KR20150020678A - 디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법 - Google Patents

디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법 Download PDF

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나오키 와카마츠
사토시 이시다
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Abstract

실시 형태에 의하면, 디지털 보호 릴레이는, 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호의 전압을 강압하는 보조 변성기(2)와, 입력측이 보조 변성기(2)의 출력측에 접속되는
Figure pct00010
형 또는 T형 회로로 이루어지는 검출 저항 회로(20)와, 검출 저항 회로(20)의 출력측에 설치되며, 보조 변성기(2)로부터의 전기 신호의 전기량을 검출하는 아날로그 검출 회로(3)와, 아날로그 검출 회로(3)에 접속되는 A/D 변환 회로(4)와, A/D 변환 회로(5)에 접속되어 보호 동작을 실행하는 중앙 처리 장치(5)와, 중앙 처리 장치(5)의 처리에 의해 동작하여 외부의 차단기(21)를 동작시키는 트립 출력 접점(9)을 갖는다. 이 디지털 보호 릴레이는, 외부의 시험 장치(13)로부터의 아날로그 검출 회로(3)에의 정전압에 의한 시험용 신호를 보조 변성기(2)의 출력에 상당하는 신호로서 입력하기 위한 입력 접점 단자(11)를 검출 저항 회로(20)와 아날로그 검출 회로(3) 사이에 설치한다.

Description

디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법{DIGITAL PROTECTION RELAY, DIGITAL PROTECTION RELAY TEST DEVICE, AND METHOD FOR TESTING DIGITAL PROTECTION RELAY}
본 발명의 실시 형태는, 주회로 계통의 이상을 검출하여, 보호 동작을 행하는 디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법에 관한 것이다.
종래, 디지털 보호 릴레이가 정상적으로 동작하는지 여부의 점검으로서의 시험을 행하는 경우에는, 주회로에 접속된 변성기의 출력이 입력되는 단자에 시험 장치를 접속한다. 이 상태에서, 디지털 보호 릴레이에 의한 보호 기능의 확인이 행해진다.
디지털 보호 릴레이의 시험 수순의 예를 설명한다. 먼저, 디지털 보호 릴레이의 외부에 있어서의 보조 변성기의 1차측에 시험용 단자를 설치한다. 그리고, 주회로를 정전시킨 상태에서, 시험용 단자에 대하여 수십 암페어의 전류나 백수십 볼트의 전압의 시험용 신호를 인가한다.
일본 특허 공개 제2009-171723호 공보
디지털 보호 릴레이의 시험을 행하기 위해서는, 전술한 바와 같이, 디지털 보호 릴레이의 보조 변성기의 1차측에 설치된 시험용 단자에 시험용 신호를 인가할 필요가 있다. 또한, 일반적으로 디지털 보호 릴레이의 시험용 단자, 예를 들어 트립 출력 접점은 디지털 보호 릴레이의 반(盤) 내에 설치된다.
그 때문에, 디지털 보호 릴레이의 시험을 행할 때는, 큰 전류/전압 발생이 가능한 릴레이 시험 장치가 필요하다. 또한, 디지털 보호 릴레이의 시험용 단자는 반 도어 내에 설치되어 있기 때문에, 시험용 단자와 시험 장치를 접속하기 위해서 반 도어를 개폐할 필요가 있었다.
또한, 디지털 보호 릴레이의 시험을 실시하면, 시험 중에 주회로의 사고가 발생한 경우에, 이 주회로의 보호 동작을 할 수 없게 된다. 이 때문에, 시험을 행하는 경우에는, 주회로를 미리 정전시켜 둘 필요가 있었다.
그 때문에, 디지털 보호 릴레이의 시험을 행하는 시간대는 주회로를 정전시켰을 때의 영향이 작은 시간대, 예를 들어 휴일이나 심야 등에 한정된다. 또한, 시험 시간(정전 시간)도 최소한으로 할 필요가 있었다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 주회로를 미리 정전시키지 않고, 안전하면서 용이하게 동작 시험을 행하는 것이 가능해지는 디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법을 제공하는 것에 있다.
실시 형태에 의하면, 디지털 보호 릴레이는, 주회로 변성기로부터의 전기 신호의 전압을 강압하는 보조 변성기와, 입력측이 보조 변성기의 출력측에 접속되는
Figure pct00001
형 또는 T형 회로로 이루어지는 검출 저항 회로를 갖는다. 이 디지털 보호 릴레이는, 검출 저항 회로의 출력측에 설치되어 보조 변성기로부터의 전기 신호의 전기량을 검출하는 아날로그 검출 회로와, 아날로그 검출 회로에 접속되는 A/D 변환 회로와, A/D 변환 회로에 접속되어 보호 동작을 실행하는 중앙 처리 장치와, 중앙 처리 장치의 처리에 의해 동작하여 외부의 차단기를 동작시키는 트립 출력 접점을 갖는다. 이 디지털 보호 릴레이는, 외부의 시험 장치로부터의 아날로그 검출 회로에의 정전압에 의한 시험용 신호를 보조 변성기의 출력에 상당하는 신호로서 입력하기 위한 입력 접점 단자를 검출 저항 회로와 아날로그 검출 회로 사이에 설치한다.
도 1은 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 구성예를 도시하는 블록도이다.
도 2는 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 외관 일례를 도시하는 사시도이다.
도 3은 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 포터블 시험 장치의 동작 수순의 일례를 도시하는 흐름도이다.
이하, 실시 형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다.
이 실시 형태에서는, 보호 대상의 주회로를 정전시키지 않고, 이 주회로의 보호를 계속한 채로, 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 행할 수 있다.
도 1은 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 구성예를 도시하는 블록도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이는, 주회로 변성기(1), 보조 변성기(2), 아날로그 검출 회로(3), A/D 변환 회로(4), CPU(중앙 처리 장치)(5), 메모리(6), 표시 회로(7), 스위치 회로(8), 차단기 트립 출력 접점(9), 통신 회로(10) 및 시험용 접점을 구비한다.
주회로 변성기(1)는 주회로에 접속되는 변성기이다. 보조 변성기(2)는 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호의 전압을 소정의 전자 회로 레벨의 전압으로 강압한다.
또한, 보조 변성기(2)의 출력측과 아날로그 검출 회로(3)의 입력측 사이에는, 3상의 각 상에 따른 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)가 접속된다. 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)를 통합하여 검출 저항 회로(20)라 칭할 수 있다.
도 2는 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 외관의 일례를 도시하는 사시도이다.
디지털 보호 릴레이의 시험용 접점(시험용 단자)은, 보조 변성기 2차측 입력 접점(11) 및 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)이다. 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)은, 릴레이 시험용 입력 접점으로서 기능한다. 이들 시험용 접점은, 도 2에 도시한 바와 같이 통신 회로(10)의 단자와 함께 디지털 보호 릴레이의 반(30)의 정면에 설치된다. 또한, 이 반(30)의 정면은 개폐식의 커버(31)로 덮인다. 통신 회로(10), 보조 변성기 2차측 입력 접점(11) 및 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)을 단수의 커버로 덮는 한편, 표시 회로(7)나 스위치 회로(8)를 노출시켜도 된다. 각종 접점을 커버로 덮음으로써, 각종 접점에의 불필요한 접촉을 방지할 수 있다.
디지털 보호 릴레이를 사용한 시험을 행하지 않을 때는, 작업자는 커버를 닫을 수 있다. 또한, 시험을 행할 때는, 작업자는 커버를 열어, 각종 시험용 접점이나 통신 회로(10)의 단자에 포터블 시험 장치(13)의 접속을 행할 수 있다. 이 포터블 시험 장치(13)는, 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 행할 수 있는 작업원이 휴대 가능한 시험 장치이다.
또한, 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)는, 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호를 입력하면서, 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 위한 과전류 등의 시험용 신호를, 주회로로부터의 전기 신호에 우선하여 아날로그 검출 회로(3)에 입력하기 위해서 설치된다.
검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)는
Figure pct00002
형 회로이다. 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)의 1차측은, 보조 변성기(2)의 출력측의 각 상에 대응하는 단자에 1 대 1로 접속된다.
검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)의 2차측의 한쪽 단자는, 아날로그 검출 회로(3)의 입력측의 각 상에 대응하는 단자에 1 대 1로 접속된다. 또한, 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)의 2차측의 다른 쪽 단자는, 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)에 접속된다.
본 실시 형태에서는, 보조 변성기(2)와 아날로그 검출 회로(3) 사이의 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)는
Figure pct00003
형 회로를 이룬다. 이
Figure pct00004
형 회로는 제1 저항기, 제2 저항기, 제3 저항기가 조합되어 이루어진다.
제1 저항기는,
Figure pct00005
형 회로에 있어서의 보조 변성기(2)측 저항기이다. 제2 저항기는
Figure pct00006
형 회로에 있어서의 중앙의 저항기이다. 제3 저항기는
Figure pct00007
형 회로에 있어서의 아날로그 검출 회로(3)측에 있어서의 저항기이다.
제1 저항기의 일단부는 제2 저항기의 일단부(보조 변성기(2)측)에 접속된다. 제1 저항기의 타단부는 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)에 접속된다.
또한, 제3 저항기의 일단부는 제2 저항기의 타단부(아날로그 검출 회로(3)측)에 접속된다. 제3 저항기의 타단부는 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)에 접속된다.
이러한 구성으로서, 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호가 제1 저항기에 입력된 상태에서, 제3 저항기의 일단부(제2 저항기의 타단부)에, 정전압에 의한 시험용 신호의 입력을 행할 수 있다. 그렇게 하면, 주회로 변성기(1)로부터 보조 변성기(2)를 통해서 제1 저항기에 인가된 전압과, 제3 저항기에 정전압으로서 인가된 전압의 차분을 제2 저항기에 의해 부담할 수 있다.
이러한 구성으로 함으로써, 본 실시 형태에서는, 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호가 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)에 입력되고 있는 상태에서도, 시험용 신호를 주회로 변성기(1)로부터의 전기 신호에 우선하여 아날로그 검출 회로(3)에 입력할 수 있다.
또한, 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)는
Figure pct00008
형 회로로부터 변환한 등가 회로로서의 T형 회로이어도 된다.
아날로그 검출 회로(3)는, 보조 변성기(2)로부터 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c)를 통해서 출력된 전류값을 검출한다. 이 검출된 전류값은 아날로그값의 전류값이다. A/D 변환 회로(4)는 아날로그 검출 회로(3)로부터의 아날로그값의 전류값을 디지털값의 전류값으로 변환한다.
CPU(5)는 A/D 변환 회로(4)로부터의 전류값을 처리함으로써, 디지털 보호 릴레이의 보호 동작을 실행한다.
CPU(5)에는 메모리(6), 표시 회로(7), 스위치 회로(8)가 접속된다. 메모리(6)는, 보호 동작의 기준으로 되는 전류값이나 각종 데이터 등을 CPU(5)에 의해 호출하거나 보존하기 위해서 사용된다. 표시 회로(7)는 주회로의 이상 등을 표시한다. 스위치 회로(8)는 소정의 조작을 접수하기 위한 디지털 보호 릴레이를 구비한다. 이 조작이란, 보호 동작의 실행의 기준으로 되는 전류값을 설정하거나 변경하거나 하기 위한 조작이다.
또한, CPU(5)에는, 주회로에 접속된 차단기(21)를 동작시키기 위한 차단기 트립 출력 접점(9)이 접속된다. 이 차단기 트립 출력 접점(9)은 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)에 접속된다. 이 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)은, 차단기 트립 출력 접점(9)으로부터 분기된 시험용 단자이다. 차단기 트립 출력 접점(9)은, 제1 트립 출력 접점(9a), 제2 트립 출력 접점(9b)이 직렬 접속되어 이루어진다. 이들 접점의 양쪽이 동작하여 단락되면, 차단기(21)의 트립 코일(TC)이 여자된다. 이에 의해, 주회로가 보호된다.
또한, CPU(5)에는 통신 회로(10)가 접속된다. 이 통신 회로(10)는 소정의 정보를 외부의 도시하지 않은 중앙 감시 장치에 통신할 수 있다. 이 소정의 정보는, 보호 동작의 실행의 기준으로 되는 전류값의 변경이나 차단기 트립 출력 접점(9)의 동작 유무 등을 나타낸다.
디지털 보호 릴레이의 시험 시에는, 작업원은, 통신 회로(10), 보조 변성기 2차측 입력 접점(11), 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)에, 디지털 보호 릴레이의 시험 장치로서의 포터블 시험 장치(13)를 접속할 수 있다.
전술한 바와 같이, 디지털 보호 릴레이의 통신 회로(10), 보조 변성기 2차측 입력 접점(11) 및 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)은, 디지털 보호 릴레이의 반의 정면에 설치된다. 따라서, 작업원은, 포터블 시험 장치(13)를 디지털 보호 릴레이에 용이하게 접속할 수 있다.
포터블 시험 장치(13)는 시험 신호 발생 회로(13a)를 갖는다. 이 시험 신호 발생 회로(13a)는 시험용 신호의 출력 기능을 갖는다. 시험용 신호는, 예를 들어 디지털 보호 릴레이의 동작 확인용 과전류 등이다.
작업원은, 포터블 시험 장치(13)에서, 3상 중 시험 대상의 상을 선택하기 위한 설정을 행할 수 있다. 포터블 시험 장치(13)는, 소정의 검출 저항 회로와 아날로그 검출 회로(3)의 입력측 단자 사이에 시험용 신호를 출력할 수 있다. 소정의 검출 저항 회로란, 검출 저항 회로(20a, 20b, 20c) 중, 이 선택된 상에 대응하는 회로이다.
전술한 바와 같이, 디지털 보호 릴레이의 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)은 아날로그 검출 회로(3)의 입력측에 접속된다. 따라서, 동작 시험을 위해서 디지털 보호 릴레이에 인가하는 전기 신호를 전자 회로 레벨의 전압(수V 이하)의 전기 신호로 할 수 있다. 이에 의해, 포터블 시험 장치(13)의 사이즈는, 종래의 시험 장치와 비교하여 대폭 소형화할 수 있다.
또한, 포터블 시험 장치(13)는, 디지털 보호 릴레이의 차단기 트립 출력 접점(9)으로부터의 신호의 입력 판정 기능 및 디지털 보호 릴레이의 통신 회로(10)와의 통신 기능을 구비한다. 이 통신 기능에 대해서는 후술한다.
다음에, 디지털 보호 릴레이의 동작 및 포터블 시험 장치의 기능에 대해서 설명한다. 도 3은 실시 형태에 있어서의 디지털 보호 릴레이의 포터블 시험 장치의 동작 수순의 일례를 도시하는 흐름도이다.
먼저, 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 행할 때, 작업원은 포터블 시험 장치(13)의 시험 신호 발생 회로(13a)의 단자를 디지털 보호 릴레이의 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)에 접속한다. 또한, 작업원은, 포터블 시험 장치(13)의 보호 릴레이 동작 검출용 단자를 디지털 보호 릴레이의 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)에 접속한다. 또한, 작업원은, 포터블 시험 장치(13)와 디지털 보호 릴레이의 통신 회로(10)를 접속한다(스텝 S1).
디지털 보호 릴레이의 시험 시는, 포터블 시험 장치(13)는, 작업원에 의한 소정의 조작에 의해, 복수 종류의 시험 조건, 예를 들어 입력 신호의 전류/전압 값, 시험 시간, 출력 접점 등 및 3상 중 원하는 시험 대상의 상을 설정한다(스텝 S2).
포터블 시험 장치(13)는, 스텝 S1에서 설정한 시험 조건에 기초하여, 통신 회로(10)를 통한 통신에 의해, 디지털 보호 릴레이의 세팅 표준값(整定値)을 변경한다.
그리고, 포터블 시험 장치(13)는, 통신 회로(10)에 의한 통신에 의해, 디지털 보호 릴레이의 현세팅 표준값을 디지털 보호 릴레이의 메모리(6)로부터 판독한다(스텝 S3). 포터블 시험 장치(13)는, 이 현세팅 표준값에 기초하여, 당해 보호 릴레이의 보호 동작 레벨에 대응한 정전압에 의한 시험용 신호를 시험 신호 발생 회로(13a)로부터 출력한다(스텝 S4). 이 출력된 시험용 신호는, 디지털 보호 릴레이의 보조 변성기 2차측 입력 접점(11)에 있어서의 시험 대상의 상에 대응하는 접점을 통해서, 디지털 보호 릴레이의 아날로그 검출 회로(3)에 입력된다. 이 시험용 신호는 A/D 변환 회로(4)를 통해서 CPU(5)에 입력된다.
CPU(5)는, 디지털 보호 릴레이의 보호 처리를 행하기 위한 트립 출력 유무를 디지털 보호 릴레이의 현세팅 표준값에 따라서 판정한다. 이 판정에 의해, CPU(5)는 시험 대상 상에 대응하는 릴레이를 동작시킨다.
본 실시 형태에서는, 디지털 보호 릴레이의 시험 시는, 주회로의 이상을 검출하지 못한 상태에서, 포터블 시험 장치(13)의 시험 신호 발생 회로(13a)로부터의 시험 대상 상에의 출력값이, 소정의 역치를 초과하는 경우가 있다.
주회로의 이상을 검출하지 못한 경우란, 주회로 계통에의 3상 입력 중, 시험 대상 상 이외의 상의 전류/전압의 입력값이 소정의 역치를 초과하지 않은 경우이다.
또한, 소정의 역치란, 시험 대상 상에 대한 보호 동작이 정상인 것을 나타내는 값이다.
시험 대상 상에의 출력값이 소정의 역치를 초과한 경우란, 3상 중 시험 대상 상만이 동작하고 있는 경우이다. 이 경우에 (스텝 S5의 "예"), CPU(5)는, 제1 트립 출력 접점(9a), 제2 트립 출력 접점(9b) 중 한쪽, 예를 들어 제1 트립 출력 접점(9a)만을 동작(폐쇄)시킨다. 이 경우, CPU(5)는 다른 쪽 트립 출력 접점에 대해서는 동작시키지 않는다.
이에 의해, 차단기(21)의 트립 코일을 여자시키지 않고, 임의의 1상의 보호 릴레이의 동작 시험을 행하는 것이 가능하다.
또한, 포터블 시험 장치(13)는, 디지털 보호 릴레이의 릴레이 시험용 트립 출력 접점(12)을 통해서 디지털 보호 릴레이의 동작을 검출한다(스텝 S6). 이에 의해, 주회로를 정전시키지 않고 주회로의 보호 동작을 계속한 채로, 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 행할 수 있다.
또한, 전술한, 보호 릴레이 동작 시험의 대상으로 된 임의의 1상을 제외한, 보호 릴레이 동작 시험의 대상 외로서의 나머지 2상에 대해서는, CPU(5)는 디지털 보호 릴레이의 동작 시험 중에도 주회로 변성기(1)로부터의 입력을 감시한다.
CPU(5)는, 포터블 시험 장치(13)의 시험 신호 발생 회로(13a)로부터의 시험 대상 상에의 출력값이, 이 상에 대한 보호 동작이 정상인 것을 확인할 수 있는 것을 나타내는 소정의 역치를 초과하였는지 여부에 관계없이, 소정의 판정을 행한다. 이 소정의 판정이란, 감시 중에 있어서 주회로에 사고가 발생하여, 주회로 계통에의 3상 입력 중, 시험 대상 상 이외의 상의 전류/전압의 입력값이, 소정의 역치를 초과하였는지 여부를 판정하는 것이다.
CPU(5)는, 스텝 S7에서 「예」라고 판정한 경우, 시험 대상 상 이외의 상의 전류/전압의 입력값이, 소정의 역치를 초과하였다는 취지를 나타내는 신호를 통신 회로(10)에 의해 포터블 시험 장치(13)에 출력하여, 포터블 시험 장치(13)로부터의 시험용 신호의 출력을 정지시킨다. 이에 의해, CPU(5)는 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 중단한다(스텝 S8).
CPU(5)는, 시험 중의 상에의 입력을, 포터블 시험 장치(13)로부터의 입력으로부터 주회로로부터의 입력으로 전환하여, 복수 직렬의 트립 출력 접점(9a, 9b)을 모두 동작시킨다. 이와 같이 하여, CPU(5)는, 외부에 트립 출력이 이루어지도록 보호 동작을 행한다(스텝 S9). 따라서, 주회로를 정전시키지 않고, 주회로의 보호를 계속한 채로 디지털 보호 릴레이의 점검을 행할 수 있다.
이상과 같이, 실시 형태에서는, 디지털 보호 릴레이는, 보호 대상으로 되는 주회로 계통의 전기량을 검출하는 아날로그 검출 회로를 구비한다. 이 디지털 보호 릴레이는, 주회로 계통의 이상 상태를 검출하고, 차단기를 동작시키기 위한 트립 신호를 출력하여 보호 동작을 행하고, 보조 변성기의 2차측으로부터 전자 회로 레벨의 시험용 신호를 사용하여 디지털 보호 릴레이의 동작 시험을 행할 수 있다. 따라서, 시험 장치를 포터블(소형)화할 수 있다.
또한, 시험에 필요한 단자를 디지털 보호 릴레이의 반의 정면 등에 설치하였기 때문에, 작업원은, 시험에 필요한 단자를 디지털 보호 릴레이에 용이하게 접속하여 동작 시험을 행할 수 있다.
또한, 보조 변성기(2)의 신뢰도는 주회로 변성기(1)의 신뢰도 이상이며, 보조 변성기(2)가 만일 고장 나도 단선 방향이다. 이 때문에, 디지털 보호 릴레이의 CPU(5)는 주회로 계통의 이상을 검출 가능하다. 이 때문에, 작업원은, 보조 변성기(2)에 대하여, 주회로 변성기(1)와 마찬가지의 정기적인 점검을 행할 필요는 없다.
또한, 포터블 시험 장치(13)는, 보조 변성기(2)의 2차측의 3상의 전류, 전압 입력 중 시험 대상 상에, 릴레이의 보호 동작 레벨에 대응한 레벨로서의 전자 회로 레벨이 작은 시험용 신호를 인가한다. 또한, 디지털 보호 릴레이는, 상마다 세팅 표준된 출력으로 동작 출력한다. 이에 의해, 상마다의 동작 시험을 행할 수 있다.
이들 각 실시 형태에 의하면, 주회로를 미리 정전시키지 않고, 안전하면서 용이하게 동작 시험을 행하는 것이 가능해지는 디지털 보호 릴레이, 디지털 보호 릴레이 시험 장치 및 디지털 보호 릴레이 시험 방법을 제공할 수 있다.
발명의 몇 가지의 실시 형태를 설명하였지만, 이들 실시 형태는 예로서 제시한 것이며, 발명의 범위를 한정하는 것은 의도하고 있지 않다. 이들 신규의 실시 형태는, 그 밖의 다양한 형태로 실시되는 것이 가능하고, 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서, 다양한 생략, 치환, 변경을 행할 수 있다. 이들 실시 형태나 그 변형은 발명의 범위나 요지에 포함됨과 함께, 특허 청구 범위에 기재된 발명과 그 균등의 범위에 포함된다.
1 : 주회로 변성기
2 : 보조 변성기
3 : 아날로그 검출 회로
4 : A/D 변환 회로
5 : CPU(중앙 처리 장치)
6 : 메모리
7 : 표시 회로
8 : 스위치 회로
9 : 차단기 트립 출력 접점
10 : 통신 회로
11 : 보조 변성기 2차측 입력 접점
12 : 릴레이 시험용 트립 출력 접점
13 : 포터블 시험 장치
20a, 20b, 20c : 검출 저항 회로
21 : 차단기

Claims (11)

  1. 주회로에 접속되는 주회로 변성기로부터의 전기 신호의 전압을 소정의 전압으로 강압하는 보조 변성기와,
    입력측이 상기 보조 변성기의 출력측에 접속되는
    Figure pct00009
    형 또는 T형 회로로 이루어지는 검출 저항 회로와,
    상기 검출 저항 회로의 출력측에 설치되며, 상기 보조 변성기로부터의 전기 신호의 전기량을 검출하는 아날로그 검출 회로와,
    상기 아날로그 검출 회로에 접속되는 A/D 변환 회로와,
    상기 A/D 변환 회로에 접속되어, 보호 동작을 실행하는 중앙 처리 장치와,
    상기 중앙 처리 장치의 처리에 의해 동작하여 외부의 차단기를 동작시키는 트립 출력 접점을 구비하는 디지털 보호 릴레이로서,
    외부의 시험 장치로부터의 상기 아날로그 검출 회로에의 정전압에 의한 시험용 신호를 상기 보조 변성기의 출력에 상당하는 신호로서 입력하기 위한 입력 접점 단자를 상기 아날로그 검출 회로의 입력측의 각 상에 대응하여 상기 검출 저항 회로와 상기 아날로그 검출 회로 사이에 설치한 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 트립 출력 접점으로부터 분기된 트립 출력 접점 단자를 더 구비한 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 입력 접점 단자 및 상기 트립 출력 접점 단자가 반(盤)의 정면에 설치되는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 트립 출력 접점은 복수 직렬로 설치되어 있고,
    상기 중앙 처리 장치는,
    상기 시험용 신호의 입력에 수반되는 정상적인 동작으로서, 상기 복수의 트립 출력 접점 중 일부를 동작시키고, 그 밖의 트립 출력 접점에 대해서는 동작시키지 않는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 중앙 처리 장치는,
    상기 아날로그 검출 회로의 출력측의 3상 중 임의의 1상으로부터는 상기 시험용 신호를 입력하고, 상기 임의의 1상을 제외한 나머지 2상으로부터는 상기 시험용 신호를 입력하지 않고 상기 주회로 변성기로부터의 신호를 입력하고, 상기 2상 중 어느 하나로부터의 신호의 입력값의 각각이 상기 주회로의 이상을 나타내는 역치를 초과한 경우에, 상기 트립 출력 접점 모두를 동작시키는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이.
  6. 디지털 보호 릴레이 시험 장치로서,
    제2항에 기재된 상기 디지털 보호 릴레이의 상기 입력 접점 단자 및 상기 트립 출력 접점 단자에 접속되며, 상기 아날로그 검출 회로의 입력측의 3상 중 임의의 1상에 대응하는 상기 입력 접점 단자로부터 상기 시험용 신호를 입력하고, 상기 시험용 신호의 입력에 수반되는 상기 트립 출력 접점의 동작을 상기 트립 출력 접점 단자를 통해서 검출하는 시험을 행하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 디지털 보호 릴레이의 세팅 표준값을 검출하고, 소정의 복수 종류의 시험 조건에 기초하여 상기 검출한 세팅 표준값을 변경하고, 상기 변경한 세팅 표준값에 기초하여 상기 트립 출력 접점의 동작의 시험을 행하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 디지털 보호 릴레이의 상기 아날로그 검출 회로의 출력측의 3상 중 임의의 1상에 상기 시험용 신호를 입력하고, 상기 임의의 1상을 제외한 나머지 2상에는 상기 시험용 신호를 입력하지 않고 상기 주회로 변성기로부터의 신호를 입력한 상태에서, 상기 2상 중 어느 하나에의 신호의 입력값의 각각이 상기 주회로의 이상을 나타내는 역치를 초과한 것을 상기 디지털 보호 릴레이에 의해 검출한 경우는, 상기 시험용 신호의 입력을 중단하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 장치.
  9. 디지털 보호 릴레이 시험 방법으로서,
    제2항에 기재된 상기 디지털 보호 릴레이의 상기 입력 접점 단자 및 상기 트립 출력 접점 단자에 접속되며, 상기 아날로그 검출 회로의 입력측의 3상 중 임의의 1상에 대응하는 상기 입력 접점 단자로부터 상기 시험용 신호를 입력하고, 상기 시험용 신호의 입력에 수반되는 상기 트립 출력 접점의 동작을 상기 트립 출력 접점 단자를 통해서 검출하는 시험을 행하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 디지털 보호 릴레이의 세팅 표준값을 검출하고, 소정의 복수 종류의 시험 조건에 기초하여 상기 검출한 세팅 표준값을 변경하고, 상기 변경한 세팅 표준값에 기초하여 상기 트립 출력 접점의 동작의 시험을 행하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 디지털 보호 릴레이의 상기 아날로그 검출 회로의 출력측의 3상 중 임의의 1상에 상기 시험용 신호를 입력하고, 상기 임의의 1상을 제외한 나머지 2상에는 상기 시험용 신호를 입력하지 않고 상기 주회로 변성기로부터의 신호를 입력한 상태에서, 상기 2상 중 어느 하나에의 신호의 입력값의 각각이 상기 주회로의 이상을 나타내는 역치를 초과한 것을 상기 디지털 보호 릴레이에 의해 검출한 경우는, 상기 시험용 신호의 입력을 중단하는 것을 특징으로 하는 디지털 보호 릴레이 시험 방법.
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