于所述架体，并呈间隔设置；以及

旋转码盘，所述旋转码盘套设于所述机械臂，并与所述旋转机构间隔设置，所述旋转码盘的外周设有凸出于所述旋转码盘外缘的定位结构和检测结构，

其中，所述第一耦合组件用于检测所述定位结构以使所述机械臂复位，所述第二耦合组件用于探测所述检测结构以使机械臂转动至不同工作位置。

可选地，所述定位结构为定位凸起，所述检测结构包括多个检测缺口；

和/或，所述定位结构为定位缺口，所述检测结构包括多个检测凸起。

可选地，所述第一耦合组件包括第一耦合器和第一安装座，所述第一安装座安装于所述架体，所述第一耦合器穿设于所述第一安装座；

所述第二耦合组件包括第二耦合器和第二安装座，所述第二安装座安装于所述架体，所述第二安装座与所述第一安装座间隔设置，所述第二耦合器穿设于所述第二安装座。

可选地，所述第一耦合器包括设于所述第一安装座的第一发送部和第一接收部，所述第一发送部和所述第一接收部之间设有第一间隙，以使所述定位结构穿过所述第一间隙；

和/或，所述第二耦合器包括穿设于所述第二安装座的第二发送部和第二接收部，所述第二发送部和所述第二接收部之间设有第二间隙，所述旋转码盘的周缘位于所述第二间隙内，以探测所述检测结构。

可选地，所述第一安装座可拆卸安装于所述架体；

和/或，所述第二安装座可拆卸安装于所述架体；

和/或，所述旋转码盘为圆形结构；

和/或，所述定位结构与所述旋转码盘位于同一平面设置。

可选地，所述架体设有第一限位件，所述旋转机构的周缘设有第二限位组件，

其中，所述旋转机构转动时，所述第二限位组件与所述第一限位件限位抵接。

可选地，所述分析仪具有两个或两个以上的所述机械臂，所述第二限位组件包括安装于所述旋转机构上的限位环和第二限位件，所述限位环上开设有至少两个限位孔，至少一个所述限位孔安装有所述第二限位件；所述旋转机构转动时，所述第二限位件与所述第一限位件限位抵接。

可选地，所述限位环设有至少三个所述限位孔，至少两个所述限位孔装设有所述第二限位件，所述第一限位件为两个，两个所述第一限位件间隔设置；

一所述第二限位件与一所述第一限位件限位抵接时，限定所述旋转机构的第一极限位置；另一所述第二限位件与另一所述第一限位件限位抵接时，限定所述旋转机构的第二极限位置。

可选地，所述第二限位件有两个，所述限位环设有第二限位孔，一个所述第二限位件安装在所述第二限位孔上，另一所述第二限位件安装在其他任一所述限位孔上。

可选地，所述机械臂包括两组机械臂，所述限位环的端面包括正面和反面；

所述限位环正面朝上时，所述第二限位组件对一组所述机械臂限位；所述限位环反面朝上时，所述第二限位组件对另一组所述机械臂限位。

可选地，所述第一限位件为螺钉；

和/或，所述第二限位件为螺钉。

可选地，所述限位环还包括安装螺钉，所述限位环通过所述安装螺钉和所述第二限位件安装在所述旋转机构上。

本发明技术方案通过在架体上架设旋转机构，机械臂穿设于架体，并与旋转机构连接，以使旋转机构可以驱动机械臂转动。进一步地，在架体上设有耦合机构，耦合机包括间隔设置的第一耦合组件和第二耦合组件，同时在机械臂上套设旋转码盘，旋转码盘设有定位结构和多个检测结构，第一耦合组件检测定位结构以使机械臂复位，第二耦合组件用于探测检测结构以使机械臂转动至不同工作位置。本发明通过改进旋转码盘的结构，同时设置两个耦合组件对旋转码盘的改进结构进行检测和判断，并根据两个耦合组件反馈的信息实现复位机械臂和移动机械臂至工作位置，降低了旋转码盘的加工精度和成本，同时降低了双光线耦合器的购买成本和断货风险，从而保证了产品生产线的高效运行。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明的分析仪一实施例的结构示意图；

图2为图1中A处的局部放大图；

图3为本发明的旋转码盘一实施例的结构示意图；

图4为本发明的限位环正面和反面的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				100	分析仪	211	第一限位件
1	耦合机构	23	机主体
				11	第一耦合组件	3	旋转机构
111	第一耦合器	31	第二限位组件
				111a	第一发送部	311	限位环
111c	第一接收部	3111	第二限位件
				113	第一安装座	3113	第二限位孔
13	第二耦合组件	4	机械臂
				131	第二耦合器	5	旋转码盘
133	第二安装座	51	定位结构
				2	架体	53	检测结构
21	安装台

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

现有的分析仪中机械臂的旋转定位主要通过码盘和耦合器配合实现旋转定位，其中耦合器发出两束感应光线，通过两束感应光线检测码盘的豁口来定位和移动机械臂。这种耦合器为厂家制造，耦合器光线位置相对固定无法更改，从而在加工码盘豁口时，内外圈豁口沿直径方向的相对位置必须与耦合器匹配，导致加工精度要求高，从而加工成本增加。同时，双感应光线的耦合器较单束光线的耦合器价格贵，目前市场上采购比较困难，增加成本的同时面临断供的风险。

为了解决上述问题，本发明提出一种分析仪。

结合参阅图1和图2，在本发明的一实施例中，该分析仪100包括架体2、旋转机构3、机械臂4、耦合机构1和旋转码盘5。旋转机构3设于架体2上；机械臂4穿设于架体2，并与旋转机构3连接，旋转机构3驱动机械臂4转动；耦合机构1包括第一耦合组件11和第二耦合组件13，第一耦合组件11和第二耦合组件13均安装于架体2，并呈间隔设置；以及旋转码盘5套设于机械臂4，并与旋转机构3间隔设置，旋转码盘5的外周设有凸出于旋转码盘5外缘的定位结构51和多个检测结构53，其中，第一耦合组件11用于检测定位结构51以使机械臂4复位，第二耦合组件13用于探测检测结构53以使机械臂4转动至不同工作位置。

本发明技术方案通过在架体2上架设旋转机构3，机械臂4穿设于架体2，并与旋转机构3连接，以使旋转机构3可以驱动机械臂4转动。进一步地，在架体2上设有耦合机构1，耦合机包括间隔设置的第一耦合组件11和第二耦合组件13，同时在机械臂4上套设旋转码盘5，旋转码盘5设有定位结构51和多个检测结构53，第一耦合组件11检测定位结构51以使机械臂4复位，第二耦合组件13用于探测检测结构53以使机械臂4转动至不同工作位置。本发明通过改进旋转码盘5的结构，同时设置两个耦合组件对旋转码盘5的改进结构进行检测和判断，并根据两个耦合组件反馈的信息实现复位机械臂4和移动机械臂4至工作位置，降低了旋转码盘5的加工精度和成本，同时降低了双光线耦合器的购买成本和断货风险，从而保证了产品生产线的高效运行。

结合参阅图2和图3，在本发明的一实施例中，定位结构51为定位凸起，检测结构53包括多个检测缺口；和/或，定位结构51为定位缺口，检测结构53包括多个检测凸起。

定位结构51可以为圆弧形凸起，此时可以设置检测结构53为多个检测缺口。定位结构凸出于旋转码盘5的外缘，并与旋转码盘5为同一平面设置，从而使得旋转码盘5在随机械臂4转动时，定位结构51也可以随旋转码盘5在同一平面转动，以使定位结构51可以穿过第一间隙。在定位结构51穿过第一间隙时，第一发射部发出的光线被定位结构51挡住，从而第一接收部111c没有接收到来自于第一发射部发出的光信号，此时控制系统即可判断机械臂4已经复位到原始位置，可以进行样本分析流程的下一步骤。在其他实施例中，定位结构51也可以为其他形状，例如方形，梯形等，以对应不同光束的光信号，在此不作出限制。因为定位结构51凸出于旋转码盘5设置，且两个耦合器相对于码盘的位置是一内一外，所以，码盘外圈有可能碰到内侧的第一耦合器，在一实施例中，可以对外圈的圆弧凸起进行限位，在架体2上安装两个下端加工有螺纹的不锈钢圆柱，确保旋转机构3旋转时，码盘上的圆弧凸起在两根圆柱范围内，达到对圆弧凸起机械限位的目的。第二耦合器131用于感应旋转码盘5上的检测结构53，旋转码盘5由机械臂4复位后的原始位置开始转动，其周缘位于第二间隙内，这个过程中第二耦合器131的第二发射部发出的光线始终被旋转码盘5挡住，直到到达第一个检测缺口，此时第二接收部感应到了光信号，控制系统判断机械臂4旋转到了第一个工作位置，从而可以开始样本分析流程的下一步骤，通过第二耦合器131与旋转码盘5的缺口配合，以使机械臂4可以旋转到不同工作位置，缺口的面积可以根据第二耦合器131发出光线的位置来调整，因第二耦合器131相对于第一耦合器111的位置可以根据不同机械臂工作位置的不同进行调整，降低了缺口的加工成本，可以在旋转码盘5上加工多个检测缺口，以对应机械臂4的不同工作位置，如此，加工精度要求较低，降低了加工成本。在本发明的一实施例中，也可以设置定位结构51为定位缺口，此时设置检测结构53为检测凸部。

参阅图2，在本发明的一实施例中，第一耦合组件11包括第一耦合器111和第一安装座113，第一安装座113安装于架体2，第一耦合器111穿设于第一安装座113；第二耦合组件13包括第二耦合器131和第二安装座133，第二安装座133安装于架体2，第二安装座133与第一安装座113间隔设置，第二耦合器131穿设于第二安装座133。

第一耦合组件11包括第一耦合器111和第一安装座113，第一耦合器111为一个塑料壳内封装有一个光耦的耦合器，其可以发出一束感应光线，发出的光信号可以检测定位结构51，同样的，第二耦合器131也为一个塑料壳内封装有一个光耦的耦合器，第二耦合器131发出的光信号可以探测检测结构53，对比两个光耦均封装在塑料壳内的双光线耦合器，设置两个耦合组件降低了采购成本，且避免了双光线耦合器可能断供的风险，保证了产品生产线的高效运行。将光耦分别设于两个安装座上，第一安装座113与第二安装座133的相对位置可调，从而使得旋转码盘5的定位结构51与检测结构53的相对位置也可以根据机械臂4工作位置的实际需要进行调整，用户不需要再根据双光线耦合器的光耦相对位置去匹配加工旋转码盘5的缺口，降低了旋转码盘5的加工精度，减少了加工成本。第一安装座113可以通过螺钉结构可拆卸的安装于架体2上，方便调整第一安装座113的位置以及装置整体的加工装配，在另一实施例中，第一安装座113也可以与架体2一体成型设置，进一步增强结构的紧凑性，使第一安装座113的连接更加稳固，在其他实施例中，在其他实施例中，第一安装座113也可以通过其他连接结构与架体2连接，在此不作出限制。可以理解的，第二安装座133与第一安装座113位间隔设置，第二安装座133可以通过螺钉结构与架体2连接，方便第二安装座133的拆装，从而可以根据机械臂4的不同工作位置调整第二耦合器131与检测结构53的相对位置，以使分析仪100可以适用更多工作场景，在其他实施例中，第二安装座也可以通过其他连接结构与架体2连接。

参阅图2，在本发明的一实施例中，第一耦合器111包括设于第一安装座113的第一发送部111a和第一接收部111c，第一发送部111a和第一接收部111c之间设有第一间隙，以使定位结构51穿过第一间隙；和/或，第二耦合器131包括穿设于第二安装座133的第二发送部和第二接收部，第二发送部和第二接收部之间设有第二间隙，旋转码盘5的周缘位于第二间隙内，以探测检测结构53。

第一耦合器111包括有封装于其中的光耦，光耦从第一发射部发出光线，经过第一间隙后到达第一接收部111c，定位结构51可以穿过第一间隙，当定位结构51位于第一间隙时，第一发射部发出的光信号即被定位结构51阻挡，无法到达第一接收部111c，此时控制系统即可判断出机械臂4已复位；可以理解的，第二耦合器131包括有封装于其中的光耦，光耦从第二发射部发出光线，旋转码盘5的外缘在第二间隙内转动，在检测结构53转动到第二间隙时，第二接收部可以接收到第二发射部发出的光信号，此时控制系统判断机械臂4到达工作位置，可以进行样本分析的下一步骤。

结合参阅图2和图3，在本发明的一实施例中，第一安装座113可拆卸安装于架体2；和/或，第二安装座133可拆卸安装于架体2；和/或，旋转码盘5为圆形结构；定位结构51与旋转码盘5位于同一平面设置。

参阅图2，在本发明的一实施例中，架体2设有第一限位件211，旋转机构3的周缘设有第二限位组件31，其中，旋转机构3转动时，第二限位组件31与第一限位件211限位抵接。

架体2包括安装台21和机主体23，安装台21可以通过螺钉结构与机主体23连接，旋转机构3的上端连接安装台，旋转机构3的下端连接机主体23。安装台21上还可以设置第一限位件211，同时旋转机构3的周缘设置第二限位组件31，通过第一限位件211与第二限位组件31的配合实现对机械臂4的极限转动位置进行限位，第一限位件211可以选择较长的螺钉，第二限位组件31包括环绕设于旋转机构3的限位环311，限位环311可以设置在旋转机构3上靠近安装台21的一侧，在限位环311上设置第二限位件3111，第二限位件3111可以在旋转机构3转动到机械臂4的极限位置时与第一限位件211抵接，从而防止光耦失效时机械臂4旋转过程中与分析仪100的其他组件发生碰撞，造成损坏。在一实施例中，限位环311也可以设置在旋转机构3靠近机主体23的一侧，此时可以第一限位件211可以安装在机主体23上，第二限位件3111装设在限位环311上，在旋转机构3转动时第一限位件211可以与第二限位件3111抵接。第一限位件211可以为螺钉结构，螺钉安装在安装台21上且下端伸出安装台21足够长，以使第一限位件211与第二限位组件31可以限位抵接，在其他实施例中，第一限位件211也可以为其他结构，在此不作出限制。同样的，第二限位件3111可以为螺钉，第二限位件3111安装在限位环311外周，并通过螺钉头部与第一限位件211的下端限位抵接，实现对机械臂4旋转的限位，避免机械臂4出现损坏。

参阅图2，在本发明的一实施例中，分析仪100具有两个或两个以上的机械臂4，第二限位组件31包括安装于旋转机构上的限位环311和第二限位件3111，限位环311上开设有至少两个限位孔，至少一个限位孔安装有第二限位件3111；旋转机构3转动时，第二限位件3111与第一限位件211限位抵接。

可以理解的是，分析仪100具有两个或两个以上的机械臂4，因此在限位环311上开设多个限位孔，对应不同机械臂4所需要的极限位置，在限位环311上开设对应的限位孔并安装第二限位件3111，满足分析仪100上不同功能机械臂4的限位需求。

结合参阅图2和图4，在本发明的一实施例中，限位环311设有至少三个限位孔，至少两个限位孔装设有第二限位件3111，第一限位件211为两个，两个第一限位件211间隔设置；一第二限位件3111与一第一限位件211限位抵接时，限定旋转机构3的第一极限位置；另一第二限位件3111与另一第一限位件211限位抵接时，限定旋转机构3的第二极限位置。

通过两个第一限位件211与两个第二限位件3111对机械臂4两端的极限位置进行限定，更好地保护样本分析设备。

结合参阅图2和图4，在本发明的一实施例中，第二限位件3111有两个，限位环311设有第二限位孔3113，一个第二限位件3111安装在第二限位孔3113上，另一第二限位件3111安装在其他任一限位孔上。

分析仪100具有多个机械臂4，可以将多个机械臂4的限位螺纹孔都加工在同一个限位环311上，同时为减少螺纹孔数量，规定第二限位孔3113为共用孔，即每个机械臂4上共用孔都需要安装第二限位件3111，再根据不同的机械臂4的实际旋转范围在对应的限位孔上安装第二限位件3111。可以在限位环311外周开设多个间隔设置的限位孔，其可以根据机械臂4转动的极限位置加工，从而另一个第二限位件3111的位置可以自由调整，进一步减少加工成本。

结合参阅图2和图4，在本发明的一实施例中，机械臂4包括两组机械臂4，限位环311的端面包括正面和反面；限位环311正面朝上时，第二限位组件31对一组机械臂4限位；限位环311反面朝上时，第二限位组件31对另一组机械臂4限位。

进一步地，机械臂4的限位位置相对集中，从而限位孔也会集中在一侧，会导致多个限位孔之间距离过近，不便于加工，在本发明的一实施例中，可以将分析仪100通常连接的试剂针对应的限位环与采样针对应的限位环进行区分，在共用孔的前提下，可以在限位环的正面加工样本针的限位孔，限位环的反面加工试剂针的限位孔；当然，也可以在限位环的正面加工试剂针的限位孔，反面加工样本针的限位孔，如此可以增大限位孔之间的距离，方便限位环的加工，从实际方案来看，可以均匀分布限位孔，降低加工精度，减少加工成本。

参阅图2，在本发明的一实施例中，第一限位件211为螺钉；和/或，第二限位件3111为螺钉。

参阅图2，在本发明的一实施例中，所述限位环311还包括安装螺钉，所述限位环311通过所述安装螺钉和所述第二限位件311安装在所述旋转机构上。

在本发明的一实施例中，在一个限位环311可能不能适用于多个机械臂4的极限位置的情况下，可以在旋转机构3外周装设多个限位环311，限位环311对应不同机械臂4开设不同位置的限位孔，从而可以调整第二限位件3111的位置，实现对不同机械臂4机械限位的目的。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (11)

1.一种分析仪，其特征在于，所述分析仪包括：

架体；

旋转机构，所述旋转机构设于所述架体；

机械臂，所述机械臂穿设于所述架体，并与所述旋转机构连接，所述旋转机构驱动所述机械臂转动；

耦合机构，所述耦合机构包括第一耦合组件和第二耦合组件，所述第一耦合组件和所述第二耦合组件均安装于所述架体，并呈间隔设置；以及

旋转码盘，所述旋转码盘套设于所述机械臂，并与所述旋转机构间隔设置，所述旋转码盘的外周设有定位结构和检测结构，

其中，所述第一耦合组件用于检测所述定位结构以使所述机械臂复位，所述第二耦合组件用于探测所述检测结构以使机械臂转动至不同工作位置。

2.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，所述定位结构为定位凸起，所述检测结构包括多个检测缺口；

和/或，所述定位结构为定位缺口，所述检测结构包括多个检测凸起。

3.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于，所述第一耦合组件包括第一耦合器和第一安装座，所述第一安装座安装于所述架体，所述第一耦合器包括设于所述第一安装座的第一发送部和第一接收部，所述第一发送部和所述第一接收部之间设有第一间隙，以探测所述定位结构；

所述第二耦合组件包括第二耦合器和第二安装座，所述第二安装座安装于所述架体，所述第二安装座与所述第一安装座间隔设置，所述第二耦合器包括穿设于所述第二安装座的第二发送部和第二接收部，所述第二发送部和所述第二接收部之间设有第二间隙，以探测所述检测结构。

4.如权利要求3所述的分析仪，其特征在于，所述第一安装座可拆卸安装于所述架体；

和/或，所述第二安装座可拆卸安装于所述架体；

和/或，所述旋转码盘为圆形结构；

和/或，所述定位结构与所述旋转码盘位于同一平面设置。

5.如权利要求1至4中任一项所述的分析仪，其特征在于，所述架体设有第一限位件，所述旋转机构的周缘设有第二限位组件，

其中，所述旋转机构转动时，所述第二限位组件与所述第一限位件限位抵接。

6.如权利要求5所述的分析仪，其特征在于，所述分析仪具有两个或两个以上的所述机械臂，所述第二限位组件包括安装于所述旋转机构上的限位环和第二限位件，所述限位环上开设有至少两个限位孔，至少一个所述限位孔安装有所述第二限位件；所述旋转机构转动时，所述第二限位件与所述第一限位件限位抵接。

7.如权利要求6所述的分析仪，其特征在于，所述限位环设有至少三个所述限位孔，至少两个所述限位孔装设有所述第二限位件，所述第一限位件为两个，两个所述第一限位件间隔设置；

一所述第二限位件与一所述第一限位件限位抵接时，限定所述旋转机构的第一极限位置；另一所述第二限位件与另一所述第一限位件限位抵接时，限定所述旋转机构的第二极限位置。

8.如权利要求7所述的分析仪，其特征在于，所述第二限位件有两个，所述限位环设有第二限位孔，一个所述第二限位件安装在所述第二限位孔上，另一所述第二限位件安装在其他任一所述限位孔上。

9.如权利要求8所述的分析仪，其特征在于，所述机械臂包括两组机械臂，所述限位环的端面包括正面和反面；

所述限位环正面朝上时，所述第二限位组件对一组所述机械臂限位；所述限位环反面朝上时，所述第二限位组件对另一组所述机械臂限位。

10.如权利要求5所述的分析仪，其特征在于，所述第一限位件为螺钉；

和/或，所述第二限位件为螺钉。

11.如权利要求10所述的分析仪，其特征在于，所述限位环还包括安装螺钉，所述限位环通过所述安装螺钉和所述第二限位件安装在所述旋转机构上。

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