CN115069605A - 用于物品分类的设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种用于物品分类的设备，包括：运输机构(2)，布置成运输物品流(4)；辐射源(8)，构造成在第一方向(10)上发射电磁辐射以用于照射检测区域(12)；检测单元(14)，布置成沿着第二方向(16)观察检测区域(12)并且检测通过位于所述检测区域(12)中的至少一个物品所反射的电磁辐射；分析单元，与检测单元(14)操作连接并且布置成确定透明度或反射信息；以及移除单元，构造成从物品流(4)中移除物品，其中，物品的移除基于在分析单元中的分析。
Description
本申请是申请号为201880063704.X，名称为“分类方法和设备”的中国专利申请(基于国际申请日为2018年09月03日、国际申请号为PCT/EP2018/073639的国际专利申请，于2020年03月30日进入中国国家阶段)的分案申请。
技术领域
本发明涉及物品分类领域。更准确地说，本发明涉及用于离开带的物品(off-beltobject)分类的方法和设备。
背景技术
用于检查和分拣在连续的流中供应的散装物品的机器通常包括进给单元、光学系统和分析单元。进给单元供应物品流，该物品流要通过由光学系统扫描的检测区域来连续检查，光学系统与分析单元操作连通。分析单元分析位于物品流中的每个单独的物品的一个或多个预选性能，诸如颜色、形状和/或质地或其任何组合。基于该分析，分析单元可以检验所检查的物品就所观察的性能来说是否满足特定的标准来使其分类。
对于这种基于光学传感器和分析装置的检查和分拣设备的需求是在来自所检查的物品的光学信息和来自背景的光学信息之间进行正确的区分。
WO 2014/013421描述了一种用于检查物品的设备，该设备设置有运输机构，例如传送带或滑槽，该运输机构构造成运输连续的物品流，使得该物品流在离开运输机构时遵循自由下落路径，使物品流沿着自由下落路径通过检测区域在单个物品层中进给；辐射源，其构造成照射检测区域；检测单元，其构造成光学扫描该被照射的检测区域；分析单元和可能的移除单元以及还有背景元件，该背景单元位于下落的物品流的后方，从检测单元的位置来看，背景单元定位成使得来自辐射源的电磁辐射束撞击背景元件的照射区域，当这些束不撞击来自物品流的物品时，检测单元仅接收背景元件的检测区域的图像，其特征在于，背景元件安装成使得照射区和检测区域彼此分离开。
该设备提供了一种解决方案，该解决方案在通过背景所反射的电磁辐射不产生错误的产品检测的情况下来用于检测产品流中的产品，然而它不提供基于光学特征的产品分拣并且对于检测位于产品流中的暗的产品来说不是最佳的。
发明内容
本发明的目的是提供一种改进解决方案以用于位于产品流中透明的物品在离开带时的物品分类。
根据本发明的第一方面，通过用于物品分类的方法来实现这个目的和其他目的，该方法包括以下步骤：引导步骤，将连续的物品流从运输机构直接引导到无支撑路径中，使物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；照射步骤，沿着第一方向发射电磁辐射以用于照射所述检测区域，所发射的电磁辐射在与所述第一方向正交的方向上延伸形成辐射带；光学扫描步骤，通过沿着第二方向来观察检测区域，光学扫描检测区域以检测通过位于检测区域中的至少一个物品所反射的电磁辐射，其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在3°-80°或10°-80°的范围内的角度；分析步骤，分析来自光学扫描的信息；以及分类步骤，基于来自光学扫描的透明度信息或反射信息的分析来从物品流中分类物品；其中，分析来自所述光学扫描的信息的分析步骤包括基于来自光学扫描所检测到的辐射强度、分散度和可选地质地(texture)来分析物品，并且其中，分析来自所述光学扫描的信息的分析步骤包括比较该信息与查询表中的信息和/或比较该信息与一个或多个阈值。
根据一个实施例，分类所述物品的所述分类步骤还包括基于来自光学扫描的反射信息和/或基于分类数据的分析在至少两个不同的方向上从物品流中分拣物品。
根据一个实施例，分析来自光学扫描的信息的所述分析步骤还包括比较来自通过位于物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与查询表中的信息和/或一个或多个阈值以确定所述至少一个物品的透明度或反射信息。
根据一个实施例，分析来自光学扫描的信息的所述分析步骤还包括比较来自通过位于物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射的强度和分散度(spread)与查询表中的信息和/或一个或多个阈值以确定所述至少一个物品的透明度或反射信息。
根据本发明的第二方面，提供了一种用于物品分拣的方法，所述方法包括以下步骤：引导步骤，将连续的物品流从运输机构直接引导到无支撑路径中，使物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；照射步骤，沿着第一方向发射电磁辐射以用于照射所述检测区域，所发射的电磁辐射在与所述第一方向正交的方向上延伸形成辐射带；光学扫描步骤，通过沿着第二方向来观察检测区域，光学扫描检测区域以检测通过位于检测区域中的至少一个物品所反射的电磁辐射，其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在3°-80°或10°-80°的范围内的角度；分析步骤，分析来自光学扫描的信息；以及分类步骤，基于来自光学扫描的透明度信息或反射信息的分析来在至少两个方向上从物品流中分拣物品；其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括基于来自光学扫描所检测到的辐射强度、分散度和可选地质地来分析来自光学扫描的信息。
以下信息、特征和实施例涉及本发明的第一方面和第二方面。
关于本发明，辐射源是线照射，即，当落在平坦表面上时，照射形成辐射带或辐射线，至少可以经由图像传感器来捕获和观察辐射带。此外，所发射的电磁辐射在落在平坦表面上时所形成的辐射带可以至少经由图像传感器来捕获和观察。照射可以是平行的或聚焦的。
根据一个示例，测量系统包括辐射源和检测器，优选地聚焦在物品平面上。检测器测量平面和线照射不相交并且在物平面中具有截面。这意味着如果在系统中不存在物品，则通过检测器检测到极低的辐射，这是因为照射线和检测线在空隙空间中不相交。
分析来自光学扫描的信息的分析步骤还可以包括通过以下方式来确定透明度：比较来自通过位于物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第一阈值来确定检测区域中是否存在材料，并且此后比较来自通过至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值来确定所存在的材料是否是透明的和/或反射性的，其中，第二阈值位于第一阈值之上，并且此后设定透明度信息。
通过使用阈值等级来评估检测区域中是否存在物品并且确定物品透明的可能性，这可以实现物品的有效分类和/或分拣，例如在玻璃检测应用和其他应用中用于透明物品的分类和/或分拣。
关于本发明，术语分类数据指的是在物品流中的分类物品的分类步骤中得到的数据或来自在物品流中的分类物品的分类步骤的数据。分类数据的一个示例是具体的分类，如可接受/不可接受；或位于某个范围内的分类值(例如，分类A为x1到x2；分类B是x2到x3，其中，xi是数字)，这些分类值可以基于单个测量参数值或测量参数值的组合来形成。分类数据的另一示例为分类值(基于单个测量参数值或测量参数值的组合形成)；分类值可以是单个值或值的阵列。
根据一个实施例，分类数据(即，在物品流中的分类物品的分类步骤中得到的或者来自在物品流中的分类物品的分类步骤的数据)用于在至少两个不同的方向上将位于产品流中的个体物品分类，附加地或可替换地，分类数据可以用于同一设备中或传递到另一个装置以便执行多个操作，诸如在后面的阶段中分拣，以及用于统计分析。换句话说，可以通过材料处理工艺中的不同步骤将个体分类数据分配给个体物品并且使该个体分类数据保持联接到物品，并且可选地在材料处理工艺中的一个或多个站处使用该个体分类数据。附加地或可替换地，为了统计目的，可以在确定分类数据的同一机器中处理个体或大量分类数据，或在例如有线地或无线地设置的其他装置中处理个体或大量分类数据。
附加地或可替换地，分析来自光学扫描的信息的分析步骤还包括对所述材料的透明度进行分类。附加地或可替换地，分析来自光学扫描的信息的分析步骤还包括对所述材料的反射性程度进行分类。分析来自光学扫描的信息的分析步骤还可以包括比较直接反射与第三阈值以确定材料是透明的可能性。
分析来自光学扫描的信息的分析步骤还可以包括确定位于物品流中的物品的高度和/或高度轮廓。
分析来自光学扫描的信息的分析步骤可以包括比较该信息与查询表(LUT)中的信息和/或比较该信息与阈值。查询表可以是一维查询表、二维查询表或N-维查询表。此处的维度意味着查询表评估例如N个变量的采样代表。一维查询表响应于仅一个输入参数而返回输出，该输入参数例如是所检测到的辐射的强度或分散度；即，对于LUT(强度)返回一个输出，并且对于LUT(分散度)返回一个输出。另一方面，二维查询表响应于两个输入参数(例如，检测到的辐射的强度和分散度)返回输出，对于LUT(强度、分散度)返回一个输出。
可替换地，分析来自光学扫描的信息的分析步骤可以包括深度学习的使用或支持向量机的使用。
该方法还可以包括光学扫描位于背景元件上区域的步骤，在该区域处，线照射撞击背景元件，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括基于来自在位于背景上的区域的光学扫描的信息来确定检测区域中是否存在材料。
光学扫描位于背景元件上的区域使得能够检测在背景元件上的线照射的反射，这使得能够基于来自背景元件的反射来确定检测区域中是否存在物品，从而能够检测并分拣位于物品流中的甚至非常暗的物品，以及将光学上暗的物品与光学上透明的物品中区分开。
可以用一个相机同时执行光学扫描位于背景元件上的区域的步骤和光学扫描检测区域的步骤。
使用一个相机使其观察区域覆盖检测区域和位于背景元件上的激光线撞击背景元件的区域二者是有成本效益的解决方案，该解决方案还简化了对来自扫描的信息的分析。
可以通过用于多个检测区域的多个线照射来进行照射检测区域的步骤，并且通过用于检测区域的多个测量线来进行光学扫描检测区域的步骤。然后，分析来自光学扫描的信息的分析步骤可以包括所确定的位于物品流中的物品的运动。
通过确定位于物品流中的物品的轨迹，可以更准确地执行物品的射出，并且可以实现更好的整体分类和/或分拣。
多个线照射可以具有不同的波长，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括确定位于物品流中的物品的光学性能和物理性能。
可替换地或附加地，多个线照射可以具有不同的偏振。这对于移除背景辐射来说可以是有益的。
根据本发明的第三方面，提供一种用于物品分类和/或分拣的设备，该设备包括：运输机构，其布置成运输物品流使得物品流在离开运输机构之后遵循未无支撑路径，物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；辐射源，其构造成在第一方向上发射辐射带以用于照射检测区域；检测单元，其布置成沿着第二方向观察检测区域并且检测通过位于检测区域中的至少一个物品反射的电磁辐射；其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在10°-80°的范围内的角度；分析单元，其与检测单元操作连接并且布置成通过以下方式来确定透明度信息：比较来自通过物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与查询表或者一个或多个阈值来确定检测区域中是否存在材料，并且此后比较通过至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值来确定所存在的材料是否透明，其中，第二阈值位于第一阈值之上。
根据本发明的第四方面，提供一种用于物品分类和/或分拣的设备，该设备包括：运输机构，其布置成运输物品流使得物品流在离开运输机构之后遵循未无支撑路径，物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；辐射源，其构造成在第一方向上发射辐射带以用于照射检测区域；检测单元，其布置成沿着第二方向观察检测区域并且检测通过位于检测区域中的至少一个物品反射的电磁辐射；其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在3°-80°或10°-80°的范围内的角度；分析单元，其与检测单元操作连接并且布置成通过以下方式确定透明度或者反射信息：比较来自通过物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与至少一个阈值或查询表来确定在检测区域中存在的材料是否透明，并且此后设定透明度或反射信息。
检测单元还可以构造成感测通过位于背景元件上的位置反射的电磁辐射，在该位置处，来自辐射源的电磁辐射撞击背景元件。
该设备可以包括多个辐射源，这些辐射源构造成在照射位于物品流中的物品，这些物品沿着无支撑路径位于多个位置中。
该设备还可以包括移除单元，其构造成从该物品流中移除物品，其中，物品的移除基于在分析单元中的分析。
根据至少一个实施例，分析单元还布置成通过以下方式来确定透明度信息：比较来自通过物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第一阈值或查询表来确定该检测区域中是否存在材料，并且此后比较来自通过所述至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值或第二查询表来确定所存在的材料是否透明，其中，第二阈值可选地位于第一阈值之上，以及此后设定透明度信息。
应当注意的是，本发明涉及权利要求书中的特征的所有可能的组合。
附图说明
将参考附图详细描述本发明，这些附图示出了本发明当前优选的实施例。
图1是根据本发明的实施例的设备的示意性立体图。
图2是根据本发明的另一个实施例的设备的示意图，其包括三个线照射。
图3是根据本发发明的另一个实施例的设备的示意性立体图，其包括线照射检测。
图4是根据本发明的实施例的方法的流程图。
图5是由根据本发明的实施例的设备中的检测器所检测的电磁辐射的图。
图6是可用图2的设备来检测到的位于物品流中的物品的轨迹的示意图。
图7是由位于根据图3的设备的检测器所检测到的电磁辐射的截面的示意图。
如在附图所示，为了说明性目的可以使层和区域的尺寸增加，并且由此，可以提供层和区域的尺寸来说明本发明的实施例的一般结构。贯穿全文，相似的参考标号指的是相似的元件。
具体实施方式
图1示出了根据本发明的实施例的用于检查物品流中的物品的设备。传送带2将物品流4引导到无支撑路径中，此处是自由下落路径6。尽管此处使用传送带2来将物品流4引导到自由下落路径6，但是根据本发明可以使用任何类型的运输机构，例如滑槽等。辐射源(此处为线激光器8)通过检测区域12在第一方向10上照射激光线10。虽然此处使用激光线，根据本发明可以使用任何用类型的辐射源(其使用聚焦的电磁辐射)。检测区域12是这样的一个区域：已经离开传送带2的物品在自由下落路径6中行进通过该区域。激光线10可以与输送带2的宽度基本上相等，以确保将物品流4从传送带引导到自由下落路径6中时物品流4中的所有物品行进通过检测区域12。检测器(此处为相机14)检测位于测量平面16中的辐射，该测量平面与位于检测区域12中的激光线相交。测量平面16可以与激光线10的宽度基本上相等。
第一方向10和第二方向16是不相交的并且在检测区域12中具有截面。检测区域12位于带外(off-belt)并且位于从传送带2流出的物品流4处于自由下落路径6中的位置处。如果在检测区域12中没有物品，则激光线将撞击背景元件的没有通过测量平面来检测的部分，该测量平面穿过检测区域。因此，如果不存在物品，则检测不到反射的电磁辐射，这使得能明显地识别在检测区域中是否存在物品。
第一方向10和第二方向16之间的角度优选在3°-80°的范围内，更优选地在5°-60°的范围内，更优选地在8°-40°的范围内，更优选地在10°-35°的范围内，更优选地在15°-30°的范围内，更优选地在20°-25°的范围内。
所发射的电磁辐射的波长优选地在300nm-2000nm的范围内，更优选地在400nm-700nm的范围内。
基于在物品的表面处直接反射的电磁辐射、来自物品的漫反射的电磁辐射和/或物品的高度来确定位于物品流中的物品的材料性能。可以使用阈值来确定物品的光学性能。参考图5，直接反射的电磁辐射可以看作在y方向上最大值处的亮度，漫反射的电磁辐射可以看作在y方向上的最大值周围的线宽，以及高度可以看作y方向上的最大值。当计算位于物品流中的物品的轨迹时，确定高度是有益的。
来自光学扫描的信息的分析还可以包括基于图5中所示的双表面来识别和分析位于物品流中的透明的物品的若干表面。
根据本发明的一个实施例，通过比较直接反射的电磁辐射与阈值来实现确定位于物品流中的物品的透明度。第一阈值被用于确定物品是否存在，如果直接反射的电磁辐射超过第一阈值，则物品存在。高于第一阈值的第二阈值被用于确定物体是否透明，如果直接反射的电磁辐射不超过第二阈值，则物品是透明的。可以应用若干这样的阈值来确定物品透明的可能性。可以应用用于不同参数(即，物品的表面处直接反射的电磁辐射、来自物品的漫反射的电磁辐射和/或物品的高度)的阈值的组合来确定物品的多个光学性能。
可替换地或除了阈值确定之外附加地，可以使用查询表、深度学习和/或支持向量机来确定物品的性能。
为了在分析检测到的电磁辐射时移除环境电磁辐射，可以记录这样的帧(frame)：在该帧上具有激光，以及激光的帧。然后，在分析中执行背景消减来移除环境电磁辐射。为了这个目的，还可以使用应用分束器的脉冲激光器。
该装置还可以包括移除单元(诸如空气风机)，该移除单元构造成用于移除那些在分析中不合格的物品并且因此基于分析来分拣物品。
该装置可以另外包括位于检测器上的带通滤波器、位于检测器前方的偏振电磁辐射或偏振滤波器。
该装置还可以使用带有多面镜的扫描3D检测或者可以与其他检测器结合使用。
图2示出了与图1的设备相似的设备，但是其包括多个平行的照射线8，这些线照射设置成产生多个平行的激光线。在这种情况下时，这使得对于一个或若干个相机14来说，能够检测来自多个平行线激光线所反射的电磁辐射，这些平行线激光线位于多个检测区域12中，这些检测区域在物品流4的自由下落路径6中位于不同位置处。以这种方式，可以确定位于不同检测区域12中的物品的位置，以确定位于物品流4中的物品的运动或轨迹。
在分拣系统中，在检测和射出中和检测和射出之间，物品速度和运动方向通常被假定为是恒定的，如果物品以非恒定的速度移动，则具有不能准确地移除不合格的物品的风险。在一些情况下，增加射出窗口以便补偿移动中的变化。这产生稳定的射出，但是还增加从物品流4中不需要的物品移除。
所有检测区域都位于物品流的自由下落路径中的替换方案是检测区域中的一个或多个在传送带上处于自由下落路径之前的物品流中。
检测和射出之间的最小距离由像素尺寸和延迟确定。对于具有大像素尺寸的系统，检测和射出之间的最小距离可能相当大。如果两个检测器组合，物品的移动降低了收敛算法性能并且因此也降低射出性能。通过确定物品在物品流中的轨迹，可以更准确地射出物品，并且可以实现更好的整体分拣。
可替换地或与使用用于如上文所描述的分拣的分类数据互补地，来自分类步骤的数据可以在同一设备中使用或传输到另一个设备使用，以便在稍后的阶段中进行各种操作(诸如分类)以及用于统计分析。
图6示出了通过根据图2的设备来执行的物品的运动评估。两个高分辨率检测器A、C负责物品的运动评估，而低分辨率检测器B负责物品的材料分类。第一高分辨率检测器A的所检测的物品被搜索并被映射到在第二高分辨率检测器C中的对应物品。基于物品在第一高分辨率检测器和第二高分辨率检测器A、C中的对应位置来插补位于低分辨率检测器B和吹杆D中的物品的位置。将低分辨率检测器B的传感器数据组结合到插补图像位置。吹杆D使用插补位置以用于射出。第一高分辨率检测器和第二高分辨率检测器A、C的位置是不相交的，而低分辨率检测器B可以安装在任何地方。对于滚动的物品来说，插补位置减少用于射出的误差和收敛。
该设备还可以包括不同波长的多个激光器，这些激光器能够用于确定进一步的光学性能(诸如物品的颜色)以及基于光谱的其他参数的分析。位于不同位置处的激光器(例如，在图2中)可以用于该目的，但是位于相同光学平面处的多个脉冲激光器也可以用于该目的。
该设备还可以组合不同的激光偏振以过滤反射电磁辐射的部分，并且更容易地区分位于物品流中的物品的性能。该设备可以例如包括具有不同偏振的若干激光器或偏振相机。
图3示出了与图1相似的用于物品检查的设备。然而，在该实施例中，该设备所具有的相机14检测位于覆盖检测区域12和线照射背景元件24的区域22二者的区域中的辐射。这使得对于相机14来说能够检测背景元件24上的线照明反射，其使得能够基于来自背景元件24的反射来确定在检测区域12中是否存在物品。在检测展现出非常低的反射等级的物品时，这是有帮助的。此处，单个相机14覆盖检测区域12和位于背景元件24上的区域22二者，然而，为了根据本发明的这些目的，还可以使用两个不同的检测器。
图7示出了由位于图3的设备中的检测器所检测出的电磁辐射的示意图。当检测区域中存在反射由激光线所发射的电磁辐射的物品时，将存在物品信号，而背景信号可以进一步用于确定在检测区域中是否存在非常暗的(即基本上不反射电磁辐射的)物品。背景信号(是由激光线发射且由背景元件反射的电磁辐射)还可用作参照暗区来校准激光线的方式以用于背景参考。
由背景元件所反射的激光线还可用于确定位于物品流中的物品是否透明，这是因为透明的物品将使得所发射的电磁辐射的一部分的透射，而不透明的物品将无法使得所发射的电磁辐射透射。
图4是用于检查物品的方法的流程图，其包括如下步骤：引导步骤S1，将连续的物品流4引导到自由下落路径6中，在单个物品层中使物品流4沿着自由下落路径通过检测区域12进给；照射步骤S2，在第一方向10上照射检测区域12；光学扫描步骤S3，在第二方向16上光学扫描检测区域12；以及分析步骤S4，分析来自光学扫描的信息；其中，测量平面12与第一方向10不相交并且在检测区域12中具有截面。
该方法和设备的可能的应用范围包括但是不限于玻璃、箔、餐巾、印刷电路板、筒、采矿材料的分类和/或分拣，以及食品的质量分析，其关于裂纹或外部材料的尺寸和检测。它还可以用于位于识别废品流中的聚合物。
本领域技术人员应当认识到本发明不限于上述实施例。相反，在权利要求的范围内可以具有多种修改和变化。例如，辐射源和检测器可以布置在任何方向上，只要该方向允许根据本发明的方法执行。
此外，从附图、公开内容和权利要求的学习中，本领域技术人员在实践所要求保护的发明时可以理解并影响所公开的实施例的变型。在权利要求中，词语“包括”不排除其他元件或步骤，并且不定冠词“一个(a)”或“一个(an)”不排除多个。
示例性实施例的逐条列举(IEE)
IEE1.一种用于物品分类的方法，该方法包括以下步骤：
-引导步骤，将连续的物品流从运输机构直接引导到无支撑路径中，使物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；
-照射步骤，沿着第一方向发射电磁辐射以照射所述检测区域，所发射的电磁辐射在与所述第一方向正交的方向上延伸形成辐射带；
-光学扫描步骤，通过沿着第二方向来观察所述检测区域，光学扫描所述检测区域以检测位于所述检测区域中的至少一个物品所反射的电磁辐射，
其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在3°-80°的范围内的角度；
-分析步骤，分析来自光学扫描的信息；以及
-分类步骤，基于对来自光学扫描的反射信息的分析来从物品流中分类物品；
其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括基于来自光学扫描所检测到的辐射强度和分散度来分析物品。
IEE2.根据IEE1所述的方法，其中，分类所述物品的所述分类步骤还包括基于来自光学扫描的反射信息的分析在至少两个不同的方向上从物品流中分拣物品。
IEE3.根据前述的IEE中任一项所述的方法，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤还包括通过比较来自通过位于物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第一阈值来确定反射信息，并且此后比较来自通过所述至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值来确定所述至少一个物品的透明度，其中，第二阈值位于第一阈值之上，并且此后设定反射信息。
IEE4.根据前述的IEE中任一项所述的方法，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤还包括确定位于物品流中的物品的高度轮廓。
IEE5.根据前述的IEE中任一项所述的方法，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤还包括比较该信息与在查询表中的信息和/或比较该信息与阈值。
IEE6.根据前述的IEE中任一项所述的方法，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括深度学习的使用或支持向量机的使用。
IEE7.根据前述的IEE中任一项所述的方法，还包括光学扫描背景元件上的区域的步骤，在该区域处，线照射撞击所述背景元件，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括基于来自位于背景上的区域的光学扫描的信息来确定检测区域中是否存在材料。
IEE8.根据IEE7所述的方法，其中，用一个相机同时执行光学扫描位于背景元件上的区域的步骤和光学扫描检测区域的步骤。
IEE9.根据前述的IEE中任一项所述的方法，其中，以用于多个检测区域的多个线照射来进行用电磁辐射照射所述检测区域的步骤，而以用于所述检测区域的多个测量线来进行光学扫描所述检测区域的步骤。
IEE10.根据IEE9所述的方法，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括确定位于物品流中的物品的运动。
IEE11.根据IEE9或10所述的方法，其中，多个线照射具有不同的波长，其中，分析来自光学扫描的信息的分析步骤包括确定位于物品流中的物品的光学性能和物理性能。
IEE12.根据IEE9至11中任一项所述的方法，其中，所述多个线照射具有不同的偏振。
IEE13.一种用于物品分类的设备，该设备包括：
-运输机构，其布置成运输物品流使得所述物品流在离开运输机构之后遵循无支撑路径，物品流沿着无支撑路径通过检测区域进给；
-辐射源，其构造成在第一方向上发射电磁辐射以用于照射检测区域。
该辐射源构造成产生线照射；
-检测单元，其布置成沿着第二方向观察所述检测区域并且检测通过位于检测区域中的至少一个物品所反射的电磁辐射，
其中，第一方向和第二方向具有位于检测区域中的截面并且形成相对于彼此在10°-80°的范围内的角度；
-分析单元，其与检测单元操作连接并且布置成通过以下方式确定透明度信息：比较来自通过位于物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第一阈值来确定检测区域中是否存在材料，并且此后比较通过所述至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值来确定所存在的材料是否透明，其中，第二阈值位于第一阈值之上，并且此后设定透明度信息；以及
-移除单元，构造成从物品流(4)中移除物品，其中，所述物品的移除基于在分析单元中的分析。
IEE14.根据IEE13所述的设备，其中，检测单元还构造成感测通过位于背景元件上的位置所反射的电磁辐射，在该位置处，来自辐射源的电磁辐射撞击所述背景元件。
IEE15.根据IEE13所述的设备，包括多个辐射源，这些辐射源构造成照射位于物品流中的物品，这些物品沿着无支撑路径在多个位置中。
Claims (4)
1.一种用于物品分类的设备，所述设备包括：
运输机构(2)，布置成运输物品流(4)，使得所述物品流(4)在离开所述运输机构(2)之后沿循无支撑路径(6)，所述物品流沿着所述无支撑路径被进给通过检测区域(12)；
辐射源(8)，构造成在第一方向(10)上发射电磁辐射以用于照射所述检测区域(12)，所述辐射源构造成产生线照射；
检测单元(14)，布置成沿着第二方向(16)观察所述检测区域(12)并且检测通过位于所述检测区域(12)中的至少一个物品所反射的电磁辐射，
其中，所述第一方向(10)和所述第二方向(16)具有位于所述检测区域(12)中的截面并且相对于彼此形成处于3°-80°或10°-80°的范围内的角度；
分析单元，与所述检测单元(14)操作连接并且布置成通过以下方式来确定透明度或反射信息：通过使来自通过位于所述物品流中的所述至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与至少一个阈值或查询表进行比较来确定存在于所述检测区域中的材料是否是透明的，并且此后设定所述透明度和反射信息；以及
移除单元，构造成从所述物品流(4)中移除物品，其中，所述物品的移除基于在所述分析单元中的分析。
2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述分析单元还布置成通过以下方式来确定透明度信息：通过使来自由所述物品流中的至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第一阈值或查询表进行比较来确定在所述检测区域中是否存在材料，并且此后使来自由所述至少一个物品直接反射的照射中的电磁辐射与第二阈值或第二查询表进行比较来确定所存在的材料是否透明，其中，所述第二阈值位于所述第一阈值之上，并且此后设定所述透明度信息。
3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述检测单元还构造成感测由位于背景元件上的位置所反射的电磁辐射，在该位置处，来自所述辐射源的电磁辐射撞击所述背景元件。
4.根据权利要求1所述的设备，包括多个辐射源，所述多个辐射源构造成在沿着所述无支撑路径在多个位置中照射位于所述物品流中的物品。
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