CN114924179A - 一种多通道信号延迟测量方法及装置 - Google Patents

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姜凯
李锐
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Abstract

本发明涉及FPGA设计和量子测控系统技术领域,具体提供了一种多通道信号延迟测量方法,具有如下步骤:S1、用户使用原子钟产生参考时钟,所述时钟同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡;S2、用户设定所述信号发生器触发信号;S3、将各个待测板卡的一个波形输出通道通过线缆连接至所述测量板卡,测量板卡测量信号的延迟;S4、各所述待测板卡均发出占空比50%的一个周期的方波信号;S5、在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿;S6、延迟测量板卡使用参考时钟采样输入通道的波形上升沿;S7、循环执行步骤S1至步骤S6,直至完成所有批次待测板卡输出延迟测量。与现有技术相比,本发明操作简单且不容易出错,流程简单且高效稳定。测试方案可模块化,实施方便。

Description

一种多通道信号延迟测量方法及装置
技术领域
本发明涉及FPGA设计和量子测控系统技术领域,具体提供一种多通道信号延迟测量方法及装置。
背景技术
目前,电子信息技术产业发展迅速,出现高性能可编程逻辑芯片,可以实现很多复杂的应用需求。目前量子计算机发展迅速,需要同时操控的量子比特个数越来越多,这就需要测控设备同步能发出多路波形信号。目前市场上测控设备的同步方法有很多,但一般都需要通过示波器人工进行多通道信号延迟测量,操作繁琐且容易出错。
发明内容
本发明是针对上述现有技术的不足,提供一种实用性强的多通道信号延迟测量方法。
本发明进一步的技术任务是提供一种设计合理,安全适用的多通道信号延迟测量装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种多通道信号延迟测量方法,具有如下步骤:
S1、用户使用原子钟产生参考时钟,所述时钟同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡;
S2、用户设定所述信号发生器触发信号,所述触发信号周期为参考时钟周期的整数倍,将所述触发信号发送给若干所述待测板卡和延迟测量板卡;
S3、将各个待测板卡的一个波形输出通道通过线缆连接至所述测量板卡,所述测量板卡测量信号的延迟;
S4、各所述待测板卡均发出占空比50%的一个周期的方波信号;
S5、在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿,并在采样到触发信号上升沿后,开始以参考时钟为基准进行计数;
S6、延迟测量板卡使用参考时钟采样输入通道的波形上升沿,并记录通道采样到上升沿时的计数值和批次计数器值;
S7、循环执行步骤S1至步骤S6,直至完成所有批次待测板卡输出延迟测量。
进一步的,在步骤S1中,使用原子钟产生一个参考时钟,所述时钟使用等长传输路径同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡。
进一步的,在步骤S3中,所述测量板卡一次最多测量8组信号的延迟,若待测板卡数量过多,分为多组进行逐批测量。
进一步的,在步骤S4中,所述方形信号的周期与参考时钟周期相等,各待测板卡在检测到触发信号上升沿后自行发出。
进一步的,在步骤S5中,在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿,并在采样到触发信号上升沿后,开始以参考时钟为基准进行计数,在采样到下个触发信号上升沿后记录当前计数值并开始从0开始下一轮计数,直达连续三次计数记录的计数值均相等后,以所述计数值为计数周期,再采样一次触发信号上升沿后开始进行循环计数,停止采样触发信号上升沿。
进一步的,在步骤S6中,延迟测量板卡使用参考时钟采样各个输入通道的波形上升沿,并分别记录各通道采样到上升沿时的计数值和批次计数器值,当完成当前各个通道的延迟测量后,用户按下延迟测量板卡的批次更新按键,延迟测量板卡的批次计数器自动加1,准备测量新一批通道的延迟。
进一步的,在步骤S7中,循环执行步骤S1至步骤S6,直至完成所有批次待测板卡输出延迟测量;
最后,用户通过USB线缆连接延迟测量板卡的USB转UART端口,使用串口调试窗口发送延迟测量值读取指令读取所有批次各个板卡输出延迟测试值,完成所有板卡延迟测量工作。
一种多通道信号延迟测量装置,其特征在于,包括:至少一个存储器和至少一个处理器;
所述至少一个存储器,用于存储机器可读程序;
所述至少一个处理器,用于调用所述机器可读程序,执行一种多通道信号延迟测量方法。
本发明的一种多通道信号延迟测量方法及装置和现有技术相比,具有以下突出的有益效果:
本发明通过示波器人工进行多通道信号延迟测量,测量精度高,避免人工读取误差。操作简单且不容易出错,流程简单且高效稳定。测试方案可模块化,实施方便。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
附图1是一种多通道信号延迟测量方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好的理解本发明的方案,下面结合具体的实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例都属于本发明保护的范围。
下面给出一个最佳实施例:
如图1所示,本实施中的一种多通道信号延迟测量方法,首先,用户需要使用高精度原子钟产生一个时钟频率较高的参考时钟,该时钟使用等长传输路径同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡。
然后,用户设定信号发生器发出触发信号,该触发信号周期为参考时钟周期的整数倍,将触发信号发送给各个待测板卡和延迟测量板卡。
将各个待测板卡的一个波形输出通道通过等长线缆连接至测量板卡,本实施例中的测量板卡一次可以测量8组信号的延迟,若待测板卡数量过多,可以分为多个组进行逐批测量。
各待测板卡均发出占空比为50%的一个周期的方波信号,该方波信号的周期与参考时钟周期相等,各待测板卡在检测到触发信号上升沿后自行发出。
然后,在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿,并在采样到触发信号上升沿后,开始以参考时钟为基准进行计数,在采样到下各触发信号上升沿后记录当前计数值并开始以0开始下一轮计数,直达连续三次计数记录的计数值均相等后,以该计数值为计数周期,再采样一次触发信号上升沿后开始进行循环计数,停止采样触发信号上升沿。
延迟测量板卡使用参考时钟采样8个输入通道的波形上升沿,并分别记录各通道采样到上升沿时的计数值和批次计数器值,当完成当前8各通道的延迟测量后,用户需要按一下延迟测量板卡的批次更新按键,延迟测量板卡的批次计数器自动加1,准备测量新一批8个通道的延迟。
循环执行上述步骤,直至完成所有批次待测板卡输出延迟的测量。
最后,用户可以通过usb线缆连接延迟测量板卡的usb转UART端口,使用串口调试窗口发送延迟测量值读取指令读取所有批次各板卡输出延迟测试值,完成所有板卡延迟测量工作。
基于上述方法,本实施例中的一种多通道信号延迟测量装置,包括:至少一个存储器和至少一个处理器;
所述至少一个存储器,用于存储机器可读程序;
所述至少一个处理器,用于调用所述机器可读程序,执行一种多通道信号延迟测量方法。
本发明的信号延迟测量方法无需使用复杂的上位机控制系统,实现自动测量和记录。无需人工通过示波器识别延迟量,测量精度高,避免人工读取误差;测试方案模块化,实施方便。
上述具体的实施方式仅是本发明具体的个案,本发明的专利保护范围包括但不限于上述具体的实施方式,任何符合本发明的一种多通道信号延迟测量方法及装置权利要求书的且任何所述技术领域普通技术人员对其做出的适当变化或者替换,皆应落入本发明的专利保护范围。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,具有如下步骤:
S1、用户使用原子钟产生参考时钟,所述时钟同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡;
S2、用户设定所述信号发生器触发信号,所述触发信号周期为参考时钟周期的整数倍,将所述触发信号发送给若干所述待测板卡和延迟测量板卡;
S3、将各个待测板卡的一个波形输出通道通过线缆连接至所述测量板卡,所述测量板卡测量信号的延迟;
S4、各所述待测板卡均发出占空比50%的一个周期的方波信号;
S5、在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿,并在采样到触发信号上升沿后,开始以参考时钟为基准进行计数;
S6、延迟测量板卡使用参考时钟采样输入通道的波形上升沿,并记录通道采样到上升沿时的计数值和批次计数器值;
S7、循环执行步骤S1至步骤S6,直至完成所有批次待测板卡输出延迟测量。
2.根据权利要求1所述的一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S1中,使用原子钟产生一个参考时钟,所述时钟使用等长传输路径同时输入给信号发生器、若干待测板卡和延迟测量板卡。
3.根据权利要求2所述的一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S3中,所述测量板卡一次最多测量8组信号的延迟,若待测板卡数量过多,分为多组进行逐批测量。
4.根据权利要求3所述的一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S4中,所述方形信号的周期与参考时钟周期相等,各待测板卡在检测到触发信号上升沿后自行发出。
5.根据权利要求4所述的一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S5中,在延迟测量板卡中,使用参考时钟采样触发信号上升沿,并在采样到触发信号上升沿后,开始以参考时钟为基准进行计数,在采样到下个触发信号上升沿后记录当前计数值并开始从0开始下一轮计数,直达连续三次计数记录的计数值均相等后,以所述计数值为计数周期,再采样一次触发信号上升沿后开始进行循环计数,停止采样触发信号上升沿。
6.根据权利要求5所述的一种多通到信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S6中,延迟测量板卡使用参考时钟采样各个输入通道的波形上升沿,并分别记录各通道采样到上升沿时的计数值和批次计数器值,当完成当前各个通道的延迟测量后,用户按下延迟测量板卡的批次更新按键,延迟测量板卡的批次计数器自动加1,准备测量新一批通道的延迟。
7.根据权利要求6所述的一种多通道信号延迟测量方法,其特征在于,在步骤S7中,循环执行步骤S1至步骤S6,直至完成所有批次待测板卡输出延迟测量;最后,用户通过USB线缆连接延迟测量板卡的USB转UART端口,使用串口调试窗口发送延迟测量值读取指令读取所有批次各个板卡输出延迟测试值,完成所有板卡延迟测量工作。
8.一种多通道信号延迟测量装置,其特征在于,包括:至少一个存储器和至少一个处理器;
所述至少一个存储器,用于存储机器可读程序;
所述至少一个处理器,用于调用所述机器可读程序,执行权利要求1至7中任一所述的方法。
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