CN114627955B - 功耗测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。所述测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。本公开采用小于或等于系统的数据处理量的测试数据量进行测试，获取其测试功耗，将功耗与系统的数据处理量相结合，实现对存储器的功耗的量化分析，提高测试的准确性以及测试结果的可靠性。

Description

功耗测试方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

无论是移动设备还是大型数据中心，都会消耗相当大的电量，其中，存储器的功耗占了很大一部分。因此，存储器的功耗是一个很重要的性能指标。但是在以往分析存储器的功耗时，只能进行定性分析，无法进行定量分析。

发明内容

以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种功耗测试方法，所述功耗测试方法包括：

根据所述待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；

对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；

根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。

根据本公开的一些实施例，根据待测数据量确定预设时长及所述预设时长对应的测试数据量，包括：

根据所述待测数据量，确定所述预设测试操作的运行时长；

根据第一预设规则将所述运行时长分成N份所述预设时长，根据第二预设规则将所述待测数据量分成N份所述测试数据量，其中，N为大于或等于1的整数。

根据本公开的一些实施例，所述第一预设规则包括按照时长等分，所述第二预设规则包括按照所述第一预设规则的等分数量对所述待测数据量等分。

根据本公开的一些实施例，根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗，包括：

将N份所述预设时长内的测试功耗之和，作为所述存储单元的功耗。

根据本公开的一些实施例，所述功耗测试方法还包括：

获取所述预设测试操作的测试时长；

当所述测试时长小于或等于所述预设时长时，将所述测试功耗作为所述存储单元在所述预设时长内的功耗。

根据本公开的一些实施例，所述预设测试操作包括预设读写操作，所述获取所述预设时长内的测试功耗，包括：

获取向所述存储单元执行所述预设读写操作的第一测试功耗；

将所述第一测试功耗作为所述预设时长内的测试功耗。

根据本公开的一些实施例，对所述存储单元执行预设测试操作，包括：

在对所述存储单元执行所述预设读写操作后，使所述存储单元处于休眠状态。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种功耗测试装置，所述功耗测试装置包括：

第一确定模块，被配置为，根据所述待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；

执行模块，被配置为，对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；

第二确定模块，被配置为，根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。

根据本公开的一些实施例，所述第一确定模块被配置为，

根据所述待测数据量，确定所述测试操作的运行时长；

根据第一预设规则将所述运行时长分成N份所述预设时长，根据第二预设规则将所述待测数据量分成N份所述测试数据量，其中， N为大于或等于1的整数。

根据本公开的一些实施例，所述第一预设规则包括按照时长等分，所述第二预设规则包括按照所述第一预设规则的等分数量对所述待测数据量等分。

根据本公开的一些实施例，所述第二确定模块被配置为，将N份所述预设时长内的所述测试功耗之和，作为所述存储单元的功耗。

根据本公开的一些实施例，所述功耗测试装置还包括：

获取模块，被配置为，获取所述预设测试操作的测试时长；

第三确定模块，被配置为，所述测试时长小于或等于所述预设时长，将所述测试功耗作为所述存储单元在所述预设时长内的功耗。

根据本公开的一些实施例，所述第二确定模块被配置为，获取向存储单元执行所述预设读写操作的第一测试功耗；将所述第一测试功耗作为所述预设时长内的测试功耗。

根据本公开的一些实施例，所述执行模块被配置为，在对所述存储单元执行所述预设读写操作后，使所述存储单元处于休眠状态。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种功耗测试设备，所述测试设备包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行根据以上内容所述的功耗测试方法。

根据本公开实施例的第四方面，提供一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由功耗测试设备的处理器执行时，使得所述功耗测试设备能够执行根据以上内容所述的功耗测试方法。

本公开实施例所提供的功耗测试方法、装置、设备及存储介质中，根据待测数据量确定测试的预设时长以及预设时长对应的测试数据量，采用小于或等于系统的数据处理量的测试数据量进行测试，获取测试过程中的测试功耗，将功耗与系统的数据处理量相结合，实现对存储单元的功耗的量化分析，提高测试的准确性以及测试结果的可靠性。

在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。

附图说明

并入到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例，并且与描述一起用于解释本公开实施例的原理。在这些附图中，类似的附图标记用于表示类似的要素。下面描述中的附图是本公开的一些实施例，而不是全部实施例。对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是相关技术中一种功耗的测试电路示意图；

图2是根据一示例性实施例示出的一种功耗测试方法的流程图；

图3是根据一示例性实施例示出的图2中步骤S100的实施流程图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种功耗测试方法的补充流程图；

图5是根据一示例性实施例示出的图2中步骤S200的实施流程图；

图6是根据一示例性实施例示出的一种功耗测试装置的结构示意图；

图7是根据一示例性实施例示出的一种功耗测试设备的框图。

具体实施方式

为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附图，对公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

DRAM（Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器）的功耗难以准确量化计算，是因为该类器件工作状态繁多，而且在系统运行过程中，这些工作状态不断切换，导致DRAM的功耗测试和计算更加困难。

在相关技术中，如图1所示，对于DRAM的功耗测试，在VDD1/VDD2/VDDQ端分别接入激励电源，并在被测器件DUT（Device Under Test）（即被测DRAM）与激励源之间接入电流表，然后调整DRAM的工作状态，通过电流表直接读取电流值。

其测试过程包括：系统上电，然后更改系统运行状态，例如飞行模式、待机、播放视频等，读取并记录每次更改运行状态后的电流值；记录多次测量的电流值，取平均值后计算DRAM的功耗。

但是上述测试方式，只能对DRAM的功耗进行定性分析，无法定量分析。不同次的测量，运行状态不同，则其带宽可能存在较大的差异，因此需要多次测量来计算平均值，增加测试的工作量。同时，由于系统运行状态的切换，不同时刻的DRAM的时钟可能存在变化，无法分析指定频点的功耗，也无法对指定的物理单元的功耗进行定量分析。

本公开提供一种功耗测试方法，能够对存储器的功耗进行测试，利用微分思想，将DRAM的带宽转换为单位时间段内的数据处理量，进而实现功耗与带宽之间的定量分析。

图2是一个示例性实施例中功耗测试方法的流程图，参照图2所示，该功耗测试方法包括以下步骤：

步骤S100，根据待测数据量确定预设时长以及预设时长对应的测试数据量，其中，测试数据量小于或等于系统的数据处理量；

步骤S200，对存储单元执行预设测试操作，并获取预设时长内的测试功耗；

步骤S300，根据测试功耗和预设时长，确定存储单元的功耗。

由于系统的工作状态不同，其运行模式也不同，其允许的带宽（即单位时间内的数据处理量）也不同，本公开实施例所提供的测试方法，可测试存储单元在不同运行模式下的功耗，也就是将存储单元的功耗与系统在单位时间内的数据处理量相结合，实现功耗的量化测试。

在步骤S100中，根据待测数据量，确定执行预设测试操作的预设时长，并确定预设时长对应的测试数据量，即执行预设测试操作所采用的测试数据量，该测试数据量小于或等于系统的数据处理量。其中，系统的数据处理量为待测试的存储单元所在的系统的数据处理量，即为该系统的CPU（central processing unit，中央处理器）或处理器的数据处理量。

在一个示例性实施例中，可以获取待测试的存储单元的当前运行模式，根据当前运行模式，确定该存储单元在当前运行模式下的带宽，即确定存储单元在当前运行模式下的数据处理量。当测试数据量小于或等于该系统的数据处理量时，采用此测试数据量对存储单元进行功耗测试。

在步骤S200中，采用步骤S100中确定的测试数据量和预设时长对存储单元执行预设测试操作，并且在执行完预设测试操作之后，获取预设时长内的测试功耗。示例性地，可以在测试设备或测试系统中，通过功耗记录端口或器件，直接获取执行测试操作过程的测试功耗。

在步骤S300中，根据预设时长以及在预设时长内执行预设测试操作的测试功耗，确定存储单元的功耗。例如，可以根据预设时长以及预设时长内的测试功耗，确定存储单元在单位时间内的功耗或者某时长内的功耗。

本公开实施例所提供的测试方法，将测试数据量与系统的数据处理量相结合，利用该测试数据量执行预设测试操作，并获取预设时长内的测试功耗，实现存储单元的功耗与带宽相结合的测试，即实现功耗与带宽之间的定量分析，提高测试结果的准确性和可靠性，减少测试次数，提高测试效率。

图3是一个示例性实施例中步骤S100的实施流程图，参照图3所示，根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，包括：

步骤S110，根据待测数据量，确定预设测试操作的运行时长；

步骤S120，根据第一预设规则将运行时长分成N份预设时长，根据第二预设规则将待测数据量分成N份测试数据量，其中，N为大于或等于1的整数。

在本实施例中，根据待测数据量，以及系统的数据处理量，确定预设测试操作的运行时长。示例性地，预设测试操作的运行时长大于或等于待测数据量与系统的数据处理量的比值，以确保单位运行时长内执行预设测试操作的数据处理量小于或等于系统的数据处理量，满足存储单元的测试和运行需求。

在步骤S120中，根据第一预设规则将运行时长分成N份预设时长，根据第二预设规则将待测数据量分成N份测试数据量，其中，N为大于或等于1的整数。在预设时长内，对每一份测试数据量执行一次预设测试操作，即可获取存储单元在预设时长内的测试功耗。

在一些实施例中，第一预设规则包括按照时长等分，第二预设规则包括按照第一预设规则的等分数量对待测数据量等分。

示例性地，将运行时长等分为N份预设时长，即预设时长为运行时长的1/N；将待测数据量按数据量等分为N份测试数据量，即测试数据量为待测数据量的1/N。例如，运行时长为1s，待测数据量为1000M时，N=1000，则预设时长为1/1000s，则测试数据量为1M；运行时长为2s，待测数据量为2000M时，N=2000，则预设时长为2/2000s，则测试数据量为1M。

在本公开实施例中，采用双重等分的方式，保证在每个预设时长内执行预设测试操作采用的测试数据量均相同，确保所获得的测试结果的均衡性和可靠性。

在本公开实施例中，在执行步骤S100之前，还包括获取待测存储单元的存储容量，根据待测存储单元的存储容量，确定待测数据量，再结合存储单元在当前运行模式下的带宽（即存储单元当前在单位时间内所能达到的数据处理量），可以确定待测存储单元的运行时长。

在一些实施例中，根据测试功耗和预设时长，确定存储单元的功耗，包括：将N份预设时长内的测试功耗之和，作为存储单元的功耗。

在本公开实施例中，一个预设时长内的测试功耗作为存储单元在一个预设时长内的功耗，因此，可以将N份预设预设时长内的测试功耗之和，作为存储单元在运行时长内的功耗，即在N份预设时长内的总功耗。

图4是一个示例性实施例中存储器功耗的测试方法的补充流程图，参照图4所示，在一些实施例中，该测试方法还包括以下步骤：

步骤S201，获取预设测试操作的测试时长；

步骤S202，当测试时长小于或等于预设时长时，将测试功耗作为存储单元在预设时长内的功耗。

其中，预设时长为完整执行一次本公开实施例的测试方法的时长，测试时长为执行预设测试操作的时长。

在本公开实施例中，当测试时长小于或等于预设时长时，说明在预设时长内，可以完整执行一次预设测试操作，此时所获取到的测试功耗，即为执行预设测试操作的功耗。

在一些实施例中，对存储单元执行预设测试操作，包括：

在对存储单元执行预设读写操作后，使存储单元处于休眠状态。

当测试时长等于预设时长时，执行预设测试操作的功耗即为存储单元在预设时长内的测试功耗，可以作为该存储单元在当前运行模式下的预设时长内的功耗。

而当测试时长小于预设时长时，执行完预设测试操作之后的时间内，可以将存储单元休眠，以满足预设时长作为执行该测试方法的周期。在本实施例中，当存储单元处于休眠状态时，功耗可以忽略不计，因此，仍然可以将获取的测试功耗作为存储单元在当前运行模式下在预设时长内的功耗。示例性地，当运行时长为1s，待测数据量为1000M，N=1000，则预设时长为1/1000s，测试数据量为1M时，由于存储单元在单位时间内所能处理的数据量大于测试数据量，使得测试时长小于运行时长，例如，测试时长为0.6s，则休眠时长=运行时长-测试时长，即休眠时长为0.4s。

图5是一个示例性实施例中步骤S200的实施流程图，参照图5所示，在一些实施例中，预设测试操作包括预设读写操作时，获取预设时长内的测试功耗，包括：

步骤S210，获取向存储单元执行预设读写操作的第一测试功耗；

步骤S220，将第一测试功耗作为预设时长内的测试功耗。

当预设测试操作包括预设读写操作时，在步骤S210中，可以通过运行系统或设备的专用器件或模块，直接读取在预设时长内、向存储单元执行预设读写操作的第一测试功耗。

在本实施例中，可直接将执行预设读写操作过程的第一测试功耗作为执行预设测试操作的测试功耗，并据此确定存储单元的功耗。

在一些实施例中，在步骤S100之前，该功耗测试方法还包括：根据存储单元的当前运行模式，确定预设时长内系统的数据处理量。

根据存储器的当前运行模式，确定存储器在当前运行模式下的带宽，也就是确定存储器在当前运行模式下单位时间内的数据处理量，进而确定预设时长内系统的数据处理量。

本公开实施例的功耗测试方法，与存储单元在当前运行模式下、其在预设时长内的数据处理量相结合，测试存储单元的测试功耗，量化了存储单元的功耗，实现存储单元的功耗与带宽相结合的量化测试、分析，提高测试结果的可靠性，提高测试效率。

在一些示例性实施例中，还可以将待测存储单元按照第三预设规则分成M个预设存储单元，M为大于或等于1的整数，在执行测试的过程中，每执行一次上述测试方法，可以针对其中的一个或多个预设存储单元进行测试。

在一些实施例中，第三预设规则包括按照存储容量等分，即可以按照存储容量等分的方式，将待测存储单元等分成M个预设存储单元，以确保针对不同的预设存储单元执行上述测试方法所获得的测试结果的均衡性和可靠性。

在一些实施例中，针对一个预设存储单元执行测试时，测试结果即为该预设存储单元的功耗。针对M个预设存储单元执行测试时，可以根据每个预设存储单元的测试功耗和预设时长，确定存储单元的功耗。

本公开一示例性实施例提供一种功耗测试装置，如图6所示，该功耗测试装置400包括：第一确定模块410、执行模块420和第二确定模块430。其中，

第一确定模块410被配置为，根据待测数据量确定预设时长以及预设时长对应的测试数据量，其中，测试数据量小于或等于系统的数据处理量；

执行模块420被配置为，对存储单元执行预设测试操作，并获取预设时长内的测试功耗；

第二确定模块430被配置为，根据测试功耗和预设时长，确定存储单元的功耗。

本公开实施例提供的存储器功耗的测试装置400，可以包含不同类型的非易失性存储器装置和/或易失性存储器装置的任何组合。其中，易失性存储器装置，例如，存储器装置，可以包括但不限于随机存取存储器（RAM），例如，动态随机存取存储器（DRAM）及同步动态随机存取存储器（SDRAM）。

该存储器功耗的测试装置400中，第一确定模块410可以为微控制器、专用逻辑电路系统，例如，现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）等，或者其它合适的处理器。

执行模块420可以为一或多个通用处理装置，例如，微处理器、中央处理单元，等等。示例性地，执行模块420可为复杂指令集计算（CISC）微处理器、精简指令集计算（RISC）微处理器、超长指令字（VLIW）微处理器，或实施其它指令集的处理器，或实施指令集组合的处理器。执行模块420还可以为一或多个专用处理装置，例如，专用集成电路（ASIC）、现场可编程门阵列（FPGA）、数字信号处理器（DSP）、网络处理器，等等。

第二确定模块430可以包括数据处理单元的处理器装置。

在一些示例性实施例中，第一确定模块410被配置为，

根据待测数据量，确定测试操作的运行时长；

根据第一预设规则将运行时长分成N份预设时长，根据第二预设规则将待测数据量分成N份测试数据量，其中， N为大于或等于1的整数。

在一些实施例中，第一预设规则包括按照时长等分，第二预设规则包括按照第一预设规则的等分数量对待测数据量等分。

示例性地，将运行时长等分为N份预设时长，即预设时长为运行时长的1/N；将待测数据量按数据量等分为N份测试数据量，即测试数据量为待测数据量的1/N。例如，运行时长为1s，待测数据量为1000M时，N=1000，则预设时长为1/1000s，则测试数据量为1M；运行时长为2s，待测数据量为2000M时，N=2000，则预设时长为2/2000s，则测试数据量为1M。

在本公开实施例中，采用双重等分的方式，保证在每个预设时长内执行预设测试操作采用的测试数据量均相同，确保所获得的测试结果的均衡性和可靠性。

在一些实施例中，第二确定模块被配置为，将N份预设时长内的测试功耗之和，作为存储单元的功耗。

在一些实施例中，该功耗测试装置400还包括：获取模块440和第三确定模块450，其中，

获取模块440被配置为，获取预设测试操作的测试时长；

第三确定模块450被配置为，当测试时长小于或等于预设时长时，将测试功耗作为存储单元在预设时长内的功耗。

在一些实施例中，第二确定模块430还被配置为，获取向存储单元执行预设读写操作的第一测试功耗；将第一测试功耗作为预设时长内的测试功耗。

在一些实施例中，执行模块420被配置为，在对存储单元执行预设读写操作后，使存储单元处于休眠状态。

关于上述实施例中的测试装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在上述有关该测试方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

图7是根据一示例性实施例示出的一种功耗测试设备，即计算机设备500的框图。例如，计算机设备500可以被提供为终端设备。参照图7，计算机设备500包括处理器510，处理器的个数可以根据需要设置为一个或者多个。计算机设备500还包括存储器520，用于存储可由处理器510的执行的指令，例如应用程序。存储器的个数可以根据需要设置一个或者多个。其存储的应用程序可以为一个或者多个。处理器510被配置为执行指令，以执行上述方法。

本领域技术人员应明白，本公开的实施例可提供为方法、装置（设备）、或计算机程序产品。因此，本公开可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本公开可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质上实施的计算机程序产品的形式。计算机存储介质包括在用于存储信息（诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据）的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质,包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘（DVD）或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质等。此外，本领域技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

在示例性实施例中，提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器520，上述指令可由计算机设备500的处理器510执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器（RAM）、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由功耗测试设备的处理器执行时，使得该测试设备能够执行上述功耗测试方法。

本公开是参照根据本公开实施例的方法、装置（设备）和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

在本公开中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

尽管已描述了本公开的优选实施例，但本领域技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本公开范围的所有变更和修改。

显然，本领域技术人员可以对本公开进行各种改动和变型而不脱离本公开的精神和范围。这样，倘若本公开的这些修改和变型属于本公开权利要求及其等同技术的范围之内，则本公开的意图也包含这些改动和变型在内。

Claims (16)

1.一种功耗测试方法，其特征在于，所述功耗测试方法包括：

根据系统的数据处理量，确定待测数据量的运行时长；

根据所述运行时长和所述待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于所述系统的数据处理量，所述系统的数据处理量为待测试的存储单元所在的系统的数据处理量；

对所述存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；

根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。

2.根据权利要求1所述的功耗测试方法，其特征在于，所述根据所述运行时长和所述待测数据量确定预设时长及所述预设时长对应的测试数据量，包括：

根据第一预设规则将所述运行时长分成N份所述预设时长，根据第二预设规则将所述待测数据量分成N份所述测试数据量，其中， N为大于或等于1的整数。

3.根据权利要求2所述的功耗测试方法，其特征在于，所述第一预设规则包括按照时长等分，所述第二预设规则包括按照所述第一预设规则的等分数量对所述待测数据量等分。

4.根据权利要求2所述的功耗测试方法，其特征在于，根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗，包括：

将N份所述预设时长内的测试功耗之和，作为所述存储单元的功耗。

5.根据权利要求1所述的功耗测试方法，其特征在于，所述功耗测试方法还包括：

获取所述预设测试操作的测试时长；

当所述测试时长小于或等于所述预设时长时，将所述测试功耗作为所述存储单元在所述预设时长内的功耗。

6.根据权利要求5所述的功耗测试方法，其特征在于，所述预设测试操作包括预设读写操作，所述获取所述预设时长内的测试功耗，包括：

获取向所述存储单元执行所述预设读写操作的第一测试功耗；

将所述第一测试功耗作为所述预设时长内的测试功耗。

7.根据权利要求6所述的功耗测试方法，其特征在于，对所述存储单元执行预设测试操作，包括：

在对所述存储单元执行所述预设读写操作后，使所述存储单元处于休眠状态。

8.一种功耗测试装置，其特征在于，所述功耗测试装置包括：

第一确定模块，被配置为，

根据系统的数据处理量，确定待测数据量的运行时长；根据所述运行时长和所述待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于所述系统的数据处理量，所述系统的数据处理量为待测试的存储单元所在的系统的数据处理量；

执行模块，被配置为，对所述存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；

第二确定模块，被配置为，根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。

9.根据权利要求8所述的功耗测试装置，其特征在于，所述第一确定模块被配置为，

根据第一预设规则将所述运行时长分成N份所述预设时长，根据第二预设规则将所述待测数据量分成N份所述测试数据量，其中， N为大于或等于1的整数。

10.根据权利要求9所述的功耗测试装置，其特征在于，所述第一预设规则包括按照时长等分，所述第二预设规则包括按照所述第一预设规则的等分数量对所述待测数据量等分。

11.根据权利要求8所述的功耗测试装置，其特征在于，所述第二确定模块被配置为，将N份所述预设时长内的所述测试功耗之和，作为所述存储单元的功耗。

12.根据权利要求8所述的功耗测试装置，其特征在于，所述功耗测试装置还包括：

获取模块，被配置为，获取所述预设测试操作的测试时长；

第三确定模块，被配置为，所述测试时长小于或等于所述预设时长，将所述测试功耗作为所述存储单元在所述预设时长内的功耗。

13.根据权利要求12所述的功耗测试装置，其特征在于，所述第二确定模块被配置为，获取向所述存储单元执行预设读写操作的第一测试功耗；将所述第一测试功耗作为所述预设时长内的测试功耗。

14.根据权利要求13所述的功耗测试装置，其特征在于，所述执行模块被配置为，在对所述存储单元执行所述预设读写操作后，使所述存储单元处于休眠状态。

15.一种功耗测试设备，其特征在于，所述功耗测试设备包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行根据权利要求1至7任一项所述的功耗测试方法。

16.一种非临时性计算机可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由功耗测试设备的处理器执行时，使得所述功耗测试设备能够执行根据权利要求1至7任一项所述的功耗测试方法。

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