CN114966215A - 一种化工新材料产品用的测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种化工新材料产品用的测试装置及方法，包括上料机构、移料机构、测试机构以及下料机构，所述上料机构包括第一传送带，所述上料机构用于将待测工件传送至移料机构的下方，所述下料机构包括第二传送带、第三传送带、第四传送带，所述下料机构用于将不同测试结果的工件传送至下一生产工站上，所述移料机构包括支撑架，所述支撑架上相对称的设置有两组第一驱动机构，所述第一驱动机构包括第一电机，所述第一电机的输出端配合连接有第一螺纹丝杆，本测试装置不仅结构简单，装配方便，易于控制，并且造价成本低，可信度高，适用范围广。

Description

一种化工新材料产品用的测试装置及方法
技术领域
本发明涉及新材料测试技术领域，特别是一种化工新材料产品用的测试装置及方法。
背景技术
化工新材料是指近期发展的和正在发展之中具有传统化工材料不具备的优异性能或某种特殊功能的新型化工材料。与传统化工材料相比，化工新材料具有质量轻、性能优异、功能性强、技术含量高、附加价值高等特点。化工新材料产业的范畴主要包括特种工程塑料、功能高分子材料、有机硅材料、有机氟材料、特种纤维、微电子化工材料、纳米化工材料、特种橡胶、聚氨酯、特种涂料、特种胶粘剂、特种助剂等十多个大类品种。
功能高分子材料是通过在天然或合成高分子主链和侧链上接枝反应性功能基团，使其具有新的诸如催化性、导电性、光敏性、导磁性、生物活性等特殊功能的一类新型高分子。与普通高分子材料相比，功能高分子材料的显著特点是通过一定的改性处理后，使得它们的导电率在绝缘体、半导体和金属导体之间的宽广范围内变化。所以，因功能高分子材料具有特殊的结构和优异的电导性能，通过功能高分子材料聚合制备而成的导电基板作为导电元件不断地被广泛的应用在光电子器件、传感器、分子器件等各个领域上。而导电基板在自动化加工产线加工生产的过程中，需要对导电基板的半成品进行导电性能测试，一来是为了防止导电性能不合格的半成品流入到后续的加工工序，能够对其进行提前报废，降低经济损失，二来是为了能够提前检测出可以修复的半成品，然后对其进行修复，再将其投入到后续加工工序中，进而提高加工效率，因为在修复的过程中，半成品相对于成品来说，其对加工夹具、加工要求、加工精度等各方面的要求均低于成品。
发明内容
本发明克服了现有技术的不足，提供了一种化工新材料产品用的测试装置及方法。
为达到上述目的本发明采用的技术方案为：
本发明第一方面公开了一种化工新材料产品用的测试装置，包括上料机构、移料机构、测试机构以及下料机构；
所述上料机构包括第一传送带，所述上料机构用于将待测工件传送至移料机构的下方，所述下料机构包括第二传送带、第三传送带、第四传送带，所述下料机构用于将不同测试结果的工件传送至下一生产工站上；
所述移料机构包括支撑架，所述支撑架上相对称的设置有两组第一驱动机构，所述第一驱动机构包括第一电机，所述第一电机的输出端配合连接有第一螺纹丝杆，所述第一螺纹丝杆上滑动连接有第一滑动块，且在两组第一驱动机构的两个第一滑动块之间安装有第二驱动机构，所述第二驱动机构包括第二电机，所述第二电机的输出端配合连接有第二螺纹丝杆，所述第二螺纹丝杆上滑动连接有第二滑动块，所述第二滑动块上安装有第三驱动机构，所述第三驱动机构包括第三电机，所述第三电机的输出端配合连接有第三螺纹丝杆，所述第三螺纹丝杆上滑动连接有第三滑动块，所述第三滑动块上固定安装有安装架；
所述安装架上安装有旋转电机，所述旋转电机的输出端配合连接有旋转轴，所述旋转轴的末端配合连接有吸取机构，所述第三滑动块上还安装有超声波探测器与工业摄像机。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，所述吸取机构包括固定架，所述固定架的底部沿周向间隔设置有若干组调节模块，所述调节模块包括第四电机，所述第四电机的输出端配合连接有第四螺纹丝杆，所述第四螺纹丝杆上滑动连接有第四滑动块，所述第四滑动块上安装有固定块，所述固定块上设置有真空吸盘。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，若干组所述调节模块上的真空吸盘内均设置有压力传感器，所述压力传感器间信号互连，所述压力传感器用于测量各真空吸盘的压力以及压力偏差。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，若干组所述调节模块上的第四滑动块上均设置有光电传感器，所述光电传感器间信号互连，所述光电传感器用于测量各第四滑动块的位置以及位移偏差。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，所述测试机构包括测试台，所述测试台上设置有测试基座，所述测试基座上开设有固定槽，所述固定槽内滑动连接有第一极板与第二极板，所述固定槽的左侧设置有第一壳座，所述第一壳座内滑动连接有第一滑移块，所述第一滑移块与第一连接杆的一端固定连接，所述第一连接杆的另一端贯穿所述固定槽的左侧壁延伸至固定槽内且与所述第一极板固定连接，且延伸至所述固定槽内的第一连接杆上套设有第一弹簧，所述第一弹簧的一端与所述第一极板固定连接，另一端与所述固定槽的左侧壁固定连接，所述第一壳座的内壁上设置有第一电磁块，所述固定槽内设置有温度传感器。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，所述固定槽的右侧设置有第二壳座，所述第二壳座内滑动连接有第二滑移块，所述第二滑移块与第二连接杆的一端固定连接，所述第二连接杆的另一端贯穿所述固定槽的右侧壁延伸至固定槽内且与所述第二极板固定连接，且延伸至所述固定槽内的第二连接杆上套设有第二弹簧，所述第二弹簧的一端与所述第二极板固定连接，另一端与所述固定槽的右侧壁固定连接，所述第二壳座的内壁上设置有第二电磁块。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，所述测试机构还包括测试电源，所述第一极板通过第一导线与所述测试电源的正极相连接，所述第二极板通过第二导线与所述测试电源的负极相连接，所述第一导线上串联有电流测量仪，通过所述测试电源为待测工件施加恒定的电压。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，所述固定槽内开设有导向槽，所述第一极板上设置有第一导向块，所述第二极板上设置有第二导向块，所述第一导向块与第二导向块均嵌入所述导向槽内。
本发明另一方面提供了一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法，应用于任一项所述的一种化工新材料产品用的测试装置，包括以下步骤：
通过移料机构将待测工件吸取至测试机构的固定槽内；
控制第一电磁块与第二电磁块断电，使得第一极板与第二极板分别与待测工件的接线端相接，以通过测试电源为待测工件施加恒定的电压；
在预设时间内获取电流测量仪的电流参数值，基于所述电流参数值计算出待测工件的实际导电率；
基于所述实际导电率生成测试结果；
基于所述测试结果，控制移料机构将测试完成的工件吸取至下料机构上。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，还包括如下步骤：
通过大数据网络获取不同环境温度下待测工件对应的标准导电率，根据所述标准导电率建立导电率数据库；
通过温度传感器获取固定槽内温度信息，将所述温度信息导入导电率数据库中，进而得到当前测试环境温度下待测工件的预设导电率；
根据所述电流参数值计算出待测工件的实际电阻，基于所述实际电阻计算出待测工件的实际电阻率，基于所述实际电阻率计算出待测工件的实际导电率；
判断所述实际导电率是否大于所述预设导电率；
若是，则生成第一启动信号，基于所述第一启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第二传送带上；
若否，则生成第二启动信号，基于所述第二启动信号控制超声波探测器对工件进行扫描。
本发明解决了背景技术中存在的技术缺陷，本发明具备以下有益效果：测试机构通过第一电磁块、第二电磁块、第一弹簧、第二弹簧作为动力元件从而自动的完成导电基板导电性能测试的过程，相对于传统的通过电机作为动力元件的控制方式，本测试机构不仅结构简单，装配方便，易于控制，并且造价成本低，可信度高，适用范围广。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
图1为测试装置的立体结构示意图；
图2为测试装置另一视角的立体示意图；
图3为移料机构的结构示意图；
图4为吸取机构的立体结构示意图；
图5为吸取机构另一视角的立体示意图；
图6为第一磁力块与第二磁力块断电时测试机构的结构示意图；
图7为第一磁力块与第二磁力块通电时测试机构的结构示意图；
图8为测试机构测试时示意图；
图9为第一导向块与第二导向块的结构示意图；
图10为一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法的整体方法流程图；
图11为一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法的部分方法流程图；
附图标记说明如下：101、第一传送带；102、第二传送带；103、第三传送带；104、第四传送带；105、支撑架；106、第一电机；107、第一螺纹丝杆；108、第一滑动块；109、第二电机；201、第二螺纹丝杆；202、第二滑动块；203、第三电机；204、第三螺纹丝杆；205、第三滑动块；206、安装架；207、旋转电机；208、旋转轴；209、吸取机构；301、超声波探测器；302、工业摄像机；303、固定架；304、第四电机；305、第四螺纹丝杆；306、第四滑动块；307、固定块；308、真空吸盘；309、测试台；401、测试基座；402、固定槽；403、第一极板；404、第二极板；405、第一壳座；406、第一滑移块；407、第一连接杆；408、左侧壁；409、第一弹簧；501、第一电磁块；502、第二壳座；503、第二滑移块；504、第二连接杆；505、右侧壁；506、第二弹簧；507、第二电磁块；508、导向槽；509、第一导向块；601、第二导向块；602、导电基板。
具体实施方式
为了能够更加清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成，需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明所指示的技术特征的数量。因此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明创造的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。
本发明第一方面公开了一种化工新材料产品用的测试装置，如图1、图2所示，包括上料机构、移料机构、测试机构以及下料机构。
所述上料机构包括第一传送带101，所述上料机构用于将待测工件传送至移料机构的下方，所述下料机构包括第二传送带102、第三传送带103、第四传送带104，所述下料机构用于将不同测试结果的工件传送至下一生产工站上。
需要说明的是，本测试装置与导电基板602的加工产线连机生产，其作为测试工站使用，以对导电基板的半成品进行测试，以防止导电性能不合格的半成品流入到加工产线的后续加工工序。具体地，第一传送带101与加工产线中测试工站的上一加工工站连机，导电基板的半成品能够由上一加工工站流入至第一传送带101内，然后通过第一传送带101被带动至移料机构的下方；第二传送带102与加工产线中下一加工工站连机，测试结果为合格品的导电基板会被移料机构吸取至第二传送带102上，然后随着第二传送带102进入下一加工工站继续加工；第三传送带103与加工工站中的报废工站连机，测试结果为不合格品的导电基板会被移料机构吸取至第三传送带103上，然后随着第三传送带103被传送至报废工站进行报废处理；第四传送带104与加工工站中的维修工站连机，测试结果为可维修品的导电基板会被移料机构吸取至第四传送带104上，然后随着第四传送带104被传送至维修工站上进行维修处理。
如图3所示，所述移料机构包括支撑架105，所述支撑架105上相对称的设置有两组第一驱动机构，所述第一驱动机构包括第一电机106，所述第一电机106的输出端配合连接有第一螺纹丝杆107，所述第一螺纹丝杆107上滑动连接有第一滑动块108，且在两组第一驱动机构的两个第一滑动块108之间安装有第二驱动机构，所述第二驱动机构包括第二电机109，所述第二电机109的输出端配合连接有第二螺纹丝杆201，所述第二螺纹丝杆201上滑动连接有第二滑动块202，所述第二滑动块202上安装有第三驱动机构，所述第三驱动机构包括第三电机203，所述第三电机203的输出端配合连接有第三螺纹丝杆204，所述第三螺纹丝杆204上滑动连接有第三滑动块205，所述第三滑动块205上固定安装有安装架206。
需要说明的是，通过驱动第一电机106，使得第一电机106带动第一螺纹丝杆107旋转，从而使得第一滑动块108沿第一螺纹丝杆107上来回滑动，从而带动吸取机构209沿测试台309的X轴方向移动；通过驱动第二电机109，使得第二电机109带动第二螺纹丝杆201旋转，从而使得第二滑动块202沿第二螺纹丝杆201上来回滑动，从而带动吸取机构209沿测试台309的Y轴方向移动；通过驱动第三电机203，使得第三电机203带动第三螺纹丝杆204旋转，从而使得第三滑动块205沿第三螺纹丝杆204上来回滑动，从而带动吸取机构209沿测试台309的Z轴方向移动。这样一来，便能够使得吸取机构209能够根据设定的程序将导电基板由第一传送带101吸取至测试机构的固定槽402内，并能够根据不同的测试结果将测试完的导电基板吸取至第二传送带，或第三传送带，或第四传送带上，通过螺纹丝杆将电机的旋转运动转化为滑动块的直线运动，传动效率高，易于控制，且运行平稳，控制精度高。
如图2所示，所述安装架206上安装有旋转电机207，所述旋转电机207的输出端配合连接有旋转轴208，所述旋转轴208的末端配合连接有吸取机构209，所述第三滑动块205上还安装有超声波探测器301与工业摄像机302。
需要说明的是，通过驱动旋转电机207，使得旋转电机207带动旋转轴208旋转，从而带动吸取机构209旋转，从而调节吸取机构209吸取或放置导电基板的角度。举例来说，当通过吸取机构209将导电基板由第一传送带101放置到测试机构的固定槽402内时，可以通过旋转电机207调节吸取机构209的角度，使得导电基板能够按照测试要求被放置到固定槽402内，进而顺利的完成测试过程。
需要说明的是，通过超声波探测器301发射声波对待测工件进行扫描，进而获取导电基板的第一缺陷参数信息与接线端的表面粗糙度。需要注意的是，通过超声波检测物体的缺陷与表面粗糙度为常规技术手段，在此对检测原理不多做说明。
需要说明的是，首先，通过工业摄像机302能够对第一传送带101上的导电基板进行识别定位，得到导电基板的位置信息，从而使得吸取机构209能够根据位置信息对导电基板进行精准的吸取，进一步提高测试装置的可靠性。其次，通过工业摄像机302拍摄吸取机构209将导电基板放置在固定槽402内后的图像信息，然后识别出导电基板的放置位置是否准确，若摆放位置不正确，则把信息反馈至控制系统上，使得控制系统控制吸取机构209重新纠正导电基板的位置，从而确保测试精度。
如图4、图5所示，所述吸取机构209包括固定架303，所述固定架303的底部沿周向间隔设置有若干组调节模块，所述调节模块包括第四电机304，所述第四电机304的输出端配合连接有第四螺纹丝杆305，所述第四螺纹丝杆305上滑动连接有第四滑动块306，所述第四滑动块306上安装有固定块307，所述固定块307上设置有真空吸盘308。
需要说明的是，优选的，调节模块设置为六组。六组调节模块上均设置有可单独控制的第四电机304，通过控制第四电机304，从而使得第四电机304带动第四螺纹丝杆305旋转，从而使得第四滑动块306能够沿第四螺纹丝杆305上滑动，从而实现调整真空吸盘308吸取位置的功能。具体来说，在吸取机构吸取导电基板前，可以通过工业摄像机302拍摄导电基板的图像，然后对图像进行预处理，进而识别出导电基板表面是否存在颗粒杂质，并且识别出杂质颗粒的位置信息，然后处理系统再根据这些杂质颗粒的位置信息生成调节模块中各个第四电机304的驱动程序，从而调节各个真空吸盘308的吸取位置，使得各个真空吸盘308在吸附导电基板时避开这些杂质颗粒，从而避免这些杂质对真空吸盘308吸附压力造成影响，从而避免吸取机构209在转移导电基板过程中因吸附压力不稳而出现导电基板掉落的情况，进一步提高了装置的可靠性，实现了智能控制。
若干组所述调节模块上的真空吸盘308内均设置有压力传感器，所述压力传感器间信号互连，所述压力传感器用于测量各真空吸盘308的压力以及压力偏差。
需要说明的是，在真空吸盘308吸取导电基板时，在预设时间内通过压力传感器测量并反馈各个真空吸盘308内的压力参数值，并基于所述压力参数值计算出各个真空吸盘308的压力变化率；然后判断各个真空吸盘308的压力变化率是否大于预设变化率；若某一个或多个真空吸盘308的压力变化率大于预设变化率，则通过调节模块重新调整某一个或多个真空吸盘308的吸取位置，从而确保各个真空吸盘308在吸附导电基板时吸附压力的稳定性，避免出现因真空吸盘308压力变化率过大而导致在真空吸盘308在吸附转移导电基板时导电基板掉落的情况，进而提高在测试时的可靠性。
若干组所述调节模块上的第四滑动块306上均设置有光电传感器，所述光电传感器间信号互连，所述光电传感器用于测量各第四滑动块306的位置以及位移偏差。
需要说明的是，在各组调节模块调节各个真空吸盘308的前后，通过光电传感器检测并反馈各个第四滑动块306滑动前后的位置信息，然后计算出滑动位移偏差，进而判断位移偏差是否小于预设偏差，若大于，则需要重新调整第四滑动块306的位置，使得第四滑动块306滑动精准的滑动至预设位置上，从而使得真空吸盘308能够吸附在导电基板的特定位置上，提高了控制精度，进一步提高了测试的可靠性。
如图6、图7、图8所示，所述测试机构包括测试台309，所述测试台309上设置有测试基座401，所述测试基座401上开设有固定槽402，所述固定槽402内滑动连接有第一极板403与第二极板404，所述固定槽402的左侧设置有第一壳座405，所述第一壳座405内滑动连接有第一滑移块406，所述第一滑移块406与第一连接杆407的一端固定连接，所述第一连接杆407的另一端贯穿所述固定槽402的左侧壁408延伸至固定槽402内且与所述第一极板403固定连接，且延伸至所述固定槽402内的第一连接杆407上套设有第一弹簧409，所述第一弹簧409的一端与所述第一极板403固定连接，另一端与所述固定槽402的左侧壁408固定连接，所述第一壳座405的内壁上设置有第一电磁块501，所述固定槽402内设置有温度传感器。
所述固定槽402的右侧设置有第二壳座502，所述第二壳座502内滑动连接有第二滑移块503，所述第二滑移块503与第二连接杆504的一端固定连接，所述第二连接杆504的另一端贯穿所述固定槽402的右侧壁505延伸至固定槽402内且与所述第二极板404固定连接，且延伸至所述固定槽402内的第二连接杆504上套设有第二弹簧506，所述第二弹簧506的一端与所述第二极板404固定连接，另一端与所述固定槽402的右侧壁505固定连接，所述第二壳座502的内壁上设置有第二电磁块507。
所述测试机构还包括测试电源，所述第一极板403通过第一导线与所述测试电源的正极相连接，所述第二极板404通过第二导线与所述测试电源的负极相连接，所述第一导线上串联有电流测量仪，通过所述测试电源为待测工件施加恒定的电压。
需要说明的是，当第一极板403与第二极板404分别与导电基板两端的接线端相接时，测试电源对导电基板的两端施加电压，从而使得导电基板内的载流子沿共轭键移动，从而产生电流，而导电率便是表示导电基板传导电流能力强弱的物理值。
需要说明的是，在测试时，测试机构的工作过程以及原理是这样的：在吸取机构209将导电基板由第一传送带101转移到固定槽402内的过程中，控制测试机构中的第一电磁块501与第二电磁块507通电，通电后的第一电磁块501具备磁力，在第一电磁块501的磁力作用下，第一滑移块406会被吸附到第一电磁块501上，而在第一连接杆407的带动下，第一极板403会滑动至固定槽402的左侧壁408附近处，此时第一弹簧409处于压缩状态；同理，通电后的第二电磁块507具备磁力，第二极板404会滑动至固定槽402的右侧壁505附近处，此时第二弹簧506处于压缩状态，这样一来，便能够留有足够的位置使得吸取机构209将导电基板放置到固定槽402内，避免在放置的过程中导电基板与第一极板403和第二极板404发生碰撞。当吸取机构209将导电基板放置到固定槽402内后，控制测试机构中的第一电磁块501与第二电磁块507断电，断电后的第一电磁块501失去磁力，此时处于压缩状态的第一弹簧409在回弹力的作用下便会复位，从而推动第一极板403复位，从而使得第一极板403与导电基板的接线端相接；同理，断电后的第二电磁块507失去磁力，此时处于压缩状态的第二弹簧506在回弹力的作用下便会复位，从而推动第二极板404复位，从而使得第二极板404与导电基板的另一接线端相接。当第一极板403与第二极板404与导电基板的接线端相接时，测试电源便能够对导电基板施加电压，从而使得导电基板内的载流子沿共轭键移动，从而产生电流，此时通过电流测量仪测量并反馈电流参数值，而由于导电基板两端的电压是恒定的，因此我们可以通过伏安法从而得到该待测导电基板的电阻值，因此可以通过得到的电阻值进而计算出导电基板的导电率，其计算公式如下：
Figure 33810DEST_PATH_IMAGE002
其中，
Figure DEST_PATH_IMAGE003
为导电基板的电阻值；
Figure 812935DEST_PATH_IMAGE004
导电基板两端的电压值；
Figure DEST_PATH_IMAGE005
为通过导电基板的电流 值；
Figure DEST_PATH_IMAGE007
为导电基板的导电率；
Figure DEST_PATH_IMAGE009
为导电基板的长度；
Figure DEST_PATH_IMAGE011
的取值为3.14；
Figure DEST_PATH_IMAGE013
为导电基板横截面的面 积。
需要说明的是，当测试完成后，吸取机构209会根据测试结果将导电基板吸附至对应的传送带上，在此过程中，需要控制测试机构中的第一磁力块与第二磁力块通电，从而使得第一极板403与第二极板404不与导电基板的接线端相接，从而保证吸附机构能够顺利的将导电基板吸取转移。
需要说明的是，本发明中的测试机构通过第一电磁块501、第二电磁块507、第一弹簧409、第二弹簧506作为动力元件从而自动的完成导电基板导电性能测试的过程，相对于传统的通过电机作为动力元件的控制方式，本测试机构不仅结构简单，装配方便，易于控制，并且造价成本低，可信度高，适用范围广。
如图9所示，所述固定槽402内开设有导向槽508，所述第一极板403上设置有第一导向块509，所述第二极板404上设置有第二导向块601，所述第一导向块509与第二导向块601均嵌入所述导向槽508内。
需要说明的是，在固定槽402的内侧壁上开设有两道导向槽508，在第一极板403与第二极板404的两侧分别设置有第一导向块509与第二导向块601，第一导向块509与第二导向块601能够在导向槽508内滑动，从而起到了导向的作用。举例来说，当第一电磁块501通过磁力吸引第一滑动块108滑动，或，第一弹簧409推动第一极板403复位的过程中，由于磁力或回弹力自身特性的原因，第一滑动块108与第一极板403在移动的过程中难免会发生位置偏移的情况，从而使得其在移动过程中出现失稳的情况，进而影响装置的控制精度，因此需要通过第一导向块509与导向槽508对其进行限位，从而提高其在移动时的稳定性。
本发明另一方面提供了一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法，应用于任一项所述的一种化工新材料产品用的测试装置，如图10所示，包括以下步骤：
S102：通过移料机构将待测工件吸取至测试机构的固定槽内；
S104：控制第一电磁块与第二电磁块断电，使得第一极板与第二极板分别与待测工件的接线端相接，以通过测试电源为待测工件施加恒定的电压；
S106：在预设时间内获取电流测量仪的电流参数值，基于所述电流参数值计算出待测工件的实际导电率；
S108：基于所述实际导电率生成测试结果；
S110：基于所述测试结果，控制移料机构将测试完成的工件吸取至下料机构上。
需要说明的是，当第一传送带101将待测的导电基板传送至移料机构下方后，通过移料机构将导电基板吸取至测试机构的固定槽402内，然后控制第一电磁块501与第二电磁块507断电，使得第一极板403与第二极板404分别与导电基板的接线端相接，从而为导电基板施加电压，使得导电基板内的载流子沿共轭键移动，从而产生电流，此时通过电流测量仪测量并反馈电流参数值，进而计算出该导电基板的实际导电率，然后再对实际导电率进行判断分析，进而得到测试结果，然后根据测试结果控制移料机构将测试完成的导电基板吸取至对应的传送带上。
进一步的，本发明的一个较佳实施例中，如图11所示，还包括如下步骤：
S202：通过大数据网络获取不同环境温度下待测工件对应的标准导电率，根据所述标准导电率建立导电率数据库；
S204：通过温度传感器获取固定槽内温度信息，将所述温度信息导入导电率数据库中，进而得到当前测试环境温度下待测工件的预设导电率；
S206：根据所述电流参数值计算出待测工件的实际电阻，基于所述实际电阻计算出待测工件的实际电阻率，基于所述实际电阻率计算出待测工件的实际导电率；
S208：判断所述实际导电率是否大于所述预设导电率；
S210：若是，则生成第一启动信号，基于所述第一启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第二传送带上；
S212：若否，则生成第二启动信号，基于所述第二启动信号控制超声波探测器对工件进行扫描。
需要说明的是，导电基板的导电率与温度密切相关，因为温度发生变化时，载流子数目以及移动速度会发生变化，从而造成导电基板的导电率也发生变化。而在测试的过程中，生产车间的温度是会发变化的，因此，为了保证测试结果的可靠性，需要把环境温度这一因素考虑在内，因此在本发明中，可以提前在大数据网络获取不同环境温度下合格导电基板所对应的标准导电率，然后再建立导电率数据库，并将导电率数据库中的数据提前储存在数据储存器内，这样一来，在对导电基板进行导电率测试时，首先通过温度传感器测量并反馈固定槽402内的当前温度信息，然后将测得的温度信息导入导电率数据库中，进而得到当前测试环境温度下导电基板的预设导电率；然后再使得第一极板403与第二极板404与导电基板的接线端相接，接着根据电流测量仪测得的电流值计算出该导电基板的实际导电率（计算公式上文已提出）；然后再将所述实际导电率与预设导电率进行比较；若该导电基板的实际导电率大于预设导电率，则说明该导电基板为合格品，此时生成第一启动信号，从而控制移料机构将该导电基板吸取至第二传送带102上；若该导电基板的实际导电率小于预设导电率，则需要对该导电基板进行下一步判定，此时生成第二启动信号，从而控制超声波探测器301对该导电基板进行扫描检测。
其中，若否，则生成第二启动信号，基于所述第二启动信号控制超声波探测器对工件进行扫描，具体包括如下步骤：
控制超声波探测器开启，通过超声波探测器发射出的声波对待测工件进行扫描，并提出声波所反馈的声学参数；其中所述声学参数声波的包括声速、波幅、频率；
根据声波所反馈的声学参数建立第一三维模型；
从所述第一三维模型中提取出待测工件的第一缺陷参数信息；其中，所述第一缺陷参数信息包括缺陷的位置、缺陷的深度、缺席的高度、缺陷的宽度；
基于所述第一缺陷参数信息计算出第一缺陷体积值；
计算第一缺陷体积值与待测工件总体积值的比值，得到第一缺陷占比度；
判断所述第一缺陷占比度是否小于预设占比度；
若否，则生成第一判定信号，基于所述第一判定信号对待测工件进行下一步判定；
若是，则生成第二判定信号，基于所述第二判定信号对待测工件进行下一步判定。
需要说明的是，导电基板的导电率还受缺陷与粗糙度的影响。一方面，在理想条件下，通过功能高分子材料聚合制备而成的导电基板内的原子在三维空间是呈周期性的规则排列的，然而在实际生产条件下，大量的结构单元（原子、分子或者离子集团）完全无误的完整排列是不可能的，当结构单元排列不完整时，便会形成缺陷，而缺陷会对导电基板的导电率造成影响，这是因为当导电基板内存在缺陷时，缺陷会对载流子产生散射作用，从而使得迁移率降低，从而降低导电基板的导电率，并且导电基板缺陷占比度越大，导电基板的导电率越低。另一方面，在对导电基板加工时，为了降低导电基板的接线端与其他元件相接时的接触电阻，需要对导电基板的接线端进行抛光处理，以降低其表面粗糙度，从而提高其导通电流的能力，并减轻发热，而接线端的粗糙度越大则接触电阻便会越大，导电基板的导电率便会越低，所以一般会认为接线端的粗糙度越小越好，但在实际生产过程中，接线端的粗糙度要求较低时，势必对零部件初始机加工状态要求较高，而过高的表面质量或过低的表面粗糙度在实际生产中是不易达到的，因此在导电基板加工生产的过程中，会选用一个适中的粗糙度作为加工标准。
需要说明的是，所述第一三维模型便是待测导电基板的三维模型。所述待测工件总体积值便是待测导电基板的总体积值，可以由所述第一三维模型中提取出待测导电基板的长、宽、高，进而计算出待测导电基板总体积值。
需要说明的是，若判定出导电基板的实际导电率小于预设导电率，则生成第二启动信号，从而控制超声波探测器301对该导电基板进行扫描检测，从而得到待测导电基板的第一缺陷参数，然后再基于第一缺陷参数计算出存在于待测导电基板中各缺陷的体积值，再将各缺陷的体积值相加，便能够得到第一缺陷体积值；然后再计算第一缺陷体积值与待测导电基板总体积值的比值，从而得到第一缺陷占比度；接着判断第一缺陷占比度是否小于预设占比度；若小于，则说明该导电基板的导电率过低并不是由缺陷造成的，因为该导电基板的缺陷占比度位于允许的范围内，此时生成第二判定信号，基于所述第二判定信号对该导电基板进行下一步判定；若大于，则说明该导电基板导电率过低与缺陷有关，此时生成第一判定信号，基于所述第一判定信号对该导电基板进行下一步判定。
其中，若否，则生成第一判定信号，基于所述第一判定信号对待测工件进行下一步判定，具体为：
获取工件成品的工程图信息；其中，所述工程图信息包括工件成品的二维图纸尺寸信息、工件成品总体积；
将所述工程图信息导入所述第一三维模型中，从而获得第二三维模型；
从所述第二三维模型中提取出工件的第二缺陷参数信息；其中，所述第二缺陷参数信息包括缺陷的位置、缺陷的深度、缺席的高度、缺陷的宽度；
基于所述第二缺陷参数信息计算出第二缺陷体积值；
计算第二缺陷体积值与工件成品总体积值的比值，得到第二缺陷占比度；
判断所述第二缺陷占比度是否小于预设占比度；
若是，则生成第一启动信号，基于所述第一启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第二传送带上；
若否，则生成三启动信号，基于所述第三启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第三传送带上。
需要说明的是，所述第二缺陷体积值是半成品导电基板经过后续加工步骤后加工后成为成品后的缺陷体积值。
需要说明的是，在本测试工站对半成品的导电基板进行测试后，导电基板还会经过一系列的加工步骤被加工为成品，而这些加工步骤包括钻孔、挖槽、精磨、包装等步骤。导电基板成品的工程图是设计师提前设计好的，我们可以提前获得该工程图信息并将其导入到数据储存器中，并且根据工程图信息可以得知在测试工站后的加工步骤中导电基板所需加工区域的参数信息，例如在后续需要对导电基板进行钻孔、挖槽、精磨的位置以及体积等参数，当得知这些参数后，将这些参数导入到第一三维模型中，并且利用三维建模软件（如AutoCAD、SolidWorks、Proe等）建立第二三维模型（即导电基板成品三维模型），然后再由第三三维模型中提取出导电基板成品总体积值（即上述的工件成品总体积值）以及第二缺陷体积值，然后再判断所述第二缺陷占比度是否小于预设占比度，若小于，即使该导电基板在当前的导电率不合格，但是经过后续加工步骤加工后（包括钻孔、挖槽、精磨等），该导电基板的导电率是能够达到合格标准的，此时将该导电基板判定为合格品，此时生成第一启动信号，从而控制移料机构将该导电基板吸取至第二传送带102上，举例来说，该导电基板在后续需要进行挖槽加工的步骤，而在这一步骤中，若某一缺陷刚好位于需要挖槽的位置上，因此这一缺陷可以在这一步骤中被消除掉，所以导电基板成品的缺陷占比度便会降低，其导电率便会升高；若大于，则，将该导电基板判定为不合格品，此时生成三启动信号，从而控制移料机构将该导电基板吸取至第三传送带103上。
其中，若是，则生成第二判定信号，基于所述第二判定信号对工件进行下一步判定，具体为：
通过超声波探测器对待测工件的接线端进行扫描，并提取待测工件的接线端所反馈的回波信号参数；其中所述回波信号参数包括回波的振幅、回波的频率；
基于所述回波信号参数得到待测工件的接线端的表面粗糙度；
判断所述表面粗糙度是否大于预设粗糙度；
若否，则生成三启动信号，基于所述第三启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第三传送带上；
若是，则生成第四启动信号，基于所述第四启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第四传送带上。
需要说明的是，若判定出导电基板的导电率与缺陷无关，此时说明导电率受导电基板接线端表面粗糙度的影响。此时控制超声波探测器301，进而对该导电基板的接线端进行扫描，从而获取该导电基板接线端的表面粗糙度，接着判断所述表面粗糙度是否大于预设粗糙度；若大于，则说明该导电基板的导电率过低是由于接线端的表面粗糙度过大而引起的，判定为待维修品，可以对该导电进行维修以降低其接线端的粗糙度，此时生成第四启动信号，从而控制移料机构将该导电基板吸取至第四传送带104上；若小于，则将该导电基板判定为不合格品，此时生成三启动信号，从而控制移料机构将该导电基板吸取至第三传送带103上。
以上依据本发明的理想实施例为启示，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种化工新材料产品用的测试装置，包括上料机构、移料机构、测试机构以及下料机构，其特征在于：
所述上料机构包括第一传送带，所述上料机构用于将待测工件传送至移料机构的下方，所述下料机构包括第二传送带、第三传送带、第四传送带，所述下料机构用于将不同测试结果的工件传送至下一生产工站上；
所述移料机构包括支撑架，所述支撑架上相对称的设置有两组第一驱动机构，所述第一驱动机构包括第一电机，所述第一电机的输出端配合连接有第一螺纹丝杆，所述第一螺纹丝杆上滑动连接有第一滑动块，且在两组第一驱动机构的两个第一滑动块之间安装有第二驱动机构，所述第二驱动机构包括第二电机，所述第二电机的输出端配合连接有第二螺纹丝杆，所述第二螺纹丝杆上滑动连接有第二滑动块，所述第二滑动块上安装有第三驱动机构，所述第三驱动机构包括第三电机，所述第三电机的输出端配合连接有第三螺纹丝杆，所述第三螺纹丝杆上滑动连接有第三滑动块，所述第三滑动块上固定安装有安装架；
所述安装架上安装有旋转电机，所述旋转电机的输出端配合连接有旋转轴，所述旋转轴的末端配合连接有吸取机构，所述第三滑动块上还安装有超声波探测器与工业摄像机。
2.根据权利要求1所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：所述吸取机构包括固定架，所述固定架的底部沿周向间隔设置有若干组调节模块，所述调节模块包括第四电机，所述第四电机的输出端配合连接有第四螺纹丝杆，所述第四螺纹丝杆上滑动连接有第四滑动块，所述第四滑动块上安装有固定块，所述固定块上设置有真空吸盘。
3.根据权利要求2所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：若干组所述调节模块上的真空吸盘内均设置有压力传感器，所述压力传感器间信号互连，所述压力传感器用于测量各真空吸盘的压力以及压力偏差。
4.根据权利要求2所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：若干组所述调节模块上的第四滑动块上均设置有光电传感器，所述光电传感器间信号互连，所述光电传感器用于测量各第四滑动块的位置以及位移偏差。
5.根据权利要求1所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：所述测试机构包括测试台，所述测试台上设置有测试基座，所述测试基座上开设有固定槽，所述固定槽内滑动连接有第一极板与第二极板，所述固定槽的左侧设置有第一壳座，所述第一壳座内滑动连接有第一滑移块，所述第一滑移块与第一连接杆的一端固定连接，所述第一连接杆的另一端贯穿所述固定槽的左侧壁延伸至固定槽内且与所述第一极板固定连接，且延伸至所述固定槽内的第一连接杆上套设有第一弹簧，所述第一弹簧的一端与所述第一极板固定连接，另一端与所述固定槽的左侧壁固定连接，所述第一壳座的内壁上设置有第一电磁块，所述固定槽内设置有温度传感器。
6.根据权利要求5所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：所述固定槽的右侧设置有第二壳座，所述第二壳座内滑动连接有第二滑移块，所述第二滑移块与第二连接杆的一端固定连接，所述第二连接杆的另一端贯穿所述固定槽的右侧壁延伸至固定槽内且与所述第二极板固定连接，且延伸至所述固定槽内的第二连接杆上套设有第二弹簧，所述第二弹簧的一端与所述第二极板固定连接，另一端与所述固定槽的右侧壁固定连接，所述第二壳座的内壁上设置有第二电磁块。
7.根据权利要求5所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：所述测试机构还包括测试电源，所述第一极板通过第一导线与所述测试电源的正极相连接，所述第二极板通过第二导线与所述测试电源的负极相连接，所述第一导线上串联有电流测量仪，通过所述测试电源为待测工件施加恒定的电压。
8.根据权利要求5所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于：所述固定槽内开设有导向槽，所述第一极板上设置有第一导向块，所述第二极板上设置有第二导向块，所述第一导向块与第二导向块均嵌入所述导向槽内。
9.一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法，应用于权利要求1-8任一项所述的一种化工新材料产品用的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
通过移料机构将待测工件吸取至测试机构的固定槽内；
控制第一电磁块与第二电磁块断电，使得第一极板与第二极板分别与待测工件的接线端相接，以通过测试电源为待测工件施加恒定的电压；
在预设时间内获取电流测量仪的电流参数值，基于所述电流参数值计算出待测工件的实际导电率；
基于所述实际导电率生成测试结果；
基于所述测试结果，控制移料机构将测试完成的工件吸取至下料机构上。
10.根据权利要求9所述的一种化工新材料产品用的测试装置的测试方法，其特征在于，还包括如下步骤：
通过大数据网络获取不同环境温度下待测工件对应的标准导电率，根据所述标准导电率建立导电率数据库；
通过温度传感器获取固定槽内温度信息，将所述温度信息导入导电率数据库中，进而得到当前测试环境温度下待测工件的预设导电率；
根据所述电流参数值计算出待测工件的实际电阻，基于所述实际电阻计算出待测工件的实际电阻率，基于所述实际电阻率计算出待测工件的实际导电率；
判断所述实际导电率是否大于所述预设导电率；
若是，则生成第一启动信号，基于所述第一启动信号控制移料机构将测试完成的工件吸取至第二传送带上；
若否，则生成第二启动信号，基于所述第二启动信号控制超声波探测器对工件进行扫描。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115406857A (zh) * 2022-09-07 2022-11-29 山东天厚石油科技有限责任公司 一种石油生产用的原油有机氯检测装置及方法
CN115902623A (zh) * 2023-01-09 2023-04-04 睿动(山西)科技有限公司 一种无刷电机测试用的装置及其控制方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005075472A (ja) * 2003-08-28 2005-03-24 Bridgestone Corp 薄板の取出し方法
CN2733368Y (zh) * 2004-06-10 2005-10-12 河南黄河旋风股份有限公司 膜状电阻或片状电阻精密测量装置
CN209014691U (zh) * 2018-10-24 2019-06-21 深圳市智泽丰科技有限公司 一种飞针测试机
CN110038809A (zh) * 2019-05-14 2019-07-23 成都云绎智创科技有限公司 桌面级射频微波指标筛选设备及其控制方法
CN210260815U (zh) * 2019-07-03 2020-04-07 苏州生益科技有限公司 真空吸吊机
CN210655188U (zh) * 2019-09-04 2020-06-02 厦门宏泰科技研究院有限公司 一种电路板自动移载装置
CN211488638U (zh) * 2019-11-05 2020-09-15 苏州市凯思泰克自动化设备有限公司 一种全自动pcba分拣设备
CN112965333A (zh) * 2021-03-13 2021-06-15 赖欣然 一种人工智能放射科用取片装置
CN213864512U (zh) * 2020-11-02 2021-08-03 苏州华匠智能科技有限公司 一种pcb板视觉定位机构
CN113406389A (zh) * 2021-05-06 2021-09-17 江苏省电力试验研究院有限公司 盘装线缆导体质量测量装置
CN114345740A (zh) * 2021-12-29 2022-04-15 苏州欣华锐电子有限公司 一种芯片老化自动分选设备

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005075472A (ja) * 2003-08-28 2005-03-24 Bridgestone Corp 薄板の取出し方法
CN2733368Y (zh) * 2004-06-10 2005-10-12 河南黄河旋风股份有限公司 膜状电阻或片状电阻精密测量装置
CN209014691U (zh) * 2018-10-24 2019-06-21 深圳市智泽丰科技有限公司 一种飞针测试机
CN110038809A (zh) * 2019-05-14 2019-07-23 成都云绎智创科技有限公司 桌面级射频微波指标筛选设备及其控制方法
CN210260815U (zh) * 2019-07-03 2020-04-07 苏州生益科技有限公司 真空吸吊机
CN210655188U (zh) * 2019-09-04 2020-06-02 厦门宏泰科技研究院有限公司 一种电路板自动移载装置
CN211488638U (zh) * 2019-11-05 2020-09-15 苏州市凯思泰克自动化设备有限公司 一种全自动pcba分拣设备
CN213864512U (zh) * 2020-11-02 2021-08-03 苏州华匠智能科技有限公司 一种pcb板视觉定位机构
CN112965333A (zh) * 2021-03-13 2021-06-15 赖欣然 一种人工智能放射科用取片装置
CN113406389A (zh) * 2021-05-06 2021-09-17 江苏省电力试验研究院有限公司 盘装线缆导体质量测量装置
CN114345740A (zh) * 2021-12-29 2022-04-15 苏州欣华锐电子有限公司 一种芯片老化自动分选设备

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115406857A (zh) * 2022-09-07 2022-11-29 山东天厚石油科技有限责任公司 一种石油生产用的原油有机氯检测装置及方法
CN115902623A (zh) * 2023-01-09 2023-04-04 睿动(山西)科技有限公司 一种无刷电机测试用的装置及其控制方法
CN115902623B (zh) * 2023-01-09 2023-05-30 睿动(山西)科技有限公司 一种无刷电机测试用的装置及其控制方法

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