CN115143859B - 一种转向架导柱位置测量尺的校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及机车转向架构架检修技术领域，尤其涉及一种转向架导柱位置测量尺的校准方法。包括：步骤S1，确定已经确定的标准转向架作为校准基准，对两对角线差值、交叉杆长度以及交叉杆宽度进行测量，并根据实际的测量结果判定是否存在未校准的部件；步骤S2，中控模块对需要校准的部件和项目进行初步判定以及根据多个异常的测量参数对实际未校准的项目进行综合判定；步骤S3，对未校准的测量尺的校准项目采用不同的方法进行不同的校准，所述中控模块根据预设测长机的分米刻度尺线膨胀系数和预设温度与实际值进行对比并对测量尺的校准是否完成进行判定。本发明实现了对于转向架导柱位置测量尺校准的效率提高以及提高了测量尺各部件校准的准确率。

Description

一种转向架导柱位置测量尺的校准方法

技术领域

本发明涉及机车转向架构架检修领域，尤其涉及一种转向架导柱位置测量尺的校准方法。

背景技术

转向架是各种轨道车辆的关键部件，其组装尺寸直接影响到车辆的运行安全性及乘坐舒适性。目前，转向架组装尺寸主要通过在车轮上划线、刻打样冲点，并采用大尺寸游标卡尺进行测量：在轮对踏面上喷洒反差增强剂，利用反差增强剂在同一轮对处于同一水平高度处划直线，并距车轮内侧面70mm处划与水平线相交的线，在两线交点处刻打样冲点，再将两轮对样冲点转至最高点附近，采用大尺寸游标卡尺进行对角线尺寸测量。经过多重转换，各工序产生的仪器误差及人为误差，易导致误差累积，从而造成实际尺寸超出工艺标准。且在车轮踏面滚动圆处刻打样冲点，会造成车轮损伤，影响轮对性能，从而难以符合人们的操作要求。而在转向架导柱位置测量尺校准方法领域的可规范化操作的方法太少。

中国专利公开号：CN113218267A。公开了一种转向架构架检测用十字形卡尺校准方法，包括以下步骤：确定校准条件、检查主要用校准标准器是否符合要求、校准项目及校准方法、校准结果表达、复校时间间隔、校准完成后，及时填写构架检测专用十字形卡尺校准记录；本发明校准装置的结构设计科学合理、结构简单、使用便捷，利用校准装置及校准方法能开展转向架构架划线及检测专用的十字形卡尺的校准工作，规范了校准行为并能在行业内溯源和量值传递，满足转向架构架检测用十字形卡尺的校准要求。由此可见，所述校准方法存在以下问题：测量尺的校准效率较低和误差较大。

发明内容

为此，本发明提供一种转向架导柱位置测量尺的校准方法，用以克服现有技术中测量尺的校准效率较低和误差较大的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种转向架导柱位置测量尺的校准方法，包括：步骤S1，确定已经确定的标准转向架作为校准基准，使用待校准测量尺对标准转向架交叉杆进行两对角线差值、交叉杆长度以及交叉杆宽度的测量，并根据实际的测量结果判定是否存在未校准的部件，若判定存在未校准的部件则对测量尺中的未校准部件进行重新校准；步骤S2，中控模块根据预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值、预设标准转向架交叉杆长度差值以及预设标准转向架交叉杆宽度差值对需要校准的部件和项目进行初步判定以及根据多个异常的测量参数对实际未校准的项目进行综合判定；步骤S3，在确定好未校准的部件和项目时，对未校准的测量尺的校准项目采用不同的方法进行不同的校准，所述中控模块根据预设测长机的分米刻度尺线膨胀系数和预设温度与实际值进行对比并对测量尺的校准是否完成进行判定。

进一步地，在所述步骤S1中，对标准转向架的交叉杆的两对角线差值A、交叉杆长度B以及交叉杆宽度C分别进行测量，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值A0、预设标准转向架交叉杆长度B0以及预设标准转向架交叉杆宽度C0，当测量完成时，根据测量的结果和预设的参数标准值进行比对，

若A≠A0、B≠B0或C≠C0，所述中控模块判定存在未校准的部件；

若A＝A0、B＝B0且C＝C0，所述中控模块判定转向架导柱位置参数符合标准并判定不存在未校准的部件。

进一步地，在完成所述步骤S1时，所述中控模块对需要校准的项目进行判定，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值△A0、预设标准转向架交叉杆长度差值△B0以及预设标准转向架交叉杆宽度差值△C0，设定△A=A-A0，△B=B-B0,△C=C-C0,

若△A>△A0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆两对角线差值的差值不符合标准并判定测量尺需要校准的部件为测微头和尾节测头；

若△B>△B0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆长度差值不符合标准并判定需要校准的部件为首节测量杆、接长杆以及尾节测量杆；

若△C>△C0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆宽度差值不符合标准并判定需要校准的部件为尾节测头和支架上升杆。

进一步地，在初步判定出所需要校准的测量尺项目时，所述中控模块根据实际测量值与预设最大差值进行对比并根据对比结果对是否需要综合判定以确定实际未校准的项目进行判定，所述中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线最大差值△Amax、预设标准转向架交叉杆两对角线长度最大差值△Bmax以及预设标准转向架交叉杆最大差值△Cmax，

若△A<△Amax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△A>△Amax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△B<△Bmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△B>△Bmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△C<△Cmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△C>△Cmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目。

进一步地，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目，

若△A>△A0、△B>△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为各部分相互作用产生的误差、工作面粗糙度产生的误差以及刻线宽度及宽度差产生的误差；

若△A>△A0、△C>△C0且△B<△B0，所述中控模块判定实际未校准的项目为工作面粗糙度产生的误差、刻线宽度及宽度差产生的误差以及微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△C>△C0且△A<△A0，所述中控模块判定实际未校准的项目为测微头与接长杆的组合尺寸示值误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差。

进一步地，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目时，当出现单个参数出现异常的情况，中控模块根据辅助参数对实际未校准的项目进行确认，

若△A>△A0、△B<△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为：刻线宽度及宽度差产生的误差和微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△A<△A0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差；

若△C>△C0、△B<△B0且△A<△A0 ，所述中控模块判定实际未校准的项目为：微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和工作面粗糙度产生的误差。

进一步地，在完成所述步骤S2时，对确定需要校准的项目进行校准，各测量尺项目的校准方法和步骤如下：

对于测量尺外观可能产生的误差，采用目力观察的方式进行校准；

所述各部分相互作用产生的误差，采用目力观察和手动试验的方式进行校准；

所述工作面粗糙度产生的误差，采用表面粗糙度比较样块检定；

所述刻线宽度及宽度差产生的误差，采用工具显微镜检的方式进行校准；

所述微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差，采用塞尺检定的方式进行校准；

所述微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置产生的误差，首先将零位调整好，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值；

所述测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差，在测长机上测定，测长机按实际值使用，选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行，将测微头借助支架安装在测长机工作台上并在测长机上进行检定，测微头示值检定分别在锁紧装置锁紧和松开情况下进行；

各点的示值误差为测微头各点的示值与测长机的测得值的差值；

示值变化为测微头同一受检点在锁紧装置锁紧和松开情况下测长机两次测得值的差值；

所述测微头与接长杆的组合尺寸示值误差，测微头与接长杆的组合尺寸在测微机上进行检定，测长机按实际值使用；选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行；检定时，将测微头锁紧后与接长杆进行组合并安放在测长机V形支架上进行检定；其支撑点距端面的距离130mm；检定时，每组尺寸必须将测微头与接长杆每旋转90°检定一次，取平均值为测量值；

组合尺寸的示值误差为组合尺寸与测长机测得值的差值。

进一步地，当进行测量尺校准时，当涉及到外观的校准的时候，所述中控模块判定首先进行外观校准；当涉及到除外观校准之外的其他项目的时候，所述中控模块根据逻辑递进的方式对需要校准的项目进行优先级排序，正常情况下的优先级顺序为：

各部分相互作用>工作面粗糙度>刻线宽度及宽度差>微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离>微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置>测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差>测微头与接长杆的组合尺寸示值误差。

进一步地，所述测长机的分米刻度尺线膨胀系数U影响校准的准确性，工作面表面粗糙度，所述中控模块设有预设膨胀系数标准值U0并判定是否初步完成整体校准，

若U>U0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若U≤U0，所述中控模块判定完成>对于测量尺的校准并不发出警报。

进一步地，所述测长机的温度也影响校准的准确性，所述中控模块设有预设温度影响系数K0，中控模块通过温度传感器测得的温度值K对校准是否完成进行判定，

若K>K0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若K≤K0，所述中控模块判定完成对于测量尺的校准并不发出再次校准警报。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于，一种转向架导柱位置测量尺的校准方法，通过设置校准步骤S1到S3，能够实现转向架导柱位置测量尺的校准工作，并且实现了校准过程的规范化以及缩短校准所需时间，提高了校准的准确性和效率，实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置预设标准转向架交叉杆两对角线差值、预设标准转向架交叉杆长度以及预设标准交叉杆宽度，可以对是否存在未校准的项目进行判定，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值、预设标准转向架交叉杆长度差值以及预设标准转向架交叉杆宽度差值，可以对需要校准的部件或项目进行判定，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置预设标准转向架交叉杆两对角线最大差值、预设标准转向架交叉杆两对角线长度最大差值以及预设标准转向架交叉杆最大差值，

可以对是否需要综合判定以确定实际未校准的项目进行判定，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过对测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定，可以对未校准项目进行确定，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过对单个参数出现的异常情况进行判断并对比其他参数对实际未校准的项目进行确认，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置各校准项目实际校准方法，可以对校准过程实现精准化操作，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过对校准的项目进行优先级排序以提高校准的规范性和准确性，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置预设膨胀系数标准值，可以对实际校准项目完成时的测量尺进行进一步校准验证，提高了校准的精准性，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

进一步地，本发明所述方法通过设置预设温度影响系数，可以对校准是否完成进行最终判定，提高了校准的准确性和可监测性，进一步实现了机车转向架的导柱位置测量尺的校准流程的规范化精准校准以及提高了校准的效率。

附图说明

图1为本发明所述转向架导柱位置测量尺的校准方法的流程图。

实施方式

为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。

此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

请参阅图1所示，一种转向架导柱位置测量尺的校准方法，包括：

步骤S1，确定已经确定的标准转向架作为校准基准，使用待校准测量尺对标准转向架交叉杆进行两对角线差值、交叉杆长度以及交叉杆宽度的测量，并根据实际的测量结果判定是否存在未校准的部件，若判定存在未校准的部件则对测量尺中的未校准部件进行重新校准；

步骤S2，中控模块根据预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值、预设标准转向架交叉杆长度差值以及预设标准转向架交叉杆宽度差值对需要校准的部件和项目进行初步判定以及根据多个异常的测量参数对实际未校准的项目进行综合判定；

步骤S3，在确定好未校准的部件和项目时，对未校准的测量尺的校准项目采用不同的方法进行不同的校准，所述中控模块根据预设测长机的分米刻度尺线膨胀系数和预设温度与实际值进行对比并对测量尺的校准是否完成进行判定。

请继续参阅图1所示，在所述步骤S1中，对标准转向架的交叉杆的两对角线差值A、交叉杆长度B以及交叉杆宽度C分别进行测量，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值A0、预设标准转向架交叉杆长度B0以及预设标准转向架交叉杆宽度C0，当测量完成时，根据测量的结果和预设的参数标准值进行比对，

若A≠A0、B≠B0或C≠C0，所述中控模块判定存在未校准的部件；

若A＝A0、B＝B0且C＝C0，所述中控模块判定转向架导柱位置参数符合标准并判定不存在未校准的部件。

请继续参阅图1所示，在完成所述步骤S1时，所述中控模块对需要校准的项目进行判定，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值△A0、预设标准转向架交叉杆长度差值△B0以及预设标准转向架交叉杆宽度差值△C0，设定△A=A-A0，△B=B-B0,△C=C-C0,

若△A>△A0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆两对角线差值的差值不符合标准并判定测量尺需要校准的部件为测微头和尾节测头；

若△B>△B0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆长度差值不符合标准并判定需要校准的部件为首节测量杆、接长杆以及尾节测量杆；

若△C>△C0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆宽度差值不符合标准并判定需要校准的部件为尾节测头和支架上升杆。

请继续参阅图1所示，在初步判定出所需要校准的测量尺项目时，所述中控模块根据实际测量值与预设最大差值进行对比并根据对比结果对是否需要综合判定以确定实际未校准的项目进行判定，所述中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线最大差值△Amax、预设标准转向架交叉杆两对角线长度最大差值△Bmax以及预设标准转向架交叉杆最大差值△Cmax，

若△A<△Amax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△A>△Amax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△B<△Bmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△B>△Bmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△C<△Cmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△C>△Cmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目。

请继续参阅图1所示，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目，

若△A>△A0、△B>△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为各部分相互作用产生的误差、工作面粗糙度产生的误差以及刻线宽度及宽度差产生的误差；

若△A>△A0、△C>△C0且△B<△B0，所述中控模块判定实际未校准的项目为工作面粗糙度产生的误差、刻线宽度及宽度差产生的误差以及微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△C>△C0且△A<△A0，所述中控模块判定实际未校准的项目为测微头与接长杆的组合尺寸示值误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差。

请继续参阅图1所示，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目时，当出现单个参数出现异常的情况，中控模块根据辅助参数对实际未校准的项目进行确认，

若△A>△A0、△B<△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为：刻线宽度及宽度差产生的误差和微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△A<△A0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差；

若△C>△C0、△B<△B0且△A<△A0 ，所述中控模块判定实际未校准的项目为：微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和工作面粗糙度产生的误差。

请继续参阅图1所示，在完成所述步骤S2时，对确定需要校准的项目进行校准，各测量尺项目的校准方法和步骤如下：

对于测量尺外观可能产生的误差，采用目力观察的方式进行校准；

所述各部分相互作用产生的误差，采用目力观察和手动试验的方式进行校准；

所述工作面粗糙度产生的误差，采用表面粗糙度比较样块检定；

所述刻线宽度及宽度差产生的误差，采用工具显微镜检的方式进行校准；

所述微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差，采用塞尺检定的方式进行校准；

所述微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置产生的误差，首先将零位调整好，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值；

所述测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差，在测长机上测定，测长机按实际值使用，选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行，将测微头借助支架安装在测长机工作台上并在测长机上进行检定，测微头示值检定分别在锁紧装置锁紧和松开情况下进行；

各点的示值误差为测微头各点的示值与测长机的测得值的差值；

示值变化为测微头同一受检点在锁紧装置锁紧和松开情况下测长机两次测得值的差值；

所述测微头与接长杆的组合尺寸示值误差，测微头与接长杆的组合尺寸在测微机上进行检定，测长机按实际值使用；选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行；检定时，将测微头锁紧后与接长杆进行组合并安放在测长机V形支架上进行检定；其支撑点距端面的距离130mm；检定时，每组尺寸必须将测微头与接长杆每旋转90°检定一次，取平均值为测量值；

组合尺寸的示值误差为组合尺寸与测长机测得值的差值。

请继续参阅图1所示，当进行测量尺校准时，当涉及到外观的校准的时候，所述中控模块判定首先进行外观校准；当涉及到除外观校准之外的其他项目的时候，所述中控模块根据逻辑递进的方式对需要校准的项目进行优先级排序，正常情况下的优先级顺序为：

各部分相互作用>工作面粗糙度>刻线宽度及宽度差>微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离>微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置>测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差>测微头与接长杆的组合尺寸示值误差。

请继续参阅图1所示，所述测长机的分米刻度尺线膨胀系数U影响校准的准确性，工作面表面粗糙度，所述中控模块设有预设膨胀系数标准值U0并判定是否初步完成整体校准，

若U>U0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若U≤U0，所述中控模块判定完成>对于测量尺的校准并不发出警报。

请继续参阅图1所示，所述测长机的温度也影响校准的准确性，所述中控模块设有预设温度影响系数K0，中控模块通过温度传感器测得的温度值K对校准是否完成进行判定，

若K>K0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若K≤K0，所述中控模块判定完成对于测量尺的校准并不发出再次校准警报。

至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并不用于限制本发明；对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。 凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，包括：

步骤S1，确定已经确定的标准转向架作为校准基准，使用待校准测量尺对标准转向架交叉杆进行两对角线差值、交叉杆长度以及交叉杆宽度的测量，并根据实际的测量结果判定是否存在未校准的部件，若判定存在未校准的部件则对测量尺中的未校准部件进行重新校准；

步骤S2，中控模块根据预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值、预设标准转向架交叉杆长度差值以及预设标准转向架交叉杆宽度差值对需要校准的部件和项目进行初步判定以及根据多个异常的测量参数对实际未校准的项目进行综合判定；

步骤S3，在确定好未校准的部件和项目时，对未校准的测量尺的校准项目采用不同的方法进行不同的校准，所述中控模块根据预设测长机的分米刻度尺线膨胀系数和预设温度与实际值进行对比并对测量尺的校准是否完成进行判定;

在所述步骤S1中，对标准转向架的交叉杆的两对角线差值A、交叉杆长度B以及交叉杆宽度C分别进行测量，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值A0、预设标准转向架交叉杆长度B0以及预设标准转向架交叉杆宽度C0，当测量完成时，根据测量的结果和预设的参数标准值进行比对，

若A≠A0、B≠B0或C≠C0，所述中控模块判定存在未校准的部件；

若A＝A0、B＝B0且C＝C0，所述中控模块判定转向架导柱位置参数符合标准并判定不存在未校准的部件;

在完成所述步骤S1时，所述中控模块对需要校准的项目进行判定，中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线差值的差值△A0、预设标准转向架交叉杆长度差值△B0以及预设标准转向架交叉杆宽度差值△C0，设定△A=A-A0，△B=B-B0,△C=C-C0,

若△A>△A0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆两对角线差值的差值不符合标准并判定测量尺需要校准的部件为测微头和尾节测头；

若△B>△B0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆长度差值不符合标准并判定需要校准的部件为首节测量杆、接长杆以及尾节测量杆；

若△C>△C0，所述中控模块判定预设转向架交叉杆宽度差值不符合标准并判定需要校准的部件为尾节测头和支架上升杆。

2.根据权利要求1所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，在初步判定出所需要校准的测量尺项目时，所述中控模块根据实际测量值与预设最大差值进行对比并根据对比结果对是否需要综合判定以确定实际未校准的项目进行判定，所述中控模块设有预设标准转向架交叉杆两对角线最大差值△Amax、预设标准转向架交叉杆两对角线长度最大差值△Bmax以及预设标准转向架交叉杆最大差值△Cmax，

若△A<△Amax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△A>△Amax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△B<△Bmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△B>△Bmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目；

若△C<△Cmax，所述中控模块判定不需要进行综合判定并直接开始相应项目的校准工作；

若△C>△Cmax，所述中控模块判定需要进行综合判定以确定实际未校准的项目。

3.根据权利要求2所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目，

若△A>△A0、△B>△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为各部分相互作用产生的误差、工作面粗糙度产生的误差以及刻线宽度及宽度差产生的误差；

若△A>△A0、△C>△C0且△B<△B0，所述中控模块判定实际未校准的项目为工作面粗糙度产生的误差、刻线宽度及宽度差产生的误差以及微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△C>△C0且△A<△A0，所述中控模块判定实际未校准的项目为测微头与接长杆的组合尺寸示值误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差。

4.根据权利要求3所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，所述中控模块根据测量出的多个异常参数对实际未校准的项目进行综合判定以确定实际未校准的项目时，当出现单个参数出现异常的情况，中控模块根据辅助参数对实际未校准的项目进行确认，

若△A>△A0、△B<△B0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为：刻线宽度及宽度差产生的误差和微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差；

若△B>△B0、△A<△A0且△C<△C0，所述中控模块判定实际未校准的项目为微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差；

若△C>△C0、△B<△B0且△A<△A0 ，所述中控模块判定实际未校准的项目为：微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差和工作面粗糙度产生的误差。

5.根据权利要求4所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，在完成所述步骤S2时，对确定需要校准的项目进行校准，各测量尺项目的校准方法和步骤如下：

对于测量尺外观可能产生的误差，采用目力观察的方式进行校准；

所述各部分相互作用产生的误差，采用目力观察和手动试验的方式进行校准；

所述工作面粗糙度产生的误差，采用表面粗糙度比较样块检定；

所述刻线宽度及宽度差产生的误差，采用工具显微镜检的方式进行校准；

所述微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离产生的误差，采用塞尺检定的方式进行校准；

所述微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置产生的误差，首先将零位调整好，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量即为离、压线值；

所述测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差，在测长机上测定，测长机按实际值使用，选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行，将测微头借助支架安装在测长机工作台上并在测长机上进行检定，测微头示值检定分别在锁紧装置锁紧和松开情况下进行；

各点的示值误差为测微头各点的示值与测长机的测得值的差值；

示值变化为测微头同一受检点在锁紧装置锁紧和松开情况下测长机两次测得值的差值；

所述测微头与接长杆的组合尺寸示值误差，测微头与接长杆的组合尺寸在测微机上进行检定，测长机按实际值使用；选用Φ8mm的平面测帽，并将两测帽的工作面调整平行；检定时，将测微头锁紧后与接长杆进行组合并安放在测长机V形支架上进行检定；其支撑点距端面的距离130mm；检定时，每组尺寸必须将测微头与接长杆每旋转90°检定一次，取平均值为测量值；

组合尺寸的示值误差为组合尺寸与测长机测得值的差值。

6.根据权利要求5所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，当进行测量尺校准时，当涉及到外观的校准的时候，所述中控模块判定首先进行外观校准；当涉及到除外观校准之外的其他项目的时候，所述中控模块根据逻辑递进的方式对需要校准的项目进行优先级排序，正常情况下的优先级顺序为：

各部分相互作用>工作面粗糙度>刻线宽度及宽度差>微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离>微分筒锥面的端面与固定套管毫米线的相对位置>测微头示值误差及锁紧位置锁紧和松开时的示值变化产生的误差>测微头与接长杆的组合尺寸示值误差。

7.根据权利要求6所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，所述测长机的分米刻度尺线膨胀系数U影响校准的准确性，工作面表面粗糙度，所述中控模块设有预设膨胀系数标准值U0并判定是否初步完成整体校准，

若U>U0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若U≤U0，所述中控模块判定完成>对于测量尺的校准并不发出警报。

8.根据权利要求7所述的转向架导柱位置测量尺的校准方法，其特征在于，所述测长机的温度也影响校准的准确性，所述中控模块设有预设温度影响系数K0，中控模块通过温度传感器测得的温度值K对校准是否完成进行判定，

若K>K0，所述中控模块判定未完成对于测量尺的校准并发出再次校准警报；

若K≤K0，所述中控模块判定完成对于测量尺的校准并不发出再次校准警报。