CN114682524B - 一种信号校正方法、装置及分选设备 - Google Patents

一种信号校正方法、装置及分选设备 Download PDF

Info

Publication number
CN114682524B
CN114682524B CN202011637608.7A CN202011637608A CN114682524B CN 114682524 B CN114682524 B CN 114682524B CN 202011637608 A CN202011637608 A CN 202011637608A CN 114682524 B CN114682524 B CN 114682524B
Authority
CN
China
Prior art keywords
correction plate
correction
original
optical signal
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011637608.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114682524A (zh
Inventor
常宏
井长龙
刘增勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc
Original Assignee
Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc filed Critical Hefei Meyer Optoelectronic Technology Inc
Priority to CN202011637608.7A priority Critical patent/CN114682524B/zh
Publication of CN114682524A publication Critical patent/CN114682524A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114682524B publication Critical patent/CN114682524B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/02Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • B07C5/361Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • B07C5/361Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
    • B07C5/362Separating or distributor mechanisms

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)

Abstract

本申请实施例提供了一种信号校正方法、装置及分选设备,分选设备按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;基于第一校正板反射的第一原始光信号和第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;采集指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号;利用校正光信号对物料进行分选。应用本申请实施例的技术方案中,能够提高光信号的稳定性。

Description

一种信号校正方法、装置及分选设备
技术领域
本申请涉及光电分选技术领域,特别是涉及一种信号校正方法、装置及分选设备。
背景技术
随着经济社会的快速发展,自动化物料分选的应用越来越广泛。目前,实现物料分选的分选设备的工作原理为:开启照明光源,利用光谱传感器采集物料反射的来自照明光源的光信号,对光信号进行分析,得到物料的颜色、亮度和光谱等光学特性,进而基于物料的光学特性,对物料进行分类、分级。
上述分选设备可以实现对存在微小色差或者光谱差异的物料的分类、分级。然而,分选设备中的照明光源和光谱传感器的性能,随使用时间的增长而降低,加上分选设备所处的环境特性、以及照明光源和光谱传感器的温度特性等的影响,会造成分选设备采集到的光信号不稳定,进而导致分选设备的分选性能不稳定,物料分选准确率降低。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种信号校正方法、装置及分选设备,以提高光信号的稳定性。具体技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种信号校正方法,所述方法包括:
按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;
基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;
采集所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;
基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号。
可选的,所述方法还包括:
按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
可选的,所述基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数的步骤,包括:
利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示所述校正参数;
当所述第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示所述第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示所述第一校正板上所述两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当所述第一校正板为单色板时,I11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,I12表示所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,x11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
可选的,所述方法还包括:
按照第二预设时长的间隔,周期性采集所述指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
基于所述第二校正板反射的第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
可选的,当所述第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,所述基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号的步骤,包括:
利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,I01和I02分别表示所述第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示所述第二校正板上所述两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
可选的,当所述第二校正板为单色板时,所述方法还包括:
按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号;
所述基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号的步骤,包括:
利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,且b表示无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示所述第二校正板的标准光信号,x03表示所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
可选的,在得到所述物料的校正光信号之后,所述方法还包括:
利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
第二方面,本申请实施例提供了一种信号校正装置,所述装置包括:
采集单元,用于按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;
确定单元,用于基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;
所述采集单元,还用于采集所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;
校正单元,用于基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号。
可选的,所述采集单元,还用于按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
可选的,所述确定单元,具体用于利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示所述校正参数;
当所述第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示所述第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示所述第一校正板上所述两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当所述第一校正板为单色板时,I11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,I12表示所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,x11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
可选的,所述采集单元,还用于按照第二预设时长的间隔,周期性采集所述指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
所述确定单元,还用于基于所述第二校正板反射的第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
可选的,所述确定单元,具体用于当所述第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,I01和I02分别表示所述第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示所述第二校正板上所述两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
可选的,所述采集单元,还用于当所述第二校正板为单色板时,按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板、反射的第三原始光信号;
所述确定单元,具体用于利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,且b表示无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示所述第二校正板的标准光信号,x03表示所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
可选的,所述装置还包括分选单元,用于在得到所述物料的校正光信号之后,利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
第三方面,本申请实施例提供了一种分选设备,所述分选设备包括指定光源、第一校正板、光谱设备和控制器;
所述指定光源,用于向所述光谱设备的视场范围内发射光信号;
所述控制器,用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制所述第一校正板沿所述光谱设备的视点基线移动;
所述光谱设备,用于采集所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;将所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第二原始光信号传输至所述控制器;
所述控制器,还用于基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号。
可选的,所述分选设备还包括第二校正板;
所述控制器,还用于按照第二预设时长的间隔,周期性控制所述第二校正板沿所述光谱设备的视点基线移动,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
所述光谱设备,还用于采集所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号、以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号;将所述第三原始光信号和第四原始光信号传输至所述控制器;
所述控制器,还用于基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
可选的,所述光谱设备,还用于按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,和/或按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号。
可选的,所述分选设备还包括收纳盒;
所述第一校正板和所述第二校正板停靠在所述收纳盒内;
所述第一校正板为单色板或包括至少两种灰度等级的散射板;所述第二校正板为单色板或包括至少两种灰度等级的散射板。
可选的,所述分选设备还包括运动器件和导轨;所述导轨沿所述光谱设备的视点基线部署,所述第一校正板和所述第二校正板安装在所述运动器件上;
所述控制器,具有用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制所述运动器件沿所述导轨移动,以带动所述第一校正板沿所述导轨移动;按照第二预设时长的间隔,周期性控制所述运动器件沿所述导轨移动,以带动所述第二校正板沿所述导轨移动。
可选的,所述第一校正板封装在透明介质中,所述第二校正板封装在透明介质中。
可选的,所述控制器,还用于在得到所述物料的校正光信号之后,利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一所述的信号校正方法。
本申请实施例还提供了一种计算机程序,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述任一所述的信号校正方法。
本申请实施例有益效果:
本申请实施例提供的技术方案中,周期性地利用校正板反射的光信号,确定校正参数,进而校正物料反射的光信号,降低了各种因素的对光信号的影响,提高了采集到的光信号的稳定性。分选设备利用该稳定性较好的光信号对物料进行分选,提高了分选设备的分选性能,提高了物料分选准确率。
当然,实施本申请的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本申请实施例提供的分选设备的一种结构示意图;
图2为本申请实施例提供的分选设备的另一种结构示意图;
图3为本申请实施例提供的运动器件和校正板的一种连接示意图;
图4a-d为本申请实施例提供的第一校正板的一种运动示意图;
图5a-d为本申请实施例提供的第二校正板的一种运动示意图;
图6为本申请实施例提供的信号校正方法的一种流程示意图;
图7为本申请实施例提供的信号校正装置的一种结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
为便于理解,下面对本申请实施例中出现的词语进行解释说明。
物料包括食品原材料、废物和工业原料等。
光谱设备由光谱传感器组成。光谱传感器采集光信号,生成光谱或图像等。光谱设备可以包括但不限于高光谱相机、多光谱相机和单光谱相机等。本申请实施例中,分选设备可以包括一个或多个光谱设备。
视点基线为:光谱设备的光轴的交点连成的线。视点基线也可以理解为,在光谱设备的视场范围内,与各个光谱设备距离相等的点组成的一条线。
分选区域为:分选设备中对物料进行分析的区域。
目前,分选设备可以实现对存在微小色差或者光谱差异的物料的分类、分级。然而,随着分选设备使用时间的增长,由物料带来的粉尘、以及周围环境中的杂质等会附着在光谱设备的镜头和光源的表面上,这导致光谱设备采集到的物料反射的光信号发生变化,无法对物料进行准确地分类分级。另外,基于照明光源和光谱传感器的温度特性和环境特性,会导致不同时刻照明光源发射的光信号以及光谱传感器采集的光信号发生变化,这同样会导致分选设备采集到的光信号不稳定,无法对物料进行准确地分类分级。
为解决上述光信号不稳定的问题,本申请实施例提供了一种分选设备。如图1所示,该分选设备包括指定光源11、第一校正板12、光谱设备13和控制器14。
指定光源11,用于向光谱设备13的视场范围内发射光信号;
控制器14,用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制第一校正板12沿光谱设备13的视点基线移动;
光谱设备13,用于采集指定光源11照射下第一校正板12反射的第一原始光信号和指定光源11照射下物料反射的第二原始光信号;将第一校正板12反射的第一原始光信号和第二原始光信号传输至控制器14;
控制器14,还用于基于第一校正板12反射的第一原始光信号和第一校正板12的标准光信号,确定光信号的校正参数;基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号。
本申请实施例提供的技术方案中,分选设备周期性地利用校正板反射的光信号,确定校正参数,进而校正物料反射的光信号,降低了各种因素的对光信号的影响,提高了采集到的光信号的稳定性。
本申请实施例提供的技术方案中,分选设备可以利用该稳定性较好的校正光信号对物料进行分选,提高了分选设备的分选性能,提高了物料分选准确率。
另外,本申请实施例提供的技术方案中,利用校正板周期性校正光信号的方式简单易操作,无需要专业技术人员经常性的上门维护,或者复杂的非自动化的客户维护,也不会导致长时间的产线停产,提高了产能且降低了人力成本。
本申请实施例中,分选设备可以包括一个或多个指定光源11,图1中仅以包括4个指定光源11为例,并不起限定作用。具体的分选设备包括的指定光源个数可以根据实际需求进行设定,只要保证指定光源的照射范围能够覆盖分选设备中的分选区域、光照强度满足分选需求即可。
一个实施例中,光谱设备13两侧分别部署一个指定光源11。这样,可以有效保证物料的表面被完全照射到,不会存在阴影部分,进而提高分选设备的分选性能。
例如,如图1所示,分选设备双侧部署光谱设备13,即分选设备包括两个光谱设备13,每一光谱设备13两侧分别部署一个指定光源11。
再例如,如图2所示,分选设备单侧部署光谱设备13,即分选设备包括一个光谱设备13,该光谱设备13两侧分别部署一个指定光源11。
本申请实施例中,第一校正板12可以为单色板。第一校正板12也可以为包括至少两种灰度等级的散射板。指定光源11发射的光信号照射到第一校正板12上后,该第一校正板12将光信号反射至光谱设备13。一个示例中,第一校正板12可以封装在透明介质中,可以保证第一校正板12的表面污损后易于清理。
本申请实施例中,控制器14按照第一预设时长的间隔,周期性控制第一校正板12沿光谱设备13的视点基线移动。其中,第一预设时长可以根据实际需求进行设定。例如,第一预设时长可以为10分钟、20分钟、30分钟或40分钟等。
在本申请的一个实施例中,分选设备还可以包括运动器件15,如图3所示的运动器件15和校正板的连接示意图。第一校正板12安装在运动器件15上。这种情况下,控制器14,具有用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制运动器件15沿视点基线移动,以带动第一校正板12沿视点基线移动。
本申请实施例中,运动器件15可以为具有气缸结构的器件。运动器件15与控制器14连接,控制器14控制运动器件15周期性沿视点基线移动。运动器件15也可以为其他结构的器件,对此不进行限定。
在本申请的一个实施例中,分选设备还可以包括导轨。导轨沿光谱设备的视点基线部署。这样,控制器14可以按照第一预设时长的间隔,周期性控制运动器件15沿导轨移动,以带动第一校正板12沿导轨移动,进而实现第一校正板12沿视点基线移动。因为沿光谱设备的视点基线部署了导轨,因此可以保证第一校正板12准确的沿着视点基线移动,使得第一校正板12能够稳定扫过视点基线进行信号校正,进而准确的校正光谱设备13采集到的光信号。
本申请实施例中,指定光源11开启后,随着控制器14控制第一校正板12移动,光谱设备13采集指定光源11照射下第一校正板12反射的光信号(如第一原始光信号);将第一校正板12反射的第一原始光信号传输至控制器14。控制器14基于第一校正板12反射的第一原始光信号和第一校正板12的标准光信号,确定光信号的校正参数。其中,第一校正板12的标准光信号为预先获知的,可以基于第一校正板12颜色的灰度等级确定。
本申请实施例中,第一校正板12可以为单色板,也可以为包括至少两种灰度等级的散射板。当第一校正板12可以为单色板时,控制器14还可以按照第一预设时长的间隔,周期性采集无指定光源11照射下第一校正板12反射的光信号。本申请实施例中,将按照第一预设时长的间隔采集地第一校正板12反射的光信号统称为第一原始光信号。以使控制器14基于第一校正板12反射的第一原始光信号和第一校正板12的标准光信号,确定光信号的校正参数。
本申请实施例中,控制器14可以采用两点法或者多点法对光信号进行校正。
一个示例中,控制器14可以利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示校正参数;
当第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当第一校正板为单色板时,I11表示无指定光源照射下第一校正板的标准光信号,I12表示指定光源照射下第一校正板的标准光信号,x11表示无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。
本申请实施例中,I11、I12、x11和x12均指同一像素点的光信号。也就是,控制器14对每一像素点分别计算出一组校正参数,实现对光谱图像上所有像素点的光信号的校正。
本申请实施例中,控制器14还可以对于同一像素点计算出多组校正参数,对这多组校正参数进行求均值,得到该一像素点对应的校正参数,以提高校正参数的准确性。
本申请实施例中,控制器14还可以采用其他方式确定校正参数,对此不做限定。
本申请实施例中,在本次确定光信号的校正参数之后至下一次确定光信号的校正参数之前的第一预设时长的周期内,光谱设备13采集指定光源11照射下物料反射的光信号(即第二原始光信号);将第二原始光信号传输至控制器14。控制器14基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号。进而控制器14可以利用校正光信号对物料进行分选。
本申请实施例中,控制器14在确定光信号的校正参数后,还可以将校正参数传输给光谱设备13。光谱设备13采集到指定光源11照射下物料反射的第二原始光信号后,基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号,将校正光信号传输至控制器14。控制器14直接利用校正光信号对物料进行分选。
本申请实施例中,利用物料反射的光信号进行了校正,纠正了因各种因素导致发生变化的光信号,提高了光信号的稳定性,提高了分选设备的分选性能,提高了物料分选准确率。
在本申请的一个实施例中,分选设备还可以包括第二校正板16,如图3所示。这种情况下,控制器14,还可以用于按照第二预设时长的间隔,周期性控制第二校正板16沿光谱设备13的视点基线移动,第二预设时长大于第一预设时长;
光谱设备13,还可以用于采集指定光源11照射下第二校正板16反射的第三原始光信号、以及指定光源11照射下第一校正板12反射的第四原始光信号;将第二校正板16反射的第三原始光信号和第一校正板12反射的第四原始光信号传输至控制器14;
控制器14,还可以用于基于第二校正板16反射的第三原始光信号、第一校正板12反射的第四原始信号和第二校正板16的标准光信号,更新第一校正板12的标准光信号。
本申请实施例提供的技术方案中,在每隔第一预设时长利用第一校正板12对物料反射的光信号进行校正的同时,每隔第二预设时长利用第二校正板16对第一校正板12反射的光信号进行校正。这样,综合考虑第一校正板12和第二校正板16对光信号的校正,可有效延长分选设备准确分选物料的时长,减少了人工维护的次数,降低了人工成本。
本申请实施例中,第二校正板16可以为单色板。第二校正板16也可以为包括至少两种灰度等级的散射板。指定光源11发射的光信号照射到第二校正板16上后,该第二校正板16将光信号反射至光谱设备13。一个示例中,第二校正板16可以封装在透明介质中,可以保证第二校正板16的表面污损后易于清理。
第二校正板16可以一直安装在分选设备上,分选设备周期性的利用第二校正板16校正第一校正板12因自身化学物理特性变化而引起的光谱特性的变化。第二校正板16也可以放置在温度、湿度等环境适于校正板存放的收纳盒内,由用户在发现分选性能下降后,安装到分选设备上。这样,可以大大降低第二校正板16的损坏程度,延迟第二校正板16的使用寿命。
本申请实施例中,控制器14按照第二预设时长的间隔,周期性控制第二校正板16沿光谱设备13的视点基线移动。其中,第二预设时长可以根据实际需求进行设定。例如,第二预设时长可以为一天、一个星期或一个月等。
在本申请的一个实施例中,分选设备还可以包括运动器件15,如图3所示。第二校正板16安装在运动器件15上。这种情况下,控制器14,具有用于按照第二预设时长的间隔,周期性控制运动器件15沿视点基线移动,以带动第二校正板16沿视点基线移动。
在本申请的一个实施例中,分选设备还可以包括导轨。导轨沿光谱设备的视点基线部署。这样,控制器14可以按照第二预设时长的间隔,周期性控制运动器件15沿导轨移动,以带动第二校正板16沿导轨移动,进而实现第二校正板16沿视点基线移动。因为沿光谱设备的视点基线部署了导轨,因此可以保证第二校正板16准确的沿着视点基线移动,使得第而校正板16能够稳定扫过视点基线进行信号校正,进而准确的校正光谱设备13采集到的光信号。
本申请实施例中,指定光源11开启后,随着控制器14控制第一校正板12和第二校正板16移动,光谱设备13采集指定光源11照射下第二校正板16反射的光信号(如第三原始光信号)、以及光源11照射下第一校正板12反射的光信号(如第四原始光信号)。光谱设备13将第三原始光信号和第四原始光信号传输至控制器14。控制器14基于第三原始光信号、第四原始信号和第二校正板16的标准光信号,更新第一校正板12的标准光信号。其中,第二校正板12的标准光信号为预先获知的,可以基于第二校正板12颜色的灰度等级确定。
本申请实施例中,第二校正板16可以为单色板,也可以为包括至少两种灰度等级的散射板。当第二校正板16可以为单色板时,指定光源11关闭后,随着控制器14控制第二校正板16移动,光谱设备13采集无指定光源11照射下第二校正板16反射的光信号。本申请实施例中,将按照第二预设时长的间隔采集地第二校正板16反射的光信号统称为第三原始光信号。以使控制器14基于第三原始光信号、第四原始信号和第二校正板16的标准光信号,更新第一校正板12的标准光信号。
一个示例中,当第二校正板12为单色板时,控制器14可以利用如下公式,更新光信号的校正参数以及第一校正板12的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示校正参数,且b表示无指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示第二校正板的标准光信号,x03表示指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示第一校正板的标准光信号,x3表示第一校正板反射的第四原始信号。
另一个示例中,当第二校正板12为包括至少两种灰度等级的散射板时,控制器14可以利用如下公式,更新光信号的校正参数以及第一校正板12的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示校正参数,I01和I02分别表示第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示第二校正板上两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示第一校正板的标准光信号,x3表示第一校正板反射的第四原始信号。
当第一校正板12为包括至少两种灰度等级的散射板,x3表示第一校正板上两种灰度等级的点反射的第四原始光信号,I1表示第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,也就是,控制器14需要校正第一校正板上两种灰度等级的点。
当第一校正板12为单色板时,x3表示指定光源照射下或无指定光源照射下第一校正板反射的第四原始光信号,I1表示指定光源照射下或无指定光源照射下第一校正板的标准光信号。
本申请实施例中,I03、I1、x01和x3均指同一像素点的光信号。也就是,控制器14对每一像素点分别计算出一组标准光信号。
通过上述公式,控制器14可分别计算得到各个像素点的校正参数,进而确定第一校正板12的标准光信号。更为准确的校正各个像素点的光信号。
本申请实施例中,控制器14在校正第一校正板12的同时,也会获取到校正参数,此时,控制器14还可以利用该校正参数对采集的第二原始光信号进行校正。
在本申请的一个实施例中,为延长校正板的使用寿命,进一步延长分选设备准确分选物料的时长,降低人工成本,分选设备还可以包括收纳盒17,如图4a-d和图5a-d所示的校正板的运动示意图。第一校正板12停靠在收纳盒17内。
本申请实施例中,收纳盒17内的温度、湿度等环境适于第一校正板12。在第一校正板12静止时停靠在收纳盒17内,可以尽可能地保证在收纳盒17内的期间内第一校正板12表面的清洁,以及它们的物理特性不变,保证了第一校正板12和的光谱特性的稳定。
本申请实施例中,第一校正板12的运动流程如图4a-d所示的。第一校正板12安装在运动器件15上。初始时,第一校正板12停靠在光谱设备13的视场范围外的收纳盒17内。进行光信号的校正时,控制器14控制第一校正板12沿视点基线运动,以使第一校正板12扫过各个光谱设备13的视点,例如,第一校正板12分别运动至图4b、图4c所示的位置,之后控制第一校正板12返回至收纳盒17内。在第一校正板12运动的过程中,各个光谱设备13采集第一校正板12反射的第一原始光信号,以对物料反射的第二原始光信号进行校正。
本申请实施例中,第二校正板16的运动流程如图5a-d所示的。第二校正板16在使用的时候可以安装在运动器件15上,同时第一校正板12安装在运动器件15上。初始时,第一校正板12和第二校正板16停靠在光谱设备13的视场范围外的收纳盒17内。进行光信号的校正时,控制器14控制第一校正板12和第二校正板16沿视点基线运动,以使第一校正板12和第二校正板16扫过各个光谱设备13的视点,例如,第一校正板12和第二校正板16分别运动至图5b、图5c所示的位置,之后控制第一校正板12和第二校正板16返回至收纳盒17内。在第一校正板12和第二校正板16运动的过程中,各个光谱设备13采集第二校正板16反射的原始光信号(如第三原始光信号),以对第一校正板12的光谱特性进行校正,另外,各个光谱设备13采集第一校正板12反射的第一原始光信号,以对物料反射的第二原始光信号进行校正。
在本申请的一个实施例中,收纳盒17内还可以设置清洁装置。该清洁装置用于清洁停靠在收纳盒17内的第一校正板12和第二校正板16的表面,延长第一校正板12和第二校正板16的使用时长。
基于上述分选设备实施例,本申请实施例还提供了一种信号校正方法。参见图6,图6为本申请实施例提供的信号校正方法的一种流程示意图。该方法可以应用于分选设备或其他具有光谱设备的电子设备。为便于描述,下面以分选设备为执行主体进行说明,并不起限定作用,该信号校正方法包括如下包括步骤:
步骤S61,按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。
步骤S62,基于第一校正板反射的第一原始光信号和第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数。
本申请实施例中,第一校正板可以为包括至少两种灰度等级的散射板,也可以为单色板。基于此,一个可选的实施例中,分选设备按照第一预设时长的间隔,周期性采集无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。分选设备基于指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号、无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号以及第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数。
一个示例中,上述步骤S62可以包括:利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示校正参数;
当第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当第一校正板为单色板时,I11表示无指定光源照射下第一校正板的标准光信号,I12表示指定光源照射下第一校正板的标准光信号,x11表示无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。
步骤S63,采集指定光源照射下物料反射的第二原始光信号。
步骤S64,基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号。
本申请实施例提供的技术方案中,周期性地利用校正板反射的光信号,确定校正参数,进而校正物料反射的光信号,降低了各种因素的对光信号的影响,提高了采集到的光信号的稳定性。
本申请实施例中,分选设备可以利用该稳定性较好的校正光信号,对物料进行分选,提高了分选设备的分选性能,提高了物料分选准确率。
在本申请的一个实施例中,上述方法还可以包括如下步骤:
步骤一,按照第二预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及光源照射下第一校正板反射的第四原始光信号,第二预设时长大于第一预设时长。
步骤二,基于第二校正板反射的第三原始光信号、第四原始信号和第二校正板的标准光信号,更新校正参数以及第一校正板的标准光信号。
本申请实施例中,第二校正板可以为包括至少两种灰度等级的散射板,也可以为单色板。基于此,一个可选的实施例中,分选设备按照第二预设时长的间隔,周期性采集无指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号。
一个示例中,若第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板,则上述步骤二可以包括:利用如下公式,更新第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,I01和I02分别表示所述第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示所述第二校正板上所述两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
另一个示例中,若第二校正板为单色板,则上述步骤二可以包括:利用如下公式,更新校正参数以及第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示校正参数,且b表示无指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示第二校正板的标准光信号,x03表示指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示第一校正板的标准光信号,x3表示第一校正板反射的第四原始信号。
基于上述分选设备实施例,本申请实施例还提供了一种信号校正装置。参见图7,图7为本申请实施例提供的信号校正装置的一种结构示意图。该装置包括如下包括:
采集单元71,用于按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;
确定单元72,用于基于第一校正板反射的第一原始光信号和第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;
采集单元71,还用于采集指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;
校正单元73,用于基于校正参数对第二原始光信号进行校正,得到物料的校正光信号。
一个可选的实施例中,采集单元71,还可以用于按照第一预设时长的间隔,周期性采集无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。
一个可选的实施例中,确定单元72,具体可以用于利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示校正参数;
当第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示第一校正板上两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当第一校正板为单色板时,I11表示无指定光源照射下第一校正板的标准光信号,I12表示指定光源照射下第一校正板的标准光信号,x11表示无指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号。
一个可选的实施例中,采集单元71,还可以用于按照第二预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及指定光源照射下第一校正板反射的第四原始光信号,第二预设时长大于第一预设时长;
确定单元72,还可以用于基于第二校正板反射的第三原始光信号、第一校正板反射的第四原始信号和第二校正板的标准光信号,更新第一校正板的标准光信号。
一个可选的实施例中,确定单元72,具体可以用于当第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,利用如下公式,更新校正参数以及第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示校正参数,I01和I02分别表示第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示第二校正板上两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示第一校正板的标准光信号,x3表示第一校正板反射的第四原始信号。
一个可选的实施例中,采集单元71,还可以用于当第二校正板为单色板时,按照第二预设时长的间隔,周期性采集无指定光源照射下第二校正板、反射的第三原始光信号;
确定单元72,具体可以用于利用如下公式,更新校正参数以及第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示校正参数,且b表示无指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示第二校正板的标准光信号,x03表示指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示第一校正板的标准光信号,x3表示第一校正板反射的第四原始信号。
一个可选的实施例中,上述信号校正装置还可以包括分选单元,用于在得到物料的校正光信号之后,利用校正光信号对物料进行分选。
本申请实施例提供的技术方案中,周期性地利用校正板反射的光信号,确定校正参数,进而校正物料反射的光信号,降低了各种因素的对光信号的影响,提高了采集到的光信号的稳定性。分选设备利用该稳定性较好的校正光信号对物料进行分选,提高了分选设备的分选性能,提高了物料分选准确率。
与上述信号校正方法对应,本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一信号校正方法的步骤。
与上述信号校正方法对应,本申请实施例还提供了一种计算机程序,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述实施例中任一信号校正方法的步骤。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质,(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于信号校正方法、信号校正装置、计算机可读存储介质实施例而言,由于其基本相似于分选设备实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见分选设备实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本申请的较佳实施例,并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本申请的保护范围内。

Claims (19)

1.一种信号校正方法,其特征在于,所述方法包括:
按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;
基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;
采集所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;
基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号;
所述方法还包括:
按照第二预设时长的间隔,周期性采集所述指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
基于所述第二校正板反射的第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数的步骤,包括:
利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示所述校正参数;
当所述第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示所述第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示所述第一校正板上所述两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当所述第一校正板为单色板时,I11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,I12表示所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,x11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,所述基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号的步骤,包括:
利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
Io2=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,I01和I02分别表示所述第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示所述第二校正板上所述两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述第二校正板为单色板时,所述方法还包括:
按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号;
所述基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号的步骤,包括:
利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,且b表示无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示所述第二校正板的标准光信号,x03表示所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法,其特征在于,在得到所述物料的校正光信号之后,所述方法还包括:
利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
7.一种信号校正装置,其特征在于,所述装置包括:
采集单元,用于按照第一预设时长的间隔,周期性采集指定光源照射下第一校正板反射的第一原始光信号;
确定单元,用于基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;
所述采集单元,还用于采集所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;
校正单元,用于基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号;
所述采集单元,还用于按照第二预设时长的间隔,周期性采集所述指定光源照射下第二校正板反射的第三原始光信号,以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
所述确定单元,还用于基于所述第二校正板反射的第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,
所述采集单元,还用于按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述确定单元,具体用于利用如下公式,确定光信号的校正参数:
I11=k(x11-b);
I12=k(x12-b);
其中,I11和I12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板的标准光信号,x11和x12分别表示两种灰度等级的所述第一校正板反射的第一原始光信号,k和b表示所述校正参数;
当所述第一校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,I11和I12分别表示所述第一校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x11和x12分别表示所述第一校正板上所述两种灰度等级的点反射的第一原始光信号;
当所述第一校正板为单色板时,I11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,I12表示所述指定光源照射下所述第一校正板的标准光信号,x11表示无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,x12表示所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号。
10.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述确定单元,具体用于当所述第二校正板为包括至少两种灰度等级的散射板时,利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
I01=k(x01-b);
I02=k(x02-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,I01和I02分别表示所述第二校正板上两种灰度等级的点对应的标准光信号,x01和x02分别表示所述第二校正板上所述两种灰度等级的点反射的第三原始光信号;I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
11.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述采集单元,还用于当所述第二校正板为单色板时,按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板、反射的第三原始光信号;
所述确定单元,具体用于利用如下公式,更新所述校正参数以及所述第一校正板的标准光信号:
k=I03/(x03-b);
I1=k(x3-b);
其中,k和b表示所述校正参数,且b表示无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I03表示所述第二校正板的标准光信号,x03表示所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号,I1表示所述第一校正板的标准光信号,x3表示所述第一校正板反射的第四原始信号。
12.根据权利要求7-11任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括分选单元,用于在得到所述物料的校正光信号之后,利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
13.一种分选设备,其特征在于,所述分选设备包括指定光源、第一校正板、光谱设备和控制器;
所述指定光源,用于向所述光谱设备的视场范围内发射光信号;
所述控制器,用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制所述第一校正板沿所述光谱设备的视点基线移动;
所述光谱设备,用于采集所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述指定光源照射下物料反射的第二原始光信号;将所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第二原始光信号传输至所述控制器;
所述控制器,还用于基于所述第一校正板反射的第一原始光信号和所述第一校正板的标准光信号,确定光信号的校正参数;基于所述校正参数对所述第二原始光信号进行校正,得到所述物料的校正光信号;
所述分选设备还包括第二校正板;
所述控制器,还用于按照第二预设时长的间隔,周期性控制所述第二校正板沿所述光谱设备的视点基线移动,所述第二预设时长大于所述第一预设时长;
所述光谱设备,还用于采集所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号、以及所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第四原始光信号;将所述第三原始光信号和第四原始光信号传输至所述控制器;
所述控制器,还用于基于所述第二校正板反射第三原始光信号、所述第一校正板反射的第四原始信号和所述第二校正板的标准光信号,更新所述第一校正板的标准光信号。
14.根据权利要求13所述的分选设备,其特征在于,所述光谱设备,还用于按照所述第一预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第一校正板反射的第一原始光信号,和/或按照所述第二预设时长的间隔,周期性采集无所述指定光源照射下所述第二校正板反射的第三原始光信号。
15.根据权利要求13所述的分选设备,其特征在于,所述分选设备还包括收纳盒;
所述第一校正板和所述第二校正板停靠在所述收纳盒内;
所述第一校正板为单色板或包括至少两种灰度等级的散射板;所述第二校正板为单色板或包括至少两种灰度等级的散射板。
16.根据权利要求13所述的分选设备,其特征在于,所述分选设备还包括运动器件和导轨;所述导轨沿所述光谱设备的视点基线部署,所述第一校正板和所述第二校正板安装在所述运动器件上;
所述控制器,具有用于按照第一预设时长的间隔,周期性控制所述运动器件沿所述导轨移动,以带动所述第一校正板沿所述导轨移动;按照第二预设时长的间隔,周期性控制所述运动器件沿所述导轨移动,以带动所述第二校正板沿所述导轨移动。
17.根据权利要求13-16任一项所述的分选设备,其特征在于,所述第一校正板封装在透明介质中,所述第二校正板封装在透明介质中。
18.根据权利要求13-16任一项所述的分选设备,其特征在于,所述控制器,还用于在得到所述物料的校正光信号之后,利用所述校正光信号对所述物料进行分选。
19.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6任一所述的方法步骤。
CN202011637608.7A 2020-12-31 2020-12-31 一种信号校正方法、装置及分选设备 Active CN114682524B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011637608.7A CN114682524B (zh) 2020-12-31 2020-12-31 一种信号校正方法、装置及分选设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011637608.7A CN114682524B (zh) 2020-12-31 2020-12-31 一种信号校正方法、装置及分选设备

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114682524A CN114682524A (zh) 2022-07-01
CN114682524B true CN114682524B (zh) 2023-07-28

Family

ID=82135022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011637608.7A Active CN114682524B (zh) 2020-12-31 2020-12-31 一种信号校正方法、装置及分选设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114682524B (zh)

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE749269A (fr) * 1969-04-22 1970-10-01 Burroughs Corp Circuit de quantification auto-ajustable pour dispositif d'identification de caracteres
DE2415752A1 (de) * 1973-05-15 1974-12-05 Amf Inc Geraet zur bestimmung der helligkeit und der farbtoene von gegenstaenden
US6560357B1 (en) * 1998-06-03 2003-05-06 Fuji Photo Film Co., Ltd. Color correcting method and image reading apparatus
CN101512744A (zh) * 2006-06-29 2009-08-19 马特森技术公司 用于确定晶片温度的方法
CN101743462A (zh) * 2007-07-12 2010-06-16 Abb研究有限公司 压力传感器
CN102069077A (zh) * 2010-10-15 2011-05-25 合肥美亚光电技术有限责任公司 一种激光分选物料装置
CN102929442A (zh) * 2012-08-14 2013-02-13 友达光电股份有限公司 校正光学感测信号的方法
CN103008259A (zh) * 2012-12-28 2013-04-03 合肥美亚光电技术股份有限公司 基于激光透射的物料分选装置
CN103037987A (zh) * 2010-07-02 2013-04-10 施特鲁布有限两合公司 用于对存在于种子批中的物体分类的方法及相应的用于生产种子的用途
CN104584115A (zh) * 2012-08-27 2015-04-29 索尼公司 图像显示设备和图像显示方法、信息通信终端和信息通信方法以及图像显示系统
CN106546325A (zh) * 2016-10-25 2017-03-29 复旦大学 一种光度学测试的光谱校正方法
CN111982283A (zh) * 2020-08-13 2020-11-24 广州市合熠智能科技股份有限公司 一种高精度rgb传感器集成电路系统

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE749269A (fr) * 1969-04-22 1970-10-01 Burroughs Corp Circuit de quantification auto-ajustable pour dispositif d'identification de caracteres
DE2415752A1 (de) * 1973-05-15 1974-12-05 Amf Inc Geraet zur bestimmung der helligkeit und der farbtoene von gegenstaenden
US6560357B1 (en) * 1998-06-03 2003-05-06 Fuji Photo Film Co., Ltd. Color correcting method and image reading apparatus
CN101512744A (zh) * 2006-06-29 2009-08-19 马特森技术公司 用于确定晶片温度的方法
CN101743462A (zh) * 2007-07-12 2010-06-16 Abb研究有限公司 压力传感器
CN103037987A (zh) * 2010-07-02 2013-04-10 施特鲁布有限两合公司 用于对存在于种子批中的物体分类的方法及相应的用于生产种子的用途
CN102069077A (zh) * 2010-10-15 2011-05-25 合肥美亚光电技术有限责任公司 一种激光分选物料装置
CN102929442A (zh) * 2012-08-14 2013-02-13 友达光电股份有限公司 校正光学感测信号的方法
CN104584115A (zh) * 2012-08-27 2015-04-29 索尼公司 图像显示设备和图像显示方法、信息通信终端和信息通信方法以及图像显示系统
CN103008259A (zh) * 2012-12-28 2013-04-03 合肥美亚光电技术股份有限公司 基于激光透射的物料分选装置
CN106546325A (zh) * 2016-10-25 2017-03-29 复旦大学 一种光度学测试的光谱校正方法
CN111982283A (zh) * 2020-08-13 2020-11-24 广州市合熠智能科技股份有限公司 一种高精度rgb传感器集成电路系统

Also Published As

Publication number Publication date
CN114682524A (zh) 2022-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9569858B2 (en) Cloud-based system for water analysis
DE102013114631B4 (de) Kalibrierung der Objektivschattierung für Kameras
US9364071B2 (en) Systems and methods for measuring spectra of skin and other objects and materials and making predictions based thereon
TWI271994B (en) Scanning device calibration system and method
WO2000037903A1 (en) Method and apparatus for determining the appearance of an object
US11754506B2 (en) Imaging assisted scanning spectroscopy for gem identification
US10746599B2 (en) System and method for spectral interpolation using multiple illumination sources
CN109668843A (zh) 一种基于手机的便携式多光谱成像技术检测腊肉品质的方法
Kleinman et al. The WET Standard Photometer
JP6981775B2 (ja) 画像検査装置および画像検査方法
EP1333258B1 (en) Method for correcting sensor output
CN114682524B (zh) 一种信号校正方法、装置及分选设备
WO2022059402A1 (ja) 検査装置、検査方法及び検査プログラム
US11148144B2 (en) Method, apparatus, and computer program product for controlling components of a detection device
CN105954205B (zh) 基于光谱成像的青梅糖度与酸度快速无损检测装置
US20220065781A1 (en) Method to Estimate Surface Gloss
KR101517554B1 (ko) 공액구배 알고리즘을 이용한 비전시스템의 컬러 조명 제어방법
US11698342B2 (en) Method and system for analysing fluorospot assays
KR102049172B1 (ko) 광원에 대한 적응형 방법
JP2013121176A (ja) 撮像装置
CN112304430B (zh) 一种照明现场实时智能监测方法及装置
JP7281500B2 (ja) 画像データの取得方法および取得システム
US11378455B2 (en) Correcting reflectance output values
JP2005140671A (ja) 食パン焼色測定装置
WO2019197952A1 (en) Apparatus and method for determining physical and chemical parameters of an unhomogeneous sample through acquisition and processing of colour images of the sample

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant