CN114936988B - 图像校正方法、装置及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了图像校正方法、装置及电子设备。由以上技术方案可以看出,本申请中,先利用标准模体计算出探测器的探测单元偏移校正参数向量(该向量可通过像素偏移校正参数表表示),之后在实际被测物(记为目标物)安检时,根据上述探测单元偏移校正参数向量(比如像素偏移校正参数表),对目标物图像进行偏移校正,能够消除安检设备比如高速安检机等因探测器中探测单元的安装偏差带来的图像错层现象。
Description
技术领域
本申请涉及安检技术领域和图像处理技术,特别涉及图像校正方法、装置及电子设备。
背景技术
目前,安检设备比如X射线安检机等大都使用线阵探测器作为探测器,通过物体和探测器之间的相对移动,实现线扫描成像。
理想情况下,安检设备中探测器的各探测单元应位于同一条直线上,但在实际使用过程中,由于生产、加工、安装误差等因素,会导致探测器中探测单元的实际位置与理想位置发生偏移。而探测器中探测单元的实际位置与理想位置之间的偏移,会导致扫描图像对应位置出现错层现象,这种错层现象在高速安检机成像中尤为明显。例如探测器的第k个探测单元和第k+1个探测单元存在距离为s的位置偏差,那么对应图像的第k行和第k+1行的数据会发生错层现象。
发明内容
本申请提供了图像校正方法、装置及电子设备,以消除图像数据之间的错层现象。
本申请实施例提供了一种图像校正方法,该方法应用于安检设备;所述安检设备被部署了射线源和探测器,所述探测器由N个探测单元组成,N大于1;该方法包括:
获得标准图像数据;所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的,所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度,所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示,所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元;
依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量;所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差;i大于或等于1、且i小于或等于N;
针对原始图像数据中第k行数据,依据所述探测单元偏移校正参数向量中与所述
第k行数据对应的分量对所述第k行数据进行偏移校正并输出校正后的校正图像数据;所
述原始图像数据是检测通道上存在目标物时通过所述射线源和所述探测器对所述目标物
扫描成像得到的,所述原始图像数据用于表征扫描信号经由所述目标物后的衰减程度,所
述原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示,所述原始图像数据中不同行关联所述探测器中
不同的探测单元。
本申请实施例提供一种图像校正装置,该装置应用于安检设备;所述安检设备被部署了射线源和探测器,所述探测器由N个探测单元组成,N大于1;该装置包括:
获得单元,用于获得标准图像数据;所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的,所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度,所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示,所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元;
确定单元,用于依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量;所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差;i大于或等于1、且i小于或等于N;
校正单元,用于针对原始图像数据中第k行数据,依据所述探测单元偏移校正参数
向量中与所述第k行数据对应的分量 对所述第k行数据进行偏移校正并输出校正后的校
正图像数据;所述原始图像数据是检测通道上存在目标物时通过所述射线源和所述探测器
对所述目标物扫描成像得到的,所述原始图像数据用于表征扫描信号经由所述目标物后的
衰减程度,所述原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示,所述原始图像数据中不同行关联所
述探测器中不同的探测单元。
本申请实施例提供一种电子设备,该电子设备包括:处理器和机器存储介质;
所述机器可读存储介质,用于存储机器可执行指令;
所述处理器,用于读取并执行所述机器可读存储介质存储的机器可执行指令,以实现如上所述的方法。
本申请实施例提供一种机器可读存储介质,所述机器可读存储介质,用于存储机器可执行指令;其中,所述机器可读存储介质存储的机器可执行指令被处理器读取并执行时,实现如上所述的方法。
由以上技术方案可以看出,本申请中,先利用标准模体计算出探测器的探测单元偏移校正参数向量(该向量可通过像素偏移校正参数表表示),之后,在实际被测物(记为目标物)安检时,根据上述探测单元偏移校正参数向量(比如像素偏移校正参数表),对目标物图像进行偏移校正,能够消除安检设备比如高速安检机等因探测器中探测单元的安装偏差带来的图像错层现象;
进一步地,在本实施例中,通过依据标准图像数据中相邻行中的数据,自动确定探测单元偏移校正参数向量,能够实现自动计算探测器中探测单元之间的位置偏差,提高探测器中探测单元之间位置偏差的计算效率和准确率。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
图1为本申请实施例提供的方法流程图;
图2为本申请实施例提供的安检设备成像示意图;
图3为本申请实施例提供的步骤102实现流程图;
图4为本申请实施例提供的偏移校正参数分量确定流程图;
图5为本申请实施例提供的拟合曲线示意图;
图6a为本申请实施例提供的校正前的图像示意图;
图6b为本申请实施例提供的校正后的图像示意图;
图7为本申请实施例提供的装置结构示意图;
图8为本申请实施例提供的电子设备结构图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例提供的技术方案,并使本申请实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本申请实施例中技术方案作进一步详细的说明。
作为一个实施例,为消除图像数据之间的错层现象,可在安检设备安装时通过提高安装精度的方法调整探测器中各探测单元的位置,以消除错层现象。但这种方法会大幅增加生产和人力成本,且安检设备在运行过程中常由于机械震动等因素的影响,也可能会导致探测器中各探测单元的位置发生偏差,进而导致图像错层现象。
作为另一个实施例,本实施例还提供一种应用于安检设备的图像自动校正方法,该方法先利用标准模体计算出探测器的探测单元偏移校正参数向量(该向量可通过像素偏移校正参数表表示),之后,在实际被测物(记为目标物)安检时,根据上述探测单元偏移校正参数向量(比如像素偏移校正参数表),对目标物图像进行偏移校正,以消除上述图像错层现象。
下面为使本申请实施例提供的上述图像校正方法更加清楚,通过图1进行举例描述:
参见图1,图1为本申请实施例提供的方法流程图。如图1所示,该流程应用于安检设备。可选地,在本实施例中,这里的安检设备可为X射线安检机等,本实施例并不具体限定。
如图1所示,该流程可包括以下步骤:
步骤101,获得标准图像数据。
在应用中,安检设备主要包括射线源,探测器和检测通道。射线源发射出X射线,经过准直器件准直成扇形束,到达探测器。探测器一般为L形或U形线阵探测器,探测器中探测单元根据接收到的射线强度输出信号。被测物体在检测通道中由辊筒或皮带等器件的带动下通过射线源和探测器组成的扫描平面,完成线扫描成像。
假若被测物体为标准模体,则最终会得到标准模体图像。图2举例示出了标准模体图像成像的示意图。这里的标准模体,其可根据检测通道自适应设置,标准模体形状和材料没有特殊要求,只要结构简单,有连续非阶梯状边界,成像后能够覆盖探测器中所有探测单元即可。
基于如上描述的标准模体图像成像,在本实施例中,上述标准图像数据可基由检测通道上存在标准模体时通过射线源和探测器对标准模体扫描成像得到的标准模体图像确定。
作为一个实施例,上述标准图像数据隐含了探测器中探测单元之间的位置偏差,用于表征信号经由所述标准模体后的衰减程度。
作为一个实施例,本实施例中,在确定上述标准图像数据时,常将上述标准模体图像和初始图像相结合来确定。这里初始图像是指检测通道为空时通过射线源和探测器扫描得到的。比如,标准图像数据是通过以下步骤确定:针对上述初始图像中每一像素位置,计算该像素位置上的信号变化量与标准模体图像中相同像素位置上的信号变化量的商,将该商作为该像素位置对应的数值,最终各像素位置对应的数值即组成了标准图像数据,采用该处理方式有助于进一步提高图像校正效果。
在本实施例中,标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示。N为探测器中探测单元的数量,也即,标准图像数据的高度等于探测器中探测单元的数量N。在本实施例中,标准图像数据中的不同行关联探测器中不同的探测单元,比如,第一行关联探测器中第1个探测单元(意味着第1行数据由探测器的第1个探测单元采集),第二行关联探测器中第2个探测单元,依次类推。
在本实施例中,M可基于标准模体的尺寸确定,比如纵向扫描时以设定尺寸比如0.1mm为单位扫描,则M可为与标准模体的纵向尺寸与设定尺寸的商最接近的正整数。比如,标准模体的纵向尺寸为10mm,设定尺寸为0.1mm,则M可为100。
步骤102,依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量。
探测单元偏移校正参数向量 也可通过探测单元偏移校正参数表表示。探测单
元偏移校正参数向量 存储每个探测单元相对于被指定的基准探测单元的位置偏差。
的长度等于探测器中探测单元的数量 , 的第i个分量 表示探测器第i个探测单元
的位置相对于被指定的基准探测单元的位置偏差。这里,基准探测单元可根据实际需求指
定,比如探测器中第1个探测单元为基准探测单元,等等,本实施例并不具体限定。i大于或
等于1、且i小于或等于N。
在本实施例中,上述位置偏差值为实数,偏差值的正负号表示相对于基准探测单元的偏移方向,例如为负表示向左偏移,为正表示向右偏移。
至于本实施例如何依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量,下文会通过图3举例描述,这里暂不赘述。
在本实施例中,原始图像数据的获得类似上述标准图像数据,其是基于检测通道上存在目标物时通过射线源和探测器扫描得到的目标物图像确定的。原始图像数据用于表征信号经由所述目标物后的衰减程度。
作为一个实施例,在确定原始图像数据时,可结合上述初始图像与上述目标物图像一起确定,比如:针对上述初始图像中每一像素位置,计算该像素位置上的信号变化量与目标物图像中相同像素位置上的信号变化量的商,将该商作为该像素位置对应的数值,最终各像素位置对应的数值即组成了原始图像数据。
在本实施例中,原始图像数据的高度等于探测器中探测单元的数量N,比如原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示。原始图像数据中不同行关联所述探测器中不同的探测单元。比如,第一行关联探测器中第1个探测单元(意味着第1行数据由探测器的第1个探测单元采集),第二行关联探测器中第2个探测单元,依次类推。至于F,其类似上述M的确定,这里不再赘述。
如上描述的 的长度等于探测器中探测单元的数量N,则本实施例中,原始图像
数据中不同行关联 中不同分量,比如,第一行关联 中第一个分量,依次类推。基于此,
如步骤103描述,则针对原始图像数据中第k行数据,依据探测单元偏移校正参数向量 中
与第k行数据对应的分量 对第k行数据进行偏移校正。
作为一个实施例,上述偏移校正方法可为:对原始图像数据中的每一行数据构成一个向量,平移该行对应的分量(位置偏差)。这里以线性插值的方式举例描述如何实现向量平移:
在本实施例中,上述线性插值只是举例,并非用于限定,本实施例也可使用立方插值、样条插值等方式实现上述的平移操作。
至此,完成图1所示流程。
通过图1所示流程可以看出,本实施例先利用标准模体计算出探测器的探测单元偏移校正参数向量(该向量可通过像素偏移校正参数表表示),之后,在实际被测物(记为目标物)安检时,根据上述探测单元偏移校正参数向量(比如像素偏移校正参数表),对目标物图像进行偏移校正,能够消除安检设备比如高速安检机等因探测器中探测单元的安装偏差带来的图像错层现象;
进一步地,在本实施例中,通过依据标准图像数据中相邻行中的数据,自动确定探测单元偏移校正参数向量,能够实现自动计算探测器中探测单元之间的位置偏差,提高探测器中探测单元之间位置偏差的计算效率和准确率。
下面对上述步骤102中如何依据标准图像数据中相邻行中数据确定探测单元偏移校正参数向量进行描述:
参见图3,图3为本申请实施例提供的步骤102实现流程图。如图3所示,该流程可包括以下步骤:
步骤301,指定第I个探测单元为基准探测单元,I大于或等于1、且I小于或等于N。
在本实施例中,可以选择探测器中任意探测单元为基准探测单元,不失一般性,认为探测器第1个探测单元为基准探测单元。
步骤302,在所述标准图像数据中待校正的所有数据行中查找到基准探测单元相关联的基准数据行以及与基准数据行相邻的邻居数据行,依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量。
在本实施例中,可将标准图像数据中与基准探测单元相关联的行,记为基准数据行。比如,探测器中第1个探测单元为基准探测单元,则可将标准图像数据中与第一个探测单元相关联的行比如第一行记为基准数据行。
在本实施例中,邻居探测单元是指与标准图像数据中的上述邻居数据行相关联的探测单元。比如基准数据行为标准图像数据中的第一行,则标准图像数据中与基准数据行相邻的邻居数据行就为第二行,则邻居探测单元为标准图像数据中第二行相关联的探测单元。
在本实施例中,邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量是指邻居探测单元相比基准探测单元的位置偏差。至于如何依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量,在具体实现时有很多实现方式,下文会举例描述,这里暂不赘述。
步骤303,若邻居数据行为标准图像数据中待校正的最后一行,利用已得到的各探测单元对应的偏移校正参数分量组合成上述探测单元偏移校正参数向量,否则(即若所述邻居数据行不是所述标准图像数据中待校正的最后一行),利用邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量校正更新所述标准图像数据中待校正的邻居数据行和其他数据行中的数据,将所述邻居探测单元指定为基准探测单元,返回上述步骤302中在标准图像数据中查找到基准探测单元相关联的基准数据行的步骤。
这里,利用已得到的各探测单元对应的偏移校正参数分量组合成上述探测单元偏移校正参数向量,有很多实现方式,比如按照各探测单元的先后顺序将各探测单元对应的偏移校正参数分量排序,组成上述探测单元偏移校正参数向量
在本实施例中,利用邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量校正更新标准图像数据中待校正的其他数据行中的数据,比如,若邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量为正数,则可将标准图像数据中待校正的其他数据行中的数据加上该正数,若邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量为负数,则可将标准图像数据中待校正的其他数据行中的数据加上该负数。仍以基准数据行为标准图像数据中的第一行,则标准图像数据中与基准数据行相邻的邻居数据行就为第二行为例,则这里的其它数据行可为第3行至第N行。
比如,以探测器中第1个探测单元为基准探测单元,第1个探测单元对应标准图像数据中第一行,第2个探测单元对应标准图像数据中第二行,依次类推。则本实施例中,先基于标准图像数据中第1行和第2行计算第2个探测单元相对于基准探测单元的位置偏差,利用该位置偏差修正标准图像数据中第2行至最后一行数据,之后再以第2个探测单元为基准探测单元,用标准图像数据的第2行和第3行数据计算第3个探测单元相对于基准探测单元的位置偏差,利用该位置偏差修正标准图像数据中第3行至最后一行数据,依次类推,直到最后一个检测单元相对于基准探测单元的位置偏差,得到最终的探测单元偏移校正参数向量。
至此,完成图3所示流程。
通过图3所示流程,实现了如何依据标准图像数据中相邻行中数据确定探测单元偏移校正参数向量。
需要说明的是,图3只是一种举例,并非用于限定。
另外,在实际使用过程中,安检设备中的探测器由多个小的探测板组成,比如,探测器是由L块探测板组成,每一探测板包含多个探测单元。以常用的探测板为例,一个探测板包含64个探测单元,每个探测单元的长度为1.575mm,在实际使用时,根据通道尺寸,选择合适数量的探测板进行拼接,最终拼接成一个完整的探测器。以由10块探测板拼接一个探测器为例,拼接后的探测器包含的探测单元的数量为640。
一般情况下,在探测板内部,探测单元与探测单元之间的安装精度很高,探测单元之间的位置偏差较小,不足以引起图像的错层现象,而两块探测板之间安装定位精度相对较低,两块探测板上处于边缘的探测单元之间的位置偏差较大,容易引起图像错层。
基于此,在本实施例中,上述标准图像数据中所有待校正的数据行包括:标准图像数据中与第I个探测单元所在探测板上的最后一个探测单元关联的数据行、其他各探测板上首个探测单元关联的数据行、以及其他各探测板上最后一个探测单元关联的数据行。
假若上述第I个探测单元可为探测器中首个探测板上的最后一个探测单元,则上述基准数据行为标准图像数据中与该首个探测板上的最后一个探测单元(也即基准探测单元)相关联的数据行,对应地,邻居探测单元可为第2个探测板上首个探测单元,其他数据行为第3个探测板上最后一个探测单元、以及第四至第N个探测板上的首个探测单元和最后一个探测单元分别关联的数据行。
以由10块上述探测板拼接一个探测器为例,则实际操作中只需要基于标准图像数据校正第64(64×1)个检测单元、第65(64×1+1)个检测单元,第128(64×2)个检测单元、129(64×2+1)个检测单元,...,第576(64×9)个检测单元、第577(64×9+1)个检测单元之间的位置偏差即可。也即,对于一个L块探测板组成的线阵探测器,只需要计算L-1次位置偏差即可,效率比较高。
下面通过一个实施例描述如何依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量:
参见图4,图4为本申请实施例提供的偏移校正参数分量确定流程图。如图4所示,该流程可包括以下步骤:
步骤401,在偏差范围内取T个数值作为候选值。
这里,假若基准数据行为第k-1行,第k-1行中的数据组成的向量为 ,第k行中的数据组成的向量为 ,则上述偏差
范围是基准数据行相关联的基准探测单元(比如第k-个检测单元和邻居数据行相关联的邻
居探测单元(比如第k个检测单元)之间的位置偏差范围。
步骤402,针对每一候选值,将邻居数据行中的数据偏移该候选值,得到该候选值对应的偏移结果,并利用指定损失函数对基准数据行和该偏移结果进行计算,得到该候选值对应的损失值。
比如,仍以邻居数据行为第k行为例,则针对每一候选值,将第k行中的数据偏移该
候选值比如s,得到偏移结果 。之后,再如步骤402描述的,利用指定损失函
数对基准数据行和该偏移结果进行计算,得到该候选值对应的损失值。
作为一个实施例,这里,指定损失函数满足以下条件:
1),计算出的损失值(Loss)不为负数;
2),当第k-1行数据与第k行数据 之间不存在位置偏差时,利用指定损失函数计算出的损失值为最小值;
3),第k-1行数据与第k行数据之间的位置偏差越大,利用指定损失函数计算出的损失数值越就大。
如上描述的T个候选值,则最终会得到T个候选值对应的损失值。
步骤403,依据T个损失点对,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量;每一损失点对包含候选值、该候选值对应的损失值。
可选地,在本实施例中,可在指定坐标系下绘制上述损失点对(损失点对包含候选值、该候选值对应的损失值)。这里,指定坐标系可为二维坐标系,其中,指定坐标系下的第一坐标轴(比如纵坐标轴)表示损失值,指定坐标系下的第二坐标轴(比如横坐标轴)包含对应损失值的数值(该数值至少包括上述候选值)。在绘制上述损失点对后,则对绘制的上述T个损失点对进行曲线拟合。作为一个实施例,这里可使用3阶Fourier函数进行曲线拟合,对应的拟合函数为:
之后,即可确定第二坐标轴上与拟合曲线中最小损失值所对应的坐标值,
将上述确定出的坐标值确定为第k行数据相对于第k-1行数据的位置偏差(也即上述邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量)。
至此,通过图4实现了如何依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量。需要说明的是,图4只是一种举例,并非用于限定。
在得到各探测单元所对应的偏移校正参数分量之后,基于确定出上述探测单元偏
移校正参数向量。之后,如上步骤103描述,就会针对上述原始图像数据中第k行数据,依据
探测单元偏移校正参数向量中与所述第k行数据对应的分量 对所述第k行数据进行偏移
校正并输出校正后的校正图像数据,这种校正能够消除安检设备比如高速安检机等因探测
器中探测单元的安装偏差带来的图像错层现象。为便于清楚本实施例达到的效果,图6a举
例示出未校正的图像,图6b举例示出了校正的图像,图6b相比图6a,很明显消除了图像错层
现象。
以上对本申请实施例提供的方法进行了描述,下面对本申请实施例提供的装置进行描述:
参见图7,图7为本申请实施例提供的装置结构图。该装置应用于安检设备;所述安检设备被部署了探测器,所述探测器由N个探测单元组成,N大于1;该装置包括:
获得单元,用于获得标准图像数据;所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的,所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度,所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示,所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元;
确定单元,用于依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量;所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差;i大于或等于1、且i小于或等于N;
校正单元,用于针对原始图像数据中第k行数据,依据所述探测单元偏移校正参数
向量中与所述第k行数据对应的分量 对所述第k行数据进行偏移校正并输出校正后的校
正图像数据;所述原始图像数据是检测通道上存在目标物时通过所述射线源和所述探测器
对所述目标物扫描成像得到的,所述原始图像数据用于表征扫描信号经由所述目标物后的
衰减程度,所述原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示,所述原始图像数据中不同行关联所
述探测器中不同的探测单元。
可选地,所述确定单元依据标准图像数据中相邻行中数据确定探测单元偏移校正参数向量包括:
指定第I个探测单元为基准探测单元,I大于或等于1、且I小于或等于N;
在所述标准图像数据中待校正的所有数据行中查找到基准探测单元相关联的基准数据行以及与基准数据行相邻的邻居数据行,依据基准数据行和所述邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量;所述邻居探测单元是指所述标准图像数据中与所述邻居数据行相关联的探测单元,所述探测单元偏移校正参数分量是指邻居探测单元相比基准探测单元的位置偏差;
若所述邻居数据行为所述标准图像数据中待校正的最后一行,利用已得到的各探测单元对应的偏移校正参数分量组合成所述探测单元偏移校正参数向量,否则,即若所述邻居数据行不是所述标准图像数据中待校正的最后一行,利用邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量校正更新所述标准图像数据中待校正的邻居数据行和其他数据行中的数据,将所述邻居探测单元指定为基准探测单元,返回在所述标准图像数据中查找到基准探测单元相关联的基准数据行的步骤;
可选地,所述依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量包括:在偏差范围内取T个数值作为候选值;所述偏差范围是基准数据行相关联的基准探测单元和邻居数据行相关联的邻居探测单元之间的位置偏差范围;针对每一候选值,将所述邻居数据行中的数据偏移该候选值,得到该候选值对应的偏移结果,并利用指定损失函数对所述基准数据行和该偏移结果进行计算,得到该候选值对应的损失值;依据T个损失点对,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量;每一损失点对包含候选值、该候选值对应的损失值;
可选地,所述指定损失函数满足以下条件:1),计算出的损失Loss值不为负数;2),当第k-1行数据与第k行数据 之间不存在位置偏差时,利用指定损失函数计算出的损失值为最小值;3),第k-1行数据与第k行数据之间的位置偏差越大,利用指定损失函数计算出的损失数值越就大;
可选地,所述依据T个损失点对,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量包括:在指定坐标系下对T个损失点对进行曲线拟合,得到拟合曲线;所述指定坐标系下的第一坐标轴表示损失值,所述指定坐标系下的第二坐标轴包含对应损失值的数值,所述数值至少包括所述候选值;确定所述第二坐标轴上与所述拟合曲线中最小损失值所对应的坐标值为所述偏移校正参数分量;
可选地,所述探测器是由L块探测板组成,每一探测板包含多个探测单元;
所述标准图像数据中所有待校正的数据行包括:所述标准图像数据中与第I个探测单元所在探测板上的最后一个探测单元关联的数据行、其他各探测板上首个探测单元关联的数据行、以及其他各探测板上最后一个探测单元关联的数据行;
可选地,依据所述探测单元偏移校正参数向量中与所述第k行数据对应的分量
对所述第k行数据进行偏移校正包括:将所述第k行中的数据构成向量,按照第k行对应的分
量 平移校正所述第k行中的数据;其中,所述按照第k行对应的分量 平移校正所述第k
行中的数据包括:按照指定插值方式将所述第k行中的数据平移第k行对应的分量 ;所述
指定插值方式为以下一个插值方式:线性插值、立方插值、样条插值。
至此,完成图7所示装置的结构描述。
基于与上述方法同样的申请构思,本申请实施例还提供图7所示装置的硬件结构。如图8所示,该硬件结构为电子设备,可包括:处理器和机器存储介质。
其中,所述机器存储介质,用于存储机器可执行指令;
所述处理器,用于读取并执行所述机器存储介质存储的机器可执行指令,以实现如上所述的方法。
基于与上述方法同样的申请构思,本申请实施例还提供一种机器可读存储介质,所述机器可读存储介质上存储有若干计算机指令,所述计算机指令被处理器执行时,能够实现本申请上述示例公开的方法。
示例性的,上述机器可读存储介质可以是任何电子、磁性、光学或其它物理存储装置,可以包含或存储信息,如可执行指令、数据,等等。例如,机器可读存储介质可以是:RAM(Radom Access Memory,随机存取存储器)、易失存储器、非易失性存储器、闪存、存储驱动器(如硬盘驱动器)、固态硬盘、任何类型的存储盘(如光盘、dvd等),或者类似的存储介质,或者它们的组合。
上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机,计算机的具体形式可以是个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件收发设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任意几种设备的组合。
为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然,在实施本申请时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可以由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其它可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其它可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
而且,这些计算机程序指令也可以存储在能引导计算机或其它可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或者多个流程和/或方框图一个方框或者多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其它可编程数据处理设备上,使得在计算机或者其它可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其它可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (11)
1.一种图像校正方法,其特征在于,该方法应用于安检设备;所述安检设备被部署了射线源和探测器,所述探测器由N个探测单元组成,N大于1;该方法包括:
获得标准图像数据;所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的,所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度,所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示,所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元;
依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量;所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差;i大于或等于1、且i小于或等于N;
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据标准图像数据中相邻行中数据确定探测单元偏移校正参数向量包括:
指定第I个探测单元为基准探测单元,I大于或等于1、且I小于或等于N;
在所述标准图像数据中待校正的所有数据行中查找到基准探测单元相关联的基准数据行以及与基准数据行相邻的邻居数据行,依据基准数据行和所述邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量;所述邻居探测单元是指与所述标准图像数据中的所述邻居数据行相关联的探测单元,所述探测单元偏移校正参数分量是指邻居探测单元相比基准探测单元的位置偏差;
若所述邻居数据行为所述标准图像数据中待校正的最后一行,利用已得到的各探测单元对应的偏移校正参数分量组合成所述探测单元偏移校正参数向量;
若所述邻居数据行不是所述标准图像数据中待校正的最后一行,利用邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量校正更新所述标准图像数据中待校正的邻居数据行和其他数据行中的数据,将所述邻居探测单元指定为基准探测单元,返回在所述标准图像数据中查找到基准探测单元相关联的基准数据行的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述依据基准数据行和邻居数据行中的数据,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量包括:
在偏差范围内取T个数值作为候选值;T大于1且小于设定阈值,所述偏差范围是基准数据行相关联的基准探测单元和邻居数据行相关联的邻居探测单元之间的位置偏差范围;
针对每一候选值,将所述邻居数据行中的数据偏移该候选值,得到该候选值对应的偏移结果,并利用指定损失函数对所述基准数据行和该偏移结果进行计算,得到该候选值对应的损失值;
依据T个损失点对,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量;每一损失点对包含候选值、该候选值对应的损失值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述指定损失函数满足以下条件:
1),计算出的损失值不为负数;
2),当第k-1行数据与第k行数据 之间不存在位置偏差时,利用指定损失函数计算出的损失值为最小值;k大于1、且k小于或等于N;
3),第k-1行数据与第k行数据之间的位置偏差越大,利用指定损失函数计算出的损失数值越就大。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述依据T个损失点对,确定邻居探测单元所对应的偏移校正参数分量包括:
在指定坐标系下对T个损失点对进行曲线拟合,得到拟合曲线;所述指定坐标系下的第一坐标轴表示损失值,所述指定坐标系下的第二坐标轴包含对应损失值的数值,所述数值至少包括所述候选值;
确定所述第二坐标轴上与所述拟合曲线中最小损失值所对应的坐标值为所述偏移校正参数分量。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述探测器是由L块探测板组成,每一探测板包含多个探测单元;
所述标准图像数据中待校正的所有数据行包括:所述标准图像数据中与第I个探测单元所在探测板上的最后一个探测单元关联的数据行、其他各探测板上首个探测单元关联的数据行、以及其他各探测板上最后一个探测单元关联的数据行。
9.一种图像校正装置,其特征在于,该装置应用于安检设备;所述安检设备被部署了射线源和探测器,所述探测器由N个探测单元组成,N大于1;该装置包括:
获得单元,用于获得标准图像数据;所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的,所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度,所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示,所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元;
确定单元,用于依据标准图像数据中相邻行中的数据,确定探测单元偏移校正参数向量;所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差;i大于或等于1、且i小于或等于N;
10.一种电子设备,其特征在于,该电子设备包括:处理器和机器存储介质;
所述机器可读存储介质,用于存储机器可执行指令;
所述处理器,用于读取并执行所述机器可读存储介质存储的机器可执行指令,以实现如权利要求1到8任一项所述的方法。
11.一种机器可读存储介质,其特征在于,所述机器可读存储介质,用于存储机器可执行指令;其中,所述机器可读存储介质存储的机器可执行指令被处理器读取并执行时,实现如权利要求1到8任一项所述的方法。
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