CN114624524A - 充电检测方法、装置及设备 - Google Patents

Abstract

本公开涉及电子设备技术领域，具体提供了一种充电检测方法、装置及设备。充电检测方法包括：在充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；获取目标适配器充电时的充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。本公开方案的充电电路阻抗小、且阻抗一致性好，充电检测误差小。

Description

充电检测方法、装置及设备

技术领域

本公开涉及电子设备技术领域，具体涉及一种充电检测方法、装置及设备。

背景技术

电子设备为了满足便携需求，一般都具有充电和蓄电的功能。电子设备在设计完成之后，必须要对其进行多项功能及性能的检测，充电性能检测就是其中之一。检测装置在对电子设备进行充电检测时，往往需要测试多种电源适配器，以对不同充电协议下的充电性能进行检测。

然而，相关技术中的检测装置，充电路径的电阻抗较大，而且在充电路径切换时存在供电异常的缺陷，导致检测误差较大。

发明内容

为解决相关技术的检测装置检测误差较大的技术问题，本公开实施方式提供了一种充电检测方法、装置、设备以及存储介质。

第一方面，本公开实施方式提供了一种充电检测方法，用于充电检测设备，所述方法包括：

在所述充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；

获取所述目标适配器充电时的充电检测信息，响应于所述充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至所述多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

在一些实施方式中，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开，包括：

检测所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号；

根据所述控制信号，确定各个所述晶体管开关的导通结果；

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，所述的方法，还包括：

响应于所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

在一些实施方式中，响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，包括：

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，在第一预设时间阈值之后，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，所述晶体管开关包括三极管或MOS管。

第二方面，本公开实施方式提供了一种充电检测装置，用于充电检测设备，所述装置包括：

确定模块，用于在所述充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

控制模块，用于控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；

获取模块，用于获取所述目标适配器充电时的充电检测信息，响应于所述充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至所述多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

在一些实施方式中，所述控制模块具体用于：

检测所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号；

根据所述控制信号，确定各个所述晶体管开关的导通结果；

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，所述控制模块还用于：

响应于所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

在一些实施方式中，所述控制模块具体用于：

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，在第一预设时间阈值之后，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，所述晶体管开关包括三极管或MOS管。

第三方面，本公开实施方式提供了一种充电检测设备，包括：

多个电源适配器，每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

处理器和存储器，所述存储器存储有可被所述处理器读取的计算机可读指令，在所述计算机可读指令被读取时，所述处理器执行根据第一方面任一实施方式所述的方法。

在一些实施方式中，所述晶体管开关包括第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管的寄生二极管的方向与所述第二MOS管的寄生二极管的方向相反。

在一些实施方式中，所述第一MOS管的栅极作为所述第一MOS管的控制端，所述第二MOS管的栅极作为所述第二MOS管的控制端，所述第一MOS管的栅极和所述第二MOS管的栅极连接所述处理器；

所述第一MOS管的源极连接所述电源适配器，所述第一MOS管的漏极连接所述第二MOS管的漏极，所述第二MOS管的源极连接所述电子设备。

第四方面，本公开实施方式提供了一种存储介质，存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令用于使计算机执行根据第一方面任一实施方式所述的方法。

本公开实施方式的充电检测方法，包括在多个电源适配器中确定目标适配器，每个电源适配器与电子设备的充电路径上设有晶体管开关，控制目标适配器的晶体管开关导通，且其他电源适配器的晶体管开关断开，从而利用目标适配器为电子设备充电，同时获取充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，重新确定目标适配器，直到所有适配器均验证通过。本公开方案通过晶体管开关控制充电路径，开关阻抗小、阻抗一致性好，不会随使用次数变化，而且开关通断瞬间供电稳定，检测稳定、误差小。再有晶体管开关体积小，占用电路板面积小，更利于实现检测设备的小型化，降低成本，延长使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本公开具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本公开的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本公开一些实施方式中充电检测方法的流程图。

图2是根据本公开一些实施方式中充电检测设备的结构框图。

图3是根据本公开一些实施方式中充电检测设备的结构原理图。

图4是根据本公开一些实施方式中晶体管开关的结构原理图。

图5是根据本公开一些实施方式中充电检测方法的流程图。

图6是根据本公开一些实施方式中充电检测装置的结构框图。

具体实施方式

下面将结合附图对本公开的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本公开一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本公开中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本公开保护的范围。此外，下面所描述的本公开不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

电子设备大多包含有蓄电池，具有充电和蓄电的功能，例如智能手机、平板电脑、智能手表等，这些电子设备在设计完成之后，需要针对充电性能进行检测。

以智能手机为例，随着快充技术的发展，手机充电协议越来越多，在对手机进行充电检测时，不仅要对手机原装适配器进行检测，还需要对其他电源适配器进行充电检测，以确保手机充电模块适配多种充电类型和充电协议。

相关技术中，利用充电检测设备对手机进行充电功能检测，检测设备包括多种电源适配器，例如USB接口适配器、QC(Quick Charge，快速充电)适配器、PD(Power Delivery，电力输送)适配器或者其他私有协议适配器等。在每个适配器与手机连接的充电路径上均设置有继电器开关，通过控制继电器触点开关的通断，即可实现每个适配器与手机的切换导通，从而依次检测每个适配器充电时的充电信息，即可确定手机在该适配器充电时充电功能是否正常。

但是，继电器开关体积较大，设于电路板上导致整个检测设备的体积较大，使用不便。而且，继电器开关属于机械开关，通过触点弹片的接触实现开关闭合，触点接触的阻抗很大，而且随着触点闭合次数增多阻抗会越来越大。并且，触点在接触瞬间会存在抖动，导致电路在闭合瞬间存在供电异常。这些都会导致检测误差增加，而且检测稳定性差。

正是基于上述相关技术中的缺陷，本公开实施方式提供了一种充电检测方法、装置以及设备。

第一方面，本公开实施方式提供了一种充电检测方法，可应用于充电检测设备，由设备的处理器执行。

如图1所示，在一些实施方式中，本公开的充电检测方法包括：

S110、在充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器。

具体来说，充电检测设备包括有多个电源适配器，多个电源适配器通过充电接口与电子设备连接，检测设备的充电接口可以根据电子设备的充电口相应设置。例如在一个示例中，电子设备的充电口为type-C接口，则可设置检测设备的充电接口同样为type-C接口。在另一个示例中，检测设备可以包括多个充电接口，例如包括type-C、micro-usb、lightning等充电接口。

多个电源适配器可包括多种不同的充电功率和充电协议，从而覆盖用户所有充电场景。以智能手机为例，用户除了使用原装电源适配器之外，还会使用其他充电功率和协议的第三方适配器，而且用户还可能会直接使用电脑USB接口来充电。因此，多个电源适配器中可以覆盖用户这些充电场景，例如多个电源适配器可以包括电脑USB接口适配器、PD协议适配器、QC协议适配器或者其他私有协议的适配器等。可以理解，本公开对于电源适配器的数量不作限制，可以是任何适于实施的数量，例如2个、3个、5个、10个，本公开对此不作限制。

每个电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关，晶体管开关的控制端连接检测设备的处理器，从而通过晶体管开关控制该充电路径的通断。晶体管开关可以是例如MOS管、三极管等，本公开下述进行说明，在此暂不详述。

在本公开充电检测方法中，需要依次检测每个电源适配器的充电性能，因此在步骤S110中，首先从多个电源适配器中确定出目标适配器，目标适配器指需要进行充电检测的电源适配器。在一个示例中，目标适配器可以根据操作者选择，例如在检测设备设置相应的选项，通过操作者手动选择来确定目标适配器。在另一个示例中，目标适配器可以根据多个电源适配器的顺序依次确定，例如对多个电源适配器进行编号，按照编号顺序依次确定目标适配器。本公开对此不作限制。

S120、控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

具体来说，晶体管开关的控制端连接检测设备的处理器，处理器可向控制开关发送控制信号，从而控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，而其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。也即，使得电子设备通过目标适配器进行充电。下文中对控制晶体管开关通断进行详细说明，在此暂不详述。

S130、获取目标适配器充电时的充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

具体来说，充电检测信息可指电子设备在通过目标适配器充电时的信息，其可包括充电电流、充电电压以及充电协议类型等相关信息。

在一个示例中，检测设备可以通过相关检测模块对电源线和信号线进行信号检测，从而得到充电检测信息。

在另一个示例中，电子设备可通过对电源线和信号线进行信号检测，从而得到充电检测信息，检测设备通过有线或者无线通信的方式从电子设备接收到该充电检测信息。

可以理解的是，获取充电检测信息的方式并不局限于上述示例，还可以是其他任何适于实施的方式，本公开对此不再枚举。

在获取充电检测信息后，需要对充电检测信息进行验证，以确定充电检测信息是否符合相应的充电要求标准。

在一个示例中，可将获取的充电检测信息与预存储的目标适配器的充电参考信息对比验证，若充电检测信息与充电参考信息的差异满足预设阈值范围，则表示电子设备与目标适配器的充电性能正常，即充电检测信息验证通过。反之，则表示电子设备与目标适配器的充电性能故障，即充电检测信息验证失败。

在电子设备通过目标适配器充电时的充电检测信息验证通过后，则需要继续切换验证其他适配器。也即，在未验证的其他电源适配器中重新确定目标适配器，然后重复执行步骤S120～S130，直到所有的电源适配器全部验证通过，则表示电子设备的充电检测通过。

在一些实施方式中，当某个电源适配器的充电检测信息验证失败时，则可通过显示装置或者扬声装置等发出警报，提示存在充电故障。

通过上述可知，本公开实施方式的充电检测方法，通过晶体管开关控制充电路径，开关阻抗小、阻抗一致性好，不会随使用次数变化，而且开关通断瞬间供电稳定，检测稳定、误差小。再有晶体管开关体积小，占用电路板面积小，更利于实现检测设备的小型化，降低成本，延长使用寿命。

图2至图4示出了一些实施方式中本公开充电检测设备的结构示意图，下面结合图2至图4对本公开实施方式的充电检测方法及设备进行详细说明。

如图2所示，在一些实施方式中，充电检测设备600包括处理器601、存储器602、适配器单元604以及切换单元605，处理器601、存储器602和切换单元605通过总线603建立任意两者之间的可通信连接。

处理器601可以为任何类型，具备一个或者多个处理核心的处理器。其可以执行单线程或者多线程的操作，用于解析指令以执行获取数据、执行逻辑运算功能以及下发运算处理结果等操作。

存储器602可包括非易失性计算机可读存储介质，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、相对于处理器601远程设置的分布式存储设备或者其他非易失性固态存储器件。存储器可以具有程序存储区，用于存储非易失性软件程序、非易失性计算机可执行程序以及模块，供处理器601调用以使处理器601执行本公开充电检测方法的一个或者多个方法步骤。存储器602还可以包括易失性随机存储介质、或者硬盘等存储部分，作为数据存储区，用以存储处理器601下发输出的运算处理结果及数据。

适配器单元604包括多个电源适配器，例如在图3示例中，适配器单元604包括第一适配器、第二适配器和第三适配器，第一适配器为USB充电接口，其采用DCP充电协议，第二适配器为PD协议适配器，第三适配器为QC协议适配器。

当然，可以理解，适配单元604也可以包括其他数量的电源适配器，多个电源适配器也可以包括其他类型的电源适配器，本公开对此不作限制。

切换单元605包括多个晶体管开关，晶体管开关的数量可以与电源适配器数量相同，从而在每一个电源适配器与电子设备700连接的充电路径上均设置一个晶体管开关。

在一些实施方式中，检测设备600还包括信号检测单元606，信号检测单元606用于检测切换单元605中各个晶体管开关的控制信号，从而处理器601根据控制信号确定晶体管开关的通断状态。例如在一个示例中，信号检测单元606可以为ADC(analogue-to-digitalconversion，模数转化器)，信号检测单元606的检测端连接晶体管开关的控制端，从而获取晶体管开关控制端的电平信号。

在一些实施方式中，晶体管开关可以采用MOS管(Metal-Oxide-SemiconductorField-Effect Transistor，金属-氧化物半导体场效应管)或者三极管，本公开对此不作限制。

如图3、图4所示，在本实施方式中，晶体管开关采用MOS管，MOS管设于电源线(VBUS)路径上，电源线(VBUS)与地线(GND)形成充电回路。而且在本实施方式中，每个电源适配器与电子设备的充电路径上设置有两个MOS管，也即第一MOS管610和第二MOS管620。

可以理解，MOS管包括寄生二极管，为避免单一MOS管的寄生二极管在断开状态下漏电，本实施方式中设置第一MOS管610的寄生二极管611，与第二MOS管620的寄生二极管621的方向相反。由于两个寄生二极管的电流通过方向相反，从而无论哪个方向都可以形成截止效应，有效避免单个MOS管发生漏电。

相关技术中，MOS管包括有三个极，也即栅极G、源极S和漏极D，MOS管的基本工作原理是：通过对栅极G施加控制电平，从而使得源极S与漏极D导通或断开。MOS管可以分为NMOS和PMOS，根据控制电平的不同又可以分为增强型和耗尽型，而本公开实施方式中，对MOS管的类型不作任何限制，均可以实现本公开方案。本领域技术人员可以根据具体需求实现硬件选择和逻辑控制，本公开对此不再赘述。

如图4所示，在本公开实施方式中，第一MOS管610的源极S连接电源适配器，第一MOS管610的漏极D连接第二MOS管620的漏极D，第二MOS管的源极S连接电子设备700。MOS管的栅极G作为控制端，连接处理器601，从而可根据处理器601的控制信号，控制MOS管的通断。例如在一个示例中，MOS管为NMOS，当对NMOS管的控制端施加高电平，NMOS管即可导通，当对NMOS管的控制端施加低电平，NMOS管即可关断。在另一个示例中，MOS管为PMOS，当对PMOS管的控制端施加低电平，PMOS管即可导通，当对PMOS管的控制端施加高电平，PMOS管即可关断。本领域技术人员对此可以理解，本公开不再赘述。

信号检测单元606连接MOS管的控制端，通过检测MOS管的控制电平的高低，即可确定MOS管的通断状态。

图5示出了本公开一些实施方式中充电检测方法的流程图。如图5所示，在一些实施方式中，本公开充电检测方法还包括：

S501、在多个电源适配器中确定目标适配器。

具体来说，本步骤参见前述S110即可，在此不再赘述。

S502、获取目标适配器之外的其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号。

在确定目标适配器之后，需要首先确认除目标适配器之外的其他电源适配器的充电路径是否为关断状态。这是由于，若两个电源适配器的充电路径同时导通，则导致两个电源适配器的接口连通，有可能造成接口烧毁。因此，在导通目标适配器的充电路径之前，需要确定其他电源适配器的充电路径是否关断。

具体来说，可通过信号检测单元606获取其他电源适配器中，各个MOS管的控制信号，处理器601根据控制信号的电平高低，确定各个MOS管的通断状态。

S503、响应于其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

具体来说，在处理器601确定其他电源适配器的充电路径上的MOS管均处于未导通状态时，表示其他电源适配器的充电路径均处于断开状态，此时则可以控制目标适配器的充电路径上的MOS管导通，从而利用目标电源适配器对电子设备700进行充电。

S504、响应于其他电源适配器中，电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

具体来说，在处理器601确定其他电源适配器中，某个电源适配器的充电路径上的MOS管处于导通状态，则表示该MOS管路径可能为导通充电状态，此时控制该路径上导通的MOS管切换为关闭状态，从而切断该电源适配器的充电路径。直至其他电源适配器中所有电源适配器的MOS管均处于关闭状态，则执行步骤S503，控制目标适配器的充电路径导通。

在一些实施方式中，考虑到信号传输可能存在延时，例如图3所示，假设确定第一适配器为目标适配器，处理器601确定第二适配器路径上的MOS管处于导通状态，从而处理器601发送控制信号控制第二适配器路径的MOS管关闭。但是由于信号传输存在延时，若此时直接开启第一适配器路径的MOS管，则有可能存在第一适配器和第二适配器同时导通的风险。为了避免上述情况，可在关闭其他电源适配器路径的MOS管之后，延迟一定时间开启目标适配器路径的MOS管。

具体来说，可根据系统延时设置第一预设时间阈值，第一预设时间阈值可根据经验确定，一般略大于系统延时即可。例如在一个示例中，可设置第一预设时间阈值为100ms。本领域技术人员可以理解，第一预设时间阈值还可以是其他时长，例如200ms等，本公开对此不作限制。

当确认目标适配器之外的其他电源适配器的充电路径上的MOS管均处于关闭状态时，在第一预设时间阈值之后，控制目标适配器的充电路径上的MOS管导通。从而可以进一步避免出现两个或多个电源适配器同时导通充电的情况，进一步降低接口烧毁的风险。

S505、获取目标适配器充电时的充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

具体来说，本步骤参见前述S130即可，在此不再赘述。

可以理解，上述实施方式中，晶体管开关采用MOS管实现，而在其他实施方式中，晶体管开关还可以采用其他类型的晶体管，例如三极管。三极管包括基极B、集电极C和发射极E，三极管的基本原理是：通过对基极B施加控制信号，控制集电极C和发射极E导通或断开。在本实施方式中，基极B作为三极管的控制端连接处理器，集电极C和发射极E分别连接电源适配器和电子设备。本领域技术人员在上述说明以及相关技术基础上，可以理解并实现本实施方式，在此不再赘述。

通过上述可知，在本公开充电检测方法中，通过晶体管开关控制充电路径，开关阻抗小、阻抗一致性好，不会随使用次数变化，而且开关通断瞬间供电稳定，检测稳定、误差小。再有晶体管开关体积小，占用电路板面积小，更利于实现检测设备的小型化，降低成本，延长使用寿命。利用两个MOS管对放作为晶体管开关，有效避免单MOS管的漏电问题。在确认其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关关闭之后，才会开启目标适配器充电路径的晶体管开关，降低接口损坏风险。而且在确认其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关关闭之后，延时第一预设时间阈值开启目标适配器充电路径的晶体管开关，进一步降低接口损坏风险。

第二方面，本公开实施方式提供了一种充电检测装置，该装置可应用于上述的充电检测设备。

如图6所示，在一些实施方式中，本公开充电检测装置包括：

确定模块10，用于在充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

控制模块20，用于控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；

获取模块30，用于获取目标适配器充电时的充电检测信息，响应于充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

通过上述可知，本公开实施方式的充电检测装置，通过晶体管开关控制充电路径，开关阻抗小、阻抗一致性好，不会随使用次数变化，而且开关通断瞬间供电稳定，检测稳定、误差小。再有晶体管开关体积小，占用电路板面积小，更利于实现检测设备的小型化，降低成本，延长使用寿命。

在一些实施方式中，控制模块具体用于：

检测其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号；

根据控制信号，确定各个晶体管开关的导通结果；

响应于其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，控制模块还用于：

响应于其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

在一些实施方式中，控制模块具体用于：

响应于其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，在第一预设时间阈值之后，控制目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

在一些实施方式中，晶体管开关包括三极管或MOS管。

第三方面，本公开实施方式提供了一种充电检测设备，参见前述任一实施方式中的充电检测设备即可，本公开对此不再赘述。

第四方面，本公开实施方式提供了一种存储介质，存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令用于使计算机执行根据第一方面任一实施方式所述的充电检测方法。

通过上述可知，在本公实施方式中，通过晶体管开关控制充电路径，开关阻抗小、阻抗一致性好，不会随使用次数变化，而且开关通断瞬间供电稳定，检测稳定、误差小。再有晶体管开关体积小，占用电路板面积小，更利于实现检测设备的小型化，降低成本，延长使用寿命。在确认其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关关闭之后，才会开启目标适配器充电路径的晶体管开关，降低接口损坏风险。而且在确认其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关关闭之后，延时第一预设时间阈值开启目标适配器充电路径的晶体管开关，进一步降低接口损坏风险。

显然，上述实施方式仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本公开创造的保护范围之中。

Claims (14)

1.一种充电检测方法，其特征在于，用于充电检测设备，所述方法包括：

在所述充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；

获取所述目标适配器充电时的充电检测信息，响应于所述充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至所述多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开，包括：

获取所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号；

根据所述控制信号，确定各个所述晶体管开关的导通结果；

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

响应于所述其他电源适配器中，电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，包括：

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，在第一预设时间阈值之后，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述晶体管开关包括三极管或MOS管。

6.一种充电检测装置，其特征在于，用于充电检测设备，所述装置包括：

确定模块，用于在所述充电检测设备的多个电源适配器中确定目标适配器；每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

控制模块，用于控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通，且其他电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开；

获取模块，用于获取所述目标适配器充电时的充电检测信息，响应于所述充电检测信息验证通过，在其他电源适配器中重新确定目标适配器，直至所述多个电源适配器中的每一个电源适配器的充电检测信息均验证通过。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制模块具体用于：

获取所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的控制信号；

根据所述控制信号，确定各个所述晶体管开关的导通结果；

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述控制模块还用于：

响应于所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果为导通，控制所述其他电源适配器中的电源适配器的充电路径上的晶体管开关断开。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述控制模块具体用于：

响应于所述其他电源适配器中，各个电源适配器的充电路径上的晶体管开关的导通结果均为未导通，在第一预设时间阈值之后，控制所述目标适配器的充电路径上的晶体管开关导通。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述晶体管开关包括三极管或MOS管。

11.一种充电检测设备，其特征在于，包括：

多个电源适配器，每个所述电源适配器与电子设备的充电路径上均设有晶体管开关；

处理器和存储器，所述存储器存储有可被所述处理器读取的计算机可读指令，在所述计算机可读指令被读取时，所述处理器执行根据权利要求1至5任一项所述的方法。

12.根据权利要求11所述的充电检测设备，其特征在于，

所述晶体管开关包括第一MOS管和第二MOS管，所述第一MOS管的寄生二极管的方向与所述第二MOS管的寄生二极管的方向相反。

13.根据权利要求12所述的充电检测设备，其特征在于，

所述第一MOS管的栅极作为所述第一MOS管的控制端，所述第二MOS管的栅极作为所述第二MOS管的控制端，所述第一MOS管的栅极和所述第二MOS管的栅极连接所述处理器；

所述第一MOS管的源极连接所述电源适配器，所述第一MOS管的漏极连接所述第二MOS管的漏极，所述第二MOS管的源极连接所述电子设备。

14.一种存储介质，其特征在于，存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令用于使计算机执行根据权利要求1至5任一项所述的方法。

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