CN114814504B - 一种快速有效检测老化方法 - Google Patents
一种快速有效检测老化方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114814504B CN114814504B CN202110062231.5A CN202110062231A CN114814504B CN 114814504 B CN114814504 B CN 114814504B CN 202110062231 A CN202110062231 A CN 202110062231A CN 114814504 B CN114814504 B CN 114814504B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- led lamp
- detection
- lamp bead
- lamp beads
- aging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 142
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 49
- 239000011324 bead Substances 0.000 claims abstract description 174
- 239000003292 glue Substances 0.000 claims abstract description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 26
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 claims description 11
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- -1 models Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
- G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
本发明公开了一种快速有效检测老化方法，涉及LED灯老化检测技术领域。包括LED灯珠样品挑选、LED灯珠样品初步检测、LED灯珠过电流检测、LED灯珠老化检测、LED灯珠高低温循环检测、LED灯珠高温恒温老化检测、LED灯珠后续抽查检测。通过将众多LED灯珠成品按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，并将相同领域每组挑选100‑150个样品，以确保检测基数大，进而保证检测的准确性，从而保证检测结果的权威性，通过采用高低温循环检测方法，将LED灯珠放置在高低温交替的环境之中，温差设置50‑70℃，高低温依次循环200‑300次，从而达到检测新式LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，从而起到检测新型LED灯珠的作用。
Description
技术领域
本发明涉及LED灯老化检测技术领域，具体为一种快速有效检测老化方法。
背景技术
LED灯是一块电致发光的半导体材料芯片，用银胶或白胶固化到支架上，然后用银线或金线连接芯片和电路板，四周用环氧树脂密封，起到保护内部芯线的作用。
LED行业对LED广告光源的常规质量检测方式为检测LED灯珠，在对于LED灯珠进行检测时，操作性较强且成本较低的是老化检测方法，这种方式大部分采用高温、高电流为实验条件，以检测LED灯珠的质量。但随着LED产品的不断发展，LED行业的市场竞争日益激化，在寻求性价比的同时，LED芯片、金线、支架等物料被替代，这导致常规的测试方法渐渐无法满足对产品品质的要求。
1、现有技术中，常见的测试方式一般采用高温、高电流对LED灯珠进行检测，但是由于LED产品的不断发展，常见的检测方法无法满足检测需要；
2、现有技术中，常见的测试方式检测的LED灯基数较少，导致检测结果往往权威性较差。
发明内容
（一）解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种快速有效检测老化方法，具备检测新式LED灯珠，检测基数多，权威性高等优点，解决了常见的测试方式适用性较差的问题。
（二）技术方案
为实现上述检测新式LED灯珠，保证检测准确性的目的，本发明提供如下技术方案：一种快速有效检测老化方法，包括以下步骤：
S1、LED灯珠样品挑选：从众多LED灯珠成品中按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，相同领域每组挑选100-150个样品，以便保证样品检测结果的准确性；
S2、LED灯珠样品初步检测：对随机挑选出的LED灯珠检测样品进行表面完整性检测，以确保检验样品表面不会出现裂缝、变形的情况，将通过表面完整性检测的检验样品连接电源，进行通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态；
S3、LED灯珠过电流检测：将LED灯珠样品依次安装在过电流测试老化架中，对LED灯珠进行1-2倍功率的过电流测试，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态；
S4、LED灯珠老化检测：将LED灯珠样品安装在检测箱中，对LED灯珠进行25-35天不断电检测，以便检测出LED灯珠在长时间工作之后的老化情况；
S5、LED灯珠高低温循环检测：取出LED灯珠样品100-150份，将LED灯珠样品安装在冰柜中，将冰柜温差设置为50-70℃，高低温依次循环200-300次，从而达到检测LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用；
S6、LED灯珠高温恒温老化检测：取出LED灯珠样品80-100份，将LED灯珠样品安装在恒温测试仪中，将恒温测试仪温℃设置为50-80℃，高温恒温依次循环200-300次，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用；
S7、LED灯珠后续抽查检测：将LED灯珠样品的检测结果进行记录，后续每隔一段时间将LED灯珠随机抽取10-15份，进行小型检测，以便保证LED灯珠的品质始终保持良好的状态。
作为本发明的一种优选技术方案，所述S2中,使用游标卡尺与对放大镜对LED灯珠进行表面检测。
作为本发明的一种优选技术方案，所述S3中，电流测试老化架的功率为100W，通过万用表对电压进行检测调节。
作为本发明的一种优选技术方案，所述S4中，检测箱的功率为150W，工作人员每隔三天对检测中的LED灯珠进行一次观察记录。
作为本发明的一种优选技术方案，所述S5中，冰柜的功率为150W，冰柜最低温℃设置为零下20℃，最高温℃设置为50℃，循环时间设置为10分钟一循环。
作为本发明的一种优选技术方案，所述S6中，恒温测试仪的功率为200W，循环时间设置为5分钟一循环，通过温℃测试仪对温℃进行控制调节。
（三）有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种快速有效检测老化方法，具备以下有益效果：
1、该快速有效检测老化方法，通过将众多LED灯珠成品按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，并将相同领域每组挑选100-150个样品，以确保检测基数大，进而保证检测的准确性，通过将挑选的LED灯珠表面进行细致检测，并进行初步通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态，从而保证检测结果的权威性。
2、该快速有效检测老化方法，通过采用高低温循环检测方法，将LED灯珠放置在高低温交替的环境之中，温差设置50-70℃，高低温依次循环200-300次，从而达到检测新式LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，从而起到检测新型LED灯珠的作用。
附图说明
图1为本发明的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明的实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
一种快速有效检测老化方法，包括以下步骤：
S1、LED灯珠样品挑选：从众多LED灯珠成品中按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，相同领域每组挑选100个样品，以便保证样品检测结果的准确性；
S2、LED灯珠样品初步检测：对随机挑选出的LED灯珠检测样品进行表面完整性检测，使用游标卡尺与对放大镜对LED灯珠进行表面检测，以确保检验样品表面不会出现裂缝、变形的情况，将通过表面完整性检测的检验样品连接电源，进行通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态；
S3、LED灯珠过电流检测：将LED灯珠样品依次安装在过电流测试老化架中，对LED灯珠进行1倍功率的过电流测试，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态，电流测试老化架的功率为100W，通过万用表对电压进行检测调节；
S4、LED灯珠老化检测：将LED灯珠样品安装在检测箱中，对LED灯珠进行25天不断电检测，以便检测出LED灯珠在长时间工作之后的老化情况，检测箱的功率为150W，工作人员每隔三天对检测中的LED灯珠进行一次观察记录；
S5、LED灯珠高低温循环检测：取出LED灯珠样品100份，将LED灯珠样品安装在冰柜中，将冰柜温差设置为50℃，高低温依次循环200次，从而达到检测LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，冰柜的功率为150W，冰柜最低温℃设置为零下20℃，最高温℃设置为50℃，循环时间设置为10分钟一循环；
S6、LED灯珠高温恒温老化检测：取出LED灯珠样品80份，将LED灯珠样品安装在恒温测试仪中，将恒温测试仪温℃设置为50℃，高温恒温依次循环200次，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用，恒温测试仪的功率为200W，循环时间设置为5分钟一循环，通过温℃测试仪对温℃进行控制调节；
S7、LED灯珠后续抽查检测：将LED灯珠样品的检测结果进行记录，后续每隔一段时间将LED灯珠随机抽取10份，进行小型检测，以便保证LED灯珠的品质始终保持良好的状态。
实施例二：
一种快速有效检测老化方法，包括以下步骤：
S1、LED灯珠样品挑选：从众多LED灯珠成品中按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，相同领域每组挑选130个样品，以便保证样品检测结果的准确性；
S2、LED灯珠样品初步检测：对随机挑选出的LED灯珠检测样品进行表面完整性检测,使用游标卡尺与对放大镜对LED灯珠进行表面检测，以确保检验样品表面不会出现裂缝、变形的情况，将通过表面完整性检测的检验样品连接电源，进行通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态；
S3、LED灯珠过电流检测：将LED灯珠样品依次安装在过电流测试老化架中，对LED灯珠进行1.5倍功率的过电流测试，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态，电流测试老化架的功率为100W，通过万用表对电压进行检测调节；
S4、LED灯珠老化检测：将LED灯珠样品安装在检测箱中，对LED灯珠进行30天不断电检测，以便检测出LED灯珠在长时间工作之后的老化情况，检测箱的功率为150W，工作人员每隔三天对检测中的LED灯珠进行一次观察记录；
S5、LED灯珠高低温循环检测：取出LED灯珠样品130份，将LED灯珠样品安装在冰柜中，将冰柜温差设置为60℃，高低温依次循环250次，从而达到检测LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，冰柜的功率为150W，冰柜最低温℃设置为零下20℃，最高温℃设置为50℃，循环时间设置为10分钟一循环；
S6、LED灯珠高温恒温老化检测：取出LED灯珠样品90份，将LED灯珠样品安装在恒温测试仪中，将恒温测试仪温℃设置为65℃，高温恒温依次循环250次，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用，恒温测试仪的功率为200W，循环时间设置为5分钟一循环，通过温℃测试仪对温℃进行控制调节；
S7、LED灯珠后续抽查检测：将LED灯珠样品的检测结果进行记录，后续每隔一段时间将LED灯珠随机抽取13份，进行小型检测，以便保证LED灯珠的品质始终保持良好的状态。
实施例三：
一种快速有效检测老化方法，包括以下步骤：
S1、LED灯珠样品挑选：从众多LED灯珠成品中按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，相同领域每组挑选150个样品，以便保证样品检测结果的准确性；
S2、LED灯珠样品初步检测：对随机挑选出的LED灯珠检测样品进行表面完整性检测，使用游标卡尺与对放大镜对LED灯珠进行表面检测，以确保检验样品表面不会出现裂缝、变形的情况，将通过表面完整性检测的检验样品连接电源，进行通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态；
S3、LED灯珠过电流检测：将LED灯珠样品依次安装在过电流测试老化架中，对LED灯珠进行2倍功率的过电流测试，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态，电流测试老化架的功率为100W，通过万用表对电压进行检测调节；
S4、LED灯珠老化检测：将LED灯珠样品安装在检测箱中，对LED灯珠进行35天不断电检测，以便检测出LED灯珠在长时间工作之后的老化情况，检测箱的功率为150W，工作人员每隔三天对检测中的LED灯珠进行一次观察记录；
S5、LED灯珠高低温循环检测：取出LED灯珠样品150份，将LED灯珠样品安装在冰柜中，将冰柜温差设置为70℃，高低温依次循环300次，从而达到检测LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，冰柜的功率为150W，冰柜最低温℃设置为零下20℃，最高温℃设置为50℃，循环时间设置为10分钟一循环；
S6、LED灯珠高温恒温老化检测：取出LED灯珠样品100份，将LED灯珠样品安装在恒温测试仪中，将恒温测试仪温℃设置为80℃，高温恒温依次循环300次，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用，恒温测试仪的功率为200W，循环时间设置为5分钟一循环，通过温℃测试仪对温℃进行控制调节；
S7、LED灯珠后续抽查检测：将LED灯珠样品的检测结果进行记录，后续每隔一段时间将LED灯珠随机抽取15份，进行小型检测，以便保证LED灯珠的品质始终保持良好的状态。
经过实施例一、实施例二、实施例三的依次对比，实施例二的检测过程为最合适使用。
本发明的原理及效果是：在对LED灯珠进行检测之前，进行LED灯珠样品挑选，将众多LED灯珠成品按照颜色、型号、材料、功率等不同领域随机挑选LED灯珠，并将相同领域每组挑选众多个样品，以确保检测基数大，进而保证检测的准确性，初步挑选之后对LED灯珠样品进行初步检测，将挑选的LED灯珠表面进行细致检测，并进行初步通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态，从而保证检测结果的权威性，之后对LED灯珠进行过电流检测，以1-2倍的功率对LED灯珠进行检测，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态，然后再将一部分LED灯珠进行老化检测，以便检测出长时间使用之后LED灯珠的状态，将一部分LED灯珠放置在高低温交替的环境中，进行循环检测，即可达到检测封装胶、晶线、固晶胶品质的作用，将一部分LED灯珠放置在高温恒温循环交替的环境中，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用，通过以上方式使得该方法具有检测众多新型LED灯珠的作用。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种快速有效检测老化方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、LED灯珠样品挑选：从众多LED灯珠成品中按照颜色、型号、材料、功率不同领域随机挑选LED灯珠，相同领域每组挑选100-150个样品，以便保证样品检测结果的准确性；
S2、LED灯珠样品初步检测：对随机挑选出的LED灯珠检测样品进行表面完整性检测，以确保检验样品表面不会出现裂缝、变形的情况，将通过表面完整性检测的检验样品连接电源，进行通电测试，以确保检验样品在进行检测之前都处于无破损可正常工作的状态；
S3、LED灯珠过电流检测：将LED灯珠样品依次安装在过电流测试老化架中，对LED灯珠进行1-2倍功率的过电流测试，以便检测出LED灯珠在不同功率的电流环境下的工作状态；
S4、LED灯珠老化检测：将LED灯珠样品安装在检测箱中，对LED灯珠进行25-35天不断电检测，以便检测出LED灯珠在长时间工作之后的老化情况；
S5、LED灯珠高低温循环检测：取出LED灯珠样品100-150份，将LED灯珠样品安装在冰柜中，将冰柜温差设置为50-70℃，高低温依次循环200-300次，从而达到检测LED灯珠中封装胶、晶线、固晶胶品质的作用；
S6、LED灯珠高温恒温老化检测：取出LED灯珠样品80-100份，将LED灯珠样品安装在恒温测试仪中，将恒温测试仪温℃设置为50-80℃，高温恒温依次循环200-300次，从而达到检测高温环境下LED灯珠中金线与封装胶品质的作用；
S7、LED灯珠后续抽查检测：将LED灯珠样品的检测结果进行记录，后续每隔一段时间将LED灯珠随机抽取10-15份，进行小型检测，以便保证LED灯珠的品质始终保持良好的状态。
2.根据权利要求1所述的一种快速有效检测老化方法，其特征在于，所述S2中,使用游标卡尺与对放大镜对LED灯珠进行表面检测。
3.根据权利要求1所述的一种快速有效检测老化方法，其特征在于，所述S3中，电流测试老化架的功率为100W，通过万用表对电压进行检测调节。
4.根据权利要求1所述的一种快速有效检测老化方法，其特征在于，所述S4中，检测箱的功率为150W，工作人员每隔三天对检测中的LED灯珠进行一次观察记录。
5.根据权利要求1所述的一种快速有效检测老化方法，其特征在于，所述S5中，冰柜的功率为150W，冰柜最低温℃设置为零下20℃，最高温℃设置为50℃，循环时间设置为10分钟一循环。
6.根据权利要求1所述的一种快速有效检测老化方法，其特征在于，所述S6中，恒温测试仪的功率为200W，循环时间设置为5分钟一循环，通过温℃测试仪对温℃进行控制调节。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110062231.5A CN114814504B (zh) | 2021-01-18 | 2021-01-18 | 一种快速有效检测老化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110062231.5A CN114814504B (zh) | 2021-01-18 | 2021-01-18 | 一种快速有效检测老化方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114814504A CN114814504A (zh) | 2022-07-29 |
| CN114814504B true CN114814504B (zh) | 2024-08-20 |
Family
ID=82524022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110062231.5A Active CN114814504B (zh) | 2021-01-18 | 2021-01-18 | 一种快速有效检测老化方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114814504B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115493780B (zh) * | 2022-11-16 | 2023-03-28 | 苏州晶台光电有限公司 | 一种检测led产品气密性的方法 |
| CN116754987B (zh) * | 2023-08-17 | 2023-11-10 | 深圳市迈龙迪科技有限公司 | 一种led灯珠抽样检查装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN203037684U (zh) * | 2013-02-01 | 2013-07-03 | 北京兴科迪科技有限公司 | 高温通电老化箱 |
| CN110769579A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-02-07 | 广东熠日照明科技有限公司 | 一种多灯珠单控制的方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4082314B2 (ja) * | 2002-09-26 | 2008-04-30 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の試験方法および試験装置 |
| CN212338965U (zh) * | 2020-05-21 | 2021-01-12 | 苏州标谱光电科技有限公司 | 一种侧入光三角式的导光板结构 |
-
2021
- 2021-01-18 CN CN202110062231.5A patent/CN114814504B/zh active Active
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN203037684U (zh) * | 2013-02-01 | 2013-07-03 | 北京兴科迪科技有限公司 | 高温通电老化箱 |
| CN110769579A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-02-07 | 广东熠日照明科技有限公司 | 一种多灯珠单控制的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114814504A (zh) | 2022-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN114814504B (zh) | 一种快速有效检测老化方法 | |
| CN111199700B (zh) | 显示背板检测设备及其检测方法、装置 | |
| CN103367189B (zh) | 测试系统及其测试方法 | |
| Schindler-Saefkow et al. | Stress chip measurements of the internal package stress for process characterization and health monitoring | |
| CN207730893U (zh) | 一种用于测试cis图像传感器类芯片的悬臂式探针卡 | |
| CN204593001U (zh) | 一种led灯条和led灯条测试系统 | |
| JP2006041473A (ja) | ボンディングプロセスにおける電気性能テストを容易にする為のボンディング配列構造及び同構造を用いたテスト方法 | |
| US7386420B2 (en) | Data analysis method for integrated circuit process and semiconductor process | |
| US8426856B2 (en) | Thermally sensitive material embedded in the substrate | |
| CN106842651A (zh) | 显示装置及显示面板的测试方法 | |
| CN112858887A (zh) | 用于集成电路封装的分层缺陷检测方法 | |
| CN211014592U (zh) | 晶圆漏电测试装置 | |
| CN104049168B (zh) | 可自动插拔cpu的ict治具 | |
| CN108231619B (zh) | 用于功率半导体芯片的检测方法 | |
| CN104808129B (zh) | 一种全新的led晶粒检测技术 | |
| CN116577638A (zh) | 一种电路板智能测试系统、方法、装置及介质 | |
| CN116165523A (zh) | 一种集成电路多芯片联合测试方法及装置 | |
| Hanss et al. | Failure identification in LED packages by transient thermal analysis and calibrated FE models | |
| CN1767164A (zh) | 具自动回复功能的晶片测试装置与晶片测试方法 | |
| KR20060125610A (ko) | 반도체 장치 제조 방법 | |
| CN105424614A (zh) | 一种led封装胶的性能测试方法 | |
| CN110264928B (zh) | 一种背光芯片检测方法、装置及存储介质 | |
| CN103730376B (zh) | 封装测试方法 | |
| CN104319244B (zh) | 一种芯片失效中心点的定位方法 | |
| CN214892961U (zh) | 一种快速检测尺寸的量具及应用其的检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |