CN114814530A - 一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 - Google Patents
一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114814530A CN114814530A CN202210347231.4A CN202210347231A CN114814530A CN 114814530 A CN114814530 A CN 114814530A CN 202210347231 A CN202210347231 A CN 202210347231A CN 114814530 A CN114814530 A CN 114814530A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- circuit
- detection circuit
- detection
- load
- comparator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
本发明公开了一种用于高边智能功率IC的负载开路检测电路及方法、应用,所述检测电路包括双重检测电路,包括:由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,用于检测功率器件两端的电压降;由检测管Ms与其支路上的电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,用于检测电阻Rs上的电流。该电路采用双重判决模式和滞回比较器,解决传统电流检测引起的冗余电压和检测误差的问题,以及外部干扰导致功率管反复开关的问题,提高了负载开路检测的精确度和可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及电气、电子设备控制技术领域,具体涉及一种用于高边智能功率IC的负载开路检测电路及方法、应用。
背景技术
高边功率驱动芯片通过将控制模块、驱动模块及其它保护电路模块与功率器件集成在一起,可以实现更多的功能,在新能源汽车、自动化控制及其它电子产品等领域得到广泛应用。为了保证驱动芯片的正常工作,需要加入各种保护电路,其中,负载开路检测电路通过对负载状态进行实时检测反馈,在负载发生开路故障时及时向系统发出反馈信号。此类电路一般是对负载上的电流进行检测,第一种方法是在主通路上检测分压电阻上的电流,但这会带来冗余的电压消耗。另外一种方法是采用一个与主功率管尺寸成比例的检测管,对检测管支路流过的电流进行检测。这种方法虽然不会给主通路带来冗余的电压消耗,但在负载电流很小的情况下,镜像复制的电流精度会降低,导致误差过大,使检测电路的可靠性下降。
发明内容
针对上述技术背景中的问题,本发明的目的在于针对高边功率驱动芯片,设计优化了一种新型负载开路检测电路。该电路采用双重判决模式和滞回比较器,解决传统电流检测引起的冗余电压和检测误差的问题,以及外部干扰导致功率管反复开关的问题,提高了负载开路检测的精确度和可靠性。
为了实现以上目的,本发明采用的技术方案为:
一种用于高边智能功率IC的负载开路检测电路,所述检测电路包括双重检测电路,包括:
由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,用于检测功率器件两端的电压降;
由检测管Ms与其支路上的电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,用于检测电阻Rs上的电流。
因在比较器运行时,如果有噪声或干扰出现,都会使比较器在两个不同的输出状态之间产生额外的频繁跳变,这种情况会造成功率管不必要的开关功耗和信号振荡。而滞回比较器的Vout在上升和下降时输入端的数值不同,这样可以避免误信号的干扰,提高检测的有效性,降低功率管的无效开关功耗,因此在本发明的技术方案中,设计在第一重检测电路上采用滞回比较器规避这类问题的发生。
本发明的技术方案中,设计双重的检测电路,当第一重检测电路输出低电平时会提示电路可能存在故障,只有当双重电路都输出低电平时才会直接关断电路并输出故障信号,解决传统电流检测引起的冗余电压和检测误差的问题。
本发明的另一目的在于,提供一种如上所述的用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,具体步骤如下:
S1、由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,检测功率器件两端的电压降;
S2、当滞回比较器OP1输出为低电平时,通过逻辑运算功率管MP被关闭,输出可能出现负载开路的信号指令,提示电路可能存在故障;
S3、而后由检测管Ms支路上电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,对电阻Rs上的电流进行检测;
S4、当比较器OP2输出为低电平时,两个比较器信号都满足开路检测,输出高电平,表示负载开路,通过逻辑运算进行信号输出和电路关断处理。
进一步地,步骤S2,对于第一重检测电路,VMP为功率管MP上的电压降,设定判断阈值电压为VMP0,即
VREF=VCC-VMP0,
当VMP>VMP0时,有Vout<VREF,滞回比较器OP1输出高电平,芯片正常工作;当VMP<VMP0时,有Vout>VREF,滞回比较器OP1输出低电平,第一重检测电路判断负载处于开路状态,芯片负载可能处于开路,电路输出提示信号;
其中,VREF为基准电压,VCC为内部电源电压,Vout为检测电路输出电压。
进一步地,步骤S4,对于第二重检测电路,IL为负载RL上流过的电流,IL0为设定的判断阈值电流:
IL0=V1/RS,
当IL>IL0时,VRs=IL0·RS<V1,比较器OP2输出为高电平,芯片正常工作;当IL<IL0时,比较器OP2输出为低电平,第二重检测电路判断负载处于开路状态;
其中,V1为第二重检测电路中比较器的输入基准电压,RS为检测电阻;VRs为电阻RS上的电压降。
进一步地,在本发明的技术方案中:当双重检测电路同时满足开路判断,输出高电平,表示负载开路;为保证第二重检测电路在第一重检测电路检测结束后进行检测,需要保证:
VMP0>IL0·[RonP//(RonS+RS)],
其中,VMP0为功率管MP上的电压降,RonP为功率管MP的导通电阻,RonS为检测管MS的导通电阻,RS为检测电阻。
本发明的第三个目的在于,提供一种应用如上所述的负载开路检测电路的高边驱动电路系统。
与现有技术相比,本发明具有以下优点:
(1)功率管的导通电阻RonP不会对负载阈值电流的检测造成影响;
(2)检测电阻RS只在检测通路中消耗压降,不会消耗主通路上的电压降;
(3)比较器的失调电压不会限制检测电流阈值的大小;
(4)采用双重判决模式,规避了负载电流和温度的波动造成干扰信号的可能性;
(5)采用滞回比较器,降低了输入波动,或其他噪声、干扰对检测准确度的影响,整体提高了检测的有效性和系统的稳定性。
附图说明
图1为本发明负载开路检测电路的示意图;
图2为滞回比较器的示意图;
图3为高边驱动电路系统框图;
图4为负载电流IL及电路输出Openload与负载电阻RL的关系曲线图;
图5为OP1输出VO1及电路输出Openload与负载电压Vout的关系曲线;
图6为驱动电路的电压输出曲线。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。
如图1所示,用于高边智能功率IC的负载开路检测电路,包括双重检测电路:
由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,用于检测功率器件Mp两端的电压降;
由检测管Ms与其支路上的电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,用于检测电阻Rs上的电流。
本发明的技术方案中,设计双重的检测电路,当第一重检测电路输出低电平时会提示电路可能存在故障,只有当双重电路都输出低电平时才会直接关断电路并输出故障信号,解决传统电流检测引起的冗余电压和检测误差的问题。
如图2所示滞回比较器,在比较器的输出端和同相输入端之间连接电阻,在正反馈的作用下会出现滞回现象。VP=[R2/(R1+R2)]g(VREF-Vout),根据虚短VN=VP,即可得出两个阈值电压:在Vout的上升沿处(0到VCC),VP1=[R2/(R1+R2)]gVREF,在Vout的下降沿处(VCC到0),VP2=[R2/(R1+R2)]g(VREF-VCC)。
因在比较器运行时,如果有噪声或干扰出现,都会使比较器在两个不同的输出状态之间产生额外的频繁跳变,这种情况会造成功率管不必要的开关功耗和信号振荡。而滞回比较器的Vout在上升和下降时输入端的数值不同,这样可以避免误信号的干扰,提高检测的有效性,降低功率管的无效开关功耗,因此在本发明的技术方案中,设计在第一重检测电路上采用滞回比较器QP1规避这类问题的发生。
如上所述的用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,具体步骤如下:
S1、由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,检测功率器件Mp两端的电压降;
S2、当OP1输出为低电平时,通过逻辑运算MP被关闭,输出可能出现负载开路的信号指令Possible fault,提示电路可能存在故障;
S3、而后由检测管Ms支路上电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,对电阻Rs上的电流进行检测;
S4、当比较器OP2输出为低电平时,两个比较器信号都满足开路检测,Openload输出高电平,表示负载开路,通过逻辑运算进行信号输出和电路关断处理。
具体分析如下:
对于第一重检测电路,VMP为功率管MP上的电压降,设定判断阈值电压为VMP0,即
VREF=VCC-VMP0,
当VMP>VMP0时,有Vout<VREF,OP1输出高电平,芯片正常工作;当VMP<VMP0时,有Vout>VREF,OP1输出低电平,第一重检测电路判断负载处于开路状态,芯片负载可能处于开路,电路输出提示信号。
其中,VREF为基准电压,VCC为内部电源电压,Vout为检测电路输出电压。
对于第二重检测电路,IL为负载RL上流过的电流,IL0为设定的判断阈值电流:
IL0=V1/RS,
当IL>IL0时,VRs=IL0·RS<V1,OP2输出为高电平,芯片正常工作;当IL<IL0时,OP2输出为低电平,第二重检测电路判断负载处于开路状态。当双重检测电路同时满足开路判断,Openload输出高电平,表示负载开路;为保证第二重检测电路在第一重检测电路检测结束后进行检测,需要保证:
VMP0>IL0·[RonP//(RonS+RS)],
其中,V1为第二重检测电路中比较器的输入基准电压,RS为检测电阻;VRs为电阻RS上的电压降,VMP0为功率管MP上的电压降,RonP为功率管MP的导通电阻,RonS为检测管MS的导通电阻。
以下是本发明负载开路检测电路的应用:
如图3所示为本发明设计电路的应用系统。
对于高边驱动功率芯片,其工作环境往往很恶劣,从图3可以看到有诸多保护电路确保芯片不会因外界干扰丧失功能,保证芯片正常工作。本应用中的栅极保护,主要是确保电路工作时栅极电压大于漏极电压,功率管工作在正确的状态;过压保护电路实现48V的过压保护,在电源电压高于48V时,过压保护电路输出高电平,经过逻辑电路运算,关闭芯片,待电压低于38V时再次启动芯片;过温保护电路实现150℃的过温保护,在芯片温度达到150℃时,过温保护电路输出高电平,经过逻辑电路运算,关闭芯片,待温度回落至140℃时再次启动芯片,避免震荡;欠压保护电路实现3.5V的欠压保护,在电源电压低于3.5V时欠压保护电路输出高电平,经过逻辑电路运算,关闭芯片,待电压高于4.5V时再次启动芯片;负载开路检测电路实现检测负载电流3mA,98.5%的检测精度,当负载电流低于3mA时,负载开路检测电路输出高电平,经过逻辑运算,关闭芯片,待故障解除后,芯片自启动。正常工作时,功率管处于线性导通区,为了实现此目的,需要将功率管的栅极电压抬升至高于漏极电压,这里采用交叉耦合电荷泵对栅极电压进行抬升,本应用中采用的电荷泵实现了电压从12V抬升至14.5V,使功率管工作在线性导通区。
在Cadence 617环境下对图1、图3中的电路进行仿真,电源电压VCC=12V。
如图4所示为负载电流IL及输出信号Openload与负载电阻RL阻值的关系曲线。
随着RL的增大(开路模拟),IL不断减小,功率管上的压降也在不断减小,当其小于300mV时,OP1的输出端VO1为低电平,MP通过逻辑电路被关断,此时第二重检测电路进行检测,当IL<IL0=3mA时,OP2的输出端VO2为低电平,此时Openload输出高电平,表示负载开路。
如图5所示为OP1输出VO1及电路输出Openload与负载电压Vout的关系曲线。
在开路检测过程中,VO1降至低电平,当有信号干扰时,VO1从低电平跳变到高电平会导致Vgate从低电平变为高电平,为了防止干扰导致功率管反复开关,采用了滞回比较器,存在2V电压的跳变缓冲带,可以有效避免此类问题发生。
图6为驱动电路的电压输出曲线。通过电荷泵将栅极驱动电压升压至14.5V,驱动功率管工作在线性导通区,驱动电压达到稳定的时间需要50us。
表1对比了本发明设计电路和其他参考文献电路性能,比较发现,本发明设计的电路具有较好的综合处理性能。
表1本发明设计电路和其他参考文献电路性能对比结果
[1]Davis B,Wellnitz K.Intelligent diagnostic features available forhigh side power switching[C]//Proceedings of 1994IEEE Workshop on PowerElectronics in Transportation.IEEE,1994:23-31.
[2]Givelin P,Bafleur M,Laopoulos T,et al.On-chip over current andopen load detection for a power MOS high-side switch:A CMOS current modeapproach[C]//1993Fifth European Conference on Power Electronics andApplications.IET,1993:197-200.
[3]张小琴,蔡小五,曾传滨,等.一种用于智能高边功率IC的负载开路检测电路[J].微电子学与计算机,2020,37(12):17-21.
结论:本发明设计优化了一款用于高边驱动芯片的负载开路检测电路,通过采用双重检测电路和滞回比较器,避免电压检测中功率管导通电阻变化引起的误差,以及信号干扰或电压抖动导致的功率管开关损耗,同时也降低了对比较器精度的要求。本文的负载开路检测电路,在电路阈值电流为3mA时,检测精度高达98.5%;保证有2V的抗干扰冗余电压,满足了本文的设计要求。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明的范围内。本发明要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (6)
1.一种用于高边智能功率IC的负载开路检测电路,其特征在于,所述检测电路包括双重检测电路,包括:
由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,用于检测功率器件两端的电压降;
由检测管Ms与其支路上的电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,用于检测电阻Rs上的电流。
2.一种用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,其特征在于,具体步骤如下:
S1、由功率管Mp与滞回比较器OP1构成的第一重检测电路,检测功率器件两端的电压降;
S2、当滞回比较器OP1输出为低电平时,通过逻辑运算功率管MP被关闭,输出可能出现负载开路的信号指令,提示电路可能存在故障;
S3、而后由检测管Ms支路上电阻RS和比较器OP2构成的第二重检测电路,对电阻Rs上的电流进行检测;
S4、当比较器OP2输出为低电平时,两个比较器信号都满足开路检测,输出高电平,表示负载开路,通过逻辑运算进行信号输出和电路关断处理。
3.根据权利要求2所述的一种用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,其特在在于,步骤S2,对于第一重检测电路,VMP为功率管MP上的电压降,设定判断阈值电压为VMP0,即
VREF=VCC-VMP0,
当VMP>VMP0时,有Vout<VREF,滞回比较器OP1输出高电平,芯片正常工作;当VMP<VMP0时,有Vout>VREF,滞回比较器OP1输出低电平,第一重检测电路判断负载处于开路状态,芯片负载可能处于开路,电路输出提示信号;
其中,VREF为基准电压,VCC为内部电源电压,Vout为检测电路输出电压。
4.根据权利要求2所述的一种用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,其特在在于,步骤S4,对于第二重检测电路,IL为负载RL上流过的电流,IL0为设定的判断阈值电流:
IL0=V1/RS,
当IL>IL0时,VRs=IL0·RS<V1,比较器OP2输出为高电平,芯片正常工作;当IL<IL0时,比较器OP2输出为低电平,第二重检测电路判断负载处于开路状态;
其中,V1为第二重检测电路中比较器的输入基准电压,RS为检测电阻;VRs为电阻RS上的电压降。
5.根据权利要求2所述的一种用于高边智能功率IC的负载开路检测方法,其特在在于,当双重检测电路同时满足开路判断,输出高电平,表示负载开路;为保证第二重检测电路在第一重检测电路检测结束后进行检测,需要保证:
VMP0>IL0·[RonP//(RonS+RS)],
其中,VMP0为功率管MP上的电压降,RonP为功率管MP的导通电阻,RonS为检测管MS的导通电阻,RS为检测电阻。
6.一种应用如权利要求1所述的负载开路检测电路的高边驱动电路系统。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210347231.4A CN114814530A (zh) | 2022-04-01 | 2022-04-01 | 一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210347231.4A CN114814530A (zh) | 2022-04-01 | 2022-04-01 | 一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN114814530A true CN114814530A (zh) | 2022-07-29 |
Family
ID=82532536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210347231.4A Pending CN114814530A (zh) | 2022-04-01 | 2022-04-01 | 一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN114814530A (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116736090A (zh) * | 2023-08-16 | 2023-09-12 | 深圳市南方硅谷半导体股份有限公司 | 一种临界点不良芯片的测试方法、装置及存储介质 |
CN117233664A (zh) * | 2023-11-13 | 2023-12-15 | 成都创科升电子科技有限责任公司 | 一种用于微小电流电路的开路检测方法和系统 |
-
2022
- 2022-04-01 CN CN202210347231.4A patent/CN114814530A/zh active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116736090A (zh) * | 2023-08-16 | 2023-09-12 | 深圳市南方硅谷半导体股份有限公司 | 一种临界点不良芯片的测试方法、装置及存储介质 |
CN116736090B (zh) * | 2023-08-16 | 2023-11-07 | 深圳市南方硅谷半导体股份有限公司 | 一种临界点不良芯片的测试方法、装置及存储介质 |
CN117233664A (zh) * | 2023-11-13 | 2023-12-15 | 成都创科升电子科技有限责任公司 | 一种用于微小电流电路的开路检测方法和系统 |
CN117233664B (zh) * | 2023-11-13 | 2024-02-02 | 成都创科升电子科技有限责任公司 | 一种用于微小电流电路的开路检测方法和系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111999623B (zh) | 监控开关晶体管的系统和方法 | |
CN114814530A (zh) | 一种用于高边智能功率ic的负载开路检测电路及方法、应用 | |
US9350180B2 (en) | Load switch having load detection | |
US7768296B2 (en) | Electronic device and method | |
US7986149B2 (en) | System and method for adaptive load fault detection | |
US11708801B2 (en) | Load drive device, engine system | |
JP2007010563A (ja) | 誘導性負荷の異常検出装置 | |
US11855444B2 (en) | Functional safety mechanism for detection of a fault in a leadframe | |
US8806255B2 (en) | Interface connection control based on voltage at input rail | |
CN110687439A (zh) | 高边驱动开关故障检测电路和故障检测方法 | |
US20100164559A1 (en) | Power-on circuit | |
US12095349B2 (en) | Semiconductor integrated circuit for power supply, and power supply system | |
US9042066B2 (en) | Output stage with short-circuit protection | |
JP4155075B2 (ja) | 断線検出回路 | |
CN110134174B (zh) | 具有磁滞功能的电源启动重置电路 | |
CN220096534U (zh) | 电动两轮车电门开机方式的检测系统 | |
JP2007006615A (ja) | 異常検出回路 | |
US11626870B1 (en) | Gate driver | |
US7411433B2 (en) | Reset ramp control | |
US9041455B2 (en) | Semiconductor device and communication interface circuit | |
US20240113703A1 (en) | Oring fet control circuit and method | |
JP2008099356A (ja) | モード切替回路 | |
CN117335362A (zh) | 一种具有短路诊断功能的控制电路、芯片及电子设备 | |
CN118355445A (zh) | 无毛刺欠压检测器 | |
CN117595845A (zh) | 一种驱动电路、控制方法及车辆 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |