CN115015643A - 系统侧谐波阻抗检测方法 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种系统侧谐波阻抗检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，所述采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。采用本方法能够提高系统侧谐波阻抗检测的准确性。
Description
技术领域
本申请涉及电力系统技术领域，特别是涉及一种系统侧谐波阻抗检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
随着大量电子设备接入电力系统，电力系统中的谐波污染变得日益严重，为了定量确定谐波源的污染责任并通过滤波器抑制谐波，需要精确地检测出系统侧谐波阻抗。
传统技术中，是通过采集系统侧的谐波电压值和谐波电流值直接计算得到系统侧谐波阻抗值，但电力系统中存在背景谐波，会导致采集到的系统侧谐波电压值和谐波电流值不准确，因此，计算得到的系统侧谐波阻抗值也不准确。
综上，传统技术中存在检测到的系统侧谐波阻抗不准确的问题。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高系统侧谐波阻抗检测准确性的系统侧谐波阻抗检测方法、装置、计算机设备和存储介质。
第一方面，本申请提供了一种系统侧谐波阻抗检测方法。所述方法包括：
获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，所述采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
在其中一个实施例中，所述基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，包括：
基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
将多个所述预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个所述预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
基于采样数据的误差范围，在各所述采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
确定多个所述随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个所述随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
在其中一个实施例中，所述对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压，包括：
基于所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
在其中一个实施例中，所述基于所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压，包括：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；
所述当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；
所述当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；
所述当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
在其中一个实施例中，所述基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗，包括：
将所述系统侧谐波电压与所述处理后耦合点谐波电压之差与所述处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
在其中一个实施例中，在所述获得系统侧谐波阻抗之后，还包括：
将连续多个采样时刻的所述系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
第二方面，本申请还提供了一种系统侧谐波阻抗检测装置。所述装置包括：
采样模块，用于获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，所述采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
采样处理模块，用于基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
谐波电压确定模块，用于对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
谐波阻抗确定模块，用于基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一方法的步骤。
第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法的步骤。
第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法的步骤。
上述系统侧谐波阻抗检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流，基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗。由于传统技术中是直接利用采样得到的谐波电压和谐波电流计算得到系统侧谐波阻抗，而本实施例中是首先对多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流基于误差范围进行处理，根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗，从而能够更加准确的获得系统侧谐波阻抗，解决了传统技术中检测到的系统侧谐波阻抗准确性低的问题。
附图说明
图1为本申请实施例中提供的一种系统侧谐波阻抗检测方法的应用环境图；
图2为本申请实施例中提供的系统侧谐波阻抗检测方法的流程示意图；
图3为一个实施例中的对多个采样数据进行处理的流程示意图；
图4为一个实施例中的获取预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的流程示意图；
图5为本申请实施例中提供的一种系统侧谐波阻抗检测装置的结构框图；
图6为本申请实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
为了帮助更好的理解本申请的整体技术方案，现对本申请的整体技术方案的应用场景进行描述。图1为本申请实施例中提供的一种系统侧谐波阻抗检测方法的应用环境图，参照图1，电力系统包括系统侧和用户侧，系统侧基于戴维南定理，且用户侧基于诺顿定理构建电力系统的等效电路模型。图1的左半部分表示系统侧，系统侧采用系统测谐波电压与系统侧谐波阻抗串联的电路模型，右半部分表示用户侧，用户侧采用用户侧谐波电流与用户侧谐波阻抗并联的电路模型，将用户侧电路模型与系统侧电路模型串联起来得到电力系统的等效电路模型。图1中Pg表示公共耦合点，ZX表示系统侧谐波阻抗，
表示系统测谐波电压，
表示耦合点谐波电压，
表示耦合点谐波电流，Zy表示用户侧谐波阻抗，
表示用户侧谐波电流。使用图1中的等效电路模型实现对系统侧谐波阻抗的检测。
图2为本申请实施例中提供的系统侧谐波阻抗检测方法的流程示意图，该方法包括以下步骤：
S201，获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流。
在本实施例中，在预设时间段内，通过电压互感器和电流互感器对公共耦合点处的耦合点谐波电压和耦合点谐波电流进行第一次采样，得到K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流，通过以下式(1)和式(2)表示：
其中，
表示第一次采样得到的K个耦合点谐波电压，
表示第一次采样得到的K个耦合点谐波电流。
S202，基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流。
通过电压互感器和电流互感器获取到的采样数据，由于电压互感器和电流互感器存在设备采集数据误差，并且建立的等效电路模型中存在背景谐波的干扰，也会导致采样数据存在误差，因此，采样数据具有一定的误差范围。
在本实施例中，基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，能够提高采样数据的准确性，进而提高系统侧谐波阻抗结果的准确性。
S203，对处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压。
S204，基于系统侧谐波电压、处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
上述的系统侧谐波阻抗检测方法，通过获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流，基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗。相对于传统技术中的直接利用采样得到的谐波电压和谐波电流计算得到系统侧谐波阻抗而言，本实施例中首先对多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流基于误差范围进行处理，根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗，从而能够更加准确的获得系统侧谐波阻抗，解决了传统技术中检测到的系统侧谐波阻抗准确性低的问题。
图3为一个实施例中的对多个采样数据进行处理的流程示意图，参照图3，本实施例涉及的是如何对采样数据进行处理的一种实现方式。在上述实施例的基础上，上述的S202包括：
S301，基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值。
其中，预定比例耦合点谐波电压最大值指的是在多个耦合点谐波电压中确定预定比例的耦合点谐波电压最大值，预定比例耦合点谐波电流最大值指的是在多个耦合点谐波电流中确定预定比例的耦合点谐波电流最大值。
对本实施例中获取到的多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值可以进行举例，预定比例取95％，多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值通过如下式(3)和式(4)表示：
UPg1(0.95max)＝[U1 Pg1(0.95max) U2 Pg1(0.95max) … UL Pg1(0.95max)] (3)
IPg1(0.95max)＝[I1 Pg1(0.95max) I2 Pg1(0.95max) … IL Pg1(0.95max)] (4)
其中，UPg1(0.95max)表示第一次采样对应的L个预定比例耦合点谐波电压最大值，IPg1(0.95max)表示第一次采样对应的L个预定比例耦合点谐波电流最大值。
图4为一个实施例中的获取预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的流程示意图，参照图4，本实施例涉及的是如何获取预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的一种实现方式。在上述实施例的基础上，上述的S301中任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
S401，基于采样数据的误差范围，在各采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流。
在本实施例中，使用电压互感器和电流互感器测得的采样数据存在误差，误差符合正态分布，误差范围为99.73％，每一采样数据都在采样数据的误差范围内随机产生一个随机数据，第一次采样数据任一次产生的随机数据通过以下式(5)和式(6)表示：
其中，
表示第一次采样得到的K个耦合点谐波电压对应的任一次随机产生的K个随机耦合点谐波电压，
表示第一次采样得到的K个耦合点谐波电流对应的任一次随机产生的K个随机耦合点谐波电流。
S402，确定多个随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
在本实施例中，采用95％大值的方式确定K个随机耦合点谐波电压和K个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值。具体的，对K个随机耦合点谐波电压的模值按照大小排序，去除前面5％的大值，得到预定比例耦合点谐波电压最大值U1 Pg1(0.95max)，同样，对K个随机耦合点谐波电流的模值按照大小排序，去除前面5％的大值，得到预定比例耦合点谐波电流最大值I1 Pg1(0.95max)。
S302，将多个预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流。
在本实施例中，对式(3)中的L个预定比例耦合点谐波电压最大值进行求取平均值，得到处理后耦合点谐波电压UpgM(1)，对式(4)中的L个预定比例耦合点谐波电压最大值进行求取平均值，得到处理后耦合点谐波电流IpgM(1)。
在本实施例中，利用蒙特卡洛法处理采样数据，得到的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流的误差较小，提高了采样数据的准确性。
在上述实施例的基础上，上述的S203包括：
基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
在本实施例中，为了得到系统侧谐波阻抗，需要先计算出系统侧谐波电压。
在其中一些实施例中，基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压，包括：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压。
在本实施例中，以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压可以是如下式(7)所示：
其中，ΔZX表示当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，ΔZX(n)＝ZX(n)-ZX(n-1)，ΔUX表示当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，ΔUX(n)＝UX(n)-UX(n-1)，β为背景谐波系数，在本实施例中优选取值10-6，应当理解的是，其他取值也可以，在这里不作限定，
表示当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量。
在上述实施例的基础上，上述的S204包括：
将系统侧谐波电压与处理后耦合点谐波电压之差与处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
在本实施例中，通过如下式(8)计算得到系统侧谐波阻抗：
其中，UX(n)表示系统侧谐波电压，UPgM(n)表示处理后耦合点谐波电压，IPgM(n)表示处理后耦合点谐波电流，ZX(n)表示系统侧谐波阻抗。
在上述实施例的基础上，经过第一次采样得到系统侧谐波阻抗之后，还包括：
将连续多个采样时刻的系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
在本实施例中，多个采样时刻指的是多个采样开始时刻，确定采样开始时刻，从采样开始时刻开始进行采样，经过预设时间段实现一次完整采样，得到一个系统侧谐波阻抗，确定多个采样开始时刻，得到多个系统侧谐波阻抗，对多个系统侧谐波阻抗求取平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
在本实施例中，多次采样求取平均值能够减小误差，得到最终的系统侧谐波阻抗更加准确。
为了帮助更好的理解该系统侧谐波阻抗检测方法，通过如下一具体实施例进行描述：
从t1时刻开始进行第一次采样，经过预设时间段得到K个采样数据，包括K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流进行处理，得到处理后耦合点谐波电压UPgM(1)和处理后耦合点谐波电流IPgM(1)；
对处理后耦合点谐波电压UPgM(1)和处理后耦合点谐波电流IPgM(1)进行处理，获得系统侧谐波电压UX(1)；
基于系统侧谐波电压UX(1)、处理后耦合点谐波电压UPgM(1)和处理后耦合点谐波电流IPgM(1)进行处理，获得系统侧谐波阻抗ZX(1)；
从t2时刻开始进行第二次采样，经过预设时间段得到K个采样数据，包括K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流进行处理，得到处理后耦合点谐波电压UPgM(2)和处理后耦合点谐波电流IPgM(2)；
对处理后耦合点谐波电压UPgM(2)和处理后耦合点谐波电流IPgM(2)进行处理，获得系统侧谐波电压UX(2)；
基于系统侧谐波电压UX(2)、处理后耦合点谐波电压UPgM(2)和处理后耦合点谐波电流IPgM(2)进行处理，获得系统侧谐波阻抗ZX(2)；
从tn时刻开始进行第n次采样，经过预设时间段得到K个采样数据，包括K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对K个耦合点谐波电压和K个耦合点谐波电流进行处理，得到处理后耦合点谐波电压UPgM(n)和处理后耦合点谐波电流IPgM(n)；
对处理后耦合点谐波电压UPgM(n)和处理后耦合点谐波电流IPgM(n)进行处理，获得系统侧谐波电压UX(n)；
基于系统侧谐波电压UX(n)、处理后耦合点谐波电压UPgM(n)和处理后耦合点谐波电流IPgM(n)进行处理，获得系统侧谐波阻抗ZX(n)；
将ZX(1)、ZX(2)…ZX(n)相加除以n得到最终的系统侧谐波阻抗。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的系统侧谐波阻抗检测方法的系统侧谐波阻抗检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个系统侧谐波阻抗检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于系统侧谐波阻抗检测方法的限定，在此不再赘述。
参照图5，图5为本申请实施例中提供的一种系统侧谐波阻抗检测装置的结构框图，该装置500包括：采样模块501、采样处理模块502、谐波电压确定模块503和谐波阻抗确定模块503，其中：
采样模块501，用于获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
采样处理模块502，用于基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
谐波电压确定模块503，用于对处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
谐波阻抗确定模块504，用于基于系统侧谐波电压、处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
本实施例提供的系统侧谐波阻抗检测装置，通过采样模块获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流，通过采样处理模块基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，通过谐波电压确定模块和谐波阻抗确定模块根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗。由于传统技术中是直接利用采样得到的谐波电压和谐波电流计算得到系统侧谐波阻抗，而本实施例中是首先对多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流基于误差范围进行处理，根据处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流得到系统侧谐波阻抗，从而能够更加准确的获得系统侧谐波阻抗，解决了传统技术中检测到的系统侧谐波阻抗准确性低的问题。
可选的，采样处理模块502包括：
获取单元，用于基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
确定单元，用于将多个预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，获取单元中任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
第一获取子单元，用于基于采样数据的误差范围，在各采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
第二获取子单元，用于确定多个随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
可选的，谐波电压确定模块503包括：
第二处理单元，用于基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
可选的，第二处理单元包括：
第二处理子单元，用于以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
可选的，谐波阻抗确定模块504包括：
第三处理单元，用于将系统侧谐波电压与处理后耦合点谐波电压之差与处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
可选的，该装置500还包括：
第四处理模块，用于在获得系统侧谐波阻抗之后，将连续多个采样时刻的系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
上述系统侧谐波阻抗检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
图6为本申请实施例中计算机设备的内部结构图，在本实施例中，提供了一种计算机设备，其内部结构图可以如图6所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种系统侧谐波阻抗检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述实施例提供的系统侧谐波阻抗检测方法的步骤：
获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
对处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
基于系统侧谐波电压、处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
将多个预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
基于采样数据的误差范围，在各采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
确定多个随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；
当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；
当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；
当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
将系统侧谐波电压与处理后耦合点谐波电压之差与处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
将连续多个采样时刻的系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
上述实施例的实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述实施例提供的系统侧谐波阻抗检测方法的步骤：
获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
对处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
基于系统侧谐波电压、处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
将多个预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
基于采样数据的误差范围，在各采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
确定多个随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；
当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；
当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；
当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
将系统侧谐波电压与处理后耦合点谐波电压之差与处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
将连续多个采样时刻的系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
上述实施例的实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例提供的系统侧谐波阻抗检测方法的步骤：
获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对多个采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
对处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
基于系统侧谐波电压、处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
将多个预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
基于采样数据的误差范围，在各采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
确定多个随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
基于处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；
当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；
当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；
当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
将系统侧谐波电压与处理后耦合点谐波电压之差与处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
将连续多个采样时刻的系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
上述实施例的实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic RandomAccess Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种系统侧谐波阻抗检测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，所述采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，包括：
基于采样数据的误差范围，获取多个预定比例耦合点谐波电压最大值和多个预定比例耦合点谐波电流最大值；
将多个所述预定比例耦合点谐波电压最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电压，以及，将多个所述预定比例耦合点谐波电流最大值的平均值，确定为处理后耦合点谐波电流；
其中，任意一个预定比例耦合点谐波电压最大值和预定比例耦合点谐波电流最大值的获取方式，包括：
基于采样数据的误差范围，在各所述采样数据的误差范围内，随机产生一个随机数据，获得多个随机耦合点谐波电压和多个随机耦合点谐波电流；
确定多个所述随机耦合点谐波电压中的预定比例耦合点谐波电压最大值，以及多个所述随机耦合点谐波电流中的预定比例耦合点谐波电流最大值。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压，包括：
基于所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流，以及上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流，计算获得系统侧谐波电压，包括：
以当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量的平方模，和当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量的平方模与背景谐波系数乘积之和，与当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量的绝对值相等为约束条件，计算获得系统侧谐波电压；
所述当前采样时刻的系统侧谐波阻抗的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波阻抗与上一采样时刻的系统侧谐波阻抗的差值；
所述当前采样时刻的系统侧谐波电压的波动量，为当前采样时刻的系统侧谐波电压与上一采样时刻的系统侧谐波电压的差值；
所述当前采样时刻的耦合点谐波阻抗的波动量，为上一采样时刻的处理后耦合点谐波电压与上一采样时刻的处理后耦合点谐波电流的第一比值，与所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流的第二比值的差值。
5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗，包括：
将所述系统侧谐波电压与所述处理后耦合点谐波电压之差与所述处理后耦合点谐波电流的比值，确定为系统侧谐波阻抗。
6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述获得系统侧谐波阻抗之后，还包括：
将连续多个采样时刻的所述系统侧谐波阻抗的平均值，确定为最终的系统侧谐波阻抗。
7.一种系统侧谐波阻抗检测装置，其特征在于，所述装置包括：
采样模块，用于获取对系统侧和用户侧的等效电路模型的公共耦合点进行采样，获得的多个采样数据，所述采样数据包括多个耦合点谐波电压和多个耦合点谐波电流；
采样处理模块，用于基于采样数据的误差范围，对多个所述采样数据进行处理，得到处理后耦合点谐波电压和处理后耦合点谐波电流；
谐波电压确定模块，用于对所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波电压；
谐波阻抗确定模块，用于基于所述系统侧谐波电压、所述处理后耦合点谐波电压和所述处理后耦合点谐波电流进行处理，获得系统侧谐波阻抗。
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant |