CN109187599A - 一种安检机自动校正体模及其校正方法 - Google Patents

一种安检机自动校正体模及其校正方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109187599A
CN109187599A CN201811368800.3A CN201811368800A CN109187599A CN 109187599 A CN109187599 A CN 109187599A CN 201811368800 A CN201811368800 A CN 201811368800A CN 109187599 A CN109187599 A CN 109187599A
Authority
CN
China
Prior art keywords
body mould
screening machine
automatically
mould
directional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201811368800.3A
Other languages
English (en)
Inventor
邹裕越
邹云鹏
孙谦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Yingmanni Safety Equipment Co Ltd
SHANGHAI EASTIMAGE EQUIPMENTS CO Ltd
Original Assignee
Shanghai Yingmanni Safety Equipment Co Ltd
SHANGHAI EASTIMAGE EQUIPMENTS CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Yingmanni Safety Equipment Co Ltd, SHANGHAI EASTIMAGE EQUIPMENTS CO Ltd filed Critical Shanghai Yingmanni Safety Equipment Co Ltd
Priority to CN201811368800.3A priority Critical patent/CN109187599A/zh
Publication of CN109187599A publication Critical patent/CN109187599A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/03Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
    • G01N2223/04Investigating materials by wave or particle radiation by transmission and measuring absorption
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016X-ray
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/303Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

本发明公开了安检机自动校正体模及其校正方法,安检机自动校正体模包括:体模本体;定位件,定位件至少为两个,且两个定位件分别设置于体模本体对角的两个转角处;定向件,定向件包括本体部以及延伸部;定位件与定向件均采用重金属制成。校正方法包括:扫描得到像素值低于预设阈值的图像标记,并通过依次分别与第一标准模板、第二标准模板匹配确定自动校正体模的四个转角位置以及方向并触发安检机进行自动校正。本发明的安检机自动校正体模可被安检机扫描识别,并确定其四个转角方位与方向后自动触发安检机的校正程序,实现安检机的自动校正,无经验的技术人员即可完成且整个自动校正过程无需停止安检机的安检工作,提高安检效率。

Description

一种安检机自动校正体模及其校正方法
技术领域
本发明涉及安检机校正技术领域,尤其涉及一种安检机自动校正体模及其校正方法。
背景技术
双能安检机的物质分辨是根据X光穿透不同物质的衰减系数不同,分别采用低能探测器与高能探测器在物体后面接收经过物体衰减后的X光,用于分辨物体的具体种类。
因为产生X光的球管随着时间及温度变化,输出的X光的能量也随之发生改变,低能探测器与高能探测器的性能也会随着时间变化,所以当安检机经过一段时间的使用后,需要采用校正体模对安检机进行校正。现有技术中,只能安排有经验的技术人员参与校正工作,有经验的技术人员能够保证分隔的区域的准确性,且安检机也需要停工进行校正,降低了安检效率。
发明内容
本发明的目的是提供一种安检机自动校正体模,安检机在扫描过程中能够自动识别,并采用此自动校正体模对安检机进行自动校正,无经验的技术人员即可完成安检机的校正,提高安检机的安检效率,并对应提供一种前述安检机自动校正体模的校正方法。
本发明提供的技术方案如下:
一种安检机自动校正体模,包括:体模本体,所述体模本体为片状结构,在所述体模本体所在平面方向上,所述体模本体的截面形状为方形或者长方形;设置于所述体模本体上的相互平行的三排材质不同的校正板,分别为一排有机物板、一排混合物板、一排无机物板,每排所述校正板的厚度沿着其自身的排布方向逐渐增加;定位件,所述定位件至少为两个,且两个所述定位件分别设置于所述体模本体对角的两个转角处;定向件,所述定向件包括本体部以及延伸部,所述本体部朝向平行于所述有机玻璃板的排列方向延伸形成所述延伸部;所述定位件与定向件均采用重金属材料制成。
上述结构中,自动校正体模在安检机扫描后,能够被安检机识别且触发安检机采用该自动校正体模进行自动校正,只需直接将自动校正体模放在安检机的传输装置上,无经验的技术人员即可完成此操作,且无需使安检机停工进行校正,自动校正体模随着物品一起让传输装置自动输送至安检机内扫描即可。重金属材料较难被X光穿透,因此,定位件与定向件扫描后会得到像素值低于预设阈值的图像,且定位件的图像用于定位自动校正模体的四个转角的位置,定向件的图像用于确定自动校正模体的方向,自动校正模体的方向指的是每排校正板的排布方向,从而能够使得安检机获取自动校正模体的位置信息,实现采用自动校正体模对安检机进行自动校正。
优选地,所述定向件为多个,若干个所述定向件所在的直线平行于每排所述校正板的排列方向。
采用多个定向件能够辅助安检机对自动校正模体的方向进行更加精确的定位,保证安检机自动校正的准确性。
优选地,所述定位件为四个,四个所述定位件分别位于所述体模本体的四个转角处;所述定向件为两个,两个所述定向件的延伸部朝向相互靠近的方向延伸。
直接采用四个定位件设置于体模本体的四个转角处能够对体模本体的四个转角处进行进一步精确定位,然后通过两个定向件对体模本体的方向进行确定,保证安检机顺利识别出自动校正模体所在位置以及方向,保证安检机自动校正的精确性。
优选地,所述定向件在所述体模本体上的投影为字母E型,且两个所述定向件在体模本体上的投影关于体模本体的第一对称轴对称,所述第一对称轴垂直于每排所述校正板的排列方向。
优选地,所述定位件在所述体模本体上的投影为字母T型,且位于同一对角线的两个所述定位件在体模本体上的投影关于所述体模本体的中心对称。
一种安检机自动校正体模的校正方法,包括如下步骤:S10:安检机扫描,得到所有图像标记,所述图像标记为像素值低于预设阈值的图像;S20:将所有图像标记与第一标准模板进行匹配,得到匹配的置信度在第一预设范围内的图像标记作为第一目标标记;S30:获取所有第一目标标记的相对位置分布,并将所有第一目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第一标准模板的相对位置分布进行比较,若相同,则认为发现自动校正体模并执行步骤S40,若不同,则认为未发现自动校正体模;S40:将所有图像标记与第二标准模板进行匹配,得到匹配的置信度在第二预设范围内的图像标记作为第二目标标记,;S50:获取所有第二目标标记的相对位置分布,并将第二目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第二标准模板的相对位置分布进行比较,得到自动校正体模进入安检机的方向,并执行步骤S60;S60:采用所述自动校正体模对安检机进行校正。
将图像标记与第一标准模板匹配,用于识别自动校正体模是否被传输装置输送至安检机内扫描以及自动校正体模的四个转角的位置,并进一步将图像标记与第二标准模板匹配,确定该自动校正体模的具体方向,实现自动校正体模的定位,再触发安检机进行自动校正,整个过程只需要技术人员将自动校正体模放在传输装置上即可,任何人皆可完成,且在该自动校正过程中不需要安检机停工,提高了安检机的安检效率。
优选地,所述第一预设范围为93~96;和/或所述第二预设范围为93~96。
优选地,所述步骤S20中所有图像标记与第一标准模板进行匹配具体为将所述第一标准模板以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将所有图像标记依次与缩放、旋转后的第一标准模板进行匹配。
优选地,所述步骤S40中所有图像标记与第二标准模板进行匹配具体为将所述第二标准模板以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将所有图像标记依次与缩放、旋转后的第二标准模板进行匹配。
本发明提供的一种安检机自动校正体模及其校正方法,能够带来以下有益效果:
本发明提供一种可供安检机扫描后自动识别的自动校正体模,通过设置在体模本体上的重金属材料制成的定位件以及定向件使得安检机识别出体模本体、确定体模本体的四个转角位置以及体模本体的方向,并在确定体模本体的方向后自动触发安检机的校正程序,实现安检机的自动校正,无经验的技术人员即可完成且整个自动校正过程无需停止安检机的安检工作,提高安检效率。
附图说明
下面将以明确易懂的方式,结合附图说明优选实施方式,对安检机自动校正体模及其校正方法的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是安检机自动校正体模的第一种具体实施方式的结构示意图;
图2是第一标准模板的示意图;
图3是第二标准模板的示意图;
图4是安检机自动校正体模的第二种具体实施方式的结构示意图。
附图标号说明:
1-体模本体,2-有机玻璃板,3-铝板,4-钢板,5-定位件,6-定向件,6a-本体部,6b-延伸部,7-第一标准模板,8-第二标准模板。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图,并获得其他的实施方式。
为使图面简洁,各图中的只示意性地表示出了与本发明相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。
【实施例1】
如图1所示,实施例1公开了一种安检机自动校正体模的具体实施方式,包括:体模本体1以及设置在体模本体1上的相互平行三排不同物质的校正板,分别为一排有机物板、一排混合物板、一排无机物板,每排所述校正板的厚度沿着其自身的排布方向逐渐增加,本实施例中,无机物板为有机玻璃板2,混合物板为铝板3,无机物板为钢板4。
当然了,有机物板、混合物板以及无机物板也可以采用其他类似等效原子序的材料,此处不做限制。
其中,体模本体1为片状结构,在体模本体1所在平面方向上,体模本体1的截面形状为方形或者长方形。
如图1所示,还包括两个定位件5以及一个定向件6,每个定位件5为呈字母T型的片状结构,两个定位件5分别设置于体模本体1对角的两个转角处,两个定位件5位于同一对角线上,且两个定位件5在体模本体1上的投影关于体模本体1的中心对称。
定向件6包括本体部6a以及延伸部6b,本体部6a朝向平行于有机玻璃板的排列方向延伸形成延伸部6b,定向件6在体模本体1上的投影为字母E型,本实施例中,定向件6为呈字母E型的片状结构,定向件6包括一个本体部6a以及三个延伸部6b。
定位件5与定向件6均采用重金属材料制成,本实施例中,定位件5与定向件6均采用铅制成。
【实施例2】
实施例2在实施例1的基础上,实施例2的定向件为两个,两个定向件在体模本体上的投影关于体模本体的第一对称轴对称,其中,第一对称轴垂直于有机玻璃板的排列方向。
【实施例3】
如图4所示,实施例3公开了一种安检机自动校正体模的另一种具体实施方式,包括:体模本体1以及设置在体模本体1上的相互平行的一排有机玻璃板2、一排铝板3、一排钢板4。
其中,体模本体1为片状结构,在体模本体1所在平面方向上,体模本体1的截面形状为方形或者长方形。
如图1所示,还包括四个定位件5以及两个定向件6,每个定位件5为呈字母T型的片状结构,四个定位件5分别位于所述体模本体1的四个转角处,四个定位件5两两为一组,每一组中的两个定位件5位于同一对角线上。且位于同一对角线上的两个定位件5在体模本体1上的投影关于体模本体1的中心对称。本实施例中采用四个定位件5与两个定向件6相对于实施例1中采用两个定位件5与一个定向件6,本实施例能够保证一定的冗余度。
定向件6包括本体部6a以及延伸部6b,本体部6a朝向平行于有机玻璃板的排列方向延伸形成延伸部6b,且两个定向件6的延伸部6b朝向相互靠近的方向延伸。两个定向件6所在的直线平行于有机玻璃板2的排列方向。
定向件6在体模本体1上的投影为字母E型,本实施例中,定向件6为呈字母E型的片状结构,定向件6包括一个本体部6a以及三个延伸部6b。两个定位件5在体模本体1上的投影关于体模本体1的第一对称轴对称,其中,第一对称轴垂直于有机玻璃板2的排列方向。
定位件5与定向件6均采用重金属材料制成,本实施例中,定位件5与定向件6均采用铜制成,在其他具体实施例中,重金属也可以是汞、镉或铬等等,此处不再赘述。
【实施例4】
如图1~如3所示,实施例4公开了一种实施例1的安检机自动校正体模的自动校正方法,包括如下步骤:
S10:安检机扫描,得到所有图像标记,其中,图像标记为像素值低于预设阈值的3个图像,由于X射线较难透过重金属,因此导致图像标记的像素值较低,本步骤中,采用自适应阈值分割算法,通过低阈值分割,即预设阈值,分割出3个图像标记,预设阈值的数值根据实际情况确定,此处不做限制;
S20:将3个图像标记与第一标准模板7进行匹配,得到匹配的置信度为95的2个图像标记作为第一目标标记,具体的,如图2所示,第一标准模板7呈字母T型,其中,3个图像标记与第一标准模板7进行匹配具体为将第一标准模板7以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将3个图像标记依次与缩放、旋转后的第一标准模板7进行匹配,最后符合匹配的置信度为95的2个图像标记作为第一目标标记,即得到2个第一目标标记;
S30:获取2个第一目标标记的相对位置分布,并将2个第一目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第一标准模板7的相对位置分布进行比较,若相同,则认为发现自动校正体模并执行步骤S40,若不同,则认为未发现自动校正体模;
S40:将3个图像标记与第二标准模板8进行匹配,得到匹配的置信度为95的1个图像标记作为第二目标标记,具体的,如图3所示,第二标准模板8呈字母E型,其中,3个图像标记与第二标准模板8进行匹配具体为将第二标准模板8以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将3个图像标记依次与缩放、旋转后的第二标准模板8进行匹配,最后符合匹配的置信度为95的1个图像标记作为第二目标标记,即得到1个第二目标标记。
S50:获取1个第二目标标记的相对位置分布,即第二目标标记相对于第一目标标记的相对位置或者第二目标标记相对于第一目标标记的相对距离,并将第二目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第二标准模板8的相对位置分布进行比较,得到自动校正体模进入安检机的方向,即确定自动校正体模上的每排校正板的排列方向,并执行步骤S60;
S60:采用自动校正体模对安检机进行校正,具体的,启用双能X射线成像的物质分类识别算法进行校正,计算等效原子序数曲线,并更新安检机的等效原子序数曲线参数。
需要注意的是,自动校正体模的第一标准模板7的相对位置分布以及第二标准模板8的相对位置分布实现输入安检机的系统程序内储存起来,供随时调用。
本实施例中,步骤S20中的置信度与步骤S40中的置信度也可以是93~96中的任意值,如94、96等等,可根据实际情况调整,此处不做限制。
【实施例5】
如图2~如4所示,实施例5公开了一种实施例3的安检机自动校正体模的自动校正方法,包括如下步骤:
S10:安检机扫描,得到所有图像标记,其中,图像标记为像素值低于预设阈值的6个图像,由于X射线较难透过重金属,因此导致图像标记的像素值较低,本步骤中,采用自适应阈值分割算法,通过低阈值分割,即预设阈值,分割出6个图像标记,预设阈值的数值根据实际情况确定,此处不做限制;
S20:将6个图像标记与第一标准模板7进行匹配,得到匹配的置信度为96的4个图像标记作为第一目标标记,具体的,如图2所示,第一标准模板7呈字母T型,其中,6个图像标记与第一标准模板7进行匹配具体为将第一标准模板7以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将6个图像标记依次与缩放、旋转后的第一标准模板7进行匹配,最后符合匹配的置信度为96的4个图像标记作为第一目标标记,即得到4个第一目标标记;
S30:获取4个第一目标标记的相对位置分布,并将4个第一目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第一标准模板7的相对位置分布进行比较,若相同,则认为发现自动校正体模并执行步骤S40,若不同,则认为未发现自动校正体模;
S40:将6个图像标记与第二标准模板8进行匹配,得到匹配的置信度为96的2个图像标记作为第二目标标记,具体的,如图3所示,第二标准模板8呈字母E型,其中,6个图像标记与第二标准模板8进行匹配具体为将第二标准模板8以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将6个图像标记依次与缩放、旋转后的第二标准模板8进行匹配,最后符合匹配的置信度为96的2个图像标记作为第二目标标记,即得到2个第二目标标记。
S50:获取2个第二目标标记的相对位置分布,即第二目标标记相对于第一目标标记的相对位置或者2个第二目标标记之间的相对位置,并将第二目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第二标准模板8的相对位置分布进行比较,得到自动校正体模进入安检机的方向,即确定自动校正体模上的每排校正板的排列方向,并执行步骤S60;
S60:采用自动校正体模对安检机进行校正,具体的,启用标准的物质分类校正算法进行校正,计算物质分类曲线,并更新安检机的物质分类曲线参数。
需要注意的是,自动校正体模的第一标准模板7的相对位置分布以及第二标准模板8的相对位置分布实现输入安检机的系统程序内储存起来,供随时调用。
本实施例中,步骤S20中的置信度与步骤S40中的置信度也可以是93~96中的任意值,在此范围之内均能保证安检机扫描后安检机能够正确识别出自动校正体模的位置以及方向,如94、93等等,可根据实际情况调整,此处不做限制。
应当说明的是,上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种安检机自动校正体模,其特征在于,包括:
体模本体,所述体模本体为片状结构,在所述体模本体所在平面方向上,所述体模本体的截面形状为方形或者长方形;
设置于所述体模本体上的相互平行的三排材质不同的校正板,分别为一排有机物板、一排混合物板、一排无机物板,每排所述校正板的厚度沿着其自身的排布方向逐渐增加;
定位件,所述定位件至少为两个,且两个所述定位件分别设置于所述体模本体对角的两个转角处;
定向件,所述定向件包括本体部以及延伸部,所述本体部朝向平行于所述有机玻璃板的排列方向延伸形成所述延伸部;
所述定位件与定向件均采用重金属材料制成。
2.根据权利要求1所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述定向件为多个,若干个所述定向件所在的直线平行于每排所述校正板的排列方向。
3.根据权利要求2所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述定位件为四个,四个所述定位件分别位于所述体模本体的四个转角处;
所述定向件为两个,两个所述定向件的延伸部朝向相互靠近的方向延伸。
4.根据权利要求3所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述定向件在所述体模本体上的投影为字母E型,且两个所述定向件在体模本体上的投影关于体模本体的第一对称轴对称,所述第一对称轴垂直于每排所述校正板的排列方向。
5.根据权利要求1所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述定位件在所述体模本体上的投影为字母T型,且位于同一对角线的两个所述定位件在体模本体上的投影关于所述体模本体的中心对称。
6.一种权利要求1的安检机自动校正体模的校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
S10:安检机扫描,得到所有图像标记,所述图像标记为像素值低于预设阈值的图像;
S20:将所有图像标记与第一标准模板进行匹配,得到匹配的置信度在第一预设范围内的图像标记作为第一目标标记;
S30:获取所有第一目标标记的相对位置分布,并将所有第一目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第一标准模板的相对位置分布进行比较,若相同,则认为发现自动校正体模并执行步骤S40,若不同,则认为未发现自动校正体模;
S40:将所有图像标记与第二标准模板进行匹配,得到匹配的置信度在第二预设范围内的图像标记作为第二目标标记;
S50:获取所有第二目标标记的相对位置分布,并将第二目标标记的相对位置分布与自动校正体模中的第二标准模板的相对位置分布进行比较,得到自动校正体模进入安检机的方向,并执行步骤S60;
S60:采用所述自动校正体模对安检机进行校正。
7.根据权利要求6所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述第一预设范围为93~96;
和/或
所述第二预设范围为93~96。
8.根据权利要求6所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述步骤S20中所有图像标记与第一标准模板进行匹配具体为将所述第一标准模板以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将所有图像标记依次与缩放、旋转后的第一标准模板进行匹配。
9.根据权利要求6所述的安检机自动校正体模,其特征在于:
所述步骤S40中所有图像标记与第二标准模板进行匹配具体为将所述第二标准模板以0.1倍为间隔,在0.5~4倍之间进行缩放并以1°为间隔,在360°的范围内旋转,将所有图像标记依次与缩放、旋转后的第二标准模板进行匹配。
CN201811368800.3A 2018-11-16 2018-11-16 一种安检机自动校正体模及其校正方法 Withdrawn CN109187599A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811368800.3A CN109187599A (zh) 2018-11-16 2018-11-16 一种安检机自动校正体模及其校正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811368800.3A CN109187599A (zh) 2018-11-16 2018-11-16 一种安检机自动校正体模及其校正方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109187599A true CN109187599A (zh) 2019-01-11

Family

ID=64939511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811368800.3A Withdrawn CN109187599A (zh) 2018-11-16 2018-11-16 一种安检机自动校正体模及其校正方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109187599A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114936988A (zh) * 2022-07-21 2022-08-23 杭州睿影科技有限公司 图像校正方法、装置及电子设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030058999A1 (en) * 2001-08-21 2003-03-27 Matthias Mitschke Calibration phantom for projection X-ray systems
EP2660776A1 (en) * 2012-05-01 2013-11-06 Universität Bern Image distortion correction and robust phantom detection
CN108181328A (zh) * 2017-12-08 2018-06-19 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 一种用于检测x光机材料分辨力的方法及系统
CN209264599U (zh) * 2018-11-16 2019-08-16 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种安检机自动校正体模

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030058999A1 (en) * 2001-08-21 2003-03-27 Matthias Mitschke Calibration phantom for projection X-ray systems
EP2660776A1 (en) * 2012-05-01 2013-11-06 Universität Bern Image distortion correction and robust phantom detection
CN108181328A (zh) * 2017-12-08 2018-06-19 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 一种用于检测x光机材料分辨力的方法及系统
CN209264599U (zh) * 2018-11-16 2019-08-16 上海英迈吉东影图像设备有限公司 一种安检机自动校正体模

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
侯若明: "《工业射线检测影像识别与评定》", 中国质检出版社, pages: 67 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114936988A (zh) * 2022-07-21 2022-08-23 杭州睿影科技有限公司 图像校正方法、装置及电子设备
CN114936988B (zh) * 2022-07-21 2022-11-01 杭州睿影科技有限公司 图像校正方法、装置及电子设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106493042B (zh) 点胶方法及点胶系统
CN105184214B (zh) 一种基于声源定位和人脸检测的人体定位方法和系统
CN102135417B (zh) 一种全自动三维特征提取方法
CN102445164A (zh) 一种大型构件表面三维形貌视觉测量方法及系统
CN104331896A (zh) 一种基于深度信息的系统标定方法
CN107186548A (zh) 一种五轴数控机床回转轴几何误差检测方法
US20220219347A1 (en) Cutting machine with overview camera
CN101582161A (zh) 一种基于透视成像模型标定的c型臂图像校正方法
CN103846192A (zh) 自主定位智能点胶系统
CN106516001A (zh) 一种船舶舭龙骨定位安装方法
CN104036542A (zh) 一种基于空间光线聚集性的像面特征点匹配方法
CN209264599U (zh) 一种安检机自动校正体模
CN105243663A (zh) 一种pcb扫描图像的自动匹配方法及系统
CN105222727A (zh) 线阵ccd相机成像平面与工作台平行度的测量方法和系统
CN104123725B (zh) 一种单线阵相机单应性矩阵h的计算方法
CN109187599A (zh) 一种安检机自动校正体模及其校正方法
CN106651957A (zh) 基于模板的单目视觉目标空间定位方法
CN109460757A (zh) 印章位置识别方法及装置
CN114581368B (zh) 一种基于双目视觉的棒材焊牌方法及装置
CN106483583A (zh) 电子标签的定位系统、方法及电子标签探测仪
CN103488801B (zh) 一种基于地理信息空间库的机场目标检测方法
CN101950409A (zh) 一种基于象限的编码标记点设计方法
CN101216675A (zh) 单孔形标记对准信号处理方法
CN205220075U (zh) 一种标识码打印装置
CN103837094B (zh) 一种降低摄像机多路径效应影响的相位融合方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20190111