CN115200537A - 一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及晶体检测领域，具体涉及一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法，包括立板，立板的侧面设有滑槽；至少一个设置于滑槽内的滑块、与滑块的前侧面固定连接的光滑度测量仪，滑块与滑槽滑动连接；用于驱动滑块在滑槽中作升降运动的升降部；正对于光滑度测量仪的检测头的夹持部，夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块一一对应，夹持部包括对称设于滑槽两侧的第一气缸、与第一气缸的伸缩杆固定连接的压板，两个压板相对设置；与第一气缸连接的转动部，滑槽的侧壁设有内侧槽，转动部用于带动第一气缸转动，且转动部设于内侧槽内。通过本发明，在对晶体的光滑度进行检测时，可有效减少人体接触晶体的次数，减小了晶体被损伤的风险。

Description

一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法

技术领域

本发明涉及晶体检测领域，尤其涉及一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法。

背景技术

晶体能实现电、磁、光、声和力等的交互作用和转换，是近代科学技术发展中不可缺少的重要材料，在晶体生产后，需要对光滑度进行测量，对于四棱柱形的晶体（大部分情况下是长方体或正方体），在对光滑度进行测量时，一般会通过光滑度测量仪进行测量，但是本申请人发现，在光滑度测量仪对晶体进行测量时，每次在对晶体的一个面测量完成后，需要人工将晶体的另一个面调整至正对光滑度测量仪才可以继续测量，这样人体需要不断的接触晶体，增加了晶体被损伤的风险。

在申请号为CN202122628383.5，专利名称为一种玻璃表面光滑度检测装置的专利中，包括放置底座，放置底座的上端固定连接有固定架，固定架的上端安装有除尘箱，除尘箱的下端固定有多个环形分布的吸气管，多个吸气管的下端均设置有吸盘，固定架的下端安装有光滑度激光检测头，光滑度激光检测头电性连接有显示面板，显示面板安装在固定架的侧壁上，放置底座的下端固定连接有电机，放置底座的上端开设有圆孔，电机动力输出端固定连接有转轴，可以实现同时对多件产品进行检测，但未解决上述技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法，以解决在对晶体进行测量时，人体需要不断的接触晶体的问题。

基于上述目的，本发明提供了一种晶体表面光滑度检测设备，包括检测平台及设于所述检测平台上的立板，所述立板的侧面设有滑槽，所述检测设备还包括：

至少一个设置于所述滑槽内的滑块、与所述滑块的前侧面固定连接的光滑度测量仪，所述滑块与所述滑槽滑动连接；

用于驱动滑块在滑槽中作升降运动的升降部；

正对于所述光滑度测量仪的检测头的夹持部，所述夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块一一对应，所述夹持部包括对称设于滑槽两侧的第一气缸、与所述第一气缸的伸缩杆固定连接的压板，两个所述压板相对设置；

与第一气缸连接的转动部，所述滑槽的侧壁设有内侧槽，所述转动部用于带动第一气缸转动，且转动部设于所述内侧槽内。

进一步的，所述滑块设有两个，且两个所述滑块上的光滑度测量仪相对设置，所述升降部在驱动滑块沿着滑槽运动时，两个滑块的运动方向相反。

进一步的，所述转动部包括：

位于内侧槽内的转板，所述第一气缸与所述转板固定连接，所述第一气缸的中轴线与转板的中轴线重合；

一端固定于内侧槽侧壁的若干稳定杆，所述稳定杆的另一端与设于转板其中一个端面的圆环槽转动连接；

用于驱动转板转动的转动组件。

进一步的，所述转动组件包括：

设于内侧槽内的固定块、与所述固定块通过轴承连接的转轴、设于所述转轴一端的副齿轮、设于转轴另一端的联动齿轮及设于转板侧表面的主齿轮，所述副齿轮与所述主齿轮啮合；

第一直齿条、一端与所述第一直齿条的一侧固定连接的驱动板，所述第一直齿条与所述联动齿轮相匹配，所述驱动板与设于滑板侧面的板孔滑动连接，所述滑块朝向第一直齿条的侧面设有内缩槽，所述内缩槽贯穿滑块朝向夹持部的侧面；

用于使得驱动板在板孔中滑动的驱动件。

进一步的，所述升降部包括：

设于立板顶部的第一电机、一端与所述第一电机的输出轴固定连接的螺杆，所述螺杆位于滑槽内，螺杆的另一端与滑槽的底部转动连接，所述滑块设有贯穿其上下侧面的通孔，所述螺杆穿过所述通孔，且螺杆的中轴线与通孔的中轴线重合；

设于通孔侧壁的内侧孔、与所述内侧孔滑动连接的螺纹块，所述螺纹块朝向螺杆的侧面设有第一螺纹，所述第一螺纹与设于螺杆侧表面的第二螺纹相匹配；

设于通孔内侧壁的内环板、侧表面设有侧环槽的内转盘，所述内环板与所述侧环槽转动连接，所述内转盘设有贯穿其上下端面的第一轴孔，所述螺杆穿过所述第一轴孔；

设于第一轴孔内的第一离合组件，所述第一离合组件用于使得内转盘与螺杆连接或分离；

设于内转盘朝向螺纹块的端面的第一平面螺纹、设于螺纹块朝向内转盘的侧面的第二平面螺纹，所述第一平面螺纹与所述第二平面螺纹啮合；

所述驱动件包括：

设于内转盘远离螺纹块的端面的底环板、顶端面设有端面环槽的内齿轮，所述内齿轮设有贯穿其上下端面的第二轴孔，所述螺杆穿过所述第二轴孔；

设于第二轴孔内的第二离合组件，所述第二离合组件用于使得内齿轮与螺杆连接或分离；

所述内齿轮位于两个驱动板之间，且内齿轮与设于驱动板表面的第三直齿条啮合；

所述检测设备还包括用于夹持滑块的夹持组件。

进一步的，所述第一离合组件包括：

设于螺杆侧表面的联动槽；

设于第一轴孔内壁的第一内孔、与所述第一内孔滑动连接的第一内板、设于第一内孔底部的第一电磁铁及一端与第一内孔底部固定连接的第一弹簧，所述第一弹簧的另一端与所述第一内板位于第一内孔内的端面固定连接，在第一内板的一部分位于所述联动槽内时，所述第一内板与联动槽滑动连接；

所述第二离合组件包括设于第二轴孔内壁的第二内孔、与所述第二内孔滑动连接的第二内板、设于第二内孔底部的第二电磁铁及一端与第二内孔底部固定连接的第二弹簧，所述第二弹簧的另一端与所述第二内板位于第二内孔内的端面固定连接，在第二内板的一部分位于联动槽内时，所述第二内板与联动槽滑动连接。

进一步的，所述夹持组件包括对称设于滑块左右两侧的第二气缸及侧面固定于所述第二气缸的伸缩杆的夹持板，所述第二气缸固定于立杆的前侧面，所述滑块位于两个所述夹持板之间。

进一步的，所述检测设备还包括：

第一连杆、一端固定于所述第一连杆侧表面的连接杆以及侧表面与所述连接杆的另一端固定连接的第二连杆，所述第一连杆与设于第一直齿条端面内的活动孔滑动连接，所述连接杆与设于内侧槽侧壁的侧面槽滑动连接；

固定于相对的两个所述第二连杆之间的第二直齿条，所述第二直齿条与主齿轮相匹配。

进一步的，所述检测设备还包括：

贯穿第二直齿条两侧表面的表面孔、与所述表面孔滑动连接的联动杆以及设于所述联动杆侧表面的限位槽，所述表面孔的内壁设有内壁孔，所述内壁孔与所述限位槽一一对应；

与内壁孔滑动连接的限位杆、设于所述限位杆内的第三电磁铁及设于内壁孔顶部的第四电磁铁，所述第三电磁铁正对于所述第四电磁铁；

与滑块一一对应的平板、固定于所述平板的第二电机及安装于所述第二电机的输出轴的吸盘，所述吸盘正对于对应的光滑度测量仪的检测头；

一端与联动杆铰接的铰接杆，所述铰接杆的另一端与平板的侧面铰接；

设于第二电机两侧的竖杆，所述竖杆与设于平板的穿孔滑动连接，且竖杆通过固定件固定于滑槽内；

套接于竖杆的第三弹簧，所述第三弹簧位于两个平板之间；

内侧槽内的限位板，所述限位板正对于联动杆。

本发明还提供一种晶体表面光滑度检测设备的使用方法，采用上述的一种晶体表面光滑度检测设备，包括如下步骤：

步骤1：将晶体放置于两个压板之间，通过第一气缸驱动两个压板相互靠近，从而将晶体夹紧，此时晶体的一个侧面正对于光滑度测量仪的检测头；

步骤2：升降部驱动滑块靠近晶体，当光滑度测量仪的检测头与晶体的距离达到光滑度测量仪检测的距离时，升降部停止驱动，然后光滑度测量仪对晶体的侧面进行检测，完成后，升降部驱动滑块远离晶体，然后转动部带动晶体转动，当晶体的另一个侧面转动至正对于光滑度测量仪的检测头，转动部停止驱动；

步骤3：重复步骤2，直到晶体所有未被遮挡的侧面全部检测完成。

本发明的有益效果：采用本发明的一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法，在晶体通过夹持部夹紧后，可通过转动部将晶体的各个侧面转动至正对于光滑度测量仪的检测头的位置，这样即可通过光滑度检测仪对晶体的光滑度进行测量，在晶体转动一周后，两个被压板抵住的侧面无法进行测量，此时夹持部松开晶体，然后通过人工将晶体沿着其竖直方向的轴向转动，使得已经被测量的量正对于压板，完成后，夹持部重新将晶体固定，这时再通过转动部将未被测量的侧面转动至正对于光滑度测量仪的检测头的位置，通过光滑度测量仪进行光滑度的测量，通过本发明，在对晶体的光滑度进行检测时，可有效减少人体接触晶体的次数，减小了晶体被损伤的风险。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的正剖视图；

图2为图1中A处的放大图；

图3为本发明中联动杆与第二直齿条的装配结构图；

图4为本发明中滑块处的局部放大图；

图5为本发明中第二直齿条和第二连杆的连接示意图；

图6为本发明中转轴处的俯视图；

图7为本发明中滑块的正剖视图；

图8为本发明中内转盘和内齿轮处的局部放大图；

图9为本发明中内齿轮处的俯剖视图；

图10为本发明的正视图。

图中标记为：

1、立板；2、滑槽；3、螺杆；4、第一电机；5、滑块；6、光滑度测量仪；7、转板；8、第一气缸；9、压板；10、第二直齿条；11、第一直齿条；12、联动杆；13、铰接杆；14、竖杆；15、平板；16、第二电机；17、吸盘；18、穿孔；19、第三弹簧；20、限位板；21、表面孔；22、内壁孔；23、限位杆；24、第三电磁铁；25、第四电磁铁；26、限位槽；27、主齿轮；28、稳定杆；29、圆环槽；30、连接杆；31、侧面槽；32、第一连杆；33、第二连杆；34、驱动板；35、转轴；36、固定块；37、副齿轮；38、联动齿轮；39、内侧槽；40、通孔；41、联动槽；42、内侧孔；43、螺纹块；44、内转盘；45、内齿轮；46、内环板；47、侧环槽；48、第一内板；49、第一内孔；50、第一弹簧；51、第一电磁铁；52、底环板；53、端面环槽；54、第二内板；55、第二内孔；56、第二弹簧；57、第二电磁铁；58、板孔；59、内缩槽；60、第二气缸；61、夹持板；62、活动孔。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，对本发明进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

本发明的第一个方面，提出了一种晶体表面光滑度检测设备，如图1所示，包括检测平台及设于所述检测平台上的立板1，所述立板1的侧面设有滑槽2，所述检测设备还包括：

至少一个设置于所述滑槽2内的滑块5、与所述滑块5的前侧面固定连接的光滑度测量仪6，所述滑块5与所述滑槽2滑动连接；

用于驱动滑块5在滑槽2中作升降运动的升降部；

正对于所述光滑度测量仪6的检测头的夹持部，所述夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块5一一对应，所述夹持部包括对称设于滑槽2两侧的第一气缸8、与所述第一气缸8的伸缩杆固定连接的压板9，两个所述压板9相对设置；

与第一气缸8连接的转动部，所述滑槽2的侧壁设有内侧槽39，所述转动部用于带动第一气缸8转动，且转动部设于所述内侧槽39内。

在本实施例中，首先将晶体放置于两个压板9之间，通过第一气缸8驱动两个压板9相互靠近，从而将晶体夹紧，此时晶体的一个侧面正对于光滑度测量仪6的检测头；然后升降部驱动滑块5靠近晶体，当光滑度测量仪6的检测头与晶体的距离达到光滑度测量仪6检测的距离时，升降部停止驱动，然后光滑度测量仪6对晶体的侧面进行检测，完成后，升降部驱动滑块5远离晶体，然后转动部带动晶体转动，当晶体的另一个侧面转动至正对于光滑度测量仪6的检测头，转动部停止驱动；再重复上述测量的步骤，直到晶体所有未被遮挡的侧面全部检测完成。这样即可通过光滑度检测仪对晶体的光滑度进行测量，在晶体转动一周后，两个被压板9抵住的侧面无法进行测量，此时夹持部松开晶体，然后通过人工将晶体沿着其竖直方向的轴向转动，使得已经被测量的量正对于压板9，完成后，夹持部重新将晶体固定，这时再通过转动部将未被测量的侧面转动至正对于光滑度测量仪6的检测头的位置，通过光滑度测量仪6进行光滑度的测量，通过本发明，在对晶体的光滑度进行检测时，可有效减少人体接触晶体的次数，减小了晶体被损伤的风险。

作为一种实施方式，如图1所示，所述滑块5设有两个，且两个所述滑块5上的光滑度测量仪6相对设置，所述升降部在驱动滑块5沿着滑槽2运动时，两个滑块5的运动方向相反，这样一次可对两个晶体进行测量，进一步提高了检测效率。

作为一种实施方式，如图1、图4所示，所述转动部包括：

位于内侧槽39内的转板7，所述第一气缸8与所述转板7固定连接，所述第一气缸8的中轴线与转板7的中轴线重合；

一端固定于内侧槽39侧壁的若干稳定杆28，所述稳定杆28的另一端与设于转板7其中一个端面的圆环槽29转动连接；

用于驱动转板7转动的转动组件。

在本实施例中，滑板在升降部驱动下，使得光滑度测量仪6远离晶体后，转动组件驱动晶体转动，当晶体的一个侧面转动至正对于光滑度测量仪6的检测头后，转动组件停止驱动。

作为一种实施方式，如图4、图6、图9所示，所述转动组件包括：

设于内侧槽39内的固定块36、与所述固定块36通过轴承连接的转轴35、设于所述转轴35一端的副齿轮37、设于转轴35另一端的联动齿轮38及设于转板7侧表面的主齿轮27，所述副齿轮37与所述主齿轮27啮合；

第一直齿条11、一端与所述第一直齿条11的一侧固定连接的驱动板34，所述第一直齿条11与所述联动齿轮38相匹配，所述驱动板34与设于滑板侧面的板孔58滑动连接，所述滑块5朝向第一直齿条11的侧面设有内缩槽59，所述内缩槽59贯穿滑块5朝向夹持部的侧面；

用于使得驱动板34在板孔58中滑动的驱动件。

在本实施例中，当光滑度测量仪6对晶体的其中一个侧面进行测量时，驱动件使得第一直齿条11运动至内缩槽59中，当对晶体的其中一个侧面测量完成后，首先，升降部驱动滑块5向远离晶体的方向运动，在滑块5运动一段距离后，驱动件使得驱动板34向外运动，从而带动第一直齿条11向外运动，当第一直齿条11运动至与联动齿轮38啮合后，滑块5在运动的同时将会带动第一直齿条11运动，从而通过联动齿轮38和副齿轮37带动转板7转动，这时在晶体转动过程中，将不会碰撞光滑度测量仪6，当晶体的另一个侧面转动至正对于光滑度测量仪6的检测头后，升降部停止驱动滑块5，然后驱动件驱动第一直齿条11重新运动至内缩槽59内，完成后，升降部驱动滑块5向晶体的方向运动至检测位置。

作为一种实施方式，如图4、图7、图9所示，所述升降部包括：

设于立板1顶部的第一电机4、一端与所述第一电机4的输出轴固定连接的螺杆3，所述螺杆3位于滑槽2内，螺杆3的另一端与滑槽2的底部转动连接，所述滑块5设有贯穿其上下侧面的通孔40，所述螺杆3穿过所述通孔40，且螺杆3的中轴线与通孔40的中轴线重合；

设于通孔40侧壁的内侧孔42、与所述内侧孔42滑动连接的螺纹块43，所述螺纹块43朝向螺杆3的侧面设有第一螺纹，所述第一螺纹与设于螺杆3侧表面的第二螺纹相匹配；

设于通孔40内侧壁的内环板46、侧表面设有侧环槽47的内转盘44，所述内环板46与所述侧环槽47转动连接，所述内转盘44设有贯穿其上下端面的第一轴孔，所述螺杆3穿过所述第一轴孔；

设于第一轴孔内的第一离合组件，所述第一离合组件用于使得内转盘44与螺杆3连接或分离；

设于内转盘44朝向螺纹块43的端面的第一平面螺纹、设于螺纹块43朝向内转盘44的侧面的第二平面螺纹，所述第一平面螺纹与所述第二平面螺纹啮合；

所述驱动件包括：

设于内转盘44远离螺纹块43的端面的底环板52、顶端面设有端面环槽53的内齿轮45，所述内齿轮45设有贯穿其上下端面的第二轴孔，所述螺杆3穿过所述第二轴孔；

设于第二轴孔内的第二离合组件，所述第二离合组件用于使得内齿轮45与螺杆3连接或分离；

所述内齿轮45位于两个驱动板34之间，且内齿轮45与设于驱动板34表面的第三直齿条啮合；

所述检测设备还包括用于夹持滑块5的夹持组件。

在本实施例中，当光滑度测量仪6对晶体的其中一个侧面进行测量时，第一直齿条11位于内缩槽59中，此时，夹持组件将滑块5夹持，保证滑块5位置不变，第一离合组件使得内转盘44与螺杆3分离，第二离合组件使得内齿轮45与螺杆3分离，当对晶体的其中一个侧面测量完成后，首先第一离合组件使得内转盘44与螺杆3连接，这样当第一电机4启动后，内转盘44将会跟随螺杆3转动，从而带动螺纹块43向螺杆3方向运动，当第一螺纹与第二螺纹相互啮合后，夹持组件松开滑块5，第一离合组件使得内转盘44与螺杆3分离，此时转轴35转动时，将会通过螺纹块43带动滑块5向远离晶体的方向运动，当滑块5运动一段距离后，第二离合组件使得内齿轮45与螺杆3连接，这样螺杆3将会带动内齿轮45转动，第一直齿条11将会向内缩槽59外部运动，同时，跟随滑块5运动，当第一直齿条11与联动齿轮38啮合后，将会带动转板7转动，当晶体的另一个侧面转动至正对于光滑度测量仪6的检测头后，首先第一电机4停止驱动螺杆3转动，然后第一离合组件使得内转盘44与螺杆3连接，完成后，第一电机4驱动螺杆3反转，同时，夹持组件重新将滑块5夹紧，螺杆3反转后，将会通过内转盘44带动螺纹块43远离螺杆3，在螺纹块43远离螺杆3后，第一离合组件使得内转盘44与螺杆3分离，然后第二离合组件使得内齿轮45与螺杆3连接，这样，螺杆3将会带动第一直齿条11重新进入到内缩槽59内，此时第一离合组件再次使得内转盘44与螺杆3连接，然后第一电机4正转，使得第一螺纹重新与第二螺纹啮合，然后第一离合组件再次使得内转盘44与螺杆3分离，完成后，第一电机4再次反转，同时夹持组件松开滑块5，这样第一电机4即可带动滑块5向下运动，当光滑度检测仪运动至检测位置时，第一电机4停止转动，然后夹持组件将滑块5夹持，保证滑块5位置不变，第一离合组件使得内转盘44与螺杆3分离，第二离合组件使得内齿轮45与螺杆3分离。

作为一种实施方式，如图8所示，所述第一离合组件包括：

设于螺杆3侧表面的联动槽41；

设于第一轴孔内壁的第一内孔49、与所述第一内孔49滑动连接的第一内板48、设于第一内孔49底部的第一电磁铁51及一端与第一内孔49底部固定连接的第一弹簧50，所述第一弹簧50的另一端与所述第一内板48位于第一内孔49内的端面固定连接，在第一内板48的一部分位于所述联动槽41内时，所述第一内板48与联动槽41滑动连接；

所述第二离合组件包括设于第二轴孔内壁的第二内孔55、与所述第二内孔55滑动连接的第二内板54、设于第二内孔55底部的第二电磁铁57及一端与第二内孔55底部固定连接的第二弹簧56，所述第二弹簧56的另一端与所述第二内板54位于第二内孔55内的端面固定连接，当第二内板54的一部分位于联动槽41内时，所述第二内板54与联动槽41滑动连接。

在本实施例中，当第一电磁铁51失电后，第一内板48将会进入到联动槽41内，这时内转盘44与螺杆3连接，当第一电磁铁51得电后，第一内板48将会克服第一弹簧50的弹力进入到第一内孔49内，这时内转盘44与螺纹块43分离；同样的，当第二电磁铁57失电后，第二内板54将会进入到联动槽41内，这时内齿轮45与螺杆3连接，当第二电磁铁57得电后，第二内板54将会克服第二弹簧56的弹力进入到第二内孔55内，这时内齿轮45与螺纹块43分离。

作为一种实施方式，如图10所示，所述夹持组件包括对称设于滑块5左右两侧的第二气缸60及侧面固定于所述第二气缸60的伸缩杆的夹持板61，所述第二气缸60固定于立杆的前侧面，所述滑块5位于两个所述夹持板61之间。通过第二气缸60推动夹持板61来实现夹持作用。

作为一种实施方式，如图4、图5所示，所述检测设备还包括：

第一连杆32、一端固定于所述第一连杆32侧表面的连接杆30以及侧表面与所述连接杆30的另一端固定连接的第二连杆33，所述第一连杆32与设于第一直齿条11端面内的活动孔62滑动连接，所述连接杆30与设于内侧槽39侧壁的侧面槽31滑动连接；

固定于相对的两个所述第二连杆33之间的第二直齿条10，所述第二直齿条10与主齿轮27相匹配。

在本实施例中，当第一直齿条11进入到内缩槽59内时，这时通过连接杆30，将会带动第二直齿条10与主齿轮27啮合，如此可以保证主齿轮27的稳定，即保证晶体的稳定，当第一直齿条11与联动齿轮38啮合时，第二直齿条10与主齿轮27分离，此时可以带动主齿轮27转动。

作为一种实施方式，如图1、图2、图3所示，所述检测设备还包括：

贯穿第二直齿条10两侧表面的表面孔21、与所述表面孔21滑动连接的联动杆12以及设于所述联动杆12侧表面的限位槽26，所述表面孔21的内壁设有内壁孔22，所述内壁孔22与所述限位槽26一一对应；

与内壁孔22滑动连接的限位杆23、设于所述限位杆23内的第三电磁铁24及设于内壁孔22顶部的第四电磁铁25，所述第三电磁铁24正对于所述第四电磁铁25；

与滑块5一一对应的平板15、固定于所述平板15的第二电机16及安装于所述第二电机16的输出轴的吸盘17，所述吸盘17正对于对应的光滑度测量仪6的检测头；

一端与联动杆12铰接的铰接杆13，所述铰接杆13的另一端与平板15的侧面铰接；

设于第二电机16两侧的竖杆14，所述竖杆14与设于平板15的穿孔18滑动连接，且竖杆14通过固定件固定于滑槽2内；

套接于竖杆14的第三弹簧19，所述第三弹簧19位于两个平板15之间；

内侧槽39内的限位板20，所述限位板20正对于联动杆12。

在本实施例中，当晶体的侧面正在检测过程中，第三电磁铁24和第四电磁铁25产生相互吸引的力，使得限位杆23完全位于内壁孔22内，如此在第二直齿条10运动过程中将不会带动联动杆12运动，当需要检测之前被压板9抵持的侧面时，在未被压板9抵持的侧面全部检测完成后，夹持组件先把滑块5固定，然后使得螺纹块43与螺杆3分离，第一离合组件使得内转盘44与螺杆3分离，完成后，第二离合组件使得内齿轮45与螺杆3连接，然后第三电磁铁24和第四电磁铁25得电，产生相互排斥的力，使得限位杆23的一端进入到限位槽26中，然后第一电机4带动螺杆3转动，从而带动第二直齿条10向滑块5方向运动，进一步带动联动杆12相互靠近，在两个联动杆12相互靠近过程中，吸盘17最终会吸住晶体，吸盘17吸住晶体时，第二直齿条10与主齿轮27啮合，此时，第一气缸8带动压板9分离，然后第二电机16启动，带动晶体转动90度后，第一气缸8带动压板9再次将晶体固定，然后第三电磁铁24和第四电磁铁25产生相互吸引的力，使得限位杆23再次完全位于内壁孔22内，这时在第三弹簧19的作用下，将会使得两个平板15相互靠近，吸盘17脱离晶体。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本发明的范围（包括权利要求）被限于这些例子；在本发明的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。

本发明旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种晶体表面光滑度检测设备，包括检测平台及设于所述检测平台上的立板(1)，所述立板(1)的侧面设有滑槽(2)，其特征在于，所述检测设备还包括：

至少一个设置于所述滑槽(2)内的滑块(5)、与所述滑块(5)的前侧面固定连接的光滑度测量仪(6)，所述滑块(5)与所述滑槽(2)滑动连接；

用于驱动滑块(5)在滑槽(2)中作升降运动的升降部；

正对于所述光滑度测量仪(6)的检测头的夹持部，所述夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块(5)一一对应，所述夹持部包括对称设于滑槽(2)两侧的第一气缸(8)、与所述第一气缸(8)的伸缩杆固定连接的压板(9)，两个所述压板(9)相对设置；

与第一气缸(8)连接的转动部，所述滑槽(2)的侧壁设有内侧槽(39)，所述转动部用于带动第一气缸(8)转动，且转动部设于所述内侧槽(39)内。

2.根据权利要求1所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述滑块(5)设有两个，且两个所述滑块(5)上的光滑度测量仪(6)相对设置，所述升降部在驱动滑块(5)沿着滑槽(2)运动时，两个滑块(5)的运动方向相反。

3.根据权利要求2所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述转动部包括：

位于内侧槽(39)内的转板(7)，所述第一气缸(8)与所述转板(7)固定连接，所述第一气缸(8)的中轴线与转板(7)的中轴线重合；

一端固定于内侧槽(39)侧壁的若干稳定杆(28)，所述稳定杆(28)的另一端与设于转板(7)其中一个端面的圆环槽(29)转动连接；

用于驱动转板(7)转动的转动组件。

4.根据权利要求3所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述转动组件包括：

设于内侧槽(39)内的固定块(36)、与所述固定块(36)通过轴承连接的转轴(35)、设于所述转轴(35)一端的副齿轮(37)、设于转轴(35)另一端的联动齿轮(38)及设于转板(7)侧表面的主齿轮(27)，所述副齿轮(37)与所述主齿轮(27)啮合；

第一直齿条(11)、一端与所述第一直齿条(11)的一侧固定连接的驱动板(34)，所述第一直齿条(11)与所述联动齿轮(38)相匹配，所述驱动板(34)与设于滑板侧面的板孔(58)滑动连接，所述滑块(5)朝向第一直齿条(11)的侧面设有内缩槽(59)，所述内缩槽(59)贯穿滑块(5)朝向夹持部的侧面；

用于使得驱动板(34)在板孔(58)中滑动的驱动件。

5.根据权利要求4所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述升降部包括：

设于立板(1)顶部的第一电机(4)、一端与所述第一电机(4)的输出轴固定连接的螺杆(3)，所述螺杆(3)位于滑槽(2)内，螺杆(3)的另一端与滑槽(2)的底部转动连接，所述滑块(5)设有贯穿其上下侧面的通孔(40)，所述螺杆(3)穿过所述通孔(40)，且螺杆(3)的中轴线与通孔(40)的中轴线重合；

设于通孔(40)侧壁的内侧孔(42)、与所述内侧孔(42)滑动连接的螺纹块(43)，所述螺纹块(43)朝向螺杆(3)的侧面设有第一螺纹，所述第一螺纹与设于螺杆(3)侧表面的第二螺纹相匹配；

设于通孔(40)内侧壁的内环板(46)、侧表面设有侧环槽(47)的内转盘(44)，所述内环板(46)与所述侧环槽(47)转动连接，所述内转盘(44)设有贯穿其上下端面的第一轴孔，所述螺杆(3)穿过所述第一轴孔；

设于第一轴孔内的第一离合组件，所述第一离合组件用于使得内转盘(44)与螺杆(3)连接或分离；

设于内转盘(44)朝向螺纹块(43)的端面的第一平面螺纹、设于螺纹块(43)朝向内转盘(44)的侧面的第二平面螺纹，所述第一平面螺纹与所述第二平面螺纹啮合；

所述驱动件包括：

设于内转盘(44)远离螺纹块(43)的端面的底环板(52)、顶端面设有端面环槽(53)的内齿轮(45)，所述内齿轮(45)设有贯穿其上下端面的第二轴孔，所述螺杆(3)穿过所述第二轴孔；

设于第二轴孔内的第二离合组件，所述第二离合组件用于使得内齿轮(45)与螺杆(3)连接或分离；

所述内齿轮(45)位于两个驱动板(34)之间，且内齿轮(45)与设于驱动板(34)表面的第三直齿条啮合；

所述检测设备还包括用于夹持滑块(5)的夹持组件。

6.根据权利要求5所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述第一离合组件包括：

设于螺杆(3)侧表面的联动槽(41)；

设于第一轴孔内壁的第一内孔(49)、与所述第一内孔(49)滑动连接的第一内板(48)、设于第一内孔(49)底部的第一电磁铁(51)及一端与第一内孔(49)底部固定连接的第一弹簧(50)，所述第一弹簧(50)的另一端与所述第一内板(48)位于第一内孔(49)内的端面固定连接，在第一内板(48)的一部分位于所述联动槽(41)内时，所述第一内板(48)与联动槽(41)滑动连接；

所述第二离合组件包括设于第二轴孔内壁的第二内孔(55)、与所述第二内孔(55)滑动连接的第二内板(54)、设于第二内孔(55)底部的第二电磁铁(57)及一端与第二内孔(55)底部固定连接的第二弹簧(56)，所述第二弹簧(56)的另一端与所述第二内板(54)位于第二内孔(55)内的端面固定连接，在第二内板(54)的一部分位于联动槽(41)内时，所述第二内板(54)与联动槽(41)滑动连接。

7.根据权利要求6所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述夹持组件包括对称设于滑块(5)左右两侧的第二气缸(60)及侧面固定于所述第二气缸(60)的伸缩杆的夹持板(61)，所述第二气缸(60)固定于立杆的前侧面，所述滑块(5)位于两个所述夹持板(61)之间。

8.根据权利要求7所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括：

第一连杆(32)、一端固定于所述第一连杆(32)侧表面的连接杆(30)以及侧表面与所述连接杆(30)的另一端固定连接的第二连杆(33)，所述第一连杆(32)与设于第一直齿条(11)端面内的活动孔(62)滑动连接，所述连接杆(30)与设于内侧槽(39)侧壁的侧面槽(31)滑动连接；

固定于相对的两个所述第二连杆(33)之间的第二直齿条(10)，所述第二直齿条(10)与主齿轮(27)相匹配。

9.根据权利要求8所述的一种晶体表面光滑度检测设备，其特征在于，所述检测设备还包括：

贯穿第二直齿条(10)两侧表面的表面孔(21)、与所述表面孔(21)滑动连接的联动杆(12)以及设于所述联动杆(12)侧表面的限位槽(26)，所述表面孔(21)的内壁设有内壁孔(22)，所述内壁孔(22)与所述限位槽(26)一一对应；

与内壁孔(22)滑动连接的限位杆(23)、设于所述限位杆(23)内的第三电磁铁(24)及设于内壁孔(22)顶部的第四电磁铁(25)，所述第三电磁铁(24)正对于所述第四电磁铁(25)；

与滑块(5)一一对应的平板(15)、固定于所述平板(15)的第二电机(16)及安装于所述第二电机(16)的输出轴的吸盘(17)，所述吸盘(17)正对于对应的光滑度测量仪(6)的检测头；

一端与联动杆(12)铰接的铰接杆(13)，所述铰接杆(13)的另一端与平板(15)的侧面铰接；

设于第二电机(16)两侧的竖杆(14)，所述竖杆(14)与设于平板(15)的穿孔(18)滑动连接，且竖杆(14)通过固定件固定于滑槽(2)内；

套接于竖杆(14)的第三弹簧(19)，所述第三弹簧(19)位于两个平板(15)之间；

内侧槽(39)内的限位板(20)，所述限位板(20)正对于联动杆(12)。

10.采用如权利要求1~9中任一项所述的一种晶体表面光滑度检测设备的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：将晶体放置于两个压板(9)之间，通过第一气缸(8)驱动两个压板(9)相互靠近，从而将晶体夹紧，此时晶体的一个侧面正对于光滑度测量仪(6)的检测头；

步骤2：升降部驱动滑块(5)靠近晶体，当光滑度测量仪(6)的检测头与晶体的距离达到光滑度测量仪(6)检测的距离时，升降部停止驱动，然后光滑度测量仪(6)对晶体的侧面进行检测，完成后，升降部驱动滑块(5)远离晶体，然后转动部带动晶体转动，当晶体的另一个侧面转动至正对于光滑度测量仪(6)的检测头，转动部停止驱动；

步骤3：重复步骤2，直到晶体所有未被遮挡的侧面全部检测完成。

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