CN115014183A - 轴承跳动测量装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供的一种轴承跳动测量装置,该装置包括底座、电动升降台和旋转电机,电动升降台与底座固定连接,旋转电机固定在电动升降台上,该装置还包括夹爪和底部测量系统,夹爪用于夹起待测轴承,夹爪与旋转电机固定连接;底部测量系统包括轴向测量装置、轴承支架夹具和径向测量装置,轴向测量装置和径向测量装置固定在轴承支架夹具的两侧。本发明通过旋转后的惯性使轴承在没有外力作用下旋转进行测量,避免了外力带来的误差,并且拥有更高的测量精度。
Description
技术领域
本发明涉及轴承测量技术领域,特别涉及一种轴承跳动测量装置。
背景技术
轴承在当代机械设备中是一种重要零部件,它的主要功能是支撑机械旋转体,降低其运动过程中的摩擦系数,并保证其回转精度,并且轴承表面跳动量是检测轴承旋转精度的重要指标,对于旋转精度的测量需要用到轴承表面跳动测量仪;但现有的轴承跳动测量仪在测试过程中需要有外力带动轴承旋转,导致了在测量轴承跳动时产生误差。
发明内容
本发明的目的是为了克服已有技术的缺陷,提出一种轴承跳动测量装置,能够在不需要外力的作用下,使被带动进行旋转后的轴承通过自身的惯性继续旋转,从而达到提高测量精确度的目的。
为实现上述目的,本发明采用以下具体技术方案:
本发明提供的一种轴承跳动测量装置,包括底座、电动升降台和旋转电机,电动升降台与底座固定连接,旋转电机固定在电动升降台上,还包括夹爪和底部测量系统,夹爪用于夹起待测轴承,夹爪与旋转电机固定连接;
底部测量系统包括轴向测量装置、轴承支架夹具和径向测量装置,轴向测量装置和径向测量装置固定在轴承支架夹具的两侧;
电动升降台带动夹爪向待测轴承的方向移动,使夹爪夹起待测轴承并带动待测轴承旋转,夹爪松开待测轴承后继续旋转,通过轴向测量装置对待测轴承的内圈或外圈测量轴向跳动;径向测量装置是对内圈或外圈测量径向跳动。
优选地,轴向测量装置包括第二二维调整架和共聚焦探头,共聚焦探头用于读取待测轴承轴向跳动的共聚焦探头,共聚焦探头固定在第二二维调整架上。
优选地,径向测量装置包括U型转接件、电容器传感器和第一二维调整架,电容传感器固定在U型转接件上,U型转接件固定在第一二维调整架上。
优选地,当共聚焦探头接触内圈的下方时,测量内圈的轴向跳动;当共聚焦探头接触外圈的下方时,测量外圈的轴向跳动。
优选地,电容传感器固定在U型转接件上,当电容传感器对应内圈时,测量内圈的径向跳动;当电容传感器对应外圈时,测量外圈的径向跳动。
优选地,电容传感器与待测轴承之间存在间隙。
优选地,轴承支架夹具包括夹具底座与L型托槽,用于承托待测轴承的L型托槽固定在夹具底座上。
优选地,第一二维调整架与第二二维调整架包括横向旋杆、纵向旋杆以及调整架主体,横向旋杆与纵向旋杆固定在调整架主体上,横向旋杆用于调整共聚焦探头或U型转接件在X轴位置,纵向旋杆用于调整共聚焦探头或U型转接件在Z轴的位置。
本发明能够取得如下技术效果:
1、夹爪带动进行旋转后的轴承,并且使被带动的轴承通过自身的惯性继续旋转,从而达到提高测量精确度的目的。
2、通过共聚焦探头以及电容传感器的安装位置的不同可以测量轴承的内圈或者外圈的跳动。
附图说明
图1是根据本发明实施例提供的轴承跳动测量的结构示意图。
图2是根据本发明实施例提供的底部测量系统的结构示意图。
图3是根据本发明实施例提供的轴向测量装置的结构示意图。
图4是根据本发明实施例提供的径向测量装置的结构示意图。
其中的附图标记包括:底座1、电动升降台2、升降台滑动板2-1、旋转电机3、夹爪4、底部测量系统5、轴向测量装置6、轴承支架夹具7、径向测量装置8、待测轴承9、U型转接件10、电容传感器10-1、第一二维调整架11、第二二维调整架12、共聚焦探头13、横向旋杆14、纵向旋杆15、调整架主体16。
具体实施方式
在下文中,将参考附图描述本发明的实施例。在下面的描述中,相同的模块使用相同的附图标记表示。在相同的附图标记的情况下,它们的名称和功能也相同。因此,将不重复其详细描述。
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,而不构成对本发明的限制。
本发明实施例提供的一种轴承跳动测量装置,包括底座1、电动升降台2和旋转电机3,电动升降台2与底座1固定连接,旋转电机3固定在电动升降台2上,该装置还包括夹爪4和底部测量系统5,夹爪4用于夹起待测轴承9,夹爪4与旋转电机3固定连接;底部测量系统5包括轴向测量装置6、轴承支架夹具7和径向测量装置8,轴向测量装置6和径向测量装置8固定在轴承支架夹具7的两侧,
当电动升降台2带动夹爪4向待测轴承9的方向移动,使夹爪4夹起待测轴承9,并且通过由旋转电机3带动夹爪4旋转,松开后待测轴承9由于自身惯性继续旋转,通过轴向测量装置6与径向测量装置8对待测轴承9进行测量。
图1示出了本发明实施例提供的轴承跳动测量的结构。
如图1所示,本发明实施例提供的一种轴承跳动测量装置,其中的电动升降台2,可以通过在电动升降台2上开设有滑轨,在滑轨上增设升降台滑动板2-1,使升降台滑动板2-1可以沿滑轨上下滑动,其目的可以带动夹爪沿着滑轨轨道上下滑动,以便于抓取待测轴承9,旋转电机3固定在升降台滑动板2-1上,为夹爪9的旋转提供的动力。当升降台滑动板2-1带动夹爪4向待测轴承9方向滑动,使夹爪4夹起待测轴承9,通过旋转电机3带动夹爪旋转,当夹爪4松开后待测轴承9由于自身惯性继续旋转,底部测量系统5对待测轴承9进行测量。
除上述实施例之外,电动升降台2还可以采用由减速器与丝杠构成的丝杆升降机、由直线电机与线性滑块导轨组成的直线电机滑台、或者由平台、伸缩油缸、单梯式或双梯式防转机构组成的套筒式升降台。
图2示出了本发明实施例提供的底部测量系统的结构。
如图2所示,底部测量系统5包括轴向测量装置6、轴承支架夹具7和径向测量装置8,轴向测量装置6和径向测量装置8固定在轴承支架夹具7的两侧。轴承支架夹具7包括夹具底座与L型托槽,L型托槽用于承托待测轴承9,便于夹爪4进行夹取;L型托槽固定在夹具底座上。
当电动升降台2带动夹爪4向待测轴承9的方向移动,使夹爪4夹起待测轴承9,并且通过由旋转电机3带动夹爪4旋转,松开后待测轴承9由于自身惯性继续旋转,通过轴向测量装置6与径向测量装置8对待测轴承9进行测量。
图3示出了本发明实施例提供的轴向测量装置的结构。
如图3所示,轴向测量装置6包括第二二维调整架12和用于读取待测轴承9轴向跳动的共聚焦探头13,共聚焦探头13固定在第二二维调整架12上;共聚焦探头13与待测轴承9接触,当接触待测轴承9的内圈的下方时,测量内圈的轴向跳动,当接触待测轴承9的外圈的下方时,测量外圈的轴向跳动。
图4示出了本发明实施例提供的径向测量装置的结构。
如图4所示,径向测量装置8包括用于读取待测轴承9径向跳动的电容传感器10-1、U型转接件10和第一二维调整架11,电容传感器10-1固定在U型转接件10上,U型转接件10固定在第一二维调整架11上;电容传感器10-1与待测轴承9之间存在间隙。电容传感器10-1可以固定在U型转接件10的待测轴承9的外圈侧或内圈侧,当电容传感器10-1固定在U型转接件10的待测轴承9的内圈侧,测量内圈的径向跳动,当电容传感器10-1固定在U型转接件10的待测轴承9的外圈侧,测量外圈的径向跳动。
第一二维调整架11与第二二维调整架12包括横向旋杆、纵向旋杆以及调整架主体,横向旋杆与纵向旋杆固定在调整架主体上,横向旋杆用于调整共聚焦探头13或U型转接件10在X轴位置,纵向旋杆用于调整共聚焦探头13或U型转接件10在Z轴的位置,使共聚焦探头13或U型转接件10可以在X、Z轴的方向自由运动调整,以便于可以准确的对应共聚焦探头13或U型转接件10与待测轴承9之间的位置。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
以上本发明的具体实施方式,并不构成对本发明保护范围的限定。任何根据本发明的技术构思所作出的各种其他相应的改变与变形,均应包含在本发明权利要求的保护范围内。
Claims (8)
1.一种轴承跳动测量装置,包括底座(1)、电动升降台(2)和旋转电机(3),所述电动升降台(2)与所述底座(1)固定连接,所述旋转电机(3)固定在所述电动升降台(2)上,其特征在于,还包括夹爪(4)和底部测量系统(5),所述夹爪(4)用于夹起待测轴承(9),所述夹爪(4)与所述旋转电机(3)固定连接;
所述底部测量系统(5)包括轴向测量装置(6)、轴承支架夹具(7)和径向测量装置(8),所述轴向测量装置(6)和所述径向测量装置(8)固定在所述轴承支架夹具(7)的两侧;
所述电动升降台(2)带动所述夹爪(4)向所述待测轴承(9)的方向移动,使所述夹爪(4)夹起所述待测轴承(9)并带动所述待测轴承(9)旋转,所述夹爪(4)松开所述待测轴承(9)后继续旋转,通过所述轴向测量装置(6)对所述待测轴承(9)的内圈或外圈测量轴向跳动;所述径向测量装置(8)是对所述内圈或所述外圈测量径向跳动。
2.如权利要求1所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述轴向测量装置(6)包括第二二维调整架(12)和共聚焦探头(13),所述共聚焦探头(13)用于读取所述待测轴承(9)轴向跳动的共聚焦探头(13),所述共聚焦探头(13)固定在所述第二二维调整架(12)上。
3.如权利要求2所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述径向测量装置(8)包括U型转接件(10)、电容器传感器(10-1)和第一二维调整架(11),所述电容传感器(10-1)固定在所述U型转接件(10)上,所述U型转接件(10)固定在所述第一二维调整架(11)上。
4.如权利要求1或2所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,当所述共聚焦探头(13)接触所述内圈的下方时,测量所述内圈的轴向跳动;当所述共聚焦探头(13)接触所述外圈的下方时,测量所述外圈的轴向跳动。
5.如权利要求1或3所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述电容传感器(10-1)固定在所述U型转接件(10)上,当所述电容传感器(10-1)对应所述内圈时,测量所述内圈的径向跳动;当所述电容传感器(10-1)对应所述外圈时,测量所述外圈的径向跳动。
6.如权利要求1或3所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述电容传感器(10-1)与所述待测轴承(9)之间存在间隙。
7.如权利要求1所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述轴承支架夹具(7)包括夹具底座与L型托槽,用于承托所述待测轴承(9)的L型托槽固定在所述夹具底座上。
8.如权利要求2或3所述的轴承跳动测量装置,其特征在于,所述第一二维调整架(11)与所述第二二维调整架(12)包括横向旋杆(14)、纵向旋杆(15)以及调整架主体(16),所述横向旋杆(14)与所述纵向旋杆(15)固定在所述调整架主体(16)上,所述横向旋杆(14)用于调整所述共聚焦探头(13)或所述U型转接件(10)在X轴位置,所述纵向旋杆(15)用于调整所述共聚焦探头(13)或所述U型转接件(10)在Z轴的位置。
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