CN115061862A - 一种服务器mcio接口的测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出了一种服务器MCIO接口的测试装置，包括：多个测试治具模块，每个测试治具模块与服务器主板的一个MCIO接口对应连接；每个测试治具模块均包括多个M2插槽，每个MCIO插槽对应连接一个M2设备，服务器主板MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，服务器主板MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，其中，第一类信号为通信数据信号，第二类信号为除通信数据以外的其他信号，本发明还提出了一种服务器MCIO接口的测试方法，有效地降低了测试成本，提高了测试效率。

Description

一种服务器MCIO接口的测试装置及方法
技术领域
本发明涉及服务器测试领域，尤其是涉及一种服务器MCIO接口的测试装置及方法。
背景技术
随着当前计算力的高速发展，服务器的用量在急剧上升。服务器的研发和迭代更新就显得尤为重要，服务器内每一块板卡在出厂前都要经过开机验证。
新一代的平台为了提高主板的通用性，增加设计的灵活性，会将高速PCIE(peripheral component interconnect express，是一种高速串行计算机扩展总线标准)信号更多的改为MCIO(mini cool edge input/output，迷你冷边输入输出连接器)连接器设计，MCIO连接器可以单独或者组合使用。
现有技术中，单片主板会有十几个MCIO连接器，在工厂生产测试过程中，会根据不用的产品需求，搭配不同的线缆，对板卡和硬盘分别进行单独测试，但是不同MCIO接口单独测试，导致测试设计难度增加，硬盘或者PCIE设备成本增加，方案设计复杂，同时自动化治具设计时的结构也异常繁琐，无法实现模块化设计，增加测试成本，降低了测试效率。
发明内容
本发明为了解决现有技术中存在的问题，创新提出了一种服务器MCIO接口的测试装置及方法，有效解决由于现有技术造成主板MCIO接口测试效率低、成本高的问题，有效地降低了测试成本，提高了测试效率。
本发明第一方面提供了一种服务器MCIO接口的测试装置，包括：多个测试治具模块，每个测试治具模块与服务器主板的一个MCIO接口对应连接；每个测试治具模块均包括多个M2插槽，每个MCIO插槽对应连接一个M2设备，服务器主板MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，服务器主板MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，其中，第一类信号为通信数据信号，第二类信号为除通信数据以外的其他信号。
可选地，每个测试治具模块还包括电源模块，所述电源模块为所在测试治具模块中的多个M2设备供电。
可选地，第一类信号为PCIE信号，第二类信号包括时钟信号、使能信号、握手信号。
可选地，服务器主板MCIO接口的第一类信号的部分端口与对应测试治具模块中的其中一个M2插槽的第一类信号端口对应连接，服务器主板MCIO接口的第一类信号的剩余部分端口与对应测试治具模块中的剩余M2插槽的第一类信号端口对应连接。
进一步地，服务器主板MCIO接口的第一类信号的端口数量小于或等于对应测试治具模块中M2插槽中第一类信号的端口数量。
可选地，每个测试治具模块与服务器主板的一个MCIO接口通过高速线缆对应连接。
可选地，还包括多个测试治具板，所述测试治具模块与测试治具板一一对应可拆卸式连接。
本发明第二方面提供了一种服务器MCIO接口的测试方法，基于本发明第一方面所述的一种服务器MCIO接口的测试装置的基础上实现的，包括：
将服务器待测MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的多个M2插槽对应通信连接，将服务器待测MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的多个M2插槽通信连接；
获取服务器每个MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的在位识别信息，如果MCIO接口对应测试治具模块中M2设备在位且识别成功，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行读写测试。
可选地，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行读写测试具体是：
主板通过MCIO接口获取对应测试治具模块中M2设备的带宽速率信息，如果获取的带宽速率信息符合预设带宽速率要求时，读写测试通过，如果获取的带宽速率信息不符合预设带宽速率要求时，读写测试不通过。
进一步地，还包括：
对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行压力测试。
本发明采用的技术方案包括以下技术效果：
1、本发明通过使用通用NVME(Non Volatile Memory Host ControllerInterface Specification,非易失性内存主机控制器接口规范)M2(主机接口)设备替代高额的服务器设备，低成本M2设备提供测试高速信号，对主板的每个MCIO接口完整覆盖，实现模块化设计，有效解决由于现有技术造成主板MCIO接口测试效率低、成本高的问题，有效地降低了测试成本，提高了测试效率。
2、本发明技术方案中每个测试治具模块还包括电源模块，电源模块为所在测试治具模块中的多个M2设备供电，采用独立供电，提高测试装置的可用性。
3、本发明技术方案中服务器主板MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，服务器主板MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，实现主板单个MCIO接口信号的全覆盖，提高了服务器主板MCIO接口测试装置的可用性。
4、本发明技术方案中每个测试治具模块还包括测试治具板，所述测试治具模块与测试治具板可拆卸式连接，M2设备与M2插槽也是可拆卸式连接，易于更换维护，维修成本低。
5、本发明技术方案中对MCIO接口除了进行读写测试，以保证设备供电、复位和高速信号链路正常，还可以通过压力测试，可以保证设备链路正常且稳定，主板MCIO连接器(MCIO接口)无虚焊短路等异常。
应当理解的是以上的一般描述以及后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。
附图说明
为了更清楚说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见的，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明方案中实施例一装置中多个MCIO接口的测试装置的结构示意图；
图2为本发明方案中实施例一装置中单个MCIO接口的测试装置的结构示意图；
图3为本发明方案中实施例一装置中单个MCIO接口的测试装置的通信结构示意图；
图4为本发明方案中实施例一装置中单个测试治具模块的模块化封装尺寸设计图；
图5为本发明方案中实施例二方法的一流程示意图；
图6为本发明方案中实施例二方法的另一流程示意图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
实施例一
如图1-图2所示，本发明提供了一种服务器MCIO接口的测试装置，包括：多个测试治具模块1，每个测试治具模块1与服务器主板2的一个MCIO接口21对应连接；每个测试治具模块1均包括多个M2插槽11，每个MCIO插槽11对应连接一个M2设备12，服务器主板2中MCIO接口21的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块1中的每个M2插槽11对应连接，服务器主板2中MCIO接口21的第二类信号端口均与对应测试治具模块1中的每个M2插槽11对应连接，其中，第一类信号为通信数据信号，第二类信号为除通信数据以外的其他信号。
其中，每个测试治具模块1还包括电源模块(Power)13，电源模块13为所在测试治具模块中的多个M2设备供电。第一类信号为PCIE信号，第二类信号包括时钟信号(100MHzCLK)、使能信号(RST)、握手信号(REQ)。
如图3所示，服务器主板2中MCIO接口21的第一类信号(PCIE x4)的部分端口(PCIElane 0-3)与对应测试治具模块1中的其中一个M2插槽11(M2 Slot 1)的第一类信号端口对应连接，服务器主板2中MCIO接口1的第一类信号的剩余部分端口(PCIE lane 4-7)与对应测试治具模块1中的剩余M2插槽11(M2 Slot 2)的第一类信号端口对应连接，直至服务器主板2中MCIO接口21的所有第一类信号(PCIE x4)的端口(PCIE lane)均依次连接至多个M2插槽中。
进一步地，服务器主板2中MCIO接口21的第一类信号的端口数量小于或等于对应测试治具模块1中M2插槽11中第一类信号的端口数量。
具体地，每个测试治具模块1与服务器主板2的一个MCIO接口21通过高速线缆3对应连接。本发明技术方案通过高速线缆对主板的MCIO接口直接对接测试，采用低功耗低成本NVME M2设备，易于更换以及治具布局设计，不需要参考服务器原本的设计方案，降低程序设计难度，去掉服务器原本的PCIE网卡设备和硬盘，降低测试成本和治具设计复杂性，提高治具模块化。
进一步地，测试装置还包括东多个测试治具板4，测试治具模块1与测试治具板4一一对应可拆卸式连接。具体地，测试治具板4以及每个测试治具模块1中均对应设置有多个连接孔，连接孔的形状为可以为圆形，也可以为其他形状，本发明技术方案在此不做限制。测试治具模块1与测试治具板4通过螺丝实现一一对应可拆卸式连接，也可以将测试治具模块1、测试治具板4与其他待固定器件均固定在一起，实现主板多个MCIO接口的测试。
如图4所示，本发明实施例中，每个测试治具模块1被封装为长度为90MM、宽度为50MM、高度为5MM的模块，各项规格参数相同，进行模块化设计，以便于实现服务器主板2中多个MCIO接口的统一测试，提高测试效率。
本发明通过使用通用NVME(Non Volatile Memory Host Controller InterfaceSpecification,非易失性内存主机控制器接口规范)M2(主机接口)设备替代高额的服务器设备，低成本M2设备提供测试高速信号，对主板的每个MCIO接口完整覆盖，实现模块化设计，有效解决由于现有技术造成主板MCIO接口测试效率低、成本高的问题，有效地降低了测试成本，提高了测试效率。
本发明技术方案中每个测试治具模块还包括电源模块，电源模块为所在测试治具模块中的多个M2设备供电，采用独立供电，提高测试装置的可用性。
本发明技术方案中服务器主板MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，服务器主板MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，实现主板单个MCIO接口信号的全覆盖，提高了服务器主板MCIO接口测试装置的可用性。
本发明技术方案中每个测试治具模块还包括测试治具板，所述测试治具模块与测试治具板可拆卸式连接，M2设备与M2插槽也是可拆卸式连接，易于更换维护，维修成本低。
实施例二
如图5所示，本发明技术方案还提供了一种服务器MCIO接口的测试方法，基于实施例一中的一种服务器MCIO接口的测试装置的基础上实现的，包括：
S1，将服务器待测MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的多个M2插槽对应通信连接，将服务器待测MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的多个M2插槽通信连接；
S2，获取服务器每个MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的在位识别信息；
S3，判断MCIO接口对应测试治具模块中M2设备是否在位且识别成功，如果判断结果为是，则执行步骤S4；如果判断结果为否，则执行步骤S5；
S4，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行读写测试；
S5，向服务器返回提示信息。
其中，在步骤S1中，将服务器待测MCIO接口的第一类信号端口(PCIE Lane 0-3)与对应测试治具模块中的其中一个M2插槽(M2Slot 1)对应通信连接，将服务器待测MCIO接口的第一类信号端口(PCIE Lane 4-7)与对应测试治具模块中的剩余一个M2插槽(M2Slot 2)对应通信连接，将服务器待测MCIO接口的第二类信号端口(时钟信号CLK_100M、使能信号RST、握手信号REQ)均与对应测试治具模块中的多个M2插槽(M2 Slot 1、M2 Slot 2)通信连接。
在步骤S2-S3中，获取服务器每个MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的在位识别信息，即对应测试治具模块中M2设备是否在位，且能够被正常识别，如果对应测试治具模块中M2设备在位，且能够被正常识别，对应测试治具模块中M2设备会给服务器中的OS系统(操作系统)返回在位信号以及识别成功信号，否则，判断对应测试治具模块中M2设备不在位或不能够被正常识别。
进一步地，步骤S4具体是：
主板通过MCIO接口获取对应测试治具模块中M2设备的带宽速率信息，如果获取的带宽速率信息符合预设带宽速率要求时，读写测试通过，如果获取的带宽速率信息不符合预设带宽速率要求时，读写测试不通过。预设带宽速率可以根据实际情况灵活调整，本发明在此不做限制。服务器中的OS操作系统下执行lspci命令，查看对应测试治具模块中M2设备的带宽速率信息，可以保证MCIO接口高速链路正常。
进一步地，如图6所示，本发明技术方案还提供了一种服务器MCIO接口的测试方法，还包括：
S6，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行压力测试。
其中，在步骤S6中，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行压力测试，并获取对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的压力测试结果，如果MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的压力测试结果满足预设压力测试结果要求，则压力测试通过，即MCIO接口高速信号链路正常且稳定，主板MCIO连接器(MCIO接口)无虚焊短路等异常。
本发明技术方案中对MCIO接口除了进行读写测试，以保证设备供电、复位和高速信号链路正常，还可以通过压力测试，可以保证设备链路正常且稳定，主板MCIO连接器(MCIO接口)无虚焊短路等异常。
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

Claims (10)

1.一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，包括：多个测试治具模块，每个测试治具模块与服务器主板的一个MCIO接口对应连接；每个测试治具模块均包括多个M2插槽，每个MCIO插槽对应连接一个M2设备，服务器主板MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，服务器主板MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的每个M2插槽对应连接，其中，第一类信号为通信数据信号，第二类信号为除通信数据以外的其他信号。
2.根据权利要求1所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，每个测试治具模块还包括电源模块，所述电源模块为所在测试治具模块中的多个M2设备供电。
3.根据权利要求1所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，第一类信号为PCIE信号，第二类信号包括时钟信号、使能信号、握手信号。
4.根据权利要求1所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，服务器主板MCIO接口的第一类信号的部分端口与对应测试治具模块中的其中一个M2插槽的第一类信号端口对应连接，服务器主板MCIO接口的第一类信号的剩余部分端口与对应测试治具模块中的剩余M2插槽的第一类信号端口对应连接。
5.根据权利要求4所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，服务器主板MCIO接口的第一类信号的端口数量小于或等于对应测试治具模块中M2插槽中第一类信号的端口数量。
6.根据权利要求1-5任意一项所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，每个测试治具模块与服务器主板的一个MCIO接口通过高速线缆对应连接。
7.根据权利要求1-5任意一项所述的一种服务器MCIO接口的测试装置，其特征是，还包括多个测试治具板，所述测试治具模块与测试治具板一一对应可拆卸式连接。
8.一种服务器MCIO接口的测试方法，其特征是，基于权利要求1-7任意一项所述的一种服务器MCIO接口的测试装置的基础上实现的，包括：
将服务器待测MCIO接口的第一类信号端口分别依次与对应测试治具模块中的多个M2插槽对应通信连接，将服务器待测MCIO接口的第二类信号端口均与对应测试治具模块中的多个M2插槽通信连接；
获取服务器每个MCIO接口对应测试治具模块中M2设备的在位识别信息，如果MCIO接口对应测试治具模块中M2设备在位且识别成功，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行读写测试。
9.根据权利要求8所述的一种服务器MCIO接口的测试方法，其特征是，对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行读写测试具体是：
主板通过MCIO接口获取对应测试治具模块中M2设备的带宽速率信息，如果获取的带宽速率信息符合预设带宽速率要求时，读写测试通过，如果获取的带宽速率信息不符合预设带宽速率要求时，读写测试不通过。
10.根据权利要求9所述的一种服务器MCIO接口的测试方法，其特征是，还包括：
对MCIO接口对应测试治具模块中M2设备进行压力测试。
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