CN115132925A - 一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,属于光电探测领域。所述探测器为嵌套光栅结构,包括二氧化硅/硅衬底、设置于衬底上的金属纳米线光栅阵列,包覆于金属纳米线光栅阵列外的半导体层以及包覆于半导体层外的透明导电层。该探测器可实现正交的TE和TM偏振光照下器件在零偏压下获得等大反向的信号电流,从而有效规避掉背景自然光对信号光的干扰,大幅提升偏振探测器的探测能力。另外,针对该纳米级探测器,在制备过程中,为尽可能避免由于尺寸误差所带来的光学性能及电学性能的变化,本申请在利用磁控溅射法在氧化锡层外制备导电层时,先通过原子层沉积法在钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层。
Description
技术领域
本发明涉及一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,属于光电探测领域。
背景技术
偏振光探测器因较于普通光探测器可获得更多维度的信息而在隐藏/伪装/暗弱目标的探测、智能交通、军事等领域有着非常广泛的应用。尤其近几年以智能交通为代表的万物互联即将来临,人们对低功耗、高灵敏和高集成的高性能偏振光探测器的需求呈爆发式增长。偏振探测虽历经50年的发展,然而因相位信息难以直接获取,导致前几代偏振探测装置普遍具有体积庞大、结构复杂、需要复杂的校正和标定程序等缺点[Powell,S.B.,&Gruev,V..(2013).Calibration methods for division-of-focal-planepolarimeters.Optics Express,21(18),21039-21055.],难以满足当今对光电子器件高集成化、小型化、高性能的要求。
近年基于低维材料自身各向异性的偏振探测器因有望直接实现高集成化而备受关注[白瑞雪,杨珏晗,魏大海,&魏钟鸣.(2020).低维半导体材料在非线性光学领域的研究进展.物理学报,69(18),15]。然而至今报道的偏振探测器的各向异性比普遍较低,难以满足实际应用的要求。且目前的偏振探测器获得的信号电流都是单极性的,即光电流正负性唯一。这是因为偏振探测器普遍基于光电导或者光伏效应,其获得的电流信号极性由偏置电压或内建电势方向决定,而与光信号的偏振方向无关。这种信号电流仅具有单极性,导致系统因需功率标定而较复杂,判断精度较低等问题。为此,发明人于2021年提出基于核壳纳米线结构的自驱动偏振光探测器(参见:Cao,G.,Zhang,H.,Chen,G.,&Li,X..(2021).Ambipolar self-driving polarized photodetection.ACS Photonics,8(8).),成功实现了双极信号,有效避免了单极信号产生的问题。
然而,一方面,该核壳纳米线结构制备非常困难,并且该结构不利于集成化,难以满足当前对光电器件高集成化的要求;另一方面,背景自然光同样会产生较大的背景噪声,不利于微弱信号探测。
发明内容
为了解决目前存在的新型双极性自驱动偏振光探测器面临的背景噪声较大的问题,本发明提供了一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,所述嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器包括:
二氧化硅/硅衬底,设置于衬底上的金属纳米线光栅阵列,包覆于金属纳米线光栅阵列外的半导体层以及包覆于半导体层外的透明导电层。
可选的,所述金属纳米线光栅阵列中,金属纳米线材料为银,横截面为矩形或者方形;金属纳米线边长为55±5nm,长度为3~10μm,周期为750nm。
可选的,所述半导体层采用钙钛矿材料,半导体层壳层厚度设置为94nm。
可选的,所述透明导电层采用透明导电氧化物ITO制备,厚度为80nm。
可选的,所述金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;另一端的透明导电层对应相连。
可选的,所述金属纳米线光栅阵列相连的一端处连接导线作为一端电极,另一端相连的透明导电层连接导线作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载。
本发明的第二个目的在于提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,所述方法用于制备上述嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,包括:
步骤1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列;
步骤2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,仅保留金属外围厚度为94nm的钙钛矿包覆层;
步骤3:通过原子层沉积法在半导体钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的透明导电层去除,仅保留钙钛矿外围厚度为80nm的透明导电包覆层。
可选的,所述步骤1中制备的横截面为方形的银纳米线光栅阵列,通过聚焦离子束分析仪观测确定银纳米线横截面边长为55±5nm,纳米线长度为5μm,周期为750nm。
一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,所述方法用于制备上述嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,包括:
step1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列;并将所述金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;
step2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,仅保留金属外围厚度为94nm的钙钛矿包覆层;用于连接金属纳米线光栅阵列一端的宽度为50±20nm的金属纳米线上的钙钛矿同样采用离子束刻蚀法去除;
step3:通过原子层沉积法在半导体钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的透明导电层去除,仅保留钙钛矿外围厚度为80nm的透明导电包覆层。
可选的,所述step1中制备的横截面为方形的银纳米线光栅阵列,通过聚焦离子束分析仪观测确定银纳米线横截面边长为55±5nm,纳米线长度为5μm,周期为750nm。
本发明有益效果是:
通过提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,实现正交的TE和TM偏振光照下器件在零偏压下获得等大反向的信号电流,从而有效规避掉背景自然光对信号光的干扰,大幅提升偏振探测器的探测能力;另外本发明所提的偏振探测器是在无偏压下工作的,即不需要外界供能,因此具有超低功耗且免维护;本发明所提的偏振探测器根据信号电流的极性确定偏振方向,从而使判断更简单、快速、精确且免入射功率标定,实现了双极性信号电流,最后本发明所提的偏振探测器具有光栅阵列结构,因此具有高集成的优势。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器示意图;
图2是本发明一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器制备过程示意图。
图3是本发明另一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器示意图。
图4是本发明一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器用电流表连接两端电极的示意图。
图5是本发明一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器制备过程示意图。
图6是本发明一个实施例提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的响应电流密度与入射偏振角关系图。
图7是相同功率的TM偏振光和自然光入射下本申请提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的响应电流密度图。
图8是相同功率的TM偏振光和自然光入射情况下器件的响应电流密度随银纳米线核尺寸的变化关系仿真图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
实施例一:
本实施例提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,参见图1,所述嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器包括:
二氧化硅/硅衬底,设置于衬底上的金属纳米线光栅阵列;包覆于金属纳米线光栅阵列外的半导体层;包覆于半导体层外的透明导电层。
所述金属纳米线光栅阵列中,金属纳米线材料为银,横截面为方形;金属纳米线边长为55±5nm nm,长度为3~10μm,周期为750nm。
所述半导体层采用钙钛矿材料,半导体层壳层厚度设置为94nm。
所述透明导电层采用透明导电氧化物ITO制备,厚度为80nm。
实施例二
本实施例提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,参见图2,所述方法用于制备实施例一所给出的探测器,包括:
步骤1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列;
步骤2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,仅保留金属外围厚度为94nm的钙钛矿包覆层;金属纳米线光栅阵列一端长50nm的金属纳米线部分不需要旋涂钙钛矿,可在使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除时同时去除。
步骤3:通过原子层沉积法在半导体层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备ITO透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的ITP透明导电层去除,仅保留钙钛矿外围厚度为80nm的ITO透明导电包覆层;
步骤4:将金属纳米线光栅阵列中每一个嵌套结构中的银纳米线芯作为一端电极,每个嵌套结构外的透明导电层作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载,得到嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器。
实施例三:
本实施例在实施例一提供的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的基础上,参见图3,将金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;另一端的透明导电层对应相连,即图3中的d1和d2的值为50±20nm。
所述金属纳米线光栅阵列相连的一端处连接导线作为一端电极,另一端相连的透明导电层连接导线作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载,如图4所示。
实施例四
本实施例提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,参见图5,所述方法用于制备实施例二所给出的探测器,包括:
步骤1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列,金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;
步骤2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除;用于将金属纳米线光栅阵列一端(即图5中A端)的金属纳米线相连的宽度为50±20nm的金属纳米线部分不需要旋涂钙钛矿,可在使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除时同时去除;
步骤3:通过原子层沉积法在半导体层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的透明导电层去除,且一端(即图5中B端)的ITO保留50nm长不去除;
步骤4:将金属纳米线光栅阵列中金属纳米线相连一端连接导线作为一端电极,将金属纳米线的另一端相连的透明导电层连接导线作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载,得到嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器。
实施例五
本实施例提供一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,以金属纳米线材料为银为例进行说明,参见图5,所述方法包括:
步骤(1)在清洁过的二氧化硅/硅(SiO2/Si)衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的银纳米线光栅阵列,通过聚焦离子束分析仪观测确定银(Ag)纳米线横截面边长为55nm,纳米线长度为5μm,周期为750nm。且光栅的一端银纳米线是相连的,所连区域占据的纳米线长度为50nm。为便于后续描述,将光栅阵列的银纳米线相连的一端称为A端,对应的另一端为B端,如图5所示;
步骤(2)用一步旋涂法将钙钛矿(MAPbI3)前驱液均匀的旋涂在步骤(1)制备好银光栅阵列的基底上。将旋涂完后的样品至于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成良好的94nm厚的钙钛矿薄膜。然后再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,即仅保留包覆区。
步骤(3)通过原子层沉积法在钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层,该牺牲层厚度控制在2nm左右,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备80nm厚的ITO层。然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的ITO去除,即仅保留包覆区,银纳米线未相连的一端的ITO保留宽度50nm不去除,即B端处ITO保留50nm,从而使得B端透明导电层相连,与光栅阵列的银纳米线相连的一端对应。
步骤(4)将阵列中银纳米线相连一端连接导线作为一端电极,将纳米线的另一端相连的ITO连接导线作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载。
制备完成后,以不同偏振角度的线偏振光入射可以得到器件响应电流密度与入射偏振角度的关系,如图6所示。由图6可以看出在TE和TM偏振光入射下,响应电流密度分别为负值和正值,绝对值大小相等,即在零偏压下获得等大反向的信号电流,从而有效规避掉背景自然光对信号光的干扰,有效解决了背景自然光同样会产生较大的背景噪声,不利于微弱信号探测的问题,从而大幅提升偏振探测器的探测能力。
本申请以相同功率的TM偏振光和自然光入射探测器件,并比较两种情况下器件响应电流密度,如图7所示。由图7可以看出同一入射功率下,器件在TM偏振光入射时获得的响应电流密度基本是自然光入射情况下的1000倍以上,也说明器件具有很高的抗背景自然光干扰能力。
进一步对银纳米线核的尺寸做微小改变,发现器件在相同功率的TM偏振光和自然光入射情况下的响应电流密度变化均较小,如图8所示,说明器件的尺寸范围可扩展为银纳米线横截面积边长为55±5nm。
实施例尺寸是针对矩形嵌套光栅结构进行特殊设计的,是经过大量努力尝试获得的。表1呈现了其他尺寸下该器件在相同功率的TM偏振光和自然光入射情况下的响应电流密度的比值:
表1不同尺寸下,等功率TM与自然光入射响应电流的比值的比较
由上表1可以看出,当结构尺寸与实施例中给出的尺寸有较大的差别时,电流密度比值明显降低,仅仅为1~5左右,并没有呈现出较好的抗背景自然光干扰的能力。
需要进行说明的是,在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器包括:
二氧化硅/硅衬底,设置于衬底上的金属纳米线光栅阵列,包覆于金属纳米线光栅阵列外的半导体层以及包覆于半导体层外的透明导电层。
2.根据权利要求1所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述金属纳米线光栅阵列中,金属纳米线材料为银,横截面为矩形或者方形;金属纳米线边长为55±5nm,长度为3~10μm,周期为750nm。
3.根据权利要求2所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述半导体层采用钙钛矿材料,半导体层壳层厚度设置为94nm。
4.根据权利要求3所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述透明导电层采用透明导电氧化物ITO制备,厚度为80nm。
5.根据权利要求1所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;另一端的透明导电层对应相连。
6.根据权利要求5所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,其特征在于,所述金属纳米线光栅阵列相连的一端处连接导线作为一端电极,另一端相连的透明导电层连接导线作为另一端电极,两端电极引出的导线用电流表相接或者连接负载。
7.一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,其特征在于,所述方法用于制备权利要求1-4任一所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,包括:
步骤1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列;
步骤2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,仅保留金属外围厚度为94nm的钙钛矿包覆层;
步骤3:通过原子层沉积法在半导体钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的透明导电层去除,仅保留钙钛矿外围厚度为80nm的透明导电包覆层。
8.根据权利要求7所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,其特征在于,所述步骤1中制备的横截面为方形的银纳米线光栅阵列,通过聚焦离子束分析仪观测确定银纳米线横截面边长为55±5nm,纳米线长度为5μm,周期为750nm。
9.一种嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,其特征在于,所述方法用于制备权利要求5或6所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器,包括:
step1:在二氧化硅/硅衬底上通过掩膜光刻技术制备横截面为方形的金属纳米线光栅阵列;并将所述金属纳米线光栅阵列一端的金属纳米线通过一段宽度为50±20nm的金属纳米线相连;
step2:采用旋涂法将钙钛矿前驱液均匀的旋涂在步骤1制备好金属纳米线光栅阵列的基底上,旋涂后将其置于65℃加热台加热处理2min,然后放置100℃加热台加热处理10min,形成钙钛矿薄膜作为半导体层,再使用离子束刻蚀法将无金属纳米线区域的多余的钙钛矿去除,仅保留金属外围厚度为94nm的钙钛矿包覆层;用于连接金属纳米线光栅阵列一端的宽度为50±20nm的金属纳米线上的钙钛矿同样采用离子束刻蚀法去除;
step3:通过原子层沉积法在半导体钙钛矿层外生长一层氧化锡作为牺牲层,再利用磁控溅射法在氧化锡层外制备透明导电层;然后再使用离子束刻蚀法将无钙钛矿区域的多余的透明导电层去除,仅保留钙钛矿外围厚度为80nm的透明导电包覆层。
10.根据权利要求9所述的嵌套光栅结构的双极性自驱动偏振光探测器的制备方法,其特征在于,所述step1中制备的横截面为方形的银纳米线光栅阵列,通过聚焦离子束分析仪观测确定银纳米线横截面边长为55±5nm,纳米线长度为5μm,周期为750nm。
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