CN115184785B - 测试方法、测试系统以及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种测试方法、测试系统以及电子设备。测试方法应用于测试系统，所述测试系统包括参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统。测试方法包括：通过所述参数获取子系统，获取断路器的器件参数，所述器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；通过所述测试操作子系统，根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果；通过所述分析子系统，对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果。本申请实施例的方案能够有效减少测试耗时，提高断路器测试效率。

Description

测试方法、测试系统以及电子设备

技术领域

本申请涉及自动化控制领域，尤其涉及一种测试方法、测试系统以及电子设备。

背景技术

空气断路器，作为电力系统中的重要设备，其机械性能测试和电气性能测试对于保证设备可靠运行而言至关重要。

目前，空气断路器的基本的机械性能和电气性能测试在不同的测试平台中单独进行，并且大多数测试都通过手动执行。

手动测试操作顺序会导致不必要的重复操作，在测试不同型号的断路器时，需要根据不同断路器的具体设备参数对测试系统进行人工重复设定，导致测试效率较低。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种测试方法、测试系统以及电子设备，能够使测试效率更加高效。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统。所述测试方法包括：通过所述参数获取子系统，获取断路器的器件参数，所述器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；通过所述测试操作子系统，根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果；通过所述分析子系统，对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果。

在本发明的另一实现方式中，所述获取断路器的器件参数，包括：对断路器进行位置识别，得到位置识别数据；根据所述位置识别数据对所述断路器进行定位操作；当所述断路器处于预设位置时，获取所述断路器的器件参数。

在本发明的另一实现方式中，所述根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果，包括：分析所述器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；根据所述外壳尺寸参数，对所述断路器进行合闸力操作测试，得到合闸力测试结果。

在本发明的另一实现方式中，所述测试操作子系统包括合闸装置和合闸力传感器。所述根据所述外壳尺寸参数，对所述断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果，包括：计算所述外壳尺寸参数对应的合闸操作路径；根据所述合闸操作路径控制合闸装置的合闸操作过程；获取所述合闸操作过程中所述合闸力传感器的合闸力感测数据；基于所述合闸力感测数据，确定合闸力测试结果。

在本发明的另一实现方式中，所述测试操作子系统还包括储能装置、角度传感器和动态值测试装置。所述基于所述合闸力感测数据，确定合闸力测试结果，包括：通过所述储能装置，对所述断路器的储能弹簧进行储能；通过所述角度传感器和所述动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，得到所述断路器的主轴的转动角度和所述断路器的主回路的导通状态；基于所述转动角度和所述导通状态，校正所述合闸力感测数据，得到合闸力测试结果。

在本发明的另一实现方式中，所述动态值测试装置包括机构夹具和可编程直流电源，所述机构夹具的第一回路和第二回路用于检测所述断路器的弹簧的第一位置和第二位置。所述通过所述动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，包括：所述可编程直流电源输出电压信号至所述夹具的第一回路和第二回路；确定所述第一回路和所述第二回路的信号之间的时间差，作为动态值的记录。

在本发明的另一实现方式中，所述测试操作子系统还包括合闸状态传感器。所述根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果，还包括：通过所述合闸装置将所述断路器置于合闸状态；通过所述合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

在本发明的另一实现方式中，所述通过所述合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果，包括：通过所述合闸状态传感器，获取所述断路器的电气状态参数；在所述电气状态参数与所述合闸状态匹配时，判定所述断路器通过合闸状态测试。

在本发明的另一实现方式中，所述对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果，包括：根据所述合闸力测试结果和所述合闸状态测试结果，计算得出合闸测试分析结果；根据分闸力测试结果和分闸状态测试结果，计算出分闸测试分析结果；对所述合闸测试分析结果和所述分闸测试分析结果进行一致性分析。

根据本申请实施例的第二方面，提供了一种测试系统，包括：参数获取子系统，获取断路器的器件参数，所述器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；测试操作子系统，根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果；分析子系统，对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果。

根据本申请实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；所述存储器用于存放至少一项可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行：控制测试系统中包括的参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统，执行根据第一方面所述的方法。

在本申请实施例中，由于通过获取断路器的机械参数和电气参数，并根据机械参数和电气参数对断路器进行测试，得到测试分析结果，因此，测试不同型号类型断路器时，不需要因不同断路器对测试系统进行人工重复设定，可以有效减少测试耗时，提高断路器测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请实施例中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为根据一个示例的测试系统的示意性框图。

图2A是本申请的一个实施例的测试方法的示例性流程图。

图2B是图2A的测试方法的一个具体示例的示例性流程图。

图3是本申请另一个实施例的测试系统的示意性框图。

图4是本申请另一个实施例的电子设备示意性结构图。

附图标记列表：

101：控制机构、102：机架机构、103：测试机构；

S201：通过参数获取子系统，获取断路器的器件参数，器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；

S202：通过测试操作子系统，根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果；

S203：通过分析子系统，对测试结果进行分析，得到测试分析结果。

S211：根据位置识别数据对断路器进行定位操作；当断路器处于预设位置时，通过获取装置获取断路器的机械参数和电气参数；

S212：通过测试操作子系统分析器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；根据外壳尺寸参数对断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果；

S213：进行合闸和分闸状态测试，得到合闸状态测试结果和分闸状态测试结果；

S214：根据外壳尺寸参数对断路器进行分闸操作测试，得到分闸力测试结果；

S215：根据合闸力测试结果、合闸状态测试结果、分闸力测试结果、分闸状态测试结果计算得出综合测试分析结果；对综合测试分析结果进行可视化处理并显示输出；

301：参数获取子系统；302：测试操作子系统；303：:分析子系统；

402：处理器；406：存储器；410：程序；408：通信总线；404：通信接口；400：电子设备。

具体实施方式

为了使本领域的人员更好地理解本申请实施例中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、详细地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请实施例保护的范围。

应当理解，本披露的权利要求、说明书及附图中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。本披露的说明书和权利要求书中使用的术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本披露说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的，而并不意在限定本披露。如在本披露说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本披露说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

下面结合本申请实施例附图进一步说明本申请实施例具体实现。

图1为根据一个示例的测试装置的示意性框图。测试装置包括：控制机构101、机架机构102和测试机构103。控制机构101用于提供测试过程中的电气测试信号。机架机构102用于测试装置的移动和摆放方位的确定，便于控制机构101和测试机构103进行相应的操作。测试机构103包括大电流测试部分和分合闸操作部分。

大电流测试部分包括托盘、夹紧机构和大电流端子组件，用于放置断路器并将其定位夹紧且在测试过程中向其传输多种数值的电流。

分合闸操作部分包括升降台和操作夹具装置，用于大电流测试过程中转动断路器的旋钮轴以切换断路器的闭合与断开状态。

在断路器的测试过程中，需要人工操作大电流测试部分和分合闸操作部分，使得人工干预过多，测试流程繁琐耗时。

图2A示出了本申请的一个实施例的测试方法的示例性流程。本实施例的方案可以应用于测试系统，测试系统可以包括参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统。本实施例的测试方法包括：

S201：通过参数获取子系统，获取断路器的器件参数，器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者。

断路器可用来分配电能，不频繁地启动异步电动机，对电源线路及电动机等实行保护，当它们发生严重的过载或者短路及欠压等故障时能自动切断电路，其功能相当于熔断器式开关与过欠热继电器等的组合，是电的产生、输送、使用中，配电是一个极其重要的环节。配电系统包括变压器和各种高低压电器设备，低压断路器则是一种使用量大面广的电器。

此处的断路器是指能够关合、承载和开断正常回路条件下的电流并能在规定的时间内关合、承载和开断异常回路条件下的电流的开关装置。断路器按其使用范围分为高压断路器与低压断路器，高低压界线划分比较模糊，一般将3kV以上的称为高压电器，本方案的断路器包括但不限于上述种类。此处断路器的机械参数和电气参数指的是断路器的物理尺寸参数和电气参数，其中物理尺寸参数包括外壳物理尺寸、断路器合闸机构扭矩等。

此处的参数获取子系统可以包括摄像头等识别装置，并且可以通过摄像头等识别装置识别断路器外壳表面的数据标签，进而获取该断路器数据标签对应的机械参数和电气参数，例如，测试系统通过摄像头扫描断路器外壳二维码，进而调取该二维码对应的断路器的机械参数和电气参数。

S202：通过测试操作子系统，根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果。

可以通过应用接口电路建立与电气控制装置数据连接，进而驱动具体测试操作子系统对断路器进行测试方式。此处的测试包括但不限于断路器电气测试和断路器部件物理性能测试。

S203：通过分析子系统，对测试结果进行分析，得到测试分析结果。

此处的分析子系统可以作为测试系统的组成部分，也可以单独设置在测试系统中，并通过应用接口电路建立与电气控制装置的数据连接，此处的测试结果可以是测试结果数据本身、或者表示测试结果的数据。

在本申请实施例中，由于通过获取断路器的机械参数和电气参数，并根据诸如机械参数和电气参数的器件参数对断路器进行测试，得到测试分析结果，因此，测试不同型号类型断路器时，不需要因不同断路器对测试系统进行人工重复设定，可以有效减少测试耗时，提高断路器测试效率。

在一种可能的实现方式中，通过参数获取子系统，获取断路器的机械参数和电气参数，包括：对断路器进行位置识别，得到位置识别数据；根据位置识别数据对断路器进行定位操作；当断路器处于预设位置时，通过获取装置获取断路器的机械参数和电气参数。

需要说明的是，此处的位置识别指的是通过传感器或者视频设备获取断路器在测试线上的具体位置坐标，此处的定位操作指的是通过机械臂等移动装置将断路器移动至预设位置。由于断路器装载至测试线的位置不准确，可能导致测试系统无法识别断路器，进而无法获取断路器的机械参数和电气参数，因此，需要对装载位置不确定的断路器进行位置识别，再通过移动装置移动前述断路器，将其移动至测试系统可以获取断路器的机械参数和电气参数的预设位置。通过上述方法，可以有效应对测试线上因断路器位置问题影响参数获取的问题，提高了检测效率。

优选地，可以在获取断路器的机械参数和电气参数前，对断路器进行感应检测，当检测到断路器时进行断路器位置识别，当没有检测到断路器时，进行报警。具体地，可以利用零部件安放感应连锁平台对断路器进行感应检测，由于断路器测试过程可能需要检测零部件，因此可以划分多个检测区，这些检测区主要包含了压力传感器和置物盒，置物盒用于摆放整个测试过程涉及的断路器及其零部件，通过事先在上位机设定断路器及其零部件在实验开始前的状态，压力传感器将实际操作过程中断路器及其零部件是否在置物盒里的状态上传到上位机进行判断，当与上位机状态相同时，检测系统才可以开始后续的实验，否则进行连锁报警，通过上述方法，避免了检测线上没有断路器时进行的无用操作，降低了检测成本。

在一种可能的实现方式中，根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果，包括：分析器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；根据外壳尺寸参数，对断路器进行合闸力操作测试，得到合闸力测试结果。

需要说明的是，此处的合闸操作指的是通过检测系统中的物理装置，对断路器进行合闸操作，此处的外壳尺寸参数包括但不限于外壳结构三维参数、开关按钮等模块位置参数。由于断路器的机械参数和电气参数包含了大量不同种类的信息，因此需要对断路器的机械参数和电气参数进行分析处理，获取到断路器的外壳尺寸参数。此时，测试系统根据分析得到的外壳尺寸参数驱动控制机械臂等物理装置，对断路器进行合闸操作，同时测试系统采集合闸操作中的各项数据汇总得到合闸力测试结果。通过上述方法，在测试不同类型的或者外壳按钮开关位置不同的断路器，可以通过调用外壳尺寸参数信息，针对性的进行测试，提高了测试效率。

进一步地，测试操作子系统包括合闸装置和合闸力传感器。根据外壳尺寸参数，对断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果，包括：计算外壳尺寸参数对应的合闸操作路径；根据合闸操作路径控制合闸装置的合闸操作过程；获取合闸操作过程中合闸力传感器的合闸力感测数据；基于合闸力感测数据，确定合闸力测试结果。

更进一步地，测试操作子系统还包括储能装置、角度传感器和动态值测试装置。基于合闸力感测数据，确定合闸力测试结果，包括：通过储能装置，对断路器的储能弹簧进行储能；通过角度传感器和动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，得到断路器的主轴的转动角度和断路器的主回路的导通状态；基于转动角度和导通状态，校正合闸力感测数据，得到合闸力测试结果。

具体地，通过机构扭矩测试设备对断路器进行测试时，机构扭矩测试设备主要包含扭矩扳手和配套主轴的螺母，可以对断路器进行扭矩测试并进行储能。

此外，在对断路器进行转角测试和动态值测试时。转角测试指的是利用角度传感器检测合闸过程中主轴转动的角度。动态值测试指的是以断路器本体中间相作为主回路是否导通的测试相，伺服机构按照预设路径自动行走，弹性电流触头抵住输入输出铜排，确保接触压紧同时防止过压，检测断路器中间相的导通信号。具体地，动态值测试装置主要包括可编程直流电源、机构夹具、弹性电流触头、伺服机构和压降测量探针，通过安装机构夹具，夹具回路导通作为弹簧完全释放的信号，可编程直流电源输出电压信号给两个回路，两路信号检测信息均上传到上位机，通过对比两路信号之间的时间差，作为动态值的记录。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统还包括合闸状态传感器。根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果，还包括：通过合闸装置将断路器置于合闸状态；通过合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

进一步地，通过合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果，包括：通过合闸状态传感器，获取断路器的电气状态参数；在电气状态参数与合闸状态匹配时，判定断路器通过合闸状态测试。

在一种可能的实现方式中，根据外壳尺寸参数对断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果，包括：根据外壳尺寸参数计算出测试系统的合闸操作路径；根据合闸操作路径控制测试系统进行合闸操作过程。直接获取合闸操作过程中合闸力传感器的合闸力感测数据，作为合闸力测试结果，或者，基于合闸力感测数据，确定合闸力测试结果。

需要说明的是，由于不同断路器的合闸装置的物理位置不一，需要根据外壳尺寸参数计算出测试系统中的机械臂等装置位置至合闸装置并对其合闸所需进行的合闸操作路径，并根据合闸操作路径控制机械臂等装置进行合闸操作。通过上述方法，可以对不同种类的断路器进行合闸力检测，提高了检测效率。

具体地，上述方法可以通过合闸力测试设备实现，合闸力测试设备主要包括伺服机构、垂直下压机构、合闸力传感器和交直流可编程电源。根据外壳尺寸参数计算出测试系统的合闸操作路径，伺服机构和垂直下压机构按照合闸操作路径自动操作，合闸力传感器实现合闸力的测量，合闸力测试设备在测试合闸力的过程中实现断路器的合闸，当需要重复测试时，上位机自动控制交直流可编程电源输出电压至电机，实现自动储能，通过上述具体方法可以使得测试更加高效。

优选地，当合闸力测试结果符合合闸力测试阈值时，自动进行下一项测试，当测试结果不符合阈值时，进行报警。

在一种可能的实现方式中，测试方法还包括：获取断路器的合闸状态；当断路器处于合闸时，进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

需要说明的是，由于断路器的合闸操作测试可能会进行多次，因此在合闸状态测试之前需要判断断路器是否处于合闸状态，当断路器处于合闸状态时，进行合闸状态检测，进而得到合闸状态检测结果，通过上述方式可以使得断路器测试更加安全。

在一种可能的实现方式中，当断路器处于合闸时，进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果，包括：分析器件参数，得到断路器的电气参数；当断路器处于合闸时，根据断路器的电气参数对断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

需要说明的是，由于在断路器合闸状态测试中，需要对其施加较高电压或电流，断路器可能会因测试系统对其施加的电压或电流高于其额定电压或电流导致断路器损坏，因此，测试系统需要根据断路器的电气参数对测试电压或电流等电气参数进行设定，保证其不高于该断路器的电气参数。通过上述方式，可以使得断路器测试更加安全。

优选地，此处的合闸状态测试包括但不限于接触压降测试，开距测试和Lever gap测试。具体地，接触压降测试设备主要包括可编程直流电源、数字万用表、弹性电流触头、伺服机构和压降测量探针，伺服机构按照合闸操作路径自动操作，使弹性电流触头抵住输入输出铜排，确保接触压紧同时防止过压，接触到位后，上位机控制可编程直流电源输出电流，一定延时时间后，数字万用表自动采集接触压降。

此处的开距测试指的是测试断路器在处于合闸状态时动触片与其内部弧触头之间的最短距离，通常情况下，可以通过测试系统根据机械参数和电气参数定位到弧触头位置，按照按触头方向多次测量其最短距离，并以最短距离平均值作为输出，用以测试断路器内部弧触头具有可靠接触的长度余量。此处的Lever gap测试指的通过测试断路器内部弧触头的边缘到绝缘层预留凹槽边界线的最短距离，用以是间接反映弧触头接触时弹簧的超程。通常情况下，可以通过测试系统根据机械参数和电气参数定位到弧触头位置，对其进行测试并输出。开距测试和Lever gap测试包含的测试设备相同，由伺服机构和激光间隙测量仪组成，当伺服机构自动按照合闸操作路径移动至弧触头位置后，激光间隙测量仪实现对应的测试，通过上述多种类型的检测，可以使得测试更加精确。

可替代地，测试操作子系统包括分闸装置和分闸力传感器。根据外壳尺寸参数，对断路器进行分闸操作测试，得到分闸力测试结果，包括：计算外壳尺寸参数对应的分闸操作路径；根据分闸操作路径控制分闸装置的分闸操作过程；获取分闸操作过程中分闸力传感器的分闸力感测数据；基于分闸力感测数据，确定分闸力测试结果。

进一步地，测试操作子系统还包括储能装置、角度传感器和动态值测试装置。基于分闸力感测数据，确定分闸力测试结果，包括：通过储能装置，对断路器的储能弹簧进行储能；通过角度传感器和动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，得到断路器的主轴的转动角度和断路器的主回路的导通状态；基于转动角度和导通状态，校正分闸力感测数据，得到分闸力测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统还包括分闸状态传感器。根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果，还包括：通过分闸装置将断路器置于分闸状态；通过分闸状态传感器，对处于分闸状态的断路器进行分闸状态测试，得到分闸状态测试结果。

进一步地，通过分闸状态传感器，对处于分闸状态的断路器进行分闸状态测试，得到分闸状态测试结果，包括：通过分闸状态传感器，获取断路器的电气状态参数；在电气状态参数与分闸状态匹配时，判定断路器通过分闸状态测试。此处的分闸测试与前述合闸测试流程类似，不再赘述。

在一种可能的实现方式中，对测试结果进行分析，得到测试分析结果，包括：根据合闸力测试结果和合闸状态测试结果，计算得出合闸测试分析结果；根据分闸力测试结果和分闸状态测试结果，计算出分闸测试分析结果；对合闸测试分析结果和分闸测试分析结果进行一致性分析。

如果合闸测试分析结果和分闸测试分析结果一致，说明断路器的可逆性和可靠性较高，使用寿命较长。

需要说明的是，此处的可视化处理即数据可视化，就是将数据转换成图或表等，以一种更直观的方式展现和呈现数据。通过对综合测试结果进行可视化处理，可以针对断路器的不同测试类型进行评估，实现测试高效化。

图2B是图2A的测试方法的一个具体示例的示例性流程图。本实施例的方案可以适用于任意适当的具有数据处理能力的电子设备，包括但不限于：可编程逻辑控制器等。

具体地，本示例的测试方法包括：

S211：根据位置识别数据对断路器进行定位操作；当断路器处于预设位置时，通过获取装置获取断路器的机械参数和电气参数。

S212：通过测试操作子系统分析器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数。根据外壳尺寸参数对断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果。具体地，在一个示例中，可以基于机械参数进行分析，得到外壳尺寸参数，例如，基于机械参数与外壳尺寸参数之间的对应关系，得到外壳尺寸参数，又例如，从机械参数中提取外壳尺寸参数。在另一示例中，可以基于机械参数和电气参数，确定外壳尺寸参数，例如，将机械参数和电气参数输入到预先训练的神经网络中，得到外壳尺寸参数。

S213：进行合闸和分闸状态测试，得到合闸状态测试结果和分闸状态测试结果。

S214：根据外壳尺寸参数对断路器进行分闸操作测试，得到分闸力测试结果。

S215：根据合闸力测试结果、合闸状态测试结果、分闸力测试结果、分闸状态测试结果计算得出综合测试分析结果；对综合测试分析结果进行可视化处理并显示输出。

图3是本申请另一实施例的测试系统的示意性图。具体地，图3的断路器测试对应于图2A的测试系统，包括：

参数获取子系统301，获取断路器的器件参数，器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者。

测试操作子系统302，根据器件参数对断路器进行测试，得到测试结果。

分析子系统303，对测试结果进行分析，得到测试分析结果。

在一种可能的实现方式中，参数获取子系统301具体用于：对断路器进行位置识别，得到位置识别数据；根据位置识别数据对断路器进行定位操作；当断路器处于预设位置时，获取断路器的器件参数。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：分析器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；根据外壳尺寸参数，对断路器进行合闸力操作测试，得到合闸力测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：根据外壳尺寸参数，对断路器进行合闸操作测试，得到合闸力测试结果，包括：计算外壳尺寸参数对应的合闸操作路径；根据合闸操作路径控制合闸装置的合闸操作过程；获取合闸操作过程中合闸力传感器的合闸力感测数据；基于合闸力感测数据，确定合闸力测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：获取断路器的合闸状态；当断路器处于合闸时，进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：通过储能装置，对断路器的储能弹簧进行储能；通过角度传感器和动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，得到断路器的主轴的转动角度和断路器的主回路的导通状态；基于转动角度和导通状态，校正合闸力感测数据，得到合闸力测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：可编程直流电源输出电压信号至夹具的第一回路和第二回路；确定第一回路和第二回路的信号之间的时间差，作为动态值的记录。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：通过合闸装置将断路器置于合闸状态；通过合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

在一种可能的实现方式中，测试操作子系统302具体用于：通过合闸状态传感器，获取断路器的电气状态参数；在电气状态参数与合闸状态匹配时，判定断路器通过合闸状态测试。

在一种可能的实现方式中，分析子系统303具体用于：根据合闸力测试结果和合闸状态测试结果，计算得出合闸测试分析结果；根据分闸力测试结果和分闸状态测试结果，计算出分闸测试分析结果；对合闸测试分析结果和分闸测试分析结果进行一致性分析。

图4是本申请另一实施例的电子设备400示意性结构图。参照图4，示出了根据本申请的另一实施例的电子设备的结构示意图，本申请具体实施例并不对电子设备的具体实现做限定。该电子设备可以包括处理器(processor)402、通信接口(CommunicationsInterface)404、存储有程序410的存储器(memory)406、以及通信总线408。处理器、通信接口、以及存储器通过通信总线完成相互间的通信。

本实施例的电子设备400可以用于控制测试系统中包括的参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统。

通信接口，用于与其它电子设备或服务器进行通信。处理器，用于执行程序，具体可以执行上述方法实施例中的相关步骤。具体地，程序可以包括程序代码，该程序代码包括计算机操作指令。处理器可能是处理器CPU，或者是特定集成电路ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)，或者是被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。智能设备包括的一个或多个处理器，可以是同一类型的处理器，如一个或多个CPU；也可以是不同类型的处理器，如一个或多个CPU以及一个或多个ASIC。存储器，用于存放程序。存储器可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。

以上实施方式仅用于说明本申请实施例，而并非对本申请实施例的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本申请实施例的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本申请实施例的范畴，本申请实施例的专利保护范围应由权利要求限定。上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元，具体可以由计算机芯片或实体实现，或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的，计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。

内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flashRAM)。内存是计算机可读介质的示例。

计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定事务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行事务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

Claims (9)

1.一种测试方法，应用于测试系统，所述测试系统包括参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统，所述测试方法包括：

通过所述参数获取子系统，获取断路器的器件参数，所述器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；

通过所述测试操作子系统，根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果；当所述测试操作子系统包括合闸装置和合闸力传感器时，所述测试方法包括：分析所述器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；计算所述外壳尺寸参数对应的合闸操作路径；根据所述合闸操作路径控制合闸装置的合闸操作过程；获取所述合闸操作过程中所述合闸力传感器的合闸力感测数据；基于所述合闸力感测数据，确定合闸力测试结果；

通过所述分析子系统，对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其中，所述获取断路器的器件参数，包括：

对断路器进行位置识别，得到位置识别数据；

根据所述位置识别数据对所述断路器进行定位操作；

当所述断路器处于预设位置时，获取所述断路器的器件参数。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其中，所述测试操作子系统还包括储能装置、角度传感器和动态值测试装置时；

所述基于所述合闸力感测数据，确定合闸力测试结果，包括：

通过所述储能装置，对所述断路器的储能弹簧进行储能；

通过所述角度传感器和所述动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，得到所述断路器的主轴的转动角度和所述断路器的主回路的导通状态；

基于所述转动角度和所述导通状态，校正所述合闸力感测数据，得到合闸力测试结果。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其中，所述动态值测试装置包括机构夹具和可编程直流电源，所述机构夹具的第一回路和第二回路用于检测所述断路器的弹簧的第一位置和第二位置；

所述通过所述角度传感器和所述动态值测试装置，进行转角测试和动态值测试，包括：

所述可编程直流电源输出电压信号至所述机构夹具的第一回路和第二回路；

确定所述第一回路和所述第二回路的信号之间的时间差，作为动态值的记录。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其中，所述测试操作子系统还包括合闸状态传感器时；

所述根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果，还包括：

通过所述合闸装置将所述断路器置于合闸状态；

通过所述合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其中，所述通过所述合闸状态传感器，对处于合闸状态的断路器进行合闸状态测试，得到合闸状态测试结果，包括：

通过所述合闸状态传感器，获取所述断路器的电气状态参数；

在所述电气状态参数与所述合闸状态匹配时，判定所述断路器通过合闸状态测试。

7.根据权利要求5所述的测试方法，其中，所述对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果，包括：

根据所述合闸力测试结果和所述合闸状态测试结果，计算得出合闸测试分析结果；

根据分闸力测试结果和分闸状态测试结果，计算出分闸测试分析结果；

对所述合闸测试分析结果和所述分闸测试分析结果进行一致性分析。

8.一种测试系统，包括：

参数获取子系统，获取断路器的器件参数，所述器件参数包括机械参数和电气参数中的至少一者；

测试操作子系统，根据所述器件参数对所述断路器进行测试，得到测试结果；当所述测试操作子系统包括合闸装置和合闸力传感器时，所述测试操作子系统分析所述器件参数，得到断路器的外壳尺寸参数；计算所述外壳尺寸参数对应的合闸操作路径；根据所述合闸操作路径控制合闸装置的合闸操作过程；获取所述合闸操作过程中所述合闸力传感器的合闸力感测数据；基于所述合闸力感测数据，确定合闸力测试结果；

分析子系统，对所述测试结果进行分析，得到测试分析结果。

9.一种电子设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；所述存储器用于存放至少一项可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行：控制测试系统中包括的参数获取子系统、测试操作子系统和分析子系统，执行根据权利要求1所述的方法。