CN114637637A - 一种高效的pcie发送端眼图测试装置及控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种高效的PCIE发送端眼图测试装置及控制方法。本发明中利用连接于待测设备PCIE发送端的测试夹具将待测设备多路PCIE信号引出到开关电路，开关电路继而将PCIE信号传输到示波器模块；示波器模块验证多路PCIE信号整体的眼图是否符合待测设备PCIE信号标准，满足则待测设备PCIE发送端通过验证，不满足则示波器模块通知开关电路控制器，开关电路控制器按预设的策略控制开关电路中的开关导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。本申请无需在待测设备配置测试程序，且批量测试多路PCIE信号，测试效率更高。
Description
技术领域
本发明涉及PCIE发送端测试领域，尤其涉及一种高效的PCIE发送端眼图测试装置及控制方法。
背景技术
为保证服务器的平稳运行以及服务器各接口与各部件的完好使用，测量服务器各接口的信号完整性是否符合标准已经成了服务器研发过程中必不可少的重要流程。
一般服务器都会使用大量PCIE设备，为了保证数据传输的安全性和可靠性，PCIE链路的测试对服务器性能评估有着至关重要的影响。PCIE发送端眼图测试对分析定位PCIE信号的信号完整性问题至关重要。眼图是由接口传输的多个比特的波形叠加形成图形，从眼图中可以直观的反应大数据量时的PCIE信号质量。一般的眼图测试多是针对一路PCIE链路，对于配置多路PCIE链路的待测设备而言，需要多个测试设备对多路PCIE链路并行测试，或者通过一个测试设备逐一对PCIE链路测试，多个测试设备并行测试虽然耗时端，但所需测试设备多，测试设备的平均测试效率低，单个测试设备逐一测试，测试耗时长，测试设备的平均测试效率低。
发明内容
为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本发明提供一种高效的PCIE发送端眼图测试装置及控制方法。
第一方面，本发明提供一种高效的PCIE发送端眼图测试装置，包括：连接于待测设备PCIE发送端用于将待测设备多路PCIE信号引出的测试夹具；和，
经信号传输线路连接所述测试夹具用于控制多路PCIE信号的测试信道断开导通的开关电路，其中，所述开关电路连接用于控制开关电路状态的开关控制器；和，
经信号传输线路连接所述开关电路用于测量分析多路PCIE信号眼图的示波器模块，其中，所述示波器模块通讯连接所述开关控制器，所述示波器模块检测多路PCIE信号整体的眼图不符合PCIE信号标准时，通知开关电路控制器，开关电路控制器按预设的策略控制开关电路中的开关导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。
更进一步地，所述开关控制器电连接第一验证模块，其中，所述第一验证模块包括：与所述测试夹具配合的接口，所述接口连接用于提供验证电压的电压转换单元，所述电压转换单元连接稳压单元，所述稳压单元连接交直流转换单元，其中，所述电压转换单元配置指示验证电压稳定的powergood引脚，所述电压转换单元powergood引脚电连接所述开关控制器。
更进一步地，所述电压转换单元包括：连接所述稳压单元的用于提供第一验证电压的第一电压转换电路和用于提供第二验证电压的第二电压转换电路，所述第一电压转换电路和所述第二电压转换电路经选择开关连接所述接口，所述第一电压转换电路和第二电压转换电路配置的powergood引脚分别连接所述开关控制器。
更进一步地，所述选择开关配置状态指示电路，所述状态指示电路电连接开关控制器。
更进一步地，所述电压转换单元采用可调电压转换电路，所述可调电压转换电路受控输出第一验证电压或第二验证电压。
更进一步地，所述示波器模块包括示波器，连接所述示波器用于获取示波器测量数据并分析的数据分析单元，所述数据分析单元通讯连接所述开关控制器。
更进一步地，还包括：第二验证模块，所述第二验证模块用于生成符合待测设备PCIE信号标准的PCIE信号，所述第二验证模块配置与所述测试夹具配合的连接口，所述测试夹具插接连接口连接所述第二验证模块。
第二方面，本发明提供一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法，应用于所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，包括：
将测试夹具连接第一验证模块，使第一验证模块上电；开关控制器接收到设定验证电压的powergood信号后，自动控制开关电路中的每个开关逐一顺序开闭，根据示波器模块检测验证电压是否输出，判断开关电路中每个开关是否正常；
将测试夹具连接第二验证模块，开关控制器控制开关电路中每个开关导通，使第二验证模块上电发送符合待测设备PCIE信号标准端PCIE信号，根据示波器模块检测第二验证模块发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准判断测试信道是否正常；
将测试夹具连接待测设备的PCIE发送端，开关控制器控制开关电路中每个开关导通，使待测设备发送PCIE信号，根据示波器模块检测待测设备发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准；不符合时，示波器模块通知开关控制器，开关控制器控制开关电路中开关按预设的策略导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。
更进一步地，所述预设的策略采用控制开关电路中开关逐一导通查看示波器模块测量结果定位异常的测试信道，或采用控制开关电路中开关按二分法导通关闭，查看示波器模块的测量结果定位异常测试信道。
更进一步地，同一测试信道的PCIE信号连续不符合待测设备PCIE信号标准的次数超过预设的阈值次数时，发出提示，根据提示利用第一验证模块和第二验证模块重新验证开关电路和测试信道是否正常。
本发明实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
本发明利用测试夹具将待测设备的多路PCIE信号引出通过示波器模块测试全部多路PCIE信号眼图的眼高、眼宽以及抖动是否符合待测设备PCIE信号标准，是则通过测试，否则，开关控制器控制连接于示波器模块和测试夹具之间的开关电路中每个开关的导通断开，实现二分法，利用二分法找出测试的多路PCIE信号中不符合待测设备PCIE信号标准的。
本发明利用高效的PCIE发送端眼图测试装置对待测设备的PCIE发送端进行测试，无需在待测设备配置测试程序，减少测试程序在待测设备的配置卸载流程，能够提高测试效率。
本发明基于待测设备良率明显高于不良率的现状，通过示波器模块对多路PCIE信号共同测量，多路PCIE信号整体正常，则进行测量的多路PCIE信号均通过测试，仅在存在PCIE信号异常时通过二分法对异常的测试信道定位，测试效率高。
在测试前，利用第一验证模块提供验证电压，开关控制器控制开关电路中每个开关的逐一顺序导通，根据示波器模块能否检测到验证电压判断开关电路中每个开关是否正常工作。避免开关电路异常导致测试失败，使得测试结果更加可靠。
在测试前，利用第二验证模块提供符合待测设备PCIE信号标准的PCIE信号，利用示波器模块检测第二验证模块的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准判断测试信道是否正常。避免测试信道故障影响测试结果，使得测试结果更加可靠。
在测试中，在同一测试信道的PCIE信号连续不符合待测设备PCIE信号标准的次数超过预设的阈值次数时，发出提示，测试过程中根据提示利用第一验证模块和第二验证模块重新验证开关电路和测试信道是否正常。测试过程中，测试结果可能因测试信道和开关电路故障而异常时，对测试信道和开关电路进行测试，避免其影响，使得测试结果更加可靠。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的示意图；
图2为本发明实施例提供的示波器模块的示意图；
图3为本发明实施例提供的配置第一验证模块的一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的示意图；
图4为本发明实施例提供的第一验证模块的示意图；
图5为本发明实施例提供的一种第一验证模块的示意图；
图6为本发明实施例提供的配置第二验证模块的一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的示意图；
图7为本发明实施例提供的配置第一验证模块和第二验证模块的一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的示意图；
图8为本发明实施例提供的一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法的流程图。
图中标号及含义如下：1、测试夹具，2、开关电路，3、开关控制器，4、示波器模块，41、示波器，42、数据分析单元，5、第一验证模块，51、接口，52、电压转换单元，53、稳压单元，54、交直流转换单元，6、第二验证模块。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
实施例1
参阅图1所示，本发明实施例提供一种高效的PCIE发送端眼图测试装置，包括：连接于待测设备PCIE发送端用于将待测设备多路PCIE信号引出的测试夹具1，所述测试夹具1适配待测设备PCIE发送端的接口；和，经信号传输线路连接所述测试夹具1用于控制多路PCIE信号的测试信道断开导通的开关电路2，具体的，所述开关电路2包括若干开关，开关电路2中开关的数量不少于待测设备PCIE信号链路数量；其中，所述开关电路2连接用于控制开关电路状态的开关控制器3。一种可行的所述开关控制器3采用CPLD，所述开关控制器3通过GPIO连接所述开关电路2的使能引脚，控制所述开关电路2中各个开关的导通和断开。
和，经信号传输线路连接所述开关电路2中全部开关的用于测量分析多路PCIE信号眼图的示波器模块4，其中，所述示波器模块4通讯连接所述开关控制器3。参阅图2所示，所述示波器模块4包括用于测量待测设备多路PCIE信号眼图的示波器41，和连接所述示波器41用于获取示波器测量数据并分析的数据分析单元42，其中，所述数据分析单元42通讯连接所述开关控制器3。具体实施过程中，所述数据分析单元42从所述示波器41获取眼图参数，眼图参数包括但不限于眼高眼宽和抖动，并将眼图参数与预设于数据分析单元42中的待测设备PCIE信号标准进行比较，判断眼图是否符合PCIE信号标准。若符合则判断待测设备的PCIE发送端功能正常，若不符合，则所述数据分析单元42通知所述开关控制器3，所述开关控制器3控制开关电路2中各个开关按二分法导通断开，找出异常的测试信道。
实施例2
参阅图3所示。实施例2相比实施例1增加了用于验证开关电路中各个开关功能的第一验证模块5，所述第一验证模块5通过接口与测试夹具1连接。其中，参阅图4所示，所述第一验证模块5包括：与所述测试夹具1配合的接口51，所述接口51连接用于提供验证电压的电压转换单元52，所述电压转换单元连接稳压单元53，所述稳压单元53连接交直流转换单元54，其中，所述电压转换单元配置指示验证电压稳定的powergood引脚，所述电压转换单元powergood引脚电连接所述开关控制器3。所述开关控制器3控制开关电路2中开关逐一顺序导通，通过示波器模块4能否检测出验证电压判断开关电路中的开关是否正常。
具体实施过程中，一种可行的所述电压转换单元采用可调电压转换电路，所述可调电压转换电路受控输出第一验证电压或第二验证电压。
具体实施过程中，参阅图5所示，另一种可行的所述电压转换单元包括：连接所述稳压单元的用于提供第一验证电压的第一电压转换电路和用于提供第二验证电压的第二电压转换电路，所述第一电压转换电路和所述第二电压转换电路经选择开关连接所述接口51，所述第一电压转换电路和第二电压转换电路配置的powergood引脚分别连接所述开关控制器3。所述选择开关配置状态指示电路，所述状态指示电路电连接开关控制器3，所述状态指示电路用于指示选择开关的选位，选择开关连接第一电压转换电路和接口时，所述状态指示电路向所述开关控制器发送高电平，选择开关连接第二电压转换电路和接口时，所述状态指示电路向所述开关控制器发送第电平。所述开关控制器3根据状态指示电路判断设定的测试电压，具体实施过程中，针对PCIE信号高电平具有5V和3.3V两种规格，第一验证电压和第二验证电压采用5V和3.3V。
实施例3
参阅图6所示，实施例3相比实施例1增加了用于验证测试信道是否正常的第二验证模块6。第二验证模块6，所述第二验证模块6用于生成符合待测设备PCIE信号标准的PCIE信号，所述第二验证模块6配置与所述测试夹具1配合的连接口，所述测试夹具1插接连接口连接所述第二验证模块6。所述开关控制器3控制开关电路2中开关全部导通，通过示波器模块4测量的第二验证模块6的PCIE信号眼图是否正常判断测试信道是否正常。
实施例4
参阅图7所示，实施例4将实施例2和实施例3结合，相比实施例1增加了第一验证模块和第二验证模块。
实施例5
本发明实施例还提供一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法，应用于所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，参阅图8所示，包括：
S100，利用第一验证模块测试开关电路中开关是否正常，包括：
S101，开关控制器控制开关电路中全部开关断开。
S102，将测试夹具连接第一验证模块的接口，控制第一验证模块上电。第一验证模块上电后，交直流转换单元将交流转为直流，并经过稳压单元稳压后，提供到电压转换单元的输入端，电压转换单元将输入的直流电压转为验证电压。
S103，开关控制器检测验证电压是否稳定。验证电压稳定则执行S104和S105，验证电压不稳定则执行S106。所述电压转换单元提供验证电压稳定后，通过powergood引脚通知所述开关控制器，开关控制器根据powergood引脚信号判断验证电压是否稳定。具体的，对于包括第一电压转换电路和第二电压转换电路的电压转换单元，开关控制器根据状态指示电路的信号判断由第一电压转换电路提供验证电压还是有第二电压转换电路提供验证电压，进而根据提供验证电压的第一电压转换电路或第二电压转换电路的powergood信号判断验证电压是否稳定。具体实施过程中，根据待测设备PCIE发送端发出PCIE信号高电平的类型配置第一验证模块的输出验证电压。
S104，所述开关控制器响应于验证电压稳定，控制开关电路中的开关逐一顺序导通，相邻顺序的开关切换时设置一定导通延迟。
S105，查看示波器模块能否检测到验证电压，能检测到则判断开关电路中正常执行S200，若存在检测不到则判断开关电路故障。
S106，统计不稳定持续时间，在不稳定持续时间达到预设的时间阈值后，开关控制器报第一验证模块故障。
S200，利用第二验证模块测试测试信道是否正常，包括：
S201，开关控制器控制开关电路中每个开关导通。
S202，将测试夹具连接第二验证模块，使第二验证模块上电发送符合待测设备PCIE信号标准端PCIE信号。
S203，示波器模块检测第二验证模块发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准。
符合待测设备PCIE信号标准则，执行S204，判断测试信道正常并执行S300。
不符合待测设备PCIE信号标准则，执行S205，判断测试信道异常。
S300，高效的PCIE发送端眼图测试装置对待测设备的PCIE发送端进行测试，包括：
S301，开关控制器控制开关电路中每个开关导通。
S302，将测试夹具连接待测设备的PCIE发送端，使待测设备发送PCIE信号。
S303，示波器模块检测待测设备发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准。
不符合待测设备PCIE信号标准则，执行S304，示波器模块通知开关控制器，开关控制器按预设的策略导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。具体的，所述预设的策略采用控制开关电路中开关逐一导通查看示波器模块测量结果定位异常的测试信道，或采用控制开关电路中开关按二分法导通关闭，查看示波器模块的测量结果定位异常测试信道。
符合待测设备PCIE信号标准则，执行S305，待测设备通过测试。
S400，测试过程中，示波器模块分析相同测试信道的PCIE信号连续不符合待测设备PCIE信号标准的次数是否超过预设的阈值次数。
超过阈值次数则，发出提示，执行S100和S200，根据提示利用第一验证模块和第二验证模块重新验证开关电路和测试信道是否正常。
未超过阈值次数则，继续执行S300。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，包括：连接于待测设备PCIE发送端用于将待测设备多路PCIE信号引出的测试夹具(1)；和，
经信号传输线路连接所述测试夹具(1)用于控制多路PCIE信号的测试信道断开导通的开关电路(2)，其中，所述开关电路(2)连接用于控制开关电路状态的开关控制器(3)；和，
经信号传输线路连接所述开关电路(2)用于测量分析多路PCIE信号眼图的示波器模块(4)，其中，所述示波器模块(4)通讯连接所述开关控制器(3)，所述示波器模块(4)检测多路PCIE信号整体的眼图不符合PCIE信号标准时，通知开关电路控制器(3)，开关电路控制器(3)按预设的策略控制开关电路(2)中的开关导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。
2.根据权利要求1所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，所述开关控制器(3)电连接第一验证模块(5)，其中，所述第一验证模块(5)包括：与所述测试夹具(1)配合的接口(51)，所述接口(51)连接用于提供验证电压的电压转换单元(52)，所述电压转换单元连接稳压单元(53)，所述稳压单元(53)连接交直流转换单元(54)，其中，所述电压转换单元配置指示验证电压稳定的powergood引脚，所述电压转换单元powergood引脚电连接所述开关控制器(3)。
3.根据权利要求2所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，所述电压转换单元(52)包括：连接所述稳压单元的用于提供第一验证电压的第一电压转换电路和用于提供第二验证电压的第二电压转换电路，所述第一电压转换电路和所述第二电压转换电路经选择开关连接所述接口(51)，所述第一电压转换电路和第二电压转换电路配置的powergood引脚分别连接所述开关控制器(3)。
4.根据权利要求3所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，所述选择开关配置状态指示电路，所述状态指示电路电连接开关控制器(3)。
5.根据权利要求2所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，所述电压转换单元采用可调电压转换电路，所述可调电压转换电路受控输出第一验证电压或第二验证电压。
6.根据权利要求1所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，所述示波器模块(4)包括示波器(41)，连接所述示波器(41)用于获取示波器测量数据并分析的数据分析单元(42)，所述数据分析单元(42)通讯连接所述开关控制器(3)。
7.根据权利要求1所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，还包括：第二验证模块(6)，所述第二验证模块(6)用于生成符合待测设备PCIE信号标准的PCIE信号，所述第二验证模块(6)配置与所述测试夹具(1)配合的连接口，所述测试夹具(1)插接连接口连接所述第二验证模块(6)。
8.一种高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法，应用于如权利要求1-7任一所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置，其特征在于，包括：
将测试夹具连接第一验证模块，使第一验证模块上电；开关控制器接收到设定验证电压的powergood信号后，自动控制开关电路中的每个开关逐一顺序开闭，根据示波器模块检测验证电压是否输出，判断开关电路中每个开关是否正常；
将测试夹具连接第二验证模块，开关控制器控制开关电路中每个开关导通，使第二验证模块上电发送符合待测设备PCIE信号标准端PCIE信号，根据示波器模块检测第二验证模块发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准判断测试信道是否正常；
将测试夹具连接待测设备的PCIE发送端，开关控制器控制开关电路中每个开关导通，使待测设备发送PCIE信号，根据示波器模块检测待测设备发出的PCIE信号是否符合待测设备PCIE信号标准；不符合时，示波器模块通知开关控制器，开关控制器控制开关电路中开关按预设的策略导通关闭将不符合待测设备PCIE信号标准的测试信道找出。
9.根据权利要求8所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法，其特征在于，所述预设的策略采用控制开关电路中开关逐一导通查看示波器模块测量结果定位异常的测试信道，或采用控制开关电路中开关按二分法导通关闭，查看示波器模块的测量结果定位异常测试信道。
10.根据权利要求8所述的高效的PCIE发送端眼图测试装置的控制方法，其特征在于，同一测试信道的PCIE信号连续不符合待测设备PCIE信号标准的次数超过预设的阈值次数时，发出提示，根据提示利用第一验证模块和第二验证模块重新验证开关电路和测试信道是否正常。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN108108277A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-06-01 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种pcie发送端码型测试系统及测试方法 |
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2022
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Patent Citations (3)
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| CN108108277A (zh) * | 2017-12-19 | 2018-06-01 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种pcie发送端码型测试系统及测试方法 |
| CN108153630A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-06-12 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种信号测试装置 |
| CN110908359A (zh) * | 2019-11-01 | 2020-03-24 | 日立楼宇技术（广州）有限公司 | 功能测试设备、方法及装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115904849A (zh) * | 2023-01-09 | 2023-04-04 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Pcie链路信号测试方法、系统、计算机设备及介质 |
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