CN115038978A - 网络的与噪声无关的损耗表征 - Google Patents

网络的与噪声无关的损耗表征 Download PDF

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CN115038978A CN202080094327.3A CN202080094327A CN115038978A CN 115038978 A CN115038978 A CN 115038978A CN 202080094327 A CN202080094327 A CN 202080094327A CN 115038978 A CN115038978 A CN 115038978A
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Abstract

参考阻抗的S参数被确定并被转换为所需的操作模式。示例操作模式包括单端输入输出模式、差分输入输出模式和公共输入输出模式。可以使用新型的封闭形式的二次S参数等式来计算作为频率的函数的每个端口处的阻抗的复值,该二次S参数等式通过经过S参数重新标准化将反射和再反射设置为零来利用匹配网络的概念。使用S参数重新标准化,计算对应于零反射和零再反射的插入损耗。基于用于将反射和再反射减少到零的匹配阻抗的确定,可以修改包括网络的电路的参数以减少噪声。

Description

网络的与噪声无关的损耗表征
优先申请
本申请要求2019年11月26日提交的美国专利申请序列号第16/695,743号的优先权的权益,其内容通过引用整体并入本文。
背景技术
网络分析仪用于确定网络的散射参数或S参数。S参数根据在网络的端口处的入射波和反射波定义,其中驱动端口具有带有串联阻抗的正弦源,并且负载端口以负载阻抗端接。该约定允许S参数用于高频测量,因为与其他网络参数、例如Y参数、Z参数、H参数、T-参数或ABCD参数相比,其不需要开路或短路条件进行网络表征。
S参数是由复数组成的三维矩阵,其中行和列的数目等于网络的网络端口的数目,并且第三维是频率轴。例如,在从10MHz到60GHz的频率扫描范围内以10MHz的步长表征的由输入端口和输出端口组成的二端口网络产生S参数,该S参数是尺寸为2x2x6000的三维矩阵。S参数可以用于表征单端输入输出模式、差分输入输出模式、公共输入输出模式和操作模式转换模式的网络。S参数用于帮助理解与网络相关联的反射、插入损耗和串扰。
S参数经过矢量网络分析仪(VNA),通过测量入射和反射电压和电流波来表征网络。VNA用于计算网络的S参数。对于二端口网络,S参数的对角元素给出反射系数,而非对角项给出了传输系数。使用VNA仪器捕获的反射系数是在网络的输入端子和输出端子处捕获的那些反射系数。
时域反射计仪器利用时域反射仪(TDR)进行网络表征。TDR通常用于在源和负载处捕获沿网络的长度的反射。由于与VNA相比,TDR捕获网络中的不同点处的反射,因此难以将频域中的反射(如由VNA捕获)与时域中的那些反射(如由TDR捕获)相关联。这适用于通过仿真生成的S参数和通过测量生成的那些S参数两者。
尽管TDR仪器提供了一种简单的解释沿网络的反射的方法,但是TDR仪器的成本是非常大的。这在不仅必须购买VNA而且还必须购买TDR仪器方面给印刷电路板(PCB)制造商带来了压力。鉴于TDR仪器无法检测到幅值在-60dB以下的噪声,当与具有在-100dB范围(更灵敏10,000倍)内的噪声下限的VNA仪器相比时,TDR仪器在解决反射方面具有其局限性。此外,TDR方法(无论是通过仿真还是通过测量)需要非常快的上升时间,这在其涉及解决短长度网络、尤其是通孔的反射时可能无法实现。通孔是氧化物层中的允许在PCB的两个层之间的电路连接的小开口。
网络的复反射系数和网络的复特性阻抗是相互关联的。因此,当两者均未知时难以确定任意一个。已经尝试将使用TDR在时域中捕获的反射与频域中的反射相关联,但是这些尝试并未成功。简化假设,例如假设恒定的实部阻抗作为频率的函数证明是灾难性的,许多次导致破坏网络的物理特性。这继而对仿真环境中的建模能力构成了限制,因为许多网络参数都是频率相关的,并且可以从TDR的时域测量(或仿真结果)中收集很少的信息。
附图说明
公开的技术的一些实施方式在附图中的图中通过示例而非限制的方式示出。
图1是根据一些示例实施方式的与网络相接口并分析网络的系统的高级图解视图。
图2是根据一些示例实施方式的具有两个端口的网络的高级图解视图。
图3是根据一些示例实施方式的用于确定源特性阻抗并基于源特性阻抗修改电路参数的方法的流程图。
图4是根据一些示例实施方式的用于确定负载特性阻抗并基于负载特性阻抗修改电路参数的方法的流程图。
图5是示出示例网络的作为频率的函数的损耗的曲线图。
图6是示出示例网络中的反射和再反射的概念图。
图7是示出根据一些示例实施方式的传输脉冲响应和由于反射和再反射而引起的负载处的回波的一对曲线图。
图8是根据一些示例实施方式的具有源、负载和减少反射的中间收发器的网络的高级图解视图。
图9是示出了根据一些示例实施方式的用于执行本文中描述的方法的系统的部件的框图。
具体实施方式
现在将描述用于表征与由于来自发送器和接收器的反射和再反射引起的噪声无关的损耗的示例方法、系统和电路。在下面的描述中,阐述了许多具有示例特定细节的示例,以提供对示例实施方式的理解。然而,对于本领域普通技术人员来说,将明显的是,可以在没有这些示例特定细节和/或具有与在此给出的细节不同的细节组合的情况下实践这些示例。因此,出于简化说明而不是限制的目的,给出了特定的实施方式。
参考阻抗的S参数被确定并转换为所需的操作模式。示例操作模式包括单端输入输出模式、差分输入输出模式和公共输入输出模式。对于差分输入输出操作模式或公共输入输出操作模式,这可能意味着将S参数转换为混合模式格式,并从混合模式格式中提取所需模式。
可以使用新型的封闭形式的二次S参数等式来计算作为频率的函数的每个端口处的阻抗的复值,该二次S参数等式通过经过S参数重新标准化将反射和再反射设置为零来利用匹配网络的概念。使用S参数重新标准化,计算对应于零反射和零再反射的插入损耗。对应于由于输入和输出端口端接(input and output port termination)引起的零反射和零再反射的插入损耗被称为网络的有效插入损耗(EIL)。
基于EIL,可以导出用于互连的质量度量。质量度量可以用于自动拒绝低质量设备。替选地,基于用于将反射和再反射减少到零的匹配阻抗的确定,可以修改包括网络的电路的参数以减少噪声。EIL还可以用于设计匹配网络(例如,用于辅助设计滤波器、功率放大器、端接网络等)。
图1是根据一些示例实施方式的包括与网络相接口并分析网络的VNA120和计算机110的系统的高级图解视图100。在图1的示例中,网络160A、160B、160C和160D正在通过VNA120分析。计算机110可以是控制VNA120的外部计算机或与VNA120集成的计算机。VNA120的探针140A、150A、140B、150B、140C、150C、140D和150D连接至网络160A至160D。
通过基于来自探针140A至140D和150A至150D的测量来解释从VNA 120接收的数据,计算机110确定网络160A至160D的参数。探针140A至140D中的每个连接至网络160A至160D中的相应的一个网络的输入端口。同样,探针150A至150D中的每个连接至网络160A至160D中的相应的一个网络的输出端口。
射频(RF)源130根据开关170的控制将输入信号提供给网络160A至160B中的任意一个。RF源130(也称为交流(AC)源)的频率由VNA120控制。
网络160A至160D中的每个均是任何参考阻抗的任意网络。由VNA120执行的表征网络测量在探针140A至140D和150A至150D的尖端处的参考平面处。
图2是根据一些示例实施方式的具有两个端口的网络210的高级图解视图200。输入端口连接至源220,并且输出端口连接至负载230。源220具有特性阻抗ZS。负载230具有特性阻抗ZL
对于特定的操作频率,网络内部的S参数可以被编写为
Figure BDA0003761021630000041
该网络具有输入反射系数ρin和输出反射系数ρout。通过在网络的输出端口通过连接至负载230而端接的情况下查看输入端口(没有附接的源)来测量或计算输入反射系数ρin。通过在网络的输入端口通过连接至源220而端接的情况下查看输出端口(没有附接的负载)来测量或计算输出反射系数ρout。Zin是查看端接网络(例如,其中负载230在适当的位置而不考虑源220)的输入端口时观察到的阻抗。Zout是查看端接网络(例如,其中源220在适当的位置而不考虑负载230)的输出端口观察到的阻抗。
为了清楚起见,包括连接阻抗的整个网络的S参数用不同的符号,
Figure BDA0003761021630000042
编写。以下等式可以用于确定s(1,1)和s(2,2)的值,其中ρl是负载反射系数,并且ρS是源反射系数。等式将端口处的阻抗与S参数相关联。
等式1:
Figure BDA0003761021630000043
等式2:
Figure BDA0003761021630000051
当网络匹配时,ZS和ZL都等于ZC,网络210的特性阻抗。当源阻抗和负载阻抗与网络的特性阻抗匹配时,上述等式中的取决于源阻抗和负载阻抗的附加项被减少到零。因此,等式简化为:
等式3:S(1,1)=ρin=S11
等式4:s(2,2)=ρout=S22
图3是根据一些示例实施方式的用于确定源特性阻抗并基于源特性阻抗修改电路参数的方法300的流程图。方法300包括操作310、320、330、340和350。通过示例而非限制的方式,方法300被描述为通过图1的计算机110和VNA 120执行,在图2的网络210上操作。
在操作310中,计算机110获取包括源(例如,源220)的网络(例如,网络210)的S参数。可以通过VNA 120对S参数进行仿真或测量。
在操作320中,计算机110确定两个可能的源反射系数。可能的源反射系数之一具有大于1的幅值,并且另一个可能的源反射系数具有小于或等于1的幅值。在一些示例实施方式中,使用了下面描述的算法。在该算法中,S是尺寸为2x2xn的复矩阵,其中n是频率点的数目。Z0是表示负载阻抗的1x1复矢量。结果是Z1,表示源阻抗的复值,和Z2,表示负载阻抗的复值。conj()函数提供了复数的复共轭。*运算符执行矩阵乘法。等式5:
a=-S(2,2,n)+S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(1,1,n))-S(1,2,n)*S(2,1,n)*conj(S(1,1,n)
b=1+S(2,2,n)*conj(S(2,2,n))+S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(2,1,n))*conj(S(1,2,n))-S(2,1,n)*S(1,2,n)*conj(S(2,1,n))*conj(S(1,2,n))-S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(1,1,n)*conj(S(2,2,n)+S(1,2,n)*S(2,1,n)*conj(S(1,1,n))*conj(S(2,2,n))-S(1,1,n)*conj(S(1,1,n))
c=-conj(S(2,2,n))-S(1,1,n)*conj(S(1,2,n))*conj(S(2,1,n))+S(1,1,n)*conj(S(1,1,n))*conj(S(2,2,n))
Figure BDA0003761021630000061
Figure BDA0003761021630000062
如果|ρ21|≤1&&|ρ22|>1,ρ2(n)=ρ21
否则ρ2(n)=ρ22
Figure BDA0003761021630000063
Figure BDA0003761021630000064
Figure BDA0003761021630000065
上述算法由S参数的重新标准化引起。在匹配网络中,反射和再反射变为零。当反射被设置为零时,这能够求解源反射系数和负载反射系数。因此,从存在ZO的负载的原始条件到存在匹配负载的条件对S参数重新标准化揭示了源反射系数和负载反射系数。重新标准化的S参数由以下等式给出,其中S’是重新标准化的S参数,I是单位矩阵,H运算符采用矩阵的Hermetian转置,Γ是对角矩阵,其中第i对角项为ρi(Zi *),并且A是对角矩阵,其中第i对角项为
Figure BDA0003761021630000066
等式6:S′=A-1(S-ΓH)(I-ΓS)-1AH
相对于原始第i端口参考阻抗的复共轭(Zi *),新的第i端口参考阻抗(Zi′)的能量波反射系数:
等式7:
Figure BDA0003761021630000067
当处理二端口网络以及因此2x2矩阵时,在零反射的条件下,
Figure BDA0003761021630000071
此外,可以扩展等式5:
等式8:
Figure BDA0003761021630000072
Figure BDA0003761021630000073
评估等式8并应用在零反射的条件下S11’和S22’均等于0的事实产生了以下等式。
等式9:
Figure BDA0003761021630000074
等式10:
Figure BDA0003761021630000075
计算机110选择幅值为小于或等于1的可能的源反射系数ρ1(Z1 *)(操作330),并基于选择的源反射系数来确定源特性阻抗(操作340)。在操作350中,计算机110基于确定的源特性阻抗修改电路参数。例如,可以调整负载230的阻抗,以减少反射和再反射。由于这种调整,通过网络损失的功率会减少,并且增加了信号的清晰度。当与未修改的电路相比时,这可以允许修改后的电路以较低的功率、较高的频率或两者进行操作。因此,基于确定的源特性阻抗修改电路参数的另一个示例是调整网络的操作频率。由于能够将传输损耗与由于反射导致的噪声分开,该方法的又一个优点是在高频域中的材料表征方面。
图4是根据一些示例实施方式的用于确定负载特性阻抗并基于负载特性阻抗修改电路参数的方法的流程图。方法400包括操作410、420、430、440、450、460和470。通过示例而非限制的方式,方法400被描述为通过图1的计算机110和VNA 120执行,在图2的网络210上操作。
在操作410中,计算机110获取包括负载(例如,负载230)的网络(例如,网络210)的S参数。可以通过VNA 120对S参数进行仿真或测量。
在操作420中,计算机110确定两个可能的负载反射系数。可能的负载反射系数之一具有大于1的幅值,并且另一个可能的负载反射系数具有小于或等于1的幅值。在一些示例实施方式中,使用了下面描述的算法。在该算法中,S是尺寸为2x2xn的复矩阵,其中n是频率点的数目。Z0是表示源阻抗的1x1复矢量。结果是Z1和Z2,表示两个可能的负载反射系数的复值。
等式11:
a=-S(2,2,n)+S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(1,1,n))-S(1,2,n)*S(2,1,n)*conj(S(1,1,n)
b=1+S(2,2,n)*conj(S(2,2,n))+S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(2,1,n))*conj(S(1,2,n))-S(2,1,n)*S(1,2,n)*conj(S(2,1,n))*conj(S(1,2,n))-S(1,1,n)*S(2,2,n)*conj(S(1,1,n)*conj(S(2,2,n)+S(1,2,n)*S(2,1,n)*conj(S(1,1,n))*conj(S(2,2,n))-S(1,1,n)*conj(S(1,1,n))
c=-conj(S(2,2,n))-S(1,1,n)*conj(S(1,2,n))*conj(S(2,1,n))+S(1,1,n)*conj(S(1,1,n))*conj(S(2,2,n,))
Figure BDA0003761021630000091
Figure BDA0003761021630000092
如果|ρ21|≤1&&|ρ22|>1,ρ2(n)=ρ21
否则ρ2(n)=ρ22
Figure BDA0003761021630000093
Figure BDA0003761021630000094
Figure BDA0003761021630000095
计算机110选择幅值为小于或等于1的可能的负载反射系数(ρ2(Z2 *),)(操作430),并基于选择的负载反射系数确定负载特性阻抗(操作440)。在操作450中,计算机110基于确定的负载特性阻抗修改电路参数。例如,可以调整源220的阻抗以减少反射和再反射。可以通过调整可变电阻器、电感器或电容器;通过使用一个或更多个滤波器;或者通过使用有源匹配网络(active matching network),来实现阻抗调整。由于这种调整,通过网络损失的功率会减少,并增加了信号的清晰度。当与未修改的电路相比时,这可以允许修改后的电路以较低的功率、较高的频率、较大的距离或其任何组合进行操作。因此,基于确定的负载特性阻抗修改电路参数的另一个示例是调整网络的操作频率。
在一些示例实施方式中,针对同一网络210执行方法300和方法400两者。在这些示例实施方式中,操作350或操作450中的电路参数的修改可以基于确定的负载特性阻抗和确定的源特性阻抗两者。
图5是示出示例网络的作为频率的函数的损耗的曲线图500。曲线图500包括两个图,示出了在50欧姆单端端接(single-ended termination)的情况下的插入损耗的图510以及示出了网络的EIL的图520。一旦使用方法300和400确定了源反射系数和负载反射系数,就可以确定EIL。由于来自网络内的反射和再反射的附加损耗,在未匹配的50欧姆负载(或任何未匹配的负载)的情况下的插入损耗大于EIL。因此,方法300和400可以有助于在解释通道端接对通过网络的信号质量的影响时互连设计者。有效插入损耗噪声是图510与图520之间的差,并且是负载的函数。
图6是示出了网络210中的反射和再反射的概念图600。网络210具有上面关于图2所讨论的源220和负载230。在网络210下方扩展的图600的一部分示出了从源220到负载230的信号传输以及反射和再反射。水平轴示出了在网络内的位置,并且垂直轴表示时间。
在位置610处,单位强度的信号从源220传输。由于源220的反射系数ρ1,有效的传输信号强度为(1+ρ1)。使用
Figure BDA0003761021630000102
作为有效插入损耗,在位置620处,在负载230处接收到的初始信号的强度是
Figure BDA0003761021630000103
的实部。到达网络210的负载端的信号的一部分在负载230处未接收到,而是代替地反射回源220。该部分由表达式ρ2(1+ρ1)给出。反射的一部分被传输至源220,并且一部分被再反射回负载230。
在操作630处,在负载230处接收强度为
Figure BDA0003761021630000104
的再反射。反射和再反射的模式继续进行,其中每个随后的再反射的强度递减。因此,在位置640处,第二再反射具有强度
Figure BDA0003761021630000105
并且在位置650处,第三再反射具有强度
Figure BDA0003761021630000106
可以通过取再反射的无限和的快速傅立叶逆变换(IFFT)来确定无限级数的再反射的组合效果:
等式12:
Figure BDA0003761021630000101
图7是根据一些示例实施方式的一对曲线图710和720,曲线图710示出了传输的脉冲响应,曲线图720示出了由于反射和再反射而引起的负载处的回波。曲线图710在转化为294.1皮秒的约500索引处示出了显著的初始脉冲响应,该初始脉冲响应此后下降。如果没有反射和再反射,则响应将平稳地渐近地下降到零。然而,由于在负载处的回波,在转化为647.02皮秒的约1100索引处观察到第一扰动,并且在转化为999.94皮秒的约1700索引处观察到第二较小的扰动。这与描述了每个随后的再反射如何小于前一个的上面图6的讨论一致。逻辑上,存在其他再反射,但是这些进一步反射的幅值太小而在曲线图710上无法观察到。曲线图720仅示出了由于反射和再反射而引起的负载处的回波,省略了初始传输脉冲、符号间干扰(ISI)和其他传输损耗。因此,在1100和1700索引附近的扰动的幅值在曲线图720中比在曲线图710中大。
图8是根据一些示例实施方式的具有源810、负载850和减少反射的中间收发器830的网络800的高级图解视图。源810通过互连件820连接至收发器830。收发器830通过互连件840连接至负载850。源810具有特性阻抗ZS。负载850具有特性阻抗ZL
收发器830被配置成执行方法300的操作310至340和方法400的操作410至440,以确定源特性阻抗和负载特性阻抗。基于源特性阻抗,收发器830修改接收滤波器,以补偿通过互连件820的反射和再反射。例如,参照图7,滤波器可能具有一组系数(例如,100个系数),其中每个系数对应于在接收到预定幅值的信号之后的不同的时间延迟。继续进行该示例,曲线图710示出了在初始脉冲的接收之后的约3500个索引。使用100个系数,每个系数跨越35个索引。将系数乘以初始信号(在500索引处),并与在系数所对应的时间索引期间接收到的信号相加。在曲线图710中,超过2000索引基本上没有噪声,因此这些时间索引的系数将为零。在1200索引附近的最小值处,系数将具有正值,该正值的幅值被选择成使得当实际信号和滤波器组合时,净结果接近零。在前面和随后的峰值处,系数将是负的,也具有被选择成使得当实际信号和滤波器组合时净结果接近零的幅值。在一些示例实施方式中,可以禁用设置为零的滤波器系数,从而节省功率。
在补偿了通过互连件820的在收发器830处的回波之后,收发器830通过互连件840将新信号(也称为“干净”信号,因为其缺乏原始噪声)传输至负载850。与在没有收发器830的情况下的源810与负载850之间的连接相比,网络800允许更长距离的通信。例如,如果将收发器830和负载850各自放置在超越其线路损耗会使通信不切实际的清晰通信的极限下,则源810与负载850之间的总距离被加倍,同时仍允许通信。
在被设计用于长距离通信的系统中使用现有的噪声校正方法,该系统在短距离内连接时由于过度均衡而出现故障。然而,使用本文中所述的允许动态测量线路质量和由于反射而引起的噪声的系统和方法,均衡可以按照实际的线路状况进行调整,从而允许相同的设备用于短距离通信和长距离通信两者。
另外或替选地,收发器830的使用允许进行较低功率的通信。例如,如果在添加了收发器830的情况下源810和负载850彼此保持在相同的距离处,则收发器830处的信号的质量优于负载850处的原始信号的质量。因此,可以减少来自源810的传输信号的功率。
作为又一个优点,收发器830的使用允许进行较高频率的通信。例如,如果在添加了收发器830并保持功率相同的情况下源810和负载850彼此保持在相同的距离处,则在收发器830处接收到的数据的ISI低于在负载850处的原始信号的质量。因此,可以增加来自源810的传输信号的频率。
图9是示出了根据一些示例实施方式的用于执行本文中所述的方法的系统900的部件的框图。所有部件不必在各种实施方式中使用。例如,客户端、服务器、自主系统和基于云的网络资源可以各自使用不同的部件集合,或者在服务器的情况下,使用例如较大的存储设备。
呈计算机900的形式的一个示例计算设备(也称为计算设备900和计算机系统900)可以包括全部通过总线940连接的处理器905、记忆装置910、可移除存储装置915和不可移除存储装置920。尽管示例计算设备被示出和描述为计算机900,但是计算设备可以在不同的实施方式中处于不同的形式。例如,计算设备可以代替地是包括与关于图9所示和描述的那些元件相同或相似的元件的智能电话、平板电脑、智能手表或其他计算设备。诸如智能电话、平板电脑和智能手表的设备被统称为“移动设备”。此外,尽管各种数据存储元件被示出为计算机900的一部分,但是存储装置还或替选地可以包括可经由例如因特网的网络访问的基于云的存储装置,或基于服务器的存储装置。
记忆装置910可以包括易失性存储器945和非易失性存储器950,并可以存储程序955。计算机900可以包括或可以访问计算环境,该计算环境包括各种计算机可读介质,例如易失性存储器945;非易失性存储器950;可移除存储装置915;和不可移除存储装置920。计算机存储装置包括随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)和电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器或其他存储器技术、光盘只读存储器(CD ROM)、数字通用磁盘(DVD)或其他光盘存储装置、磁带盒、磁带、磁盘存储装置或其他磁性存储设备、或者能够存储计算机可读指令的任何其他介质。
计算机900可以包括或可以访问计算环境,该计算环境包括输入接口925、输出接口930和通信接口935。输出接口930可以接口到或包括也可以用作输入设备的显示设备,例如触摸屏。输入接口925可以接口到或包括以下中的一个或更多个:触摸屏、触摸板、鼠标、键盘、相机、一个或更多个特定于设备的按钮、集成在计算机900内或经由有线或无线数据连接耦接至计算机900的一个或更多个传感器、以及其他输入设备。计算机900可以在使用通信接口935以连接至一个或更多个远程计算机、例如数据库服务器的联网环境中操作。远程计算机可以包括个人计算机(PC)、服务器、路由器、网络PC、对等设备或其他公共网络节点等。通信接口935可以连接至局域网(LAN)、广域网(WAN)、蜂窝网络、WiFi网络、蓝牙网络或其他网络。
存储在计算机可读介质上的计算机指令(例如,存储在记忆装置910中的程序955)可由计算机900的处理器905执行。硬盘驱动器、CD-ROM和RAM是包括例如存储设备的非暂态计算机可读介质的制品的一些示例。术语“计算机可读介质”和“存储设备”不包括载波,因为载波被认为太短暂了。“计算机可读非暂态介质”包括所有类型的计算机可读介质,包括磁性存储介质、光学存储介质、闪存介质和固态存储介质。应该理解,软件可以安装在计算机中并和计算机一起出售。替选地,软件可以被获得并被加载到计算机中,包括通过物理介质或分发系统获得软件,包括例如从由软件创建者拥有的服务器或从不由软件创建者拥有但由软件创建者使用的服务器获得。例如,软件可以存储在服务器上,以通过因特网进行分发。
程序955被示出为包括有效插入损耗模块960和电路修改模块965。本文中所述的模块中的任何一个或更多个可以使用硬件(例如,机器的处理器、ASIC、FPGA或其任何合适的组合)来实现。此外,这些模块中的任何两个或更多个可以组合为单个模块,并且本文中针对单个模块所描述的功能可以在多个模块之间细分。此外,根据各种示例实施方式,本文中描述为在单个机器、数据库或设备中实现的模块可以跨多个机器、数据库或设备分布。
有效插入损耗模块960使用本文中所述的方法确定网络的有效插入损耗。有效插入损耗模块960还可以使用方法600和方法700来确定源特性阻抗和负载特性阻抗。
电路修改模块965基于有效插入损耗、源特性阻抗、负载特性阻抗或其任何合适的组合确定要进行的电路修改。在一些示例实施方式中,确定的电路修改会自动应用于电路(例如,通过调整电子可控的阻抗,调整操作频率,调整操作电压或其任何合适的组合)。
提供了本公开内容的摘要,以符合需要允许读者快速确定技术公开内容的性质的摘要的37C.F.R.§1.72(b)。在摘要将不会用于解释或限制权利要求的理解的情况下提交摘要。另外,在上述具体实施方式中,可以看出,出于精简本公开内容的目的,各种特征一起被组合在单个实施方式中。本公开内容的这种方法不应被解释为限制权利要求。因此,在此将所附权利要求并入到具体实施方式中,其中每个权利要求独立作为单独的实施方式。

Claims (20)

1.一种方法,包括:
通过一个或更多个处理器,获取包括源的网络的S参数;
基于通过S参数重新标准化将所述网络的源反射减少到零,确定所述网络的源的第一可能的源反射系数以及所述网络的源的第二可能的源反射系数,所述第一可能的源反射系数具有大于1的第一幅值,所述第二可能的源反射系数具有小于或等于1的第二幅值;
通过所述一个或更多个处理器,基于所述第二幅值小于或等于1来选择所述第二可能的源反射系数作为源反射系数;
基于所述源反射系数,确定所述网络的源处的源特性阻抗;以及
基于所述源特性阻抗来修改电路参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其中:
所述网络是包括所述源和负载的二端口网络;
所述方法还包括:
基于通过S参数重新标准化将所述网络的负载反射减少到零,确定所述网络的负载的第一可能的负载反射系数以及所述网络的负载的第二可能的负载反射系数,所述第一可能的负载反射系数具有大于1的第三幅值,所述第二可能的负载反射系数具有小于或等于1的第四幅值;
通过所述一个或更多个处理器,基于所述第四幅值小于或等于1来选择所述第二可能的负载反射系数作为负载反射系数;以及
基于所述源反射系数和所述负载反射系数,确定在所述网络的负载处的负载特性阻抗;以及
所述电路参数的修改还基于所述负载特性阻抗。
3.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于所述源特性阻抗使所述S参数重新标准化;以及
基于重新标准化的S参数确定作为频率的函数的所述网络的有效插入损耗。
4.根据权利要求3所述的方法,还包括:
基于所述网络的插入损耗和所述网络的有效插入损耗,确定所述网络的有效插入损耗噪声。
5.根据权利要求3所述的方法,还包括:
基于包括针对所述有效插入损耗的项的函数的快速傅立叶逆变换,表征由于所述源的端接引起的时域反射和再反射。
6.根据权利要求1所述的方法,其中:
获取所述S参数包括从矢量网络分析仪获取所述S参数。
7.根据权利要求1所述的方法,其中:
基于所述源特性阻抗修改所述网络的电路参数包括基于所述源特性阻抗调整所述网络的部件的阻抗。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,
基于所述源特性阻抗修改所述网络的电路参数包括基于所述源特性阻抗调整所述网络的操作频率。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,
基于所述源特性阻抗修改所述网络的电路参数包括基于所述源特性阻抗修改所述网络的收发器。
10.一种系统,包括:
存储指令的存储器;以及
一个或更多个处理器,所述一个或更多个处理器由所述指令配置成执行操作,所述操作包括:
获取包括源的网络的S参数;
基于通过S参数重新标准化将所述网络的源反射减少到零,确定所述网络的源的第一可能的源反射系数以及所述网络的源的第二可能的源反射系数,所述第一可能的源反射系数具有大于1的第一幅值,所述第二可能的源反射系数具有小于或等于1的第二幅值;
基于所述第二幅值小于或等于1来选择所述第二可能的源反射系数作为源反射系数;
基于所述源反射系数,确定在所述网络的源处的源特性阻抗;以及
基于所述源特性阻抗来修改电路参数。
11.根据权利要求10所述的系统,其中:
所述网络是包括所述源和负载的二端口网络;
所述操作还包括:
基于通过S参数重新标准化将所述网络的负载反射减少到零,确定所述网络的负载的第一可能的负载反射系数以及所述网络的负载的第二可能的负载反射系数,所述第一可能的负载反射系数具有大于1的第三幅值,所述第二可能的负载反射系数具有小于或等于1的第四幅值;
通过所述一个或更多个处理器,基于所述第四幅值小于或等于1来选择所述第二可能的负载反射系数作为负载反射系数;以及
基于所述源反射系数和所述负载反射系数,确定在所述网络的负载处的负载特性阻抗;以及
所述源特性阻抗的确定还基于所述负载反射系数;以及
所述电路参数的修改还基于所述负载特性阻抗。
12.根据权利要求10所述的系统,其中,所述操作还包括:
基于所述源特性阻抗使所述S参数重新标准化;以及
基于重新标准化的S参数确定作为频率的函数的所述网络的有效插入损耗。
13.根据权利要求12所述的系统,其中,所述操作还包括:
基于所述网络的插入损耗和所述网络的有效插入损耗,确定所述网络的有效插入损耗噪声。
14.根据权利要求12所述的系统,其中,所述操作还包括:
基于包括针对所述有效插入损耗的项的函数的快速傅立叶逆变换,表征由于所述源的端接引起的时域反射和再反射。
15.根据权利要求10所述的系统,其中:
获取所述S参数包括从矢量网络分析仪获取所述S参数。
16.根据权利要求10所述的系统,其中:
基于所述源特性阻抗修改所述网络的电路参数包括基于所述源特性阻抗调整所述网络的部件的阻抗。
17.根据权利要求10所述的系统,其中:
基于所述源特性阻抗修改所述网络的电路参数包括基于所述源特性阻抗调整所述网络的操作频率。
18.一种包含指令的机器可读存储介质,所述指令在由一个或更多个处理器执行时使所述一个或更多个处理器执行操作,所述操作包括:
获取包括源的网络的S参数;
基于通过S参数重新标准化将所述网络的源反射减少到零,确定所述网络的源的第一可能的源反射系数以及所述网络的源的第二可能的源反射系数,所述第一可能的源反射系数具有大于1的第一幅值,所述第二可能的源反射系数具有小于或等于1的第二幅值;
基于所述第二幅值小于或等于1来选择所述第二可能的源反射系数作为源反射系数;
基于所述源反射系数,确定在所述网络的源处的源特性阻抗;以及
基于所述源特性阻抗来修改电路参数。
19.根据权利要求18所述的机器可读存储介质,其中:
所述网络是包括所述源和负载的二端口网络;
所述操作还包括:
基于通过S参数重新标准化将所述网络的负载反射减少到零,确定所述网络的负载的第一可能的负载反射系数以及所述网络的负载的第二可能的负载反射系数,所述第一可能的负载反射系数具有大于1的第三幅值,所述第二可能的负载反射系数具有小于或等于1的第四幅值;
通过所述一个或更多个处理器,基于所述第四幅值小于或等于1来选择所述第二可能的负载反射系数作为负载反射系数;以及
基于所述源反射系数和所述负载反射系数,确定在所述网络的负载处的负载特性阻抗;以及
所述源特性阻抗的确定还基于所述负载反射系数;以及
所述电路参数的修改还基于所述负载特性阻抗。
20.根据权利要求18所述的机器可读存储介质,其中,所述操作还包括:
基于所述源特性阻抗使所述S参数重新标准化;以及
基于重新标准化的S参数确定作为频率的函数的所述网络的有效插入损耗。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11397204B2 (en) 2019-11-26 2022-07-26 Achronix Semiconductor Corporation Noise-independent loss characterization of networks

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5621331A (en) * 1995-07-10 1997-04-15 Applied Science And Technology, Inc. Automatic impedance matching apparatus and method
CN104993949A (zh) * 2015-06-14 2015-10-21 徐园园 一种宽带匹配网络实现方法
CN105353226A (zh) * 2015-11-03 2016-02-24 江苏省计量科学研究院 基于散射参数和智能算法的emi噪声源阻抗等效参数提取方法
CN107547061A (zh) * 2012-09-28 2018-01-05 株式会社大亨 高频匹配系统的阻抗调整方法
CN108802510A (zh) * 2018-06-08 2018-11-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一体化噪声参数测量装置及测量方法
CN110118895A (zh) * 2019-05-24 2019-08-13 北京无线电计量测试研究所 一种用于测量源端热态反射系数的测量方法及测量装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5337261A (en) * 1992-04-02 1994-08-09 Electronic Development, Inc. Designing and evaluating filters for suppressing undesired signals
US6998833B2 (en) 2003-11-05 2006-02-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. System and method for determining S-parameters using a load
US7127363B2 (en) 2004-04-27 2006-10-24 Intel Corporation Calculating differential scattering parameters
US7505512B1 (en) * 2005-05-05 2009-03-17 Xilinx , Inc. Method and apparatus for combining statistical eye channel compliance methods with linear continuous-time equalization
US7865319B1 (en) * 2006-11-30 2011-01-04 Lecroy Corporation Fixture de-embedding method and system for removing test fixture characteristics when calibrating measurement systems
US20080195344A1 (en) * 2007-02-14 2008-08-14 Suss Microtec Test Systems Gmbh Method for determining measurement errors in scattering parameter measurements
US9244117B2 (en) * 2013-03-15 2016-01-26 Livewire Innovation, Inc. Systems and methods for implementing S/SSTDR measurements
US10621265B2 (en) * 2013-05-09 2020-04-14 Lam Research Corporation Systems and methods for tuning an impedance matching network in a step-wise fashion
TWI692145B (zh) * 2016-11-04 2020-04-21 國立臺灣大學 共模訊號吸收器及其等效電路
NL2018225B1 (en) 2017-01-25 2018-08-01 Univ Delft Tech An interferometric IQ-mixer/DAC based solution for active, high speed vector network analyzer impedance renormalization
US11397204B2 (en) 2019-11-26 2022-07-26 Achronix Semiconductor Corporation Noise-independent loss characterization of networks

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5621331A (en) * 1995-07-10 1997-04-15 Applied Science And Technology, Inc. Automatic impedance matching apparatus and method
CN107547061A (zh) * 2012-09-28 2018-01-05 株式会社大亨 高频匹配系统的阻抗调整方法
CN104993949A (zh) * 2015-06-14 2015-10-21 徐园园 一种宽带匹配网络实现方法
CN105353226A (zh) * 2015-11-03 2016-02-24 江苏省计量科学研究院 基于散射参数和智能算法的emi噪声源阻抗等效参数提取方法
CN108802510A (zh) * 2018-06-08 2018-11-13 中国电子科技集团公司第四十研究所 一体化噪声参数测量装置及测量方法
CN110118895A (zh) * 2019-05-24 2019-08-13 北京无线电计量测试研究所 一种用于测量源端热态反射系数的测量方法及测量装置

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