CN114974385A - 一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案 - Google Patents
一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及自动化测试系统技术领域，具体为一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数，本发明与现有技术相比，通过在针卡上安装一颗flash存储芯片，在测试时将晶圆上每一颗修调前的数据保存在芯片中，极大的确保了数据的准确性。保证了读取到的修调数据的完整准确，确保了产品量产的良率。
Description
技术领域
本发明涉及自动化测试系统技术领域，具体为一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案。
背景技术
在基于自动化测试系统(ATE)的烧熔丝trim测试中，存在熔丝针影响测试针精度的问题，需要采用分卡测试，采用CP1(trim前测试)—CP2 (trim)—CP3(trim后测试)的流程，其中CP2 trim测试是参照CP1的测试值来修调。
目前采用的方式是CP1测完trim前的值按照晶圆片号、坐标对应关系保存在电脑本地一个文件中，CP2再去读取这个文件中的值来trim，这样存在文件容易被修改，误删除的风险，从而导致数据的不确定性，影响测试良率。
因此需要设计一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，通过在测试针卡上安装一颗flash芯片，将测试的数据直接写入到芯片中，trim 测试时直接从芯片里面读取相应的数据，确保了数据的准确性和完整性，确保了产品的良率要求，大大减少了trim错误的风险。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数。
晶圆数据包括晶圆片号、XY坐标和对应测试值。
flash芯片设置成写入模式时，将所述每一颗所述晶圆数据一一写入。
在修调测试读取数据时，所述flash芯片设置成读数据模式，以prober 获取到的晶圆片号和XY坐标为依据，从flash芯片中读取对应XY坐标的数据来修调。
flash芯片各管脚通过cable连接到所述测试机资源。
本发明与现有技术相比，通过在针卡上安装一颗flash存储芯片，在测试时将晶圆上每一颗修调前的数据保存在芯片中，极大的确保了数据的准确性。保证了读取到的修调数据的完整准确，确保了产品量产的良率。
附图说明
无；
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种技术方案：一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数。
晶圆数据包括晶圆片号、XY坐标和对应测试值。
flash芯片设置成写入模式时，将所述每一颗所述晶圆数据一一写入。
在修调测试读取数据时，所述flash芯片设置成读数据模式，以prober 获取到的晶圆片号和XY坐标为依据，从flash芯片中读取对应XY坐标的数据来修调。
flash芯片各管脚通过cable连接到所述测试机资源。
工作原理：
修调前测试，设置flash芯片写入模式，测试时将每一颗晶圆的片号、坐标和测试值转化成二进制数写入flash芯片中。
换成熔丝卡修调测试，设置芯片为读取模式，测试时按照晶圆的坐标获取对应的修调前的数据来修调。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本发明和现有技术相比，从整体上解决了在熔丝产品分卡测试时数据保存读取的不可控性，极大的确保了数据的准确性，保证了读取到的修调数据的完整准确，确保了产品量产的良率。
Claims (5)
1.一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，在测试针卡上安装flash芯片，由测试机资源控制所述flash芯片数据的写入和读取，所述测试机资源程序从prober上读取到的晶圆数据转化为二进制数。
2.根据权利要求1所述的一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，所述晶圆数据包括晶圆片号、XY坐标和对应测试值。
3.根据权利要求1所述的一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，所述flash芯片设置成写入模式时，将所述每一颗所述晶圆数据一一写入。
4.根据权利要求1所述的一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，在修调测试读取数据时，所述flash芯片设置成读数据模式，以prober获取到的晶圆片号和XY坐标为依据，从flash芯片中读取对应XY坐标的数据来修调。
5.根据权利要求1所述的一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案，其特征在于，所述flash芯片各管脚通过cable连接到所述测试机资源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202210188367.5A CN114974385A (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN114974385A true CN114974385A (zh) | 2022-08-30 |
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Family Applications (1)
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| CN202210188367.5A Pending CN114974385A (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 一种基于ATE trim分卡测试存储数据的优化方案 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN114974385A (zh) |
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2022
- 2022-02-28 CN CN202210188367.5A patent/CN114974385A/zh active Pending
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