CN114895123A - 设备校验装置、数据校准方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种设备校验装置，应用于电子应用技术领域。本发明提供的设备校验装置包括：至少一个与被检测设备连接的钳表端，以及与所述钳表端连接的校准仪端。所述钳表端用于测量所述被检测设备的目标类型数据，以及存储校准系数；所述校准仪端用于从所述钳表端获取所述目标类型数据以及所述校准系数，并使用所述校准系数对所述目标类型数据进行修正。本发明还提供一种数据校准方法，应用于所述设备校验装置，所述方法包括：所述校准仪端发送校准系数读取命令至所述钳表端；所述钳表端接收所述校准系数读取命令，并返回预先存储的校准系数；所述校准仪接收所述校准系数，并根据所述校准系数对被检测设备的目标类型数据进行校准。

Description

设备校验装置、数据校准方法及存储介质

技术领域

本发明涉及电子应用技术领域，尤其涉及一种设备校验装置、数据校准方法及存储介质。

背景技术

钳表是日常维护工作中必备的测试工具之一，用于测量被检测设备的目标类型数据，在现场使用过程中，需要配合校准仪一起同时使用。在现场使用过程中，如果该钳表出现了损坏等导致无法正常使用的情况时，需要及时更换已经无法正常使用的钳表。现有技术中，更换新的钳表后需要人工对现场的整体测试环境中的众多设备进行重新校准，但是在现场需要进行校准的测试点很多，现场的校准工作复杂且耗时。

发明内容

本发明的目的在于提供一种设备校验装置、数据校准方法及存储介质，以解决现有技术中重新更换钳表后需要现场校准导致的使用不便的技术问题。

本发明的技术方案如下：提供一种设备校验装置，包括至少一个与被检测设备连接的钳表端，以及与所述钳表端连接的校准仪端；

所述钳表端，用于测量所述被检测设备的目标类型数据，以及存储校准系数；

所述校准仪端，用于从所述钳表端获取所述目标类型数据以及所述校准系数，并使用所述校准系数对所述目标类型数据进行修正。

本发明的另一技术方案如下：提供一种数据校准方法，应用于所述设备校验装置，包括：所述校准仪端根据预设第一频率发送设备信息读取命令至所述钳表端；

所述钳表端接收所述设备信息读取命令，获取预先存储的对应钳表设备信息，并返回所述钳表设备信息至所述校准仪端；

所述校准仪端接收所述钳表设备信息，并根据预设第一频率发送校准系数读取命令至所述钳表端；

所述钳表端接收所述校准系数读取命令，获取预先存储的对应校准系数，并返回所述校准系数至所述校准仪端；

所述校准仪端接收所述校准系数，并根据所述校准系数对被检测设备的目标类型数据进行校准，其中，所述目标类型数据是所述钳表端从所述被检测设备采集获取的。

本发明的另一技术方案如下：提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述数据校准方法的步骤。

本发明的设备校验装置、数据校准方法及存储介质，通过在钳表端预先存储所述钳表端对应的校准系数，校准仪端从所述钳表端获取所述校准系数，然后使用所述校准系数对所述钳表端发送的被检测设备的目标类型数据进行修正，实现了校准仪端能够快速且自动从钳表端获取校准系数并进行校准，解决了现场环境中人工对众多校准点进行校准工作的复杂和耗时问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例中设备校验装置的结构示意图；

图2是本发明一实施例中设备校验装置的另一结构示意图；

图3是本发明一实施例中数据校准方法的一流程图；

图4是本发明一实施例中计算机设备的一示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在一实施例中，如图1所示，提供一种设备校验装置20，包括至少一个与被检测设备10连接的钳表端201，以及与所述钳表端201连接的校准仪端202。所述钳表端201用于测量被检测设备的目标类型数据，以及存储校准系数；所述校准仪端用于从所述钳表端获取所述目标类型数据以及所述校准系数，并使用所述校准系数对所述目标类型数据进行修正。众所周知的是，每一支钳表在出厂前，相关技术人员会对每一支钳表进行精度测试，在所述精度测试结束后得到每一支钳表的校准系数，每一支钳表的校准系数不一定相同，所述校准系数跟随对应的钳表一起出厂。另外，在实际的现场测试环境中，需要使用校准仪对每一支钳表的测量数据进行校准，确保获取的被检测设备的电学数据的准确度。其中，所述被检测设备10可以被多个所述钳表端201进行测量。同时，一个所述校准仪端202可以对多个所述钳表端201相连。同时，若现场的所述钳表端201的数量超过了一台所述校准仪202的最大支持数量，现场可使用多台所述校准仪202去连接更多的所述钳表端201。

进一步地，如图2所示，所述钳表端201还包括至少一个存储模块2011，所述存储模块2011用于存储所述钳表端201的钳表信息和所述校准系数。其中，所述钳表信息包括但不限于：型号、量程、分辨率、准确度、波峰因数、输入阻抗、支持数据类型。所述钳表信息不仅可以用于现场检测时所述校准仪端202识别是否存在连接的所述钳表端201，还可用于对所述钳表端201发送的测量数据进行二次校验。例如，若所述钳表端201发送的某一测量数据超过了所述钳表信息中包含的量程，所述校准仪202可将该超过量程的所述测量数据作为无效数据不予采用，以及所述校准仪202对所述钳表信息进行可视化展示，便于在现场的相关人员更加直观的获取所述钳表信息。

进一步地，如图2所示，所述校准仪202包括至少一个主控模块2021，所述主控模块2021用于发送测量数据读取指令至所述钳表端201，并对应接收所述钳表端201返回的所述目标类型数据。其中，在所述校准仪202中可以设置所述测量数据读取指令的发送频率，所述发送频率根据实际的现场测试需求以及所述钳表端201的具体性能灵活设定，过快的频率会导致过多的性能消耗，例如所述钳表端201每一秒更新一次测量数据，若设置每0.2秒发送一次所述测量数据读取指令则多次读取了一样的数据，但是较慢的频率也会产生数据更新不及时的问题，导致部分测量数据被遗漏，不能全面的采集所述被检测设备10的电学数据，进而影响到对被检测设备10的运行状况的分析。

进一步地，如图2所示，所述主控模块2021还用于按照预设频率发送设备信息读取指令和校准系数读取指令至所述钳表端201，并对应接收所述钳表端201返回的所述钳表信息和所述校准系数。其中，所述钳表信息的作用和所述校准系数的作用在此不再赘述。所述预设频率的设定同样需要根据实际的现场测试需求以及所述钳表端201的具体性能灵活设定，具体的原因与所述测量数据读取指令的发送频率设定类似，在此不再赘述。

进一步地，如图2所示，所述存储模块2011至少包含一个存储芯片20111，所述主控模块2021包含至少一个主控芯片20211。所述存储芯片20111可选用市面上已存在的存储芯片或将来要上市的存储芯片，所述主控芯片20211可选用市面上已存在的主控芯片或将来要上市的主控芯片，涉及具体的芯片型号仍需要考虑所述钳表端201和所述校准仪端202需要实现的其他功能，以及具体芯片型号的芯片能够提供的技术支持。所述存储芯片20111可用于实现所述存储模块2011需要实现的功能，即存储所述钳表端201的钳表信息和所述校准系数。所述主控芯片20211可用于实现所述主控模块2021需要实现的功能，即发送测量数据读取指令至所述钳表端201，并对应接收所述钳表端201返回的所述目标类型数据和按照预设频率发送设备信息读取指令和校准系数读取指令至所述钳表端201，并对应接收所述钳表端201返回的所述钳表信息和所述校准系数。

进一步地，所述钳表端通过一针脚数目至少为8的插头与所述校准仪端包含相同针数的插座相连，所述针脚至少包含一个数据针脚，所述数据针脚用于在所述钳表端与所述校准仪端之间进行数据传输。所述针脚还至少包含一个时钟针脚，所述时钟针脚用于所述钳表端201和所述校准仪端202的时钟频率同步。其中，所述针脚还包含电源线和地线，所述电源线和地线的作用为常规性功能，在此不再赘述。

上述设备校验装置，通过在钳表端预先存储所述钳表端对应的校准系数，校准仪端从所述钳表端获取所述校准系数，然后使用所述校准系数对所述钳表端发送的被检测设备的目标类型数据进行修正，实现了校准仪端能够快速且自动从钳表端获取校准系数并进行校准，解决了现场环境中人工对众多校准点进行校准工作的复杂和耗时问题。

其中上述模块/单元中的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或模块的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或模块，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或模块，本申请中所出现的模块的划分，仅仅是一种逻辑上的划分，实际应用中实现时可以有另外的划分方式。

在另一实施例中，如图3所示，提供一种数据校准方法，应用于所述设备校验装置20，包括如下步骤S101至S105：

S101、所述校准仪端202根据预设第一频率发送设备信息读取命令至所述钳表端201。

S102、所述钳表端201接收所述设备信息读取命令，获取预先存储的对应钳表设备信息，并返回所述钳表设备信息至所述校准仪端202。

S103、所述校准仪端202接收所述钳表设备信息，并根据预设第一频率发送校准系数读取命令至所述钳表端201。

进一步地，所述校准仪端202接收所述钳表设备信息之后还包括：判断所述钳表设备信息是否为空，若为空，则重复所述所述校准仪端202根据预设第一频率发送设备信息读取命令至所述钳表端201至所述所述校准仪端202接收所述钳表设备信息之间的步骤，直至所述校准仪端202接收的所述钳表设备信息不为空。其中，所述钳表设备信息为空表示所述钳表端201已经损坏无法正常工作，或者所述钳表端201已经与所述校准仪端202断开连接，此时所述校准仪端202会持续性的发送所述设备信息读取指令，直至获取到的所述钳表设备信息不为空，表示所述校准仪端202重新连接上一能正常工作的新钳表端。

其中，所述校准仪端202持续性判断所述钳表设备信息是否为空，可以在现场的检测工作中去识别与所述校准仪端202相连接的所述钳表端201是否已经断开连接或者已经损坏无法正常工作。同时，若所述校准仪端202又重新获取到所述钳表设备信息，还可以将当前获取到的所述钳表设备信息与之前获得的钳表设备信息进行对比，判断当前与所述校准仪端202连接的钳表端是否为之前的钳表端或一个新的钳表端。

S104、所述钳表端201接收所述校准系数读取命令，获取预先存储的对应校准系数，并返回所述校准系数至所述校准仪端202。

S105、所述校准仪端202接收所述校准系数，并根据所述校准系数对被检测设备的目标类型数据进行校准，其中，所述目标类型数据是所述钳表端201从所述被检测设备采集获取的。

进一步地，所述校准仪端202接收所述校准系数之后还包括：判断所述校准系数是否在合理的预设范围内，若否，则重复所述所述钳表端201接收所述校准系数读取命令至所述校准仪端202接收所述校准系数之间的步骤，直至所述校准系数在合理的预设范围内。其中，所述校准系数在实际应用过程中会存在获取不到、获取为空、出厂时设置错误等情况，在此为校准系数添加又一层校验保证所述目标类型数据被校准后的准确性。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述实施例中数据校准方法的步骤，例如图3所示的步骤S101至步骤S105及该方法的其它扩展和相关步骤的延伸。或者，处理器执行计算机程序时实现上述实施例中设备校验装置的各模块/单元的功能，例如图2所示模块2011至模块2021的功能。为避免重复，这里不再赘述。

所述处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，所述处理器是所述计算机装置的控制中心，利用各种接口和线路连接整个计算机装置的各个部分。

所述存储器可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器通过运行或执行存储在所述存储器内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，实现所述计算机装置的各种功能。所述存储器可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统等；存储数据区可存储根据计算机的使用所创建的数据(比如电流、频率数据等)等。

所述存储器可以集成在所述处理器中，也可以与所述处理器分开设置。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中数据校准方法的步骤，例如图3所示的步骤S101至步骤S105及该方法的其它扩展和相关步骤的延伸。或者，计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中设备校验装置的各模块/单元的功能，例如图2所示模块2011至模块2021的功能。为避免重复，这里不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。

以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种设备校验装置，其特征在于，包括至少一个与被检测设备连接的钳表端，以及与所述钳表端连接的校准仪端；

所述钳表端，用于测量所述被检测设备的目标类型数据，以及存储校准系数；

所述校准仪端，用于从所述钳表端获取所述目标类型数据以及所述校准系数，并使用所述校准系数对所述目标类型数据进行修正。

2.根据权利要求1所述的设备校验装置，其特征在于，所述钳表端包括至少一个存储模块，所述存储模块用于存储所述钳表端的钳表信息和所述校准系数。

3.根据权利要求2所述的设备校验装置，其特征在于，所述校准仪端包括至少一个主控模块，所述主控模块用于发送测量数据读取指令至所述钳表端，并对应接收所述钳表端返回的所述目标类型数据。

4.根据权利要求3所述的设备校验装置，其特征在于，所述主控模块还用于按照预设频率发送设备信息读取指令和校准系数读取命令至所述钳表端，并对应接收所述钳表端返回的所述钳表信息和所述校准系数。

5.根据权利要求4所述的设备校验装置，其特征在于，所述存储模块包括至少一个存储芯片。

6.根据权利要求4所述的设备校验装置，其特征在于，所述主控模块包含至少一个主控芯片。

7.根据权利要求4所述的设备校验装置，其特征在于，所述钳表端通过一针脚数目至少为8的插头与所述校准仪端包含相同针数的插座相连，所述针脚至少包含一个数据针脚，所述数据针脚用于在所述钳表端与所述校准仪端之间进行数据传输。

8.根据权利要求7所述的设备校验装置，其特征在于，所述插头和所述插座至少包含一个时钟针脚，所述时钟针脚用于所述钳表端和所述校准仪端的时钟频率同步。

9.一种数据校准方法，其特征在于，所述方法应用于权利要求1至8中任一项所述的设备校验装置，所述方法包括：

所述校准仪端根据预设第一频率发送设备信息读取命令至所述钳表端；

所述钳表端接收所述设备信息读取命令，获取预先存储的对应钳表设备信息，并返回所述钳表设备信息至所述校准仪端；

所述校准仪端接收所述钳表设备信息，并根据预设第一频率发送校准系数读取命令至所述钳表端；

所述钳表端接收所述校准系数读取命令，获取预先存储的对应校准系数，并返回所述校准系数至所述校准仪端；

所述校准仪端接收所述校准系数，并根据所述校准系数对被检测设备的目标类型数据进行校准，其中，所述目标类型数据是所述钳表端从所述被检测设备采集获取的。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求9中所述数据校准方法的步骤。

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