CN114868022A - 自动分析装置 - Google Patents
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Abstract
本发明的目的是提供一种能够在抑制制造成本增加的同时,拍摄多个处理部中的动作的自动分析装置。该自动分析装置包括:执行与分析有关的动作的多个处理部;配置于所述多个处理部中的每一个且构成为能够设置对所述多个处理部的动作进行测定的测定器的多个测定器设置部;以及控制所述多个处理部的控制部。所述多个测定器设置部中的每一个构成为可拆下所述测定器,并且构成为可将拆下的所述测定器设置在其它的测定器设置部上。
Description
技术领域
本发明涉及自动分析装置。
背景技术
已知一种在对患者的血液或尿液等生物样品中所含成分进行定性或定量分析的临床检查中,使一系列检查工序自动化的自动分析装置。自动分析装置一般具有将样品和试剂从容器中提取规定量到反应容器中的多个分注机构、搅拌机构、清洗机构等各种处理部。
在自动分析装置的检查中,样品和试剂被样品分注机构和试剂分注机构吸引,并朝向反应容器排出(本说明书中,有时将样品分注机构和试剂分注机构统称为“分注机构”)。进而,通过搅拌机构进行搅拌等,样品与试剂发生化学反应,之后,通过将该反应液送到检测器,从而执行各种检查。此后,分注机构在清洗槽中接收清洗动作,并在上述动作之间执行移动动作。
上述各处理部的吸引、排出、搅拌、清洗等动作按照设计值进行,即为了确保自动分析装置的分析性能,上述动作需要适当调整。例如,为了防止将试剂带入不同样品之间,必须以适当的清洗水量清洗分注机构。另外,从确保分注量的准确性的观点来看,准确地调整分注机构的喷嘴的位置是很重要的。
专利文献1公开了一种自动分析装置,其能够通过摄像头(摄像部)拍摄样品分注机构或试剂分注机构的吸引动作、排出动作和清洗动作,作为确认喷嘴的动作的方法。
但是,专利文献1的装置在多个分注机构中的每一个中采用了摄像头。因此,为了确认1个装置内的多个分注机构的喷嘴的动作,需要多个摄像头。摄像头的数量增加是导致装置的制造成本增加的原因。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2017-151002号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
本发明的目的是提供一种能够在抑制制造成本增加的同时测定多个处理部的动作,并能确保分析性能的自动分析装置。
用于解决技术问题的技术手段
为了解决上述问题,本发明所涉及的自动分析装置包括:多个处理部,该多个处理部执行与分析有关的动作;多个测定器设置部,该多个测定器设置部配置于所述多个处理部中的每一个且构成为能够设置对所述多个处理部的动作进行测定的测定器;以及控制部,该控制部控制所述多个处理部,所述多个测定器设置部中的每一个构成为可拆下所述测定器,并且可将拆下的所述测定器设置在其它的测定器设置部上。
发明效果
根据本发明,能提供一种能够在抑制制造成本增加的同时测定多个处理部的动作,并能确保分析性能的自动分析装置。
附图说明
图1是实施方式1的自动分析装置100的简要结构图。
图2是说明实施方式1的试剂分注机构110的结构的概要的简要俯视图。
图3是说明实施方式1的搅拌桨驱动机构112的结构的概要的简要俯视图。
图4是说明实施方式1的反应液吸引机构116的结构的概要的简要俯视图。
图5是说明实施方式1的样品分注机构117的结构的概要的简要俯视图。
图6是说明实施方式1的BF分离机构118的结构的概要的简要俯视图。
图7是说明试剂分注机构110所具备的清洗机构W1和测定器设置部BX1的结构的简要立体图。
图8是表示拍摄了清洗槽606和背景图像板800的情况下的图像的一例的图。
图9是示出当向喷嘴NZ1排出适当的(与设计值一致的)水量的清洗液(803)时的图像的一例的图。
图10是示出清洗液(803)的水量与设计值相比过小时的图像的一例的图。
图11是示出清洗液(803)的水量与设计值相比过剩时的图像的一例的图。
图12是实施方式1的多个清洗机构W1至W5中的测定/调整清洗水量的动作流程图。
图13是示出在图12的步骤S102中显示在显示部13上的引导图900的示例的图。
图14是示出能够在步骤S111中显示的指示画面910的一例的图。
图15是示出调整完成报告(步骤S119)的画面的一例的图。
图16是示出实施方式1的第1变形例的图。
图17是示出实施方式1的第2变形例的图。
图18是示出实施方式1的第3变形例的图。
图19是实施方式2的自动分析装置100的简要结构图。
图20是示出测定器设置部BX42的具体结构例的剖视图。
图21是示出通过拍摄检体容器101等获得的图像的一例的图。
图22是实施方式3的自动分析装置100的简要结构图。
图23是实施方式4的自动分析装置100的简要结构图。
图24是实施方式5的自动分析装置100的简要结构图。
图25是实施方式6的自动分析装置100的简要结构图。
图26是示出利用插入到测定器设置部BX4u中的测定器SS从上方拍摄检体容器101等而获得的图像的一例的图。
图27是实施方式7的自动分析装置100的简要结构图。
图28是说明实施方式8的比较例的简要结构图。
图29是实施方式8的自动分析装置100的简要结构图。
图30是进行实施方式2至实施方式8的棒状构件的位置的调整的动作时的流程图。
具体实施方式
下面,参照附图,对本实施方式进行说明。在附图中,功能上相同的要素也可以用相同的编号或者对应的编号表示。此外,附图虽然示出了遵循本公开的原理的实施方式和实施例,但这些是用于本公开的理解,绝非用于对本公开进行限定性解释。本说明书中的描述仅是典型示例,并非以任何方式限制本公开的权利要求的范围或本公开的应用例。
虽然本实施方式中,已经足够详细地描述了本公开,以使本领域技术人员能够实施本公开,但是应当理解,其它实现方案、方式也是可能的,并且在不脱离本发明的技术思想的范围和精神的情况下,可以进行构成和结构的改变以及各种要素的替换。因此,下面的记述不能限定于此进行解释。
【实施方式1】
图1是实施方式1的自动分析装置100的简要结构图。如图1所示,自动分析装置100包括主体部100A、控制部11、输入部12、显示部13、存储部14和外部控制部15。
如后所述,主体部100A具有用于执行样品的自动分析的各种结构。控制部11控制主体部100A的整体控制。输入部12是用于对控制部11输入来自操作者的命令和各种数据的装置。显示部13是用于显示样品的分析结果等的显示装置。存储部41是存储用于控制控制部11的计算机程序和各种数据的存储装置,例如是硬盘驱动器或半导体存储装置。外部控制部15是例如笔记本电脑或平板电脑的外部电子终端,并且独立于控制部11地控制主体部100A。
自动分析装置100在主体部100A中包括检体容器支架102、支架传送线103、试剂盘106和培养箱(反应盘)108。
检体容器支架102容纳用于存储血液或尿液等生物样品(以下称为样品)的多个检体容器101。支架传送线103是用于传送检体容器支架102的传送路径。试剂盘106是用于容纳和保温试剂容器104的圆盘状容器。各种试剂被存储在试剂容器104内,该试剂在内部包括与样品内的特定组分反应的化合物、磁性颗粒等。试剂盘106的内部被保持在规定温度。试剂在反应容器中与样品反应,并被用于分析各种样品。试剂盘106的表面被试剂盘盖105覆盖。试剂盘盖105设置有用于使后述的试剂分注机构110通过的开口部105a。培养箱108是用于容纳用于混合样品和试剂的多个反应容器107的圆盘状容器。反应容器保持部109是用于存储未使用的反应容器的保持部。使用后的反应容器107被废弃在废弃孔Hd中。
除此以外,自动分析装置100在主体部100A中包括试剂分注机构110、搅拌桨驱动机构112、检测机构115、反应液吸引机构116(116a、116b)、样品分注机构117、BF分离机构118和反应容器传送机构119。
试剂分注机构110构成为能够以旋转轴为中心进行旋转和上下移动,吸引被保持在试剂盘106中的试剂容器104中的试剂,并且将吸引到的试剂排出到培养箱108上的反应容器107。搅拌桨驱动机构112是用于驱动用于搅拌试剂容器104内的磁性颗粒等的桨的装置。检测机构115经由反应液吸引机构116(116a,116b)从反应容器107接受反应液的供给,并执行样品的分析。检测机构115可以包括多个并列的检测单元,并且反应液吸引机构116也可以与之相应地包括多个吸引单元(例如,两个吸引单元116a、116b)。在本说明书中,桨和各种喷嘴统称为“棒状构件”。
样品分注机构117从检体容器101吸引样品,并将样品朝向设置在培养箱108中的反应容器107排出。BF分离机构118是为了清洗未反应组分用于向反应容器107供给BF分离液并实施预先清洗的清洗机构。反应容器传送机构119是可在X轴、Y轴和Z轴三个方向上移动的三轴传送机构,其握住反应容器107并将其传送到规定位置。
而且,清洗机构W1至W5被设置为用于清洗上述的试剂分注机构110、搅拌桨驱动机构112、反应液吸引机构116、样品分注机构117和BF分离机构118的装置。
上述清洗机构W1至W5包括用于测定清洗机构W1至S5的动作的测定器,例如摄像头。除此以外,各个清洗机构W1至W5具备测定器设置部(BX),该测定器设置部(BX)能够自由插入和拆卸地设置测定器SS。测定器SS可以从一个测定器设置部移动到另一个测定器设置部。测定器SS可以在多个测定器设置部之间共用,由此能减少测定器SS的数量,抑制制造成本。另外,在以下的说明中,有时在总称测定器设置部的情况下,称为“测定器设置部BX”,在对设置在一个处理部中的单独的测定器设置部进行称呼的情况下,附加如“测定器设置部BXi”这样的数字进行称呼。
图2是说明试剂分注机构110的结构的概要的简要俯视图。该试剂分注机构110包括旋转轴AX1、以旋转轴AX1为中心旋转的轴SF1、以及安装到轴SF1的前端的喷嘴NZ1(图2中未图示出)。清洗机构W1配置在喷嘴NZ1的通过位置处,并对结束分注动作的喷嘴NZ1进行清洗。试剂分注机构110的轴SF1以旋转轴AX1为中心旋转,从而重复进行在清洗机构W1处使用清洗液清洗喷嘴NZ1的清洗动作、在试剂盘106处吸引试剂的吸引动作、以及在培养箱108上排出试剂的排出动作。通过这样的动作,在某个试剂分注后,开始下一个试剂的分注时,通过清洗除去上次测定时使用的试剂,从而抑制污染。该清洗机构W1具备能够设置用于测定清洗情况的测定器SS(这里作为一个例子,是能够拍摄清洗情况的摄像头)的测定器设置部BX1。另外,试剂分注机构110构成为也能够利用未图示出的上下移动机构进行上下移动。
图3是说明搅拌桨驱动机构112的结构的概要的简要俯视图。该搅拌桨驱动机构112包括旋转轴AX2、以旋转轴AX2为中心旋转的轴SF2、以及安装到轴SF2的前端的搅拌桨(图3中未图示出)。清洗机构W2设置在搅拌桨的通过位置,并对完成搅拌动作后的搅拌桨进行清洗。
搅拌桨驱动机构112中,轴SF2以旋转轴AX2为中心旋转,从而重复进行使用清洗液清洗搅拌桨的清洗动作、以及对设置在试剂盘106上的试剂容器104内沉淀的磁性颗粒进行搅拌的搅拌动作。而且,该清洗机构W2包括能够设置用于测定清洗情况的测定器SS的测定器设置部BX2。该测定器设置部BX1中,能自由插入和拆卸地设置测定器SS,并能安装使用从其他测定器设置部拆下的测定器SS。另外,搅拌桨驱动机构112构成为也能够利用未图示出的上下移动机构进行上下移动。
图4是说明反应液吸引机构116的结构的概要的简要俯视图。由于两个反应液吸引机构116a、116b具有相同的结构,因此图4仅示出了其中的一个。该试剂吸引机构116包括旋转轴AX3、以旋转轴AX3为中心旋转的轴SF3、以及安装到轴SF3的前端的喷嘴(未图示出)。由反应液吸引机构116从反应容器107吸引到的反应液经由反应液吸引流路被输送到检测机构115。清洗机构W3被配置在喷嘴的通过位置。通过使轴SF3以旋转轴AX3为中心旋转,从而在清洗机构W3中清洗喷嘴。
清洗机构W3包括能够设置用于测定清洗的情况的测定器SS的测定器设置部BX3。该测定器设置部BX1中,能自由插入和拆卸地设置测定器SS,并能安装使用从其他测定器设置部拆下的测定器SS。另外,反应液吸引机构116构成为也能够利用未图示出的上下移动机构进行上下移动。
图5是说明样品分注机构117的结构的概要的简要俯视图。该样品分注机构117包括旋转轴AX4、以旋转轴AX4为中心旋转的轴SF4、以及安装到轴SF4的前端的喷嘴(图5中未图示出)。清洗机构W4配置在喷嘴的通过位置,并对样品分注动作完成后的喷嘴进行清洗。通过使轴SF4以旋转轴AX4为中心旋转,从而重复进行清洗机构W4的清洗动作、从检体容器101内吸引样品的动作、以及将样品排出到设置在培养箱108上的反应容器107的动作。在某个样品的分注结束后,为了防止在分注下一个样品时由于前一个样品的混入而引起的污染,清洗机构W4实施清洗动作。
清洗机构W4包括能够设置用于测定清洗的情况的测定器SS的测定器设置部BX4。该测定器设置部BX4中,能自由插入和拆卸地设置测定器SS,并能安装使用从其他测定器设置部拆下的测定器SS。
图6是说明BF分离机构118的结构的概要的简要俯视图。该BF分离机构118包括旋转轴AX5、以旋转轴AX5为中心旋转的轴SF5、以及安装到轴SF5的前端的喷嘴(图6中未图示出)。
清洗机构W5配置在喷嘴的通过位置,并对BF分离动作完成后的喷嘴进行清洗。清洗机构W5包括能够设置用于测定清洗的情况的测定器SS的测定器设置部BX5。该测定器设置部BX5中,能自由插入和拆卸地设置测定器SS,并能安装使用从其他测定器设置部拆下的测定器SS。
虽然在图2至图6中说明了各种喷嘴和桨以旋转轴为中心旋转的结构,但不限于此,可以采用使喷嘴和桨沿正交的三轴方向移动的三轴驱动机构。另外,可以采用反应液吸引机构116固定,取而代之反应容器107通过未图示出的致动器移动到反应液吸引机构116一侧的结构。
如图2至图6所示,在该实施方式1中,测定器设置部BX1至5配置在多个处理部(例如,试剂分注机构110、搅拌桨驱动机构112、反应液吸引机构116、样品分注机构117和BF分离机构118)中的每一个中,并且可以设置测定器SS(摄像头等)。测定器SS在检查各处理部的动作时,只要设置在规定的测定器设置部即可,检查结束后可以拆下并移动到其他的测定器设置部。因此,根据该实施方式1,能够在多个处理部之间共用一个测定器SS,能够减少测定器SS的数量。这与降低装置的制造成本有关。
参照图7和图8说明清洗机构W1至W5、以及测定器设置部BX1至BX5的具体的结构例。图7是说明试剂分注机构110所具备的清洗机构W1和测定器设置部BX1的结构的简要立体图。另外,由于清洗机构W1至W5的结构可以均大致相同,测定器设置部BX1至BX5的结构也可以均大致相同,因此以下仅参照附图说明清洗机构W1及测定器设置部的结构。
如上所述,试剂分注机构110包括旋转轴AX1、轴SF1和喷嘴NZ1,旋转轴AX1通过致动器MT1的驱动力进行旋转和上下移动。
清洗机构W1主要由有纯水等清洗液流动的流路FP1、调整流路FP1的水量的水量调整阀V1、通过来自控制部11的控制进行流路的开闭的电磁阀EV1、接收排出的清洗液的清洗槽606、以及对清洗液进行废液的废液管607构成。另外,如果是具备致动器的水量调整阀V1,则也可以通过控制部11调整开闭量和水量。传感器窗703被设置在清洗槽606的一个侧面上,并且上述测定器SS被配置在该传感器窗703上。传感器窗703可以由例如丙烯酸板等构成。
测定器设置部BX1与清洗机构W1相邻配置,并具有由装置盖706覆盖的结构。作为一个示例,测定器设置部BX1包括测定器收纳部701、锁定机构702、测定器传感器704以及识别标签705。
测定器收纳部701是其内部设置有测定器SS的壳体,并且能够通过未图示出的调整机构来调整其设置位置。锁定机构702是用于固定设置在测定器收纳部701的内部的测定器SS的机构。测定器传感器704是用于检测测定器SS是否被设置在测定器收纳部701中的传感器。只要能够检测到测定器的SS的存在,那么测定器传感器704的检测方法并无限制,例如,可以采用压力传感器、光学传感器、霍尔传感器、重量传感器、光学传感器、接近传感器等作为测定器传感器704。出于从位于自动分析装置100上的多个测定器设置部BX1至BX5容易地识别期望的测定器设置部的目的而设置识别标签705。可以设置LED灯来代替识别标签705,控制部11进行指示以使期望的测定器设置部的LED灯闪烁。
当测定器SS是摄像头时,能经由传感器窗703测定或拍摄清洗槽606的内部和背景图像板800的图像。可以使背景图像板800的背景图像作为背景来拍摄清洗槽606内部的图像。另外,在使摄像头与外部装置通过有线进行连接的情况下,也可以在测定器设置部BX1中设置连接器或端子。
背景图像板800包括用于校正测定器SS的设置位置并且调整喷嘴等的位置的定位标记801、以及包含制造编号和调整位置等装置信息的机器可读文本802(例如,一维码或二维码)。在自动分析装置100上设置多个测定器设置部BX1至BX5,并且在各个测定器设置部BX1至BX5中准备不同的调整基准。因此,用户可能会错误地将测定器SS设置在其他测定器设置部,通过后述的自动调整工具,使用不同的调整基准进行调整。因此,通过读取机器可读文本802,控制部11确认测定器SS被正确地设置在期望的测定器设置部中。当使用包括装置信息的RFID等近距离无线技术代替测定器传感器704时,不需要背景图像的机器可读文本802。
在测定器SS是摄像头的情况下,摄像头可以包括透镜、图像传感器(图像元件)、控制它们的控制部以及通信单元。能通过有线或无线连接,与自动分析装置100的控制部11或外部控制部15进行连接,将由摄像头拍摄到的图像传送到外部。另外,摄像头可以使用智能手机或数码相机等具有透镜和摄像元件的通用的电子终端。另外,测定器SS可以是CCD摄像头、红外线摄像头等代替通用摄像头。另外,测定器SS可以不是摄像头,而是光传感器、线性图像传感器等。也可以采用可测定长度的测定器来代替摄像头。另外,在测定器SS为摄像头的情况下,其图像传感器(例如CCD)优选具有0.1mm左右的调整精度。如果y轴方向的视野大小为30mm左右,则能根据下述式1计算出调整精度。
(式1)像素分辨率=Y方向视野大小(mm)÷CCD的y方向像素数
由于通用的CCD为31万像素(Y=480像素)左右,所以像素分辨率为0.0625mm/像素,能充分得到0.1mm左右的调整精度。另外,如果CCD为31万像素以上,则能进一步提高调整精度。
图8中示出在图7的结构中,使用作为安装在测定器设置部BX1上的测定器SS的摄像头,拍摄了清洗槽606及背景图像板800的情况下的图像的一例。摄像头能同时拍摄试剂分注机构110的喷嘴NZ1、背景图像板800的定位标记801和机器可读文本802。通过在图像中掌握定位标记801和喷嘴NZ1之间的位置关系,能掌握喷嘴NZ1是否位于适当位置。此外,能通过排出的清洗液(803)的图像来判断清洗液是否正从流路FP1朝向喷嘴NZ1适当地排出。
图9示出了当向喷嘴NZ1排出具有适当的(与设计值一致)水量的清洗液(803)时,显示在显示部13上的图像的一例。在图9中,根据清洗液(803)相对于喷嘴NZ1的相对位置以及其图像的形状,判断所有清洗液(803)朝向喷嘴NZ1排出。此后,将清洗液(803)相对于喷嘴NZ1的相对位置、从图像判断的清洗液的液量、以及其他图像的形状和特征量等物理量的基准设为“预先确定的基准”。
另一方面,图10示出清洗液(803)的水量与设计值相比过小时的图像的一例。在图10中,获得了清洗液(803)的一部分没有到达试剂分注机构110的喷嘴NZ1,而是向下方落下的情况的图像。此时,能判断为清洗液与设计值相比过小。在这种情况下,无法充分清洗喷嘴NZ1,可能会发生试剂容器之间的试剂带入(转移),导致分析性能下降。
图11示出清洗液(803)的水量与设计值相比过量时的图像的一例。图11中,由于清洗液水量过量,导致排出角度偏移,清洗液未正确命中喷嘴NZ110。这种情况下,清洗液被无谓地浪费,到试剂容器的清洗水量的带入量增加,试剂容器内的试剂可能被稀释。
这样,根据实施方式1的结构,通过在测定器设置部BX1上设置测定器SS(例如摄像头),能够测定清洗机构W1中的清洗情况,判断是否适合清洗。由于测定器SS能依次插入多个测定器设置部BX1至BX5中使用,因此多个清洗机构W1至W5中能共用一个测定器SS,由此能降低装置的制造成本。并且,还具有通过使用测定器的调整作业来提高精度、抑制装置和调整作业者的调整偏差、缩短调整时间等效果。
图12是在分别具备测定器设置部201的多个清洗机构W1至W5中,依次设置(移动)测定器SS,测定/调整多个清洗机构W1至W5中的清洗水量的动作的流程图。根据存储在存储部14中的用于自动调整清洗机构W1至W5的动作的自动调整工具来执行该流程图中的动作。
首先,用户经由输入部12输入使存储部14中保存的自动调整工具启动的指令(步骤S100)。自动分析装置100将执行通常测定动作的测定执行工具、确认各机构的动作的测试工具、执行维护动作的维护工具等各种软件保存在存储部14中。自动调整工具是用于执行以下步骤S101至S119的工具,并且可以集成到系统软件中,可以集成到安装在外部控制部11中的调整用软件中,或者可以是单独的软件。
当自动调整工具启动时,用户从输入部12选择作为调整对象的清洗机构W1至W5。另外,控制部11计算调整位置(n处),并将其计算结果保存在存储部14中(步骤S101)。
接着,控制部11指示用户将测定器SS设置在规定的测定器设置部BX1上(步骤S102)。例如,可以在显示部13上显示图13所示的引导画面(后述详细情况),指示应设置测定器SS的测定器设置部的位置。用户根据该指示将测定器SS安装到规定的测定器设置部BX1。
此时,为了防止测定器SS安装在错误的位置,控制部11从背景图像板800读取机器可读文本802,确认应安装测定器SS的位置(步骤S103)。另外,在测定器设置部BX1与测定器SS通过RFID等近距离无线通信或连接器连接的情况下,控制部11能够经由该近距离无线通信或连接器读取测定器设置部BX1的信息。
接着,控制部11判断在步骤S103中读取的安装位置的信息与在自动调整工具上的安装位置是否一致(步骤S104)。另外,在测定器SS被设置在未预定的测定器设置部BX1上的情况下,或者在无法读取机器可读文本802的情况下,控制部11向显示部13输出警报(步骤S105)。
在确认测定器SS被设置在规定位置时(步骤S104为“是”),控制部11打开电磁阀EV1,并实施将清洗液从流路FP朝向喷嘴NZ1排出的清洗工序(步骤S106)。然后,测定器SS(摄像头)测定或拍摄清洗过程,将测定结果或图像存储在存储部14中(步骤S107)。
接着,控制部11根据测定结果或拍摄到的图像,判断来自清洗机构W1的清洗液的水量是否在“预先确定的基准”的范围内(步骤S108)。此时,能基于背景图像板800的定位标记801的位置来校正测定器SS的设置位置的误差。步骤S108的判定方法可以是使用了与存储部14中保存的作为“预先确定的基准”的图像进行比较的图像处理的方法,也可以是计算试剂分注机构110与清洗液接触的距离等特征量,判定是否为“预先确定的基准”的方法。另外,可以将拍摄图像显示在显示部13上,并且用户可以通过目视进行判断。
当在步骤S108中判断为清洗机构W1的清洗水量在预先确定的基准的范围外时(步骤S108为否),将警报输出到显示部13(步骤S109)。之后,判定清洗水量是过量还是过小(步骤S110)。如果清洗水量过小,则控制部11显示指示用户打开水量调整阀V1的指示画面(步骤S111)。指示画面可以是后述的图14那样的画面。另一方面,在判断为清洗水量过剩的情况下,控制部11显示促使用户关闭水量调整阀V1的画面(步骤S112)。另外,如果水量调整阀V1是电动式,并且组装有控制部11的反馈控制的装置结构,则也可以自动变更步骤S111或步骤S112的开闭度的调整动作(变更清洗部的动作)。控制部11重复步骤S106~S112,直到清洗机构W1的清洗水量在规定范围内为止。
当控制部11判断为清洗机构W1已被调整为排出适当水量的清洗水(步骤S108为“是”)时,在显示部13上显示促使从测定器设置部BX1拆下测定器SS的显示(步骤S113)。然后,控制部11判断调整实施次数i是否小于规定次数n(步骤S114)。若调整实施次数i达到n,则转移到步骤S116。如果没有达到n,则控制部11对调整实施次数i加1,更新调整实施次数i(步骤S115)。
控制部11在步骤S116中,利用测定器SS拍摄测定器设置部BX1的图像(步骤S116),基于拍摄到的图像,确认测定器SS是否已从测定器设置部BX1拆下。在测定器SS被遗忘在测定器设置部BX1中的状态下开始自动分析装置100的测定动作的情况下,可能导致探针等的损坏或自动分析装置100的部件的损坏。确认在步骤S116中拍摄到的图像,确认图像中是否包含背景图像板800等(步骤S117)。在步骤S116中,可以代替测定器SS的拍摄图像或者除了测定器SS的拍摄图像之外,通过测定器传感器704来确认测定器SS是否留在测定器设置部BX1中。在测定器设置部BX1中留有测定器SS的情况下,控制部11输出警报,指示用户拆下摄像头(步骤S118)。
在实施了规定次数清洗机构的调整时,控制部11基于保存在存储部14中的拍摄图像和装置信息,生成后述的调整完成报告910A(图15),并将其输出到显示部13(步骤S119)。若调整完成报告910A的输出完成,则结束自动调整工具(步骤S120)。
图13是在步骤S102中显示在显示部13上的引导图900的一例。引导图900可以包括表示装置的整体图的整体图901、标明调整位置的指示图902、以文本形式示出与对用户的指示相关的具体或附带信息的备注栏903、在停止调整作业时被点击的取消按钮904、以及在前进到下一动作时被点击的下一个按钮905。
图14是能在步骤S111中显示的指示画面910的一例。作为一例,图14的画面包括:显示调整位置、调整者信息、调整日期和时间、装置编号等信息的信息显示栏911、测定器SS在调整时拍摄的调整图像912、调整结果的判定显示栏913、在需要再次由用户进行调整时显示具体的指示的特殊记录事项栏914、确认内容并前进到下一步的按钮915。
图15示出调整完成报告910A的画面(步骤S119)的一例。调整完成报告910A的画面除了包括图14的指示画面910的显示内容之外,还包括切换按钮916,该切换按钮916切换并显示装置上的所有调整位置。
(实施方式1的第一变形例)
图16示出实施方式1的第1变形例的图。该第一变形例包括用于打开和关闭清洗槽606的废液管607的第二电磁阀EV2。通过关闭第二电磁阀EV2,在清洗槽606中储存一定量从流路FP1排出的清洗液,并且用储存的清洗液清洗试剂分注机构110等。在该第1变形例的情况下,在图12的S108中,通过测定器SS,确认喷嘴NZ1是否充分到达储存在清洗槽606中的清洗液,从而能够判断清洗动作的适当性。
图17中示出实施方式1的第2变形例。该第二变形例与上述实施方式的不同之处在于,流路FP1′具有连接到清洗槽606的下部的结构。采用清洗液的流入量超过来自废液管607的废液量的结构,并且与第一变形例同样地,通过将试剂分注机构的喷嘴NZ1插入存储在清洗槽606中的清洗液来实施清洗。
图18中示出实施方式1的第3变形例。在该第三变形例中,可以在清洗槽606的上部具备测定器设置部BX1a,可以将测定器SS、例如静电电容传感器SSsc悬挂在该测定器设置部BX1上。与第一变形例同样地,通过存储在清洗槽606中的清洗液来实施清洗槽606的清洗。因此,静电电容传感器SSsc只要能够测定清洗槽606内部的水位即可,无需是摄像头。可以采用非接触式超声波传感器和光学传感器代替静电电容传感器作为测定器SS。
【实施方式2】
接下来,参照图19说明实施方式2的自动分析装置100。实施方式2的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)基本相同,因此省略重复的说明。与实施方式1的不同点在于,在样品分注机构117中设置测定器设置部BX,并且通过测定器SS测定或拍摄分注动作。
在实施方式1及其变形例中,测定器设置部BX设置在清洗机构W1至W5附近。与此相对,在实施方式2中,除了清洗机构W1至W5之外,测定器设置部BX还被设置在进行样品分注机构117的吸引和排出的位置附近。
图19是示出实施方式2的样品分注机构117附近的结构的简要俯视图。在该图19的示例中,除了(或代替)测定器设置部BX41被设置在清洗机构W4附近,测定器设置部BX42、BX43还被分别设置在样品分注机构117的检体容器支架102的检体吸引位置210附近和培养箱108的检体排出位置211附近。
为了吸引和排出准确的液体量,自动分析装置100的各种处理部的喷嘴(例如,样品分注机构117、试剂分注机构110的喷嘴)的位置需要相对于反应容器107和试剂容器104以0.1m为单位正确地调整。若考虑到各种部件的公差,则在制造时或更换部件时,需要对于各种喷嘴的吸引或排出位置进行xyz轴方向上的位置调整。另外,由于自动分析装置的历时变化等,吸引位置和排出位置有可能发生变化。
根据该实施方式2,除了清洗机构W1至W5之外(或代替),测定器设置部BX42、BX43还被设置在样品分注机构117的喷嘴的液体吸引位置和液体排出位置,从而能监视喷嘴的吸引动作和排出动作。另外,用于该监视的测定器SS可以在多个处理部之间共用,从而能降低装置的制造成本。
图20中示出测定器设置部BX42的具体结构例(剖视图)。在该图20的示例中,测定器设置部BX42被设置在样品分注机构117的喷嘴NZ4的样品吸引位置210。通过将测定器SS插入测定器设置部BX42中,并拍摄背景图像板800,从而调整吸引样品时的喷嘴NZ4的位置。背景图像板800的位置不限于特定的位置,但是优选支架传送线103的底面与背景图像板800的下边大致一致。
图21是通过插入测定器设置部BX42中的测定器SS对检体容器101等进行拍摄而获得的图像的一例。为了调整喷嘴NZ4的位置,可以参照背景图像板800中的定位标记来计算检体容器101的壁面与喷嘴Nz4之间的x轴方向上的距离a、检体容器101的壁面与喷嘴Nz4之间的y轴方向上的距离b(未图示出)、以及喷嘴Nz4的前端与检体容器101的底面之间的z轴方向上的距离c。另外,存储部14也可以将各个距离a、距离b、距离c等表示装置的基准面与棒状构件的距离的物理量存储作为“预先确定的基准”。
这里,装置的基准面是检体容器101的底面和侧面。
【实施方式3】
接下来,参照图22说明实施方式3的自动分析装置100。实施方式3的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。实施方式1与实施方式3的不同点与实施方式2相同,是设置有测定器设置部BX的位置。然而,该实施方式3涉及试剂分注机构110。
图22是说明实施方式3的样品分注机构110附近的结构的简要俯视图。在该图22的示例中,除了(或代替)测定器设置部BX41被设置在清洗机构W4附近,测定器设置部BX42、BX43还被分别设置在样品分注机构110的试剂盘106的试剂吸引位置310附近和培养箱108的试剂排出位置311附近。未图示出的传感器窗被设置在试剂盘106的试剂吸引位置附近的侧面上,经由该传感器窗,配置在测定器设置部BX43中的测定器SS能测定或观察试剂盘106的内部。同样地,未图示出的传感器窗被设置在培养箱108的试剂排出位置附近的侧面上,经由该传感器窗,配置在测定器设置部BX12中的测定器SS能测定或观察培养箱108的内部。
根据该实施方式3,除了清洗机构W1至W5之外(或代替),测定器设置部BX还被设置在样品分注机构110的喷嘴的液体吸引位置和液体排出位置,从而能监视喷嘴的吸引和排出动作。另外,用于该监视的测定器SS可以在多个处理部之间共用,从而能降低装置的制造成本。
【实施方式4】
接下来,参照图23说明实施方式4的自动分析装置100。实施方式4的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。实施方式1与实施方式4的不同点与实施方式2和实施方式3相同,是设置有测定器设置部BX的位置。然而,该实施方式4涉及搅拌桨驱动机构112。
图23是说明实施方式4的搅拌桨驱动机构112附近的结构的简要俯视图。在该图23的示例中,除了(或代替)测定器设置部BX2设置在用于搅拌桨驱动机构112的清洗机构W2附近,测定器设置部BX21还设置在搅拌桨驱动机构112的搅拌位置410附近。
根据该实施方式4,除了清洗机构W1至W5之外(或代替),测定器设置部BX还设置在搅拌桨驱动机构112的搅拌位置,从而能监视搅拌动作。另外,用于该监视的测定器SS可以在多个处理部之间共用,从而能降低装置的制造成本。
【实施方式5】
接下来,参照图24说明实施方式5的自动分析装置100。实施方式5的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。实施方式1与实施方式5的不同点与实施方式2至实施方式4相同,是设置有测定器设置部BX的位置。然而,该实施方式5涉及反应液吸引机构116。
图24是说明实施方式5的反应液吸引机构116附近的结构的简要俯视图。在该图24的示例中,除了(或代替)将测定器设置部BX31设置在用于反应液吸引机构116的清洗机构W3附近,还将测定器设置部BX31设置在反应液吸引机构116的培养箱108的吸引位置510附近。
根据该实施方式5,除了清洗机构W1至W5之外(或代替),测定器设置部BX还被设置在反应液吸引机构116的喷嘴的反应液吸引位置,从而能监视喷嘴的吸引动作。另外,用于该监视的测定器SS可以在多个处理部之间共用,从而能降低装置的制造成本。
【实施方式6】
接下来,参照图25说明实施方式6的自动分析装置100。实施方式6的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。与实施方式1的不同点在于测定器设置部BX被设置在样品分注机构117中的位置。实施方式6与实施方式2的相同之处在于,测定器设置部BX也被设置在进行样品分注机构117的吸引和排出的位置附近。然而,在该实施方式6中,除了能够从横向测定或拍摄检体容器101的测定器设置部BX42之外,还设置有能够从检体容器101上方测定或拍摄检体容器101的测定器设置部BX4u。设置在测定器设置部BX42中的测定器SS对配置在检体容器支架102的侧部的背景图像板800A进行拍摄,设置在测定器设置部BX4u中的测定器SS对配置在检体容器支架102的底面侧的背景图像板800B进行拍摄。
图26是通过插入测定器设置部BX4u中的测定器SS从上方对检体容器101等进行拍摄而获得的图像的一例。为了调整喷嘴Nz的位置,能参照背景图像板800B的定位标记来计算检体容器101的壁面和喷嘴Nz4之间的x轴方向上的距离a、检体容器101的壁面和喷嘴Nz4之间的y轴方向上的距离b。
【实施方式7】
接下来,参照图27说明实施方式7的自动分析装置100。实施方式7的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。该实施方式7的特征在于样品分注机构117中的测定器设置部BX4的结构,并且在这一点上与实施方式6(图20)相同。
如图27所示,在该实施方式7中,样品分注机构117包括用于调整测定器(摄像头)的高度的测定器收纳部701、用于变更测定器SS的光路的光学元件220(例如,反射镜、棱镜、光导等)、以及用于固定光学元件220的光学元件安装部221,作为测定器设置部BX4。通过设置测定器收纳部701,可以将测定器SS保持在高于检体容器101的位置。此外,通过设置光学元件220,能从位于较高位置的测定器SS观察检体容器101。根据该结构,即使在样品分注机构117附近没有设置测定器设置部的地方的情况下,也能拍摄检体容器101。
【实施方式8】
接下来,参照图28和图29说明实施方式8的自动分析装置100。实施方式8的自动分析装置100的整体结构与实施方式1(图1)大致相同,因此省略重复的说明。该实施方式8与实施方式3的相同之处在于,构成为测定或拍摄试剂分注机构110中的试剂分注动作。然而,在该实施方式8中,可以将用于测定或拍摄从试剂盘106吸引试剂的试剂吸引动作的测定器SS插入试剂盘106的试剂容器收纳部中。也就是说,在该实施方式8中,试剂容器收纳部兼作上述的测定器设置部。
为了进行比较,图28中说明了一般的试剂盘106的截面结构。为了测定多个测定项目,自动分析装置100通常在试剂盘106内具有多个试剂容器(104a、104b……)和多个试剂容器收纳部(126a、126b……),并且具有能够将试剂容器和试剂容器收纳部移动到试剂分注位置的结构。
如实施方式3(图22)所示,将传感器窗设置在试剂盘106的外周上,并且能经由该传感器窗将测定器配置在试剂盘106的外周上,从而能监视试剂的吸引动作。然而,试剂盘106的外周通常覆盖有较厚的隔热材料。因此,有时难以经由传感器窗3将测定器SS配置在试剂盘106的侧面。
图29中示出了实施方式8中的试剂盘106的截面结构。在实施方式8中,在试剂盘106内的试剂容器收纳部之一(例如,126b)准备测定器设置部BX1。也就是说,试剂容器收纳部126b还用作测定器设置部BX1。
传感器窗703被设置在兼用作测定器设置部BX1的试剂容器收纳部126b和作为测定对象的试剂容器收纳部126a之间。另外,在与测定器设置部BX1相反一侧的侧面,设置有与上述实施方式相同的背景图像板800。此外,在试剂容器收纳部126b的下方设置有与上述实施例相同的测定器传感器704。
[实施方式2至实施方式8的动作]
图30是在实施方式2至实施方式8中,在分注机构110、搅拌桨驱动机构112、反应液吸引机构116(116a和116b)、样品分注机构117、BF分离机构118等中进行各种喷嘴和用于搅拌的桨等棒状构件的位置的调整的动作时的流程图(在图30中,将喷嘴作为控制对象来进行说明)。根据保存在存储部14中的自动调整工具执行该流程图的动作。
图30的步骤S100至S105与实施方式1相同,因此省略重复的说明。在确认到测定器SS被设置在规定位置(步骤S104为是)时,控制部11将喷嘴移动到规定的吸引/排出位置(步骤S201)。
当喷嘴移动到规定的吸引/排出位置时,通过测定器SS拍摄该喷嘴和背景图像板800(步骤S202)。控制部11从背景图像板800判断拍摄图像是否沿着x轴方向和z轴方向(步骤S203)。如果步骤S203中的判断为肯定的(是),则控制部11计算该喷嘴的位置,判断喷嘴的位置在x轴方向和z轴方向上是否在“预先确定的基准”的范围内(步骤S204)。
当x轴方向的位置不在“预先确定的基准”的范围内时(否),控制部11将从式2计算出的调整脉冲数与赋予给在存储部14中保存的喷嘴的驱动机构的步进电机的动作脉冲的初始参数相加,调整喷嘴的x轴方向的位置。以相同方式对z轴方向执行调整(步骤S205)。
(式2)(调整脉冲数pulse)={(设计值a1 mm)-(由测定器SS观察到的x轴的距离amm)}}÷每一脉冲的驱动(mm/pulse)
接下来,控制部11判断拍摄图像是否是沿x轴和y轴的图像(步骤S206)。如果判断为肯定(是),则与步骤S205相同地变更y轴的动作脉冲(步骤S208)。
若xyz轴的全部调整完成,则控制部11将喷嘴移动至初始位置,并发出从测定器设置部201拆下测定器SS的指示(步骤S209)。接着,当调整实施次数i的数量为规定数n以下时,对调整实施次数i追加1。重复S201~S209,直到调整实施次数i变为n次为止。
如果调整实施次数i为n次(步骤S210为“是”),则执行与图12所记载的处理相同的S116~S120,并结束动作。图28所示的流程图可以与实施方式1的图12的清洗机构W1至W5的调整流程图组合。
此外,本发明并不局限于上述实施例,也包含各种变形例。例如,上述的实施例是为了便于理解本发明而进行的详细说明,并不限于必须要具备所说明的所有结构。此外,能够将某实施例的结构的一部分替换成其他实施例的结构,此外也能将其他实施例的结构添加至某实施例的结构上。此外,关于各实施例的结构的一部分,也可以进行其它结构的追加、删除、替换。
标号说明
100…自动分析装置、100A…主体部、11…控制部、12…输入部、13…显示部、14…存储部、15…外部控制部、101…检体容器、102…检体容器支架、103…支架传送线、104…试剂容器、105…试剂盘盖、106…试剂盘、107…反应容器、108…培养箱、W1~W5…清洗机构、110…试剂分注机构、112…搅拌桨驱动机构、115…检测机构、116…反应液吸引机构、117…样品分注机构、BX1~5…测定器设置部、SF1~5…轴、AX1~5…旋转轴、SS…测定器。
Claims (14)
1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
多个处理部,该多个处理部执行与分析有关的动作;
多个测定器设置部,该多个测定器设置部配置于所述多个处理部中的每一个且构成为能够设置对所述多个处理部的动作进行测定的测定器;以及
控制部,该控制部控制所述多个处理部,
所述多个测定器设置部中的每一个构成为可拆下所述测定器,并且构成为可将拆下的所述测定器设置在其它的测定器设置部上。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
包括显示部,该显示部用于显示由所述测定器获得的所述动作的测定结果。
3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部基于所述测定结果,判断所述动作是否在预先确定的基准内。
4.如权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,
所述控制部基于判断所述动作是否在预先确定的基准内的结果,来变更所述处理部的动作。
5.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述处理部具有与液体接触的棒状构件。
6.如权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
所述测定器设置部配置成使得所述测定器能够测定所述棒状构件的停止位置。
7.如权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
所述多个处理部包括用于清洗所述棒状构件的清洗机构,
所述测定器测定所述清洗机构中的清洗液。
8.如权利要求6所述的自动分析装置,其特征在于,
所述测定器测量所述棒状构件的停止位置与所述自动分析装置的基准面之间的距离。
9.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述测定器具有透镜和图像元件,并且能够对所述动作进行拍摄。
10.如权利要求7所述的自动分析装置,其特征在于,
所述测定器测定所述清洗机构的清洗液的液量。
11.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
包括识别标签,该识别标签用于识别所述多个测定器设置部。
12.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
包括显示部,该显示部从所述多个测定器设置部中显示应设置所述测定器的测定器设置部。
13.如权利要求9所述的自动分析装置,其特征在于,
包括背景图像板,该背景图像板夹着所述透镜的拍摄对象,配置在该透镜的相反侧。
14.如权利要求13所述的自动分析装置,其特征在于,
所述背景图像板是定位标记或机器可读文本。
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