CN115031679A - 一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明属于光学元件的精密检测技术领域，其目的在于提供一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统。其中的方法包括：获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。本发明可实现对光学元件的自动调心，可提高对光学元件的调心效率。
Description
技术领域
本发明属于光学元件的精密检测技术领域，具体涉及一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统。
背景技术
在光学元件的检测过程中，需要将待进行精密检测的光学元件固定在调心平台上，并根据精密检测技术来确定光学元件的加工误差。为了保证检测的准确性，光学元件安装的初始位置需要具备足够的安装精度，以保证每一次安装的光学元件的中心与调心平台的中心重合。
传统检测方法中，通常需要在初步安装光学元件后，通过测头对光学元件的表面进行一次测量，再根据测量结果得到元件的中心偏移量，由于偏心的存在，此时得到的测量结果及对应的中心偏移量并不准确；随后，通过检测人员手动调节的方式来调整光学元件的中心坐标，接着通过测头对光学元件的面型再一次测量，得到新的面型数据后，如果光学元件仍然存在误差，需要继续重复上述操作，直至中心偏差处在允许范围内为止。在使用现有技术过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：基于用户手动进行光学元件的偏心调节，存在不精确的问题，同时往往需要用户通过多次调节方可调整到位，费时费力。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题，本发明提供了一种用于光学元件检测的调心方法、装置及系统。
为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
第一方面，提供了一种用于光学元件检测的调心方法，包括：
获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；
获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；
根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
本发明可实现对光学元件的自动调心，可提高对光学元件的调心效率。具体地，本发明在实施过程中，首先，获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；然后，获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据，并根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；随后，根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；最后，根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。在此过程中，由于光学元件的中心偏移值计算及调心调节均基于机器执行，可便于提高调心精度进而，保障光学元件的安装精度，同时避免用户手动调节造成的耗费时间长的问题，利于提高光学元件的调心效率。
在一个可能的设计中，获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标时，基于预设的检测探头采用离散点的方式对所述光学元件进行扫描得到，且所述检测探头可相对所述调心平台的X轴和Z轴方向运动，所述调心平台可绕其自身的Z轴方向转动。
在一个可能的设计中，根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据，包括：
基于高斯曲线方程对所述光学元件的多个检测点坐标进行拟合，得到所述光学元件的面型数据。
在一个可能的设计中，得到所述光学元件的中心偏移值后，所述用于光学元件检测的调心方法还包括：
将所述光学元件的中心偏移值和面型数据进行可视化展示。
在一个可能的设计中，根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，包括：
基于反馈控制算法对所述中心偏移值进行计算，得到调节控制数据；
根据所述调节控制数据，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节。
第二方面，提供了一种用于光学元件检测的调心装置，用于实现如上述任一项所述的用于光学元件检测的调心方法；所述用于光学元件检测的调心装置包括：
第一数据采集模块，用于获取用于安装光学元件的调心平台的中心坐标；
第二数据采集模块，用于获取光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；还用于根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
中心偏移值计算模块，分别与所述第一数据采集模块和所述第二数据采集模块通信连接，用于根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
调心驱动模块，与所述中心偏移值计算模块通信连接，用于根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
第三方面，提供了一种用于光学元件检测的调心系统，其特征在于：包括工作平台、调心平台、检测探头、探头驱动装置和数据处理装置，所述调心平台和所述探头驱动装置均安装在所述工作平台上，所述调心平台用于装配光学元件，所述检测探头与所述探头驱动装置的输出端连接，所述检测探头朝向所述调心平台设置，所述检测探头、所述探头驱动装置和所述调心平台均与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置用于实现如上述任一项所述的用于光学元件检测的调心方法。
在一个可能的设计中，所述调心平台包括底盘，以及依次设置在所述底盘上方的第一承接盘、第二承接盘和装配盘，所述装配盘用于装配光学元件；所述底盘上设置有第一平移驱动机构，所述第一平移驱动机构的输出端与所述第一承接盘连接；所述第一承接盘上设置有第二平移驱动机构，所述第二平移驱动机构的输出端与所述第二承接盘连接；所述第一平移驱动机构驱动所述第一承接盘的平移方向和所述第二平移驱动机构驱动所述第二承接盘的平移方向垂直；所述第二承接盘与所述装配盘连接；所述工作平台上设置有第一转向驱动机构，所述第一转向驱动机构用于驱动所述底盘、第一承接盘、第二承接盘或装配盘绕其自身的Z轴方向转动。
在一个可能的设计中，所述第二承接盘上设置有装配架，所述装配架上设置有第二转向驱动机构和第三转向驱动机构，第二转向驱动机构和第三转向驱动机构的输出端均与所述装配盘连接，所述第二转向驱动机构用于驱动所述装配盘绕其自身的X轴方向转动，所述第三转向驱动机构用于驱动所述装配盘绕所述调心平台的Y轴方向转动。
在一个可能的设计中，所述用于光学元件检测的调心系统还包括信号放大器和显示装置，所述检测探头通过所述信号放大器与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置与所述显示装置电连接。
第四方面，提供了一种电子设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序指令；以及，
处理器，用于执行所述计算机程序指令从而完成如上述任一项所述的用于光学元件检测的调心方法的操作。
第五方面，提供了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机可读取的计算机程序指令，所述计算机程序指令被配置为运行时执行如上述任一项所述的用于光学元件检测的调心方法的操作。
附图说明
图1是本发明中一种用于光学元件检测的调心方法的流程图；
图2是本发明中一种用于光学元件检测的调心系统的结构示意图；
图3是本发明中调心平台的结构示意图；
图4是图3的分解示意图；
图5是本发明中一种电子设备的模块框图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图和实施例或现有技术的描述对本发明作简单地介绍，显而易见地，下面关于附图结构的描述仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在此需要说明的是，对于这些实施例方式的说明用于帮助理解本发明，但并不构成对本发明的限定。
实施例1：
本实施例第一方面提供了一种用于光学元件检测的调心方法，可以但不限于由具有一定计算资源的计算机设备或虚拟机执行，例如由个人计算机、智能手机、个人数字助理或可穿戴设备等电子设备执行，或者由虚拟机执行，以便提高对光学元件的调心效率。
如图1所示，一种用于光学元件检测的调心方法，可以但不限于包括有如下步骤：
S1.获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；
S2.获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；
本实施例中，获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标时，基于预设的检测探头采用离散点的方式对所述光学元件进行扫描得到，且所述检测探头可相对所述调心平台的X轴和Z轴方向运动，所述调心平台可绕其自身的Z轴方向转动。需要说明的是，调心平台的X轴和Y轴所在的平面与水平面平行，调心平台的Z轴即为与水平面平行的轴，本实施例中，检测探头可相对所述调心平台的X轴和Z轴方向运动，调心平台可绕其自身的Z轴方向转动，由此可在获取光学元件的表面的多个检测点坐标时的过程中，调心平台自转，同时检测探头相对调心平台的X轴方向移动，由此即可使得检测探头的检测范围覆盖到光学元件的整个表面。
本实施例中，根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据，包括：
基于高斯曲线方程对所述光学元件的多个检测点坐标进行拟合，得到所述光学元件的面型数据。
S3.根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
S4.根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
本实施例中，得到所述光学元件的中心偏移值后，所述用于光学元件检测的调心方法还包括：
将所述光学元件的中心偏移值和面型数据进行可视化展示。由此，可便于用户了解光学元件的偏心状况，便于在驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节的驱动装置发生故障时，用户手动对光学元件和/或调心平台进行位置调节，以便使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
S5.根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
本实施例中，根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，包括：
S501.基于反馈控制算法对所述中心偏移值进行计算，得到调节控制数据；
S502.根据所述调节控制数据，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节。
本实施例可实现对光学元件的自动调心，可提高对光学元件的调心效率。具体地，本实施例在实施过程中，首先，获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；然后，获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据，并根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；随后，根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；最后，根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。在此过程中，由于光学元件的中心偏移值计算及调心调节均基于机器执行，可便于提高调心精度进而，保障光学元件的安装精度，同时避免用户手动调节造成的耗费时间长的问题，利于提高光学元件的调心效率。
实施例2：
本实施例提供一种用于光学元件检测的调心装置，用于实现实施例1中用于光学元件检测的调心方法；所述用于光学元件检测的调心装置包括：
第一数据采集模块，用于获取用于安装光学元件的调心平台的中心坐标；
第二数据采集模块，用于获取光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；还用于根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
中心偏移值计算模块，分别与所述第一数据采集模块和所述第二数据采集模块通信连接，用于根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
调心驱动模块，与所述中心偏移值计算模块通信连接，用于根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
实施例3：
在实施例1或2的基础上，本实施例公开了一种用于光学元件检测的调心系统，如图2所示，包括工作平台1、调心平台2、检测探头3、探头驱动装置4和数据处理装置，所述调心平台2和所述探头驱动装置4均安装在所述工作平台1上，所述调心平台2用于装配光学元件5，所述检测探头3与所述探头驱动装置4的输出端连接，所述检测探头3朝向所述调心平台2设置，所述检测探头3、所述探头驱动装置4和所述调心平台2均与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置用于实现如上述任一项所述的用于光学元件检测的调心方法。
需要说明的是，本实施例中，所述用于光学元件检测的调心系统还包括用于驱动所述光学元件5和/或所述调心平台2进行位置调节的调心驱动机构，调心驱动机构与数据处理装置电连接，数据处理装置可根据所述中心偏移值，驱动调心驱动机构动作，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
具体地，本实施例中，调心驱动机构用于驱动调心平台2动作，以便于使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合，调心驱动机构在对调心平台2进行位置调节时，能够带动调心平台沿其X轴和Z轴方向运动；调心平台2还可绕其中轴在工作台1上转动，且探头驱动装置4可带动检测探头3相对调心平台2的X轴和Z轴方向运动。
本实施例中，如图3和图4所示，所述调心平台2包括底盘201，以及依次设置在所述底盘201上方的第一承接盘202、第二承接盘203和装配盘204，所述装配盘204用于装配光学元件5；所述底盘201上设置有第一平移驱动机构205，所述第一平移驱动机构205的输出端与所述第一承接盘202连接；所述第一承接盘202上设置有第二平移驱动机构206，所述第二平移驱动机构206的输出端与所述第二承接盘203连接；所述第一平移驱动机构205驱动所述第一承接盘202的平移方向和所述第二平移驱动机构206驱动所述第二承接盘203的平移方向垂直；所述第二承接盘203与所述装配盘204连接；所述工作平台1上设置有第一转向驱动机构，所述第一转向驱动机构用于驱动所述底盘201、第一承接盘202、第二承接盘203或装配盘204绕其自身的Z轴方向转动。
具体地，本实施例中，第一平移驱动机构205驱动所述第一承接盘202的平移方向为所述调心平台2的Y轴方向，所述第二平移驱动机构206驱动所述第二承接盘203的平移方向为所述调心平台2的X轴方向。此外，为保证第一承接盘202和第二承接盘203平移过程中的稳定性，本实施例中，底盘201上沿所述调心平台2的Y轴方向设置有第一滑轨210，第一承接盘202的下部配合所述第一滑轨210设置有第一滑块211，第一滑块211与第一滑轨210滑动连接；第一承接盘202上沿所述调心平台2的X轴方向设置有第二滑轨212，第二承接盘203的下部配合所述第二滑轨212设置有第二滑块213，第二滑块213与第二滑轨212滑动连接。
需要说明的是，本实施例中，调心平台2的设置，可便于在检测探头3对光学元件5进行检测时，带动光学元件5沿其X轴方向或Y轴方向平移，还可带动光学元件5绕其Z轴方向转动，以便于检测探头3尽可能全面地对光学元件5的表面进行检测，进而便于提升光学元件面型数据计算的准确性。
所述第二承接盘203上设置有装配架207，所述装配架207上设置有第二转向驱动机构208和第三转向驱动机构209，第二转向驱动机构208和第三转向驱动机构209的输出端均与所述装配盘204连接，所述第二转向驱动机构208用于驱动所述装配盘204绕其自身的X轴方向转动，所述第三转向驱动机构209用于驱动所述装配盘204绕所述调心平台2的Y轴方向转动。
需要说明的是，本实施例中，第一平移驱动机构205、第二平移驱动机构206、第二转向驱动机构208和第三转向驱动机构209构成调心驱动机构，可用以驱动调心平台2动作，以便于使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
本实施例中，第一平移驱动机构205和第二平移驱动机构206均可以但不仅限于采用微型直线电机实现，第二转向驱动机构208和第三转向驱动机构209均可以但不仅限于采用微型转动电机实现，此处不予限制。
本实施例中，所述用于光学元件检测的调心系统还包括信号放大器和显示装置，所述检测探头3通过所述信号放大器与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置与所述显示装置电连接。具体地，本实施例中，所述信号放大器用于将所述检测探头3输出的所述光学元件的表面的多个检测点坐标进行信号放大，然后将放大后数据传输至所述数据处理装置；所述数据处理装置将所述光学元件的中心偏移值和面型数据进行可视化展示。
为提高本实施例整体的便携性，调心平台2、检测探头3、探头驱动装置4和数据处理装置等装置中的电子器件均通过锂电池进行供电，此外，调心平台2、检测探头3和探头驱动装置4与数据处理装置之间均通过无线信号收发模块通信连接，该无线信号收发模块用于各个终端之间的无线通信，以便实现近程或远程的数据交互，进一步满足应用需求，其可以但不限于为WiFi收发模块、蓝牙收发模块及GPRS收发模块的任意一种或它们的任意组合。
实施例4：
在实施例1或2的基础上，本实施例公开了一种电子设备，该设备可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑或者台式电脑等。电子设备可能被称为用于终端、便携式终端、台式终端等，如图5所示，电子设备包括：
存储器，用于存储计算机程序指令；以及，
处理器，用于执行所述计算机程序指令从而完成如实施例1中任一所述的用于光学元件检测的调心方法的操作。
具体地，处理器301可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器301可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable LogicArray，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器301也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(CentralProcessing Unit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器301可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。
存储器302可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器302还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器302中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器801所执行以实现本申请中实施例1提供的用于光学元件检测的调心方法。
在一些实施例中，终端还可选包括有：通信接口303和至少一个外围设备。处理器301、存储器302和通信接口303之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与通信接口303相连。具体地，外围设备包括：射频电路304、显示屏305和电源306中的至少一种。
通信接口303可被用于将I/O(Input/ Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器301和存储器302。在一些实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器301、存储器302和通信接口303中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。
射频电路304用于接收和发射RF(Radio Frequency，射频)信号，也称电磁信号。射频电路304通过电磁信号与通信网络以及其他通信设备进行通信。
显示屏305用于显示UI(User Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。
电源306用于为电子设备中的各个组件进行供电。
实施例5：
在实施例1至3任一项实施例的基础上，本实施例公开了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机可读取的计算机程序指令，所述计算机程序指令被配置为运行时执行如实施例1所述的用于光学元件检测的调心方法的操作。
需要说明的是，所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于光学元件检测的调心方法，其特征在于：包括：
获取用于装配光学元件的调心平台的中心坐标；
获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；
根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
2.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的调心方法，其特征在于：获取所述光学元件的表面的多个检测点坐标时，基于预设的检测探头采用离散点的方式对所述光学元件进行扫描得到，且所述检测探头可相对所述调心平台的X轴和Z轴方向运动，所述调心平台可绕其自身的Z轴方向转动。
3.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的调心方法，其特征在于：根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据，包括：
基于高斯曲线方程对所述光学元件的多个检测点坐标进行拟合，得到所述光学元件的面型数据。
4.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的调心方法，其特征在于：得到所述光学元件的中心偏移值后，所述用于光学元件检测的调心方法还包括：
将所述光学元件的中心偏移值和面型数据进行可视化展示。
5.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测的调心方法，其特征在于：根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，包括：
基于反馈控制算法对所述中心偏移值进行计算，得到调节控制数据；
根据所述调节控制数据，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节。
6.一种用于光学元件检测的调心装置，其特征在于：用于实现如权利要求1至5中任一项所述的用于光学元件检测的调心方法；所述用于光学元件检测的调心装置包括：
第一数据采集模块，用于获取用于安装光学元件的调心平台的中心坐标；
第二数据采集模块，用于获取光学元件的表面的多个检测点坐标，并根据所述光学元件的多个检测点坐标，得到所述光学元件的面型数据；还用于根据所述光学元件的面型数据，得到所述光学元件的中心坐标；
中心偏移值计算模块，分别与所述第一数据采集模块和所述第二数据采集模块通信连接，用于根据所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标，得到所述光学元件的中心偏移值；
调心驱动模块，与所述中心偏移值计算模块通信连接，用于根据所述中心偏移值，驱动所述光学元件和/或所述调心平台进行位置调节，以使所述光学元件的中心坐标和所述调心平台的中心坐标重合。
7.一种用于光学元件检测的调心系统，其特征在于：包括工作平台（1）、调心平台（2）、检测探头（3）、探头驱动装置（4）和数据处理装置，所述调心平台（2）和所述探头驱动装置（4）均安装在所述工作平台（1）上，所述调心平台（2）用于装配光学元件（5），所述检测探头（3）与所述探头驱动装置（4）的输出端连接，所述检测探头（3）朝向所述调心平台（2）设置，所述检测探头（3）、所述探头驱动装置（4）和所述调心平台（2）均与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置用于实现如权利要求1至5中任一项所述的用于光学元件检测的调心方法。
8.根据权利要求7所述的一种用于光学元件检测的调心系统，其特征在于：所述调心平台（2）包括底盘（201），以及依次设置在所述底盘（201）上方的第一承接盘（202）、第二承接盘（203）和装配盘（204），所述装配盘（204）用于装配光学元件；所述底盘（201）上设置有第一平移驱动机构（205），所述第一平移驱动机构（205）的输出端与所述第一承接盘（202）连接；所述第一承接盘（202）上设置有第二平移驱动机构（206），所述第二平移驱动机构（206）的输出端与所述第二承接盘（203）连接；所述第一平移驱动机构（205）驱动所述第一承接盘（202）的平移方向和所述第二平移驱动机构（206）驱动所述第二承接盘（203）的平移方向垂直；所述第二承接盘（203）与所述装配盘（204）连接；所述工作平台（1）上设置有第一转向驱动机构，所述第一转向驱动机构用于驱动所述底盘（201）、第一承接盘（202）、第二承接盘（203）或装配盘（204）绕其自身的Z轴方向转动。
9.根据权利要求8所述的一种用于光学元件检测的调心系统，其特征在于：所述第二承接盘（203）上设置有装配架（207），所述装配架（207）上设置有第二转向驱动机构（208）和第三转向驱动机构（209），第二转向驱动机构（208）和第三转向驱动机构（209）的输出端均与所述装配盘（204）连接，所述第二转向驱动机构（208）用于驱动所述装配盘（204）绕其自身的X轴方向转动，所述第三转向驱动机构（209）用于驱动所述装配盘（204）绕所述调心平台（2）的Y轴方向转动。
10.根据权利要求7所述的一种用于光学元件检测的调心系统，其特征在于：所述用于光学元件检测的调心系统还包括信号放大器和显示装置，所述检测探头（3）通过所述信号放大器与所述数据处理装置电连接，所述数据处理装置与所述显示装置电连接。
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