CN114839224B - 涂布质量的检测方法、检测装置、检测系统及储存介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及涂布技术领域，具体公开了一种涂布质量的检测方法。本申请的检测方法包括以下步骤：检测膜片上的涂布区域，以获得毫米波数据；获取涂布区域的两侧的边缘零线，根据两侧的边缘零线设定涂布区域的主体区，其中主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区；计算边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值；根据边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值计算二者间的第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常；和/或，计算主体区的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。本申请的检测方法能够保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

Description

涂布质量的检测方法、检测装置、检测系统及储存介质

技术领域

本申请涉及涂布技术领域，具体公开了一种涂布质量的检测方法、检测装置、检测系统及储存介质。

背景技术

目前随着环境问题的日益突出，人们开始积极倡导低碳经济。新能源汽车随着越来越严重的空气质量而兴起。广大生产商和消费者也开始逐步认可混合动力汽车和纯电动汽车作为代表的新能源汽车。动力电池作为新能源汽车的主要动力源，已成为电动汽车的核心部件之一。

涂布工艺是动力电池的电芯的制造关键工序，涂布质量与电池容量、寿命、安全性等密切相关，目前电池制造领域涂布工艺主要靠人工进行质量控制和调节，控制精度不高、调节速度缓慢、生产效率低下，造成大量物料浪费，增加大量人工成本，严重影响企业利润。另外，对于涂布过程相关缺陷，完全凭经验及操作人员主观感受进行判断，这也是导致生产效率低下原因之一。

发明内容

鉴于现有技术存在的缺陷，本申请提供了一种涂布质量的检测方法，能够有效地解决涂布质量检测效果差以及检测效率低的技术问题。

第一方面，本申请提供了一种涂布质量的检测方法，用于对涂布后的膜片进行质量检测，包括以下步骤：

检测膜片上的涂布区域，以获得毫米波数据；

获取涂布区域的两侧的边缘零线，根据两侧的边缘零线设定涂布区域的主体区，其中主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区；

计算边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值；

根据边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值计算二者间的第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常；

和/或，计算主体区的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

本申请的技术方案中，通过对边缘区的重量平均值和中心区的重量平均值间的第一极差值a进行计算，和/或，对主体区的重量极差值b进行计算，并将计算结果与设定值相比较，能够快速准确有效地反应膜片表面的涂布质量、判断膜片表面涂布是否异常，从而防止涂布异常的膜片的流出，进而避免影响后续的极片的生产过程，保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

在本申请的一些实施方式中，所述获取膜片上涂布区域的两侧的边缘零线的步骤中包括：

根据涂布区域上任一点的重量值跃迁至重量设定值，设定所述任一点为涂布区域的边缘零点；

根据涂布区域上的同一侧的多个边缘零点确定边缘零线，其中，同一侧的多个边缘零点共同设于一侧的边缘零线上。在涂布过程中，膜片涂布区域的两侧的涂布重量值由无跃迁至某一个数量值，从而表示膜片表面涂布有材料层。重量值开始跃迁的点即为边缘零点，而多个边缘零点共同所在的直线则为涂布区域的边缘零线，两侧的边缘零线之间所形成的区域为构成膜片的涂布区域。通过确定边缘零线，可以对涂布区域的有效面积进行准确的限定，从而对膜片表面的涂布质量进行有效地检测。

在本申请的一些实施方式中，将重量设定值设定为250mg。通过将重量设定值设定为250mg，能够保证电池具有足够的容量，而重量值未达到250mg区域，则表面未涂布有材料层，不能够用于后期切割成极片，因此将重量值未达到250mg区域排除至涂布质量的检测区域外。

在本申请的一些实施方式中，设定两侧的边缘零线的中间位置为中心线，将中心线分别朝向两侧的边缘零线平移长度L1形成的区域为中心区，且0＜L1≤5mm。即中心区在涂布区域的最大宽度尺寸为10mm，从而保证设定后的中心区的涂布的均匀性。

在本申请的一些实施方式中，将主体区两侧的边界线分别朝向膜片的中心方向平移长度L2所形成的区域为边缘区，且0≤L2≤10mm。通过设置边缘区的范围，并通过计算边缘区的重量平均值以及第一极差值a，并与设定值相比较，能够有效地对涂布区域是否发生翘边和/或厚边的现象进行判定。

在本申请的一些实施方式中，将两侧的边缘零线分别朝向膜片的中心方向平移长度L3以形成削薄区，其中，削薄区与主体区相邻设置，且0≤L3≤10mm。通过设置削薄区的范围，可以对涂布区域的主体区进行限定，从而通过对主体区进行分析计算，判断主体区是否发生涂布异常。

在本申请的一些实施方式中，将两侧的边缘零线间去除削薄区的剩余区域设定为主体区。通过两侧的边缘零线间的构成涂布区域去除削薄区，从而剩余的区域形成主体区，并通过对主体区的重量极差值b进行计算和对比，从而判定膜片表面的涂布质量。

在本申请的一些实施方式中，将第一设定极差值A设定为5.5mg，和/或，将第二设定极差值B设定为8mg。通过将第一设定极差值A设定为5.5mg，并使边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值二者间的第一极差值a小于等于5.5mg，能够有效地保证电芯的安全要求。通过使主体区的重量极差值b小于等于8mg，可以有效防止涂布区域出现划痕和/或暗痕。

在本申请的一些实施方式中，所述根据a＞A判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在翘边和/或厚边。通过计算第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，可有效地判定膜片表面涂布是否存在翘边和/或厚边。

在本申请的一些实施方式中，根据b＞B判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在暗痕和/或划痕。通过计算主体区的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，可有效地判定膜片表面涂布是否存在暗痕和/或划痕。

在本申请的一些实施方式中，所述检测方法还包括以下步骤：

对涂布区域的毫米波数据进行差值运算。通过对涂布区域的毫米波数据进行差值运算，能够有效地对膜片的涂布区域的整体重量进行检测，进而确认膜片形成极片后构成的电池的容量。

在本申请的一些实施方式中，所述判定膜片表面涂布异常后还包括以下步骤：

报警提示，和/或，对表面涂布异常的膜片区域进行标识。通过对比后，判定膜片表面涂布异常，从而发出报警提示，提醒操作人员出现问题涂布区域。和/或，判定膜片表面涂布异常后，对表面涂布异常的膜片区域进行标识，以提醒下一工序的操作人员留意涂布异常的区域，防止继续对涂布异常的膜片区域进行再加工，避免资源浪费。

第二方面，本申请提供了一种涂布质量的检测装置，用于执行上述任意一项所述的涂布质量的检测方法，所述检测装置包括：

检测模块，用于检测膜片上涂布区域，以获得毫米波数据；

获取模块，用于获取涂布区域的两侧的边缘零线，并根据两侧的边缘零线设定涂布区域的主体区，其中，所述主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区；

计算模块，用于计算所述边缘区的重量平均值和所述中心区的重量平均值，并根据所述边缘区的重量平均值和所述中心区的重量平均值计算二者间的第一极差值a，以及用于计算所述主体区的重量极差值b；

判定模块，用于将所述第一极差值a与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常，和/或，用于将所述重量极差值b与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

在本申请的一些实施方式中，所述检测模块包括X射线面密度测量仪。

第三方面，本申请提供了一种涂布质量的检测系统，所述检测系统包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；

所述处理器执行所述计算机程序指令时实现上述任意一项所述的涂布质量的检测方法。

第四方面，本申请提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述任意一项所述的涂布质量的检测方法。

由于本申请的检测装置、检测系统和存储介质，均能够执行或实现上述的涂布质量的检测方法，因此具有与上述涂布质量的检测方法相同的技术效果，在此不再进行赘述。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本申请的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1是本申请一实施方式提供的涂布质量的检测方法的流程图；

图2是本申请一实施方式提供的涂布区域的分布结构示意图；

图3是本申请一实施方式提供的毫米波数据的数据分布图；

图4是本申请一实施方式提供的涂布质量的检测装置的框架结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请技术方案的实施方式进行详细的描述。以下实施方式仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。

需要注意的是，除非另有说明，本申请实施方式使用的技术术语或者科学术语应当为本申请实施方式所属领域技术人员所理解的通常意义。

在本申请实施方式的描述中，技术术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施方式和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施方式的限制。

此外，技术术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。在本申请实施方式的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请实施方式的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施方式中的具体含义。

在本申请实施方式的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

目前，从市场形势的发展来看，动力电池的应用越加广泛。动力电池不仅被应用于水力、火力、风力和太阳能电站等储能电源系统，而且还被广泛应用于电动自行车、电动摩托车、电动汽车等电动交通工具，以及军事装备和航空航天等多个领域。

本发明人注意到，在电池的生产过程中，极片的涂布质量与电池容量、寿命、安全性等密切相关，目前电池制造领域涂布工艺主要靠人工进行质量控制和调节，控制精度不高、调节速度缓慢、生产效率低下，造成大量物料浪费，增加大量人工成本，严重影响企业利润。另外，对于涂布过程相关缺陷，完全凭经验及操作人员主观感受进行判断，这也是导致生产效率低下原因之一。

为解决涂布质量检测效果差以及检测效率低的技术问题，申请人研究发现，通过将涂布区域划分成多个区域，并对划分后的区域进行重量极差值计算，或对不同区域间的重量极差值进行计算，并将计算结果与设定值相比较，能够快速准确有效地反应膜片表面的涂布质量，从而防止涂布异常的膜片的流出，进而避免影响后续的极片的生产过程，保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

基于以上考虑，发明人经过深入研究，设计了一种涂布质量的控制方法，通过将涂布区域设定为削薄区和主体区，其中，主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区，并对边缘区的重量平均值和中心区的重量平均值间的第一极差值a进行计算，和/或，对主体区的重量极差值b进行计算，并将计算结果与设定值相比较，能够快速准确有效地反应膜片表面的涂布质量、判断膜片表面涂布是否异常，从而防止涂布异常的膜片的流出，进而避免影响后续的极片的生产过程，保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

本申请提供一种涂布质量的检测方法、检测装置、检测系统及储存介质，该检测方法可用于阳极片的膜片涂布，也可用于阴极片的膜片涂布。涂布后的膜片可用于任何电池，例如电池模块和电池包，或者一次电池和二次电池，例如，二次电池包括锂离子电池、钠离子电池、锂硫电池、镁离子电池等。这种电池适用于各种使用电池的用电设备，例如手机、便携式设备、笔记本电脑、电瓶车、电动玩具、电动工具、电动车辆、船舶和航天器等，例如，航天器包括飞机、火箭、航天飞机和宇宙飞船等；电池用于为上述用电设备提供电能。

结合图1、图2和图3所示，图1是本申请一实施方式提供的涂布质量的检测方法的流程图；图2是本申请一实施方式提供的涂布区域的分布结构示意图；图3是本申请一实施方式提供的毫米波数据的数据分布图。第一方面，本申请提供了一种涂布质量的检测方法，用于对涂布后的膜片进行质量检测，包括以下步骤：

检测膜片上的涂布区域，以获得毫米波数据；

获取涂布区域的两侧的边缘零线K0，根据两侧的边缘零线K0设定涂布区域的主体区S1，其中主体区S1包括位于其中心的中心区S2以及位于其边缘的边缘区S3；

计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值；

根据边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值计算二者间的第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常；

和/或，计算主体区S1的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

具体地，极片通过涂布后的膜片切割而成，膜片的宽度尺寸大于成型后的极片的宽度尺寸，同一膜片的宽度尺寸为几个成型后的极片的宽度尺寸之和，在沿膜片的宽度方向进行切割，能够形成几个极片。因此，在同一膜片上进行涂布时，沿膜片的宽度方向间隔设有几条涂布线路，并在涂布后切割成几个极片。由于涂布方向沿膜片的长度方向进行，与宽度方向相垂直，因此，在涂布区域的宽度方向的两侧边缘会出现明显的重量跃迁，而出现重量跃迁前的区域并不能够用于制作成品后的极片，需要将此部分区域进行去除，无需对其表面质量进行分析，因此需获取涂布区域的两侧的边缘零线K0，并根据两侧的边缘零线K0设定涂布区域的主体区S1，其中主体区S1包括位于其中心的中心区S2以及位于其边缘的边缘区S3，并获取主体区S1、中心区S2和边缘区S3各自对应的毫米波数据。

完成对涂布区域的划分后，可通过两方面对膜片表面的涂布质量进行判定。其一，通过计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值，并根据计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值计算第一极差值a，并将第一极差值a与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常。其二，通过计算主体区S1的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。上述两种判定方式仅需满足a＞A或b＞B的其中一个，即可判定膜片表面涂布异常。

具体地，可根据图3中的毫米波数据，计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值，并根据边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值计算二者间的第一极差值a，以及计算主体区S1的重量极差值b。具体差值运算方法本领域的常规技术手段，在此不再进行赘述。

根据本申请的技术方案中，通过对边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值间的第一极差值a进行计算，和/或，对主体区S1的重量极差值b进行计算，并将计算结果与设定值相比较，能够快速准确有效地反应膜片表面的涂布质量，从而防止涂布异常的膜片的流出，进而避免影响后续的极片的生产过程，保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

在本申请的一些实施方式中，所述获取膜片上涂布区域的两侧的边缘零线的步骤中包括：

根据涂布区域上任一点的重量值跃迁至重量设定值，设定所述任一点为涂布区域的边缘零点；

根据涂布区域上的同一侧的多个边缘零点确定边缘零线K0，其中，同一侧的多个边缘零点共同设于一侧的边缘零线K0上。

具体地，可根据重量值跃迁的点获取边缘零线K0。当涂布区域上任一点的重量值跃迁至重量设定值，即可判断该点为涂布区域的边缘零点。边缘零点所在的直线即边缘零线K0。由于涂布方向沿膜片的长度方向直线运行，涂布区域上同一侧的边缘零点大致处于同一直线上，即同一侧的边缘零点共同设于一侧的边缘零线K0上，且边缘零线K0与涂布方向相平行，即膜片的长度方向。

在涂布过程中，膜片涂布区域的两侧的涂布重量值由无跃迁至某一个数量值，从而表示膜片表面涂布有材料层。重量值开始跃迁的点即为边缘零点，而多个边缘零点共同所在的直线则为涂布区域的边缘零线K0，两侧的边缘零线K0之间所形成的区域为构成膜片的涂布区域。通过确定边缘零线K0，可以对涂布区域的有效面积进行准确的限定，从而对膜片表面的涂布质量进行有效地检测。因此，在对膜片表面的涂布质量进行检测时，需首先确定膜片的涂布区域。

结合图2和图3所示，在本申请的一些实施方式中，将重量设定值设定为250mg。

具体地，在本申请的一些实施方式中，如图3所示，同一膜片上的宽度方向上间隔设有3列涂布区域。其中，图3中的横向坐标为膜片的宽度尺寸，单位为mm，纵向坐标为重量值，单位为mg。由图3中可以明显看出，在同一涂布区域的两侧边缘的重量值达到250mg时发生跃迁，因此定义250mg为重量值跃迁时的重量设定值。而两侧边缘的重量值达到250mg的点为边缘零点，边缘零点所在的直线为边缘零线K0。

通过将重量设定值设定为250mg，能够保证成型后的电池具有足够的容量，而重量值未达到250mg区域，则表面未涂布有材料层，不能够用于后期切割成极片，因此将重量值未达到250mg区域排除至涂布质量的检测区域外。

如图2所示，在本申请的一些实施方式中，设定两侧的边缘零线K0的中间位置为中心线K1，将中心线K1分别朝向两侧的边缘零线K0平移长度L1形成的区域为中心区S2，且0＜L1≤5mm。

具体地，中心线K1处于两侧边缘零线K0的中间位置，即涂布区域的中心位置。将中心线K1朝向两侧的边缘零线K0分别平移0-5mm，至第一边界线K2位置处，两条第一边界线K2间形成的区域即为涂布区域的中心区S2。

即中心区S2在涂布区域的最大宽度尺寸为10mm，从而保证设定后的中心区S2的涂布的均匀性。具体地，可将中心线K1朝向两侧的边缘零线K0分别平移5mm，从而最大限度的保证中心区S2的涂布的均匀性。

如图2所示，在本申请的一些实施方式中，将主体区S1两侧的边界线分别朝向膜片的中心方向平移长度L2所形成的区域为边缘区S3，且0≤L2≤10mm。

具体地，将第二边界线K3朝向膜片的中心方向移动至第三边界线K4处，第二边界线K3与第三边界线K4间形成的区域即为边缘区S3。其中，第二边界线K3与第三边界线K4间的间距尺寸范围大于等于0，小于等于10mm。

通过设置边缘区S3的范围，并通过计算边缘区S3的重量平均值以及第一极差值a，并与设定值相比较，能够有效地对涂布区域是否发生翘边和/或厚边的现象进行判定。

如图2所示，在本申请的一些实施方式中，将两侧的边缘零线K0分别朝向膜片的中心方向平移长度L3以形成削薄区S4，其中，削薄区S4与主体区S1相邻设置，且0≤L3≤10mm。

具体地，将边缘零线K0朝向膜片的中心方向移动至第二边界线K3处，第二边界线K3与边缘零线K0间形成的区域即为削薄区S4。其中，第二边界线K3与边缘零线K0间的间距尺寸范围大于等于0，小于等于10mm。

通过设置削薄区S4的范围，可以对涂布区域的主体区S1进行限定，从而通过对主体区S1进行分析计算，判断主体区S1是否发生涂布异常。

如图2所示，在本申请的一些实施方式中，将两侧的边缘零线K0间去除削薄区S4的剩余区域设定为主体区S1。

具体地，两侧的边缘零线K0间的区域为膜片的涂布区域，而任一侧的边缘零线K0与第二边界线K3之间的区域为削薄区S4，将涂布区域去除削薄区S4后剩余的区域即为主体区S1，即两侧的第二边界线K3之间的区域为主体区S1。

通过两侧的边缘零线K0间的构成的涂布区域去除削薄区S4，从而剩余的区域形成主体区S1，并通对主体区S1的重量极差值b进行计算和对比，从而判定膜片表面的涂布质量。

再如图2所示，在本申请的一些实施方式中，将第一设定极差值A设定为5.5mg，和/或，将第二设定极差值B设定为8mg。

通过将第一设定极差值A设定为5.5mg，并使边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值二者间的第一极差值a小于等于5.5mg，能够有效地防止涂布区域出现翘边和/或厚边。通过使主体区S1的重量极差值b小于等于8mg，可以有效防止涂布区域出现划痕和/或暗痕。

再如图2所示，在本申请的一些实施方式中，根据a＞A判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在翘边和/或厚边。

具体地，由于边缘区S3处于主体区S1的两侧的边缘位置，在切割成极片后容易出现翘边和/或厚边的现象，因此，需要计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值，并将二者间的第一极差值a与第一设定极差值A相比较，进而效地判定膜片表面涂布是否存在翘边和/或厚边。其中，可通过图3中的毫米波数据确定边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值，而根据重量平均值计算重量极差值为本领域的常规技术手段，因此不再针对第一极差值a的计算进行赘述。

再如图2所示，在本申请的一些实施方式中，根据b＞B判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在暗痕和/或划痕。

具体地，虽然主体区S1设于膜片涂布区域的中间位置，不易出现翘边和/或厚边的现象，但会由于涂布过程中颗粒的存在导致膜片表面出现暗痕和/或划痕，因此需要计算主体区S1的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，进而效地判定膜片表面涂布是否存在暗痕和/或划痕。其中，可通过图3中的毫米波数据确定主体区S1内各位置处的重量值，而根据相应的重量值计算重量极差值为本领域的常规技术手段，因此不再针对重量极差值b的计算进行赘述。

在本申请的一些实施方式中，检测方法还包括以下步骤：

对涂布区域的毫米波数据进行差值运算。

具体地，对涂布区域的毫米波数据进行差值运算，包括对涂布区域的整体区域进行差值运算，即对削薄区S4和主体区S1构成的整体区域进行差值运算。

通过对涂布区域的毫米波数据进行差值运算，能够有效地对膜片的涂布区域的整体重量进行检测，进而确认膜片形成极片后构成的电池的容量。

在本申请的一些实施方式中，所述判定膜片表面涂布异常后还包括以下步骤：

报警提示，和/或，对表面涂布异常的膜片区域进行标识。

具体地，当判定膜片表面涂布异常后，可通过声音、灯光或振动等多种形式进行报警，从而提醒操作人员涂布区域出现异常点。和/或，当判定膜片表面涂布异常后，可通过标记设备对涂布异常的区域进行标记，以提醒下一工序的操作人员留意涂布异常的区域，并对对涂布异常的膜片进行相应的处理，以防止问题膜片流入至下一工序中，避免资源浪费。

第二方面，本申请提供了一种涂布质量的检测装置，用于执行上述任意一项实施方式的涂布质量的检测方法。结合图2、图3和图4所示，图4是本申请一实施方式提供的涂布质量的检测装置的框架结构示意图。在本申请的一些实施方式中，检测装置包括：

检测模块，用于检测膜片上涂布区域，以获得毫米波数据；

获取模块，用于获取涂布区域的两侧的边缘零线K0，并根据两侧的边缘零线K0设定涂布区域的主体区S1，其中主体区S1包括位于其中心的中心区S2以及位于其边缘的边缘区S3；

计算模块，用于计算边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值，并根据边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值计算二者间的第一极差值a，以及用于计算主体区S1的重量极差值b；

判定模块，用于将第一极差值a与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常，和/或，用于将重量极差值b与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

具体地，检测模块将检测到的毫米波数据发送至获取模块，获取模块根据毫米波数据获取涂布区域的两侧的边缘零线K0，并根据两侧的边缘零线K0设定涂布区域的主体区S1，其中主体区S1包括位于其中心的中心区S2以及位于其边缘的边缘区S3，并将上述信息发送至计算模块，计算模块根据边缘区S3和中心区S2各自对应的毫米波数据计算边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值，并根据边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值计算二者间的第一极差值a，和/或，根据主体区S1对应的毫米波数据计算重量极差值b，并将计算后的第一极差值a和/或重量极差值b发送至判定模块，判定模块将第一极差值a与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常，和/或，将重量极差值b与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

根据本申请的技术方案中，通过对边缘区S3的重量平均值和中心区S2的重量平均值间的第一极差值a进行计算，和/或，对主体区S1的重量极差值b进行计算，并将计算结果与设定值相比较，能够快速准确有效地反应膜片表面的涂布质量、判断膜片表面涂布是否异常，从而防止涂布异常的膜片的流出，进而避免影响后续的极片的生产过程，保证极片表面的涂布质量，进而保证电芯的质量。

在本申请的一些实施方式中，检测模块包括X射线面密度测量仪。

具体地，可通过X射线面密度测量仪检测膜片涂布区域的毫米波数据。X射线面密度测量仪利用X射线穿透物质时的吸收、反散射效应实现非接触式测量薄膜类材料的面密度，即毫米波数据。X射线穿透物质时，被物质反射、散射、吸收，导致穿透的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透物体的厚度／密度呈负指数关系。通过测量穿透前后的射线强度，即可推断出物质的面密度。

第三方面，本申请提供了一种涂布质量的检测系统，该检测系统包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；

处理器执行计算机程序指令时实现上述任意一项实施方式中的涂布质量的检测方法。

第四方面，本申请提供了一种存储介质，存储介质上存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现上述任意一项实施方式中的涂布质量的检测方法。

由于本申请的检测系统和存储介质，均能够实现上述的涂布质量的检测方法，因此具有与上述涂布质量的检测方法相同的技术效果，在此不再进行赘述。

根据本申请的一个实施方式，一种涂布质量的检测方法，用于对涂布后的膜片进行质量检测，包括以下步骤：

检测膜片上涂布区域的毫米波数据，对涂布区域的毫米波数据并进行差值运算。

获取涂布区域的两侧的边缘零线K0，根据两侧的边缘零线K0设定涂布区域主体区S1，其中主体区S1包括位于其中心的中心区S2以及位于其边缘的边缘区S3。其中，根据涂布区域上任一点的重量值跃迁至重量设定值，重量设定值设定为250mg，设定所述任一点为涂布区域的边缘零点；根据涂布区域上的同一侧的多个边缘零点确定边缘零线K0，其中，同一侧的多个边缘零点共同设于一侧的边缘零线K0上。设定两侧的边缘零线K0的中间位置为中心线K1，将中心线K1分别朝向两侧的边缘零线K0平移长度L1形成的区域为中心区S2，且0＜L1≤5mm。将主体区S1两侧的边界线分别朝向膜片的中心方向平移长度L2所形成的区域为边缘区S3，且0≤L2≤10mm。将两侧的边缘零线K0分别朝向膜片的中心方向平移长度L3以形成削薄区S4，削薄区S4与主体区S1相邻设置，且0≤L3≤10mm。将两侧的边缘零线K0间去除削薄区S4的剩余区域设定为主体区S1。

计算边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值；

根据边缘区S3的重量平均值以及中心区S2的重量平均值计算二者间的第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布存在翘边和/或厚边。其中，将第一设定极差值A设定为5.5mg。

计算主体区S1的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布存在暗痕和/或划痕。其中，将第二设定极差值B设定为8mg。

最后应说明的是：以上各实施方式仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施方式对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施方式所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施方式技术方案的范围，其均应涵盖在本申请的权利要求和说明书的范围当中。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施方式中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本申请并不局限于文中公开的特定实施方式，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (16)

1.一种涂布质量的检测方法，用于对涂布后的膜片进行质量检测，其特征在于，包括以下步骤：

检测膜片上的涂布区域，以获得毫米波数据；

获取涂布区域的两侧的边缘零线，根据两侧的边缘零线设定涂布区域的主体区，其中主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区；

计算边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值；

根据边缘区的重量平均值以及中心区的重量平均值计算二者间的第一极差值a，并与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常；

和/或，计算主体区的重量极差值b，并与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

2.根据权利要求1所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，所述获取涂布区域的两侧的边缘零线的步骤中包括：

根据涂布区域上任一点的重量值跃迁至重量设定值，设定所述任一点为涂布区域的边缘零点；

根据涂布区域上的同一侧的多个边缘零点确定边缘零线，其中，同一侧的多个边缘零点共同设于一侧的边缘零线上。

3.根据权利要求2所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，将重量设定值设定为250mg。

4.根据权利要求3所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，设定两侧的边缘零线的中间位置为中心线，将中心线分别朝向两侧的边缘零线平移长度L1形成的区域为中心区，且0＜L1≤5mm。

5.根据权利要求4所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，将主体区两侧的边界线分别朝向膜片的中心方向平移长度L2所形成的区域为边缘区，且0≤L2≤10mm。

6.根据权利要求5所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，将两侧的边缘零线分别朝向膜片的中心方向平移长度L3以形成削薄区，其中，削薄区与主体区相邻设置，且0≤L3≤10mm。

7.根据权利要求6所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，将两侧的边缘零线间去除削薄区的剩余区域设定为主体区。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，将第一设定极差值A设定为5.5mg，和/或，将第二设定极差值B设定为8mg。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，所述根据a＞A判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在翘边和/或厚边。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，根据b＞B判定膜片表面涂布异常包括判定膜片表面涂布存在暗痕和/或划痕。

11.根据权利要求1至7中任一项所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括以下步骤：

对涂布区域的毫米波数据进行差值运算。

12.根据权利要求1至7中任一项所述的涂布质量的检测方法，其特征在于，所述判定膜片表面涂布异常后还包括以下步骤：

报警提示，和/或，对表面涂布异常的膜片区域进行标识。

13.一种涂布质量的检测装置，其特征在于，用于执行如权利要求1-12任意一项所述的涂布质量的检测方法，所述检测装置包括：

检测模块，用于检测膜片上涂布区域，以获得毫米波数据；

获取模块，用于获取涂布区域的两侧的边缘零线，并根据两侧的边缘零线设定涂布区域的主体区，其中，所述主体区包括位于其中心的中心区以及位于其边缘的边缘区；

计算模块，用于计算所述边缘区的重量平均值和所述中心区的重量平均值，并根据所述边缘区的重量平均值和所述中心区的重量平均值计算二者间的第一极差值a，以及用于计算所述主体区的重量极差值b；

判定模块，用于将所述第一极差值a与第一设定极差值A相比较，根据a＞A判定膜片表面涂布异常，和/或，用于将所述重量极差值b与第二设定极差值B相比较，根据b＞B判定膜片表面涂布异常。

14.根据权利要求13所述的涂布质量的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括X射线面密度测量仪。

15.一种涂布质量的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；

所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如权利要求1-12任意一项所述的涂布质量的检测方法。

16.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-12任意一项所述的涂布质量的检测方法。

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