CN114613304B - 绑定结构及其检测方法和显示装置及其绑定方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种绑定结构及其检测方法和显示装置及其绑定方法，绑定结构包括：多个第一绑定引脚、多个第二绑定引脚和异方性导电胶，异方性导电胶设置在第一绑定引脚和第二绑定引脚之间，且通过所述异方性导电胶将多个所述第一绑定引脚和多个所述第二绑定引脚一一对应连通；所述绑定结构还包括绝缘薄膜层，所述绝缘薄膜层设置在所述第一基材和所述第二基材之间，所述绝缘薄膜层采用绝缘材料形成，在沿垂直于所述第一基材的方向上，受压力时发生形变，不受压力后恢复初始状态；且受压大小不同，形变程度不同。本申请通过上述方案可快捷有效的检测出绑定失效或绑定状态差的区域，提高绑定结构的可靠性。

Description

绑定结构及其检测方法和显示装置及其绑定方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种绑定结构及其检测方法和显示装置及其绑定方法。

背景技术

显示面板生产中包括绑定工序，即将驱动电路板绑定在显示面板的玻璃上，实现显示面板的内部电路与外部电路的导通。其中，ACF(Anisotropic Conductive Film)异方性导电胶是各向异性导电胶，其特点是在垂直的Z轴方向的电气特性与水平的X、Y轴方向的电气特征有明显的差异性。而这种特性，使得ACF成为了显示装置中的驱动电路板绑定到显示面板上的最佳材料。

但是，此绑定工序可能存在加工不良的情况，例如出现绑定状态差的绑定结构，其绑定状态较差未完全分离的产品仍可正常显示，经过长时间工作，绑定状态逐渐变差直至分离产品无法正常工作。现有绑定检测方法无法侦测到绑定微开路的情况，导致产品在使用过程中可靠性受到影响。

发明内容

本申请的目的是提供一种绑定结构及其检测方法和显示装置及其绑定方法，可快捷有效的检测出绑定失效或绑定状态差的区域，提高绑定结构的可靠性。

本申请公开了一种绑定结构，一种绑定结构，包括：设置在第一基材上的多个第一绑定引脚、设置在第二基材上的多个第二绑定引脚和异方性导电胶，所述异方性导电胶设置在所述第一绑定引脚和第二绑定引脚之间，且通过所述异方性导电胶将多个所述第一绑定引脚和多个所述第二绑定引脚一一对应连通；所述绑定结构还包括绝缘薄膜层，所述绝缘薄膜层设置在所述第一基材和所述第二基材之间，所述绝缘薄膜层采用绝缘材料形成，在沿垂直于所述第一基材的方向上，受压力时发生形变，不受压力后恢复初始状态；且受压大小不同，形变程度不同。

可选的，所述绝缘材料由聚丙烯、硫酯类物质、聚苯乙烯组成，其中，聚丙烯质量比例为40％～60％，硫酯类物质质量比例为30％～50％，聚苯乙烯质量比例为10％；所述绝缘薄膜层用于在接收到检测光线时，所述绝缘薄膜层的第一面反射所述检测光线产生第一反射光，所述绝缘薄膜层的第二面反射所述检测光线产生第二反射光，所述绝缘薄膜层的厚度不同对应的所述第一反射光和第二反射光的光程差不同。

可选的，所述绝缘薄膜层包括至少一条横向薄膜带，所述横向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一引脚之间，所述横向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向垂直，且一条所述横向薄膜带与所有所述第一绑定引脚覆盖设置。

可选的，所述横向薄膜带设置有多条，所述多条横向薄膜带间隔设置，所有所述横向薄膜带的宽度之和小于等于所述第一绑定引脚的长度的三分之一；多条所述横向薄膜带的宽度相等，且相邻两条所述横向薄膜带之间的间距相等；所述横向薄膜带的厚度为10-50um。

可选的，相邻所述第一绑定引脚之间设有绝缘层，所述第一绑定引脚靠近所述第二绑定引脚的一面与所述绝缘层靠近所述第二绑定引脚的一面平齐。

可选的，所述绝缘薄膜层包括多条纵向薄膜带，所述纵向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一基材之间，所述纵向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向平行，多条所述纵向薄膜带一一对应设置在相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙中，且在所述第一基材的投影上，所述绝缘薄膜层与第一绑定引脚不重合；所述纵向薄膜带的厚度大于相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙的深度；当对应的所述第一绑定引脚和所述第二绑定引脚连通时，所述纵向薄膜带的厚度等于相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙的深度。

可选的，所述绝缘薄膜层包括多条第一横向薄膜带和多条第二横向薄膜带，多条所述第一横向薄膜带设置在所述第一绑定引脚靠近所述第二绑定引脚的一侧，所述第一横向薄膜带设置在所述第一绑定引脚和所述异方性导电胶之间，多条所述第二横向薄膜带设置在所述第二绑定引脚靠近所述第一绑定引脚的一侧，所述第二横向薄膜带设置在所述第二绑定引脚和所述异方性导电胶之间；所述第一横向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向垂直，所述第二横向薄膜带的长度方向与所述第二绑定引脚的长度方向垂直，所述第一横向薄膜带的长度方向与所述第二横向薄膜带的长度方向平行；且在所述基材的投影上，多条所述第一横向薄膜带与多条所述第二横向薄膜带交错设置。

本申请还公开了一种绑定结构的检测方法，用于检测上述的绑定结构，包括步骤：

朝向绝缘薄膜层发出检测光线；

检测光线经绝缘薄膜层的第一面反射产生第一反射光，经绝缘薄膜层的第二面反射产生第二反射光；

接收第一反射光和第二反射光，计算第一反射光和第二反射光的光程差，根据光程差得出绝缘薄膜层的厚度；以及

根据绝缘薄膜层的厚度判断所述绝缘薄膜层的形变程度，根据所述绝缘薄膜层的形变程度判断绑定结构的绑定状态。

本申请还公开了一种显示装置，包括显示面板和驱动电路板，所述显示面板和所述驱动电路板之间通过上述的绑定结构连接，所述第一绑定引脚设置在所述显示面板上，所述第二绑定引脚设置在所述驱动电路板上。

本申请还公开了一种显示装置的绑定方法，包括步骤：

在显示面板的对应第一绑定引脚的区域形成薄膜材料层；

通过异方性导电胶将显示面板和驱动电路板绑定连接，且使得显示面板的第一绑定引脚和驱动电路板的第二绑定引脚一一对应连通

本申请通过在第一基材和第二基材之间设置有绝缘薄膜层，在绑定制程时，该绝缘薄膜层发生弹性形变，但是由于绑定制程后，如果第一绑定引脚和第二绑定引脚之间绑定效果不佳，则异方性导电胶的粘附力会下降，导致绝缘薄膜层会恢复形变，而第一绑定引脚和第二绑定引脚之间绑定效果好的情况下，异方性导电胶的粘附力不会下降，使得绝缘薄膜层不会恢复形变。对应恢复形变的绝缘薄膜层的厚度将大于未恢复形变的绝缘薄膜层，可通过检测恢复形变的绝缘薄膜层的形变程度或形变恢复量来判断该绝缘薄膜层对应位置的绑定状态。本申请主要检测的是绑定制程结束之后的绑定结构，可将绑定制程造成的其绑定状态较差未完全分离的产品仍可正常显示，经过长时间工作，绑定状态逐渐变差直至分离产品无法正常工作的绑定结构检测出来，提高产品良率。本申请通过对绝缘薄膜层的形变厚度的变化，从而检测出对应位置处的绑定结构是否绑定良好，可快捷有效的检测出绑定失效或绑定状态差的区域，提高绑定结构的可靠性。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请第一实施例的绑定结构的截面示意图；

图2是本申请第一实施例的绑定结构的检测方法的步骤示意图；

图3是本申请第一实施例的绑定结构的检测示意图；

图4是本申请第一实施例的绝缘薄膜层形变和未形变的检测示意图；

图5是本申请第一实施例的绑定结构的第一绑定引脚的俯视示意图；

图6是本申请第一实施例的绑定结构的第二种绝缘薄膜层的俯视示意图；

图7是沿图6中AA切割线的剖面图；

图8是本申请第一实施例的第三种绝缘薄膜层的俯视示意图；

图9是本申请第一实施的第二种绑定结构的截面示意图；

图10是本申请第二实施例的绑定结构的截面示意图；

图11是本申请第二实施例的绑定结构的俯视示意图；

图12是本申请第二实施例的绑定结构的检测示意图；

图13是本申请第二实施例的第二种绑定结构的截面示意图；

图14是本申请第三实施例的绑定结构的截面示意图；

图15是本申请第四实施例的显示装置的截面示意图；

图16是本申请第四实施例的显示装置的俯视示意图。

其中，10、显示装置；100、第一基材；200、第二基材；101、显示面板；110、绑定结构；140、绝缘层；150、第一绑定引脚；210、驱动电路板；211、柔性电路板；212、印刷电路板；250、第二绑定引脚；300、绝缘薄膜层；310、横向薄膜带；311、第一横向薄膜带；312、第二横向薄膜带；313、纵向薄膜带；400、异方性导电胶。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。

实施例一

图1是本申请第一实施例的绑定结构的截面示意图，如图1所示，本申请公开了一种绑定结构110，所述绑定结构110包括：设置在第一基材100上的多个第一绑定引脚150、设置在第二基材200上的多个第二绑定引脚250和异方性导电胶400，所述异方性导电胶400设置在所述第一绑定引脚150和第二绑定引脚250之间，且经过绑定制程后，通过所述异方性导电胶将多个所述第一绑定引脚150和多个所述第二绑定引脚250一一对应连通；该第一绑定引脚150和第二绑定引脚250分别设置在不同基材100/200上。该绑定结构110应用范围较广，其包含电路板的绑定、显示面板的绑定。以显示面板领域来说明，其包括显示面板与柔性电路板的绑定、柔性电路板与印刷电路板的绑定、以及显示面板与印刷电路板的绑定，以显示面板和柔性电路板为例说明，其第一绑定引脚150设置在显示面板上，第二绑定引脚250设置在柔性电路板上，第一绑定引脚150和第二绑定引脚250之间通知异方性导电胶400导通，进而使得显示面板与柔性电路板之间导通。即该绑定结构110主要目的是将两个基材100/200上的电路进行导通。其中绑定制程是为了使得对应的所述第一绑定引脚150和所述第二绑定引脚250连通，需要说明的是，这里的第一绑定引脚150和所述第二绑定引脚250连通，所指的是第一绑定引脚150和第二绑定引脚250绑定状态良好的情况。

所述第一绑定引脚150和第二绑定引脚250上至少之一设置有绝缘薄膜层300，所述绝缘薄膜层300采用绝缘材料形成；在沿垂直于所述第一基材100的方向上，受压力时发生形变，不受压力后恢复初始状态；且受压大小不同，形变程度不同。本申请通过在第一绑定引脚和第二绑定引脚上至少之一设置有绝缘薄膜层300，在绑定制程时，该绝缘薄膜层300发生弹性形变，但是由于绑定制程后，如果第一绑定引脚150和第二绑定引脚250之间绑定效果不佳，则异方性导电胶的粘附力会下降，导致绝缘薄膜层会恢复形变，而第一绑定引脚150和第二绑定引脚250之间绑定效果好的情况下，异方性导电胶的粘附力不会下降，使得绝缘薄膜层300不会恢复形变。对应恢复形变的绝缘薄膜层300的厚度将大于未恢复形变的绝缘薄膜层300，可通过检测恢复形变的绝缘薄膜层300的形变程度或形变恢复量来判断该绝缘薄膜层300对应位置的绑定状态。本申请主要检测的是绑定制程结束之后的绑定结构，可将绑定制程造成的其绑定状态较差未完全分离的产品仍可正常显示，经过长时间工作，绑定状态逐渐变差直至分离产品无法正常工作的绑定结构检测出来，提高产品良率。

具体地，所述绝缘薄膜层300用于在绑定制程时发生弹性形变，在绑定制程结束后，检测所述绝缘薄膜层300的形变程度或形变恢复量，根据所述绝缘薄膜层300的形变程度或形变恢复量判断绑定状态。所述绝缘薄膜层300部分覆盖所述第一绑定引脚150设置，且设置在所述第一绑定引脚150靠近所述第二绑定引脚250的一侧；所述第一绑定引脚150的未被绝缘薄膜层300覆盖的部分通过所述异方性导电胶400与所述第二绑定引脚250对应电连接，所述绝缘薄膜层300用于在接收到检测光线时，所述绝缘薄膜层300的第一面反射所述检测光线产生第一反射光，所述绝缘薄膜层300的第二面反射所述检测光线产生第二反射光，所述绝缘薄膜层的厚度不同对应的所述第一反射光和第二反射光的光程差不同。

本申请通过在第一绑定引脚150和第二绑定引脚250之间还设置有绝缘薄膜层300，且该绝缘薄膜层300仅部分覆盖所述第一绑定引脚150设置，第一绑定引脚150还具有不覆盖绝缘薄膜层300的区域，该区域之间通过异方性导电胶400与第二绑定引脚250电性连接；对于第一绑定引脚150上覆盖有绝缘薄膜层300的区域可通过检测判断其绝缘薄膜层300的厚度变化情况，由此，可判断第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间是否绑定良好。其中，当绑定良好时，其第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间的绝缘薄膜层300的厚度薄，形变程度大；当绑定不良时，其第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间的绝缘薄膜层300的厚度较厚。形变程度小或无形变，其无形变即视为绑定失效，为开路状态，此时是无法将第一绑定引脚150和第二绑定引脚250导通的；其形成程度小即视为绑定状态差或绑定状态较差，此时第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间处于导通状态，但是会存在可靠性风险。本申请通过对绝缘薄膜层300的形变厚度的变化，从而检测出对应位置处的绑定结构110是否绑定良好，可快捷有效的检测出绑定失效或绑定状态差的区域，提高绑定结构110的可靠性。

需要说明的是，上面所陈述的部分覆盖指的是，其绝缘薄膜层300设置在第一绑定引脚150的上方，且绝缘薄膜层300直接与所述第一绑定引脚150接触，进而覆盖所述第一绑定引脚150设置。而上述绝缘薄膜层300并不是完全覆盖所述第一绑定引脚150或第二绑定引脚250设置，该绝缘薄膜层300可设置为点阵式的，即对应一条第一绑定引脚150来说，间隔式分布有绝缘薄膜层300，且绝缘薄膜层300覆盖该条第一绑定引脚150的面积不超过该条第一绑定引脚150面积的三分之一，由此设计，可不影响该第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间的导电能力。

对应的，图2是本申请第一实施例的绑定结构的检测方法的步骤示意图，所述绑定结构110的检测方法包括步骤：

S1：朝向绝缘薄膜层发出检测光线；

S2：检测光线经绝缘薄膜层的第一面反射产生第一反射光，经绝缘薄膜层300的第二面反射产生第二反射光；

S3：接收第一反射光和第二反射光，计算第一反射光和第二反射光的光程差，根据光程差得出绝缘薄膜层的厚度；

S4：根据绝缘薄膜层的厚度判断所述绝缘薄膜层的形变程度，根据所述绝缘薄膜层的形变程度判断绑定结构的绑定状态。

图3是本申请第一实施例的绑定结构的检测示意图，如图3所示，其检测光线以红外检测光为例，红外检测光N以一预设角度朝向带有绑定结构110的基材200射入，在穿过基材200、第二绑定引脚250后，在绝缘薄膜层300的第一面和第二面分别产生第一反射光S1和第二反射光S2，通过检测设备接收第一反射光S1和第二反射光S2，并且计算第一反射光和第二反射光的光程差α1，可得出绝缘薄膜层300的厚度。其中，绝缘薄膜层300的第一面为绝缘薄膜层300靠近所述第二绑定引脚250的一面，绝缘薄膜层300的第二面为绝缘薄膜层300远离所述第二绑定引脚250的一面。图4是本申请第一实施例的绝缘薄膜层形变和未形变的检测示意图，如图4所示，以未形变的绝缘薄膜层300厚度为H为例，当绝缘薄膜层300未形变时，其光程差为α，即此光程差α是检测设备检测到的最大光程差。当绑定结构110进行绑定时，其绝缘薄膜层300受到压力，进而产生形变，形变后的厚度H1小于H，对应的光程差α1＜α。具体的，当检测到的光程差α1＝α时，则视为绑定失效，为开路状态，此时绝缘薄膜层300未形变；当检测到的光程差2/3α≤α1＜α，则视为绑定状态差，此时绝缘薄膜层300的形变程度较小，其可视为导通状态，即第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间可通过异方性导电胶400进行导通，但存在导通不良等情况；当检测到的光程差1/3α＜α1＜2/3α，则视为绑定状态较差，此时绝缘薄膜层300的形变程度一般，但其绑定状态可视为较差，且第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间通过异方性导电胶400导通，但长期使用具有可靠性风险；当检测到的光程差α1≤1/3α，则视为绝缘薄膜层300形变足够，绑定状态佳，此时第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间可导通，且长期使用，依然具有稳定的导通能力。

具体地，绝缘薄膜层的形变恢复量同样可以通过上述方案来进行检测，只需要对比多个位置的绝缘薄膜层的厚度，可判断出未发生形变恢复的绝缘薄膜层的厚度，在将上述计算得到的发生形变恢复的绝缘薄膜层的厚度与未发生形变恢复的绝缘薄膜层的厚度之差，即为形变恢复量。本申请主要检测的是绑定制程结束之后的绑定结构，可将绑定制程造成的其绑定状态较差未完全分离的产品仍可正常显示，经过长时间工作，绑定状态逐渐变差直至分离产品无法正常工作的绑定结构检测出来，提高产品良率。

需要说明的是，本方案中的检测光线可使用红外检测光，红外检测光的穿透能力更强，在绝缘薄膜层为半透明或全透明情况下，可采用红外检测光进行检测。在绝缘薄膜层为非透明情况下，可采用超声波或其它方式检测其绝缘薄膜层的形变厚度。本方案中涉及到的各步骤的限定，在不影响具体方案实施的前提下，并不认定为对步骤先后顺序做出限定，写在前面的步骤可以是在先执行的，也可以是在后执行的，甚至也可以是同时执行的，只要能实施本方案，都应当视为属于本申请的保护范围。

当然，上述图1、4仅示出绝缘薄膜层300覆盖所述第一绑定引脚150设置的情况，对应的，该绝缘薄膜层300也可对应覆盖所述第二绑定引脚250设置，且绝缘薄膜层300设置在所述第二绑定引脚250靠近所述第一绑定引脚150的一侧；所述第二绑定引脚250的裸露部分通过所述异方性导电胶400与所述第一绑定引脚150对应电连接。该设置下，可检测第二绑定引脚250的绑定情况，此处不再进行赘述，实际情况与绝缘薄膜层300覆盖所述第一绑定引脚150的情况一致。当然还可分别对应第一绑定引脚150和第二绑定引脚250设置两层绝缘薄膜层300，由此分别检测第一绑定引脚150和第二绑定引脚250的绑定情况。

具体地，所述绝缘材料由聚丙烯、硫酯类物质、聚苯乙烯组成，其中，聚丙烯质量比例为：40％～60％，硫酯类物质质量比例为：30％～50％，聚苯乙烯质量比例为：10％左右。该绝缘薄膜层为非刚性的聚合物，在受到外力时会发生形变，不需要特殊的设置来使得它发生形变，且该绝缘薄膜层还具有形变可恢复的特性，本申请则是利用了该绝缘薄膜层在形变后可恢复的特性来检测绑定结构中绑定状态差的位置。该绝缘薄膜层300可为网状或条状，以下以条状为例说明。

图5是本申请第一实施例的绑定结构的第一绑定引脚的俯视示意图，结合图1和图5所示，绝缘薄膜层300覆盖所述第一绑定引脚150设置，其中，所述绝缘薄膜层300包括至少一条横向薄膜带310，所述横向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一引脚之间，所述横向薄膜带310的长度方向与所述第一绑定引脚150的长度方向垂直，且至少一条所述横向薄膜带310与所有所述第一绑定引脚150覆盖设置。且，该横向薄膜带310的宽度较小，远远小于所述第一绑定引脚150的长度，而横向薄膜带310的长度则等于所有第一绑定引脚150中，第一个第一绑定引脚150距离最后一个第一绑定引脚150的长度，即该条横向薄膜带310与所有的第一绑定引脚150都接触。当然，其横向薄膜带310的长度方向与所述第一绑定引脚150的长度方向并不一定需要垂直，成适当角度也可，其需要满足该条横向薄膜带310能够覆盖所有的第一绑定引脚150即可。

需要说明的是，该绝缘薄膜层300的厚度在10-50um皆可(包含其10um和50um的情况)，其厚度若是大于50um，则会造成第一绑定引脚150覆盖绝缘薄膜层300的区域与所述第一绑定引脚150未覆盖绝缘薄膜层300的区域的厚度差距过大的问题，导致异方性导电胶400无法进行导电；其厚度若是小于10um，则绝缘薄膜层300的形变程度较不明显，不利于检测。

本实施例中，通过将绝缘薄膜层300设置为横向薄膜带310，且一条所述绝缘薄膜层300覆盖所有的第一绑定引脚150设置，即可检测所有的第一绑定引脚150是否绑定良好，其虽存在检测区域有限，但可初步检测出绑定不良的产品，且对绑定影响极小，甚至是微乎其微，该条横向薄膜带310的位置可设置与第一绑定引脚150的长度方向的两端，将横向薄膜带310设置在第一绑定引脚150的长度方向的两端，以保证第一绑定引脚150与异方性导电胶400具有最大区域的电连接，保证电性连接的稳定性。

图6是本申请第一实施例的绑定结构的第二种绝缘薄膜层的俯视示意图，图7是沿图6中AA切割线的剖面图，如图6-7所示，所述横向薄膜带310设置有多条，所述多条横向薄膜带310间隔设置，所有所述横向薄膜带310的宽度之和小于等于所述第一绑定引脚150的长度的三分之一。换言之，第一绑定引脚150至少还包括三分之二的面积用于与异方性导电胶400接触电性连接，足够保证其良好的电连接。本实施例中，将横向薄膜带310设置为多条，分别设置与第一绑定引脚150在长度方向上的两端、中部等位置间隔分布，还可以分别检测该第一绑定引脚150各个位置的，以防止在第一绑定引脚150的长度方向上的某些部位绑定良好，在其另一端或其它部位处于绑定较差的状态。

具体地，多条所述横向薄膜带310的宽度相等，且相邻两条横向薄膜带310之间的间距相等。该设置可使得多条横向薄膜带310与多个所述第一绑定引脚150的重叠区域呈阵列式排布，该阵列式分布的重叠区域可代表第一绑定引脚150与异方性导电胶400的全部范围，其主要是为了实现分区检测，进而可实现检测绑定结构110更大的区域的效果，且实现精准的检测，可精准的定位到绑定失效或不良的位置。

图8是基于图6的另一变形实施例，图8公开了本申请第一实施例的第三种绝缘薄膜层的俯视示意图，该实施例中的横向薄膜带310仅覆盖所述第一绑定引脚150设置，非第一绑定引脚150的区域不再覆盖有横向薄膜带310，减少该位置设置的横向薄膜带310，可防止该位置处产生的横向薄膜带310拉伸问题，导致检测误判的问题。避免失效位置受其它位置影响；此方案也同样可以精确定位到绑定失效的位置。

图9是本申请第一实施的第二种绑定结构的截面示意图，考虑到第一绑定引脚150是凸出于基材100表面的，因此，相邻第一绑定引脚150之间的间隔区域形成凹槽，在横向薄膜带310经过该凹槽位置时，可能造成横向薄膜带310拉伸变形，对应的，本实施例使得该绑定结构110的区域内，设置有第一绑定引脚150的区域和非设置第一绑定引脚150的区域的表面平齐。本实施例除了减少横向薄膜带310拉伸变形的情况外，还减少了异方性导电胶400较多的填充在该相邻第一绑定引脚150之间的凹槽区域，且该区域内的异方性导电胶400无法发挥导电的作用，因而提高了第一绑定引脚150和第二绑定引脚250正对区域的异方性导电胶400的数量。

具体地，相邻所述第一绑定引脚150之间设有绝缘层140，所述第一绑定引脚150靠近所述第二绑定引脚250的一面与所述绝缘层140靠近所述第二绑定引脚250的一面平齐。

当然，还可以通过在基材100表面设置凹槽，将第一绑定引脚150设置于该凹槽内，其凹槽的深度等于该第一绑定引脚150的厚度，由此来实现设置有第一绑定引脚150的区域和非设置第一绑定引脚150的区域的表面平齐，且该设置不需要再填充绝缘层140。当然，该凹槽除了设置在基材100表面，也可以设置在绝缘层140的表面，在绝缘层140表面形成以凹槽，用于容纳该第一绑定引脚150，使得绝缘层140上设置第一绑定引脚150的表面与绝缘层140不设置第一绑定引脚150的表面平齐。

实施例二：

图10是本申请第二实施例的绑定结构的截面示意图，图11是本申请第二实施例的绑定结构的俯视示意图，本实施例中的绝缘薄膜层300包括多条纵向薄膜带313，与上一实施例不同的是，所述纵向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一基材之间，所述纵向薄膜带313的长度方向与所述第一绑定引脚150的长度方向平行，多条所述纵向薄膜带313一一对应设置在相邻两个所述第一绑定引脚150之间的间隙中，且在所述第一基材的投影上，所述绝缘薄膜层300与第一绑定引脚150不重合；所述纵向薄膜带313的厚度大于相邻两个所述第一绑定引脚150之间的间隙的深度；当对应的所述第一绑定引脚150和所述第二绑定引脚250连通时，所述纵向薄膜带313的厚度等于相邻两个所述第一绑定引脚150之间的间隙的深度。

本实施例中，将纵向薄膜带313设置在相邻两个第一绑定引脚150之间的间隙中，且该纵向薄膜带313的厚度大于该间隙的深度，使得纵向薄膜带313的上表面突出于相邻两个第一绑定引脚150的上表面。

图12是本申请第二实施例的绑定结构的检测示意图，本实施例的检测方式如实施例一中的一致，红外检测光N以一预设角度朝向带有绑定结构110的基材200射入，在穿过基材200、第二绑定引脚250后，在纵向薄膜带313的第一面和第二面分别产生第一反射光S1和第二反射光S2，通过检测设备接收第一反射光S1和第二反射光S2，并且计算第一反射光和第二反射光的光程差α1，可得出纵向薄膜带313的厚度。当绑定结构110进行绑定时，其纵向薄膜带313受到压力，进而产生形变，形变后的厚度H1小于H，对应的光程差α1＜α。具体的，当检测到的光程差α1＝α时，则视为绑定失效，为开路状态，此时纵向薄膜带313未形变；当检测到的光程差2/3α≤α1＜α，则视为绑定状态差，此时纵向薄膜带313的形变程度较小，其可视为导通状态，即第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间可通过异方性导电胶400进行导通，但存在导通不良等情况；当检测到的光程差1/3α＜α1＜2/3α，则视为绑定状态较差，此时纵向薄膜带313的形变程度一般，但其绑定状态可视为较差，且第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间通过异方性导电胶400导通，但长期使用具有可靠性风险；当检测到的光程差α1≤1/3α，则视为纵向薄膜带313形变足够，绑定状态佳，此时第一绑定引脚150与第二绑定引脚250之间可导通，且长期使用，依然具有稳定的导通能力。需要说明的是，本实施例中，若其中一个第一绑定引脚150的绑定状态差的情况下，该第一绑定引脚150两侧的纵向薄膜带313的光程差将都受到影响。因此，在检测过程中，若检测到某一条纵向薄膜带313的光程差不在1/3α的范围内，应进一步检测相邻纵向薄膜带313的光程差，以确定是第一绑定引脚150失效位置。

但是本实施例的纵向薄膜带313的厚度变化有区别，本实施例中的纵向薄膜带313的最大形变程度，为纵向薄膜带313的上表面与相邻两个第一绑定引脚150的上表面平齐时，此时纵向薄膜带313无法再形变。本实施例中，所述纵向薄膜带313的厚度与相邻两个第一绑定引脚150之间的间隙的深度之差至少为50um。即纵向薄膜带313的上表面至少高于相邻第一绑定引脚150的上表面50um。需要说明的是，该纵向薄膜带313的长度，宽度可根据实际情况进行选择。

图13是本申请第二实施例的第二种绑定结构的截面示意图，其中，该纵向薄膜带313上设置多个间断位置。在实际情况中，由于第一绑定引脚150具有一定的长度，为了能检测出第一绑定引脚150在长度方向上每一位置是否绑定良好，因而，该纵向薄膜带313需要布设于第一绑定引脚150在长度方向的每一位置，但是，纵向薄膜带313的设置会导致绑定粘贴的面积较小，从而影响绑定效果。因此，本实施例中，将纵向薄膜带313上设置多个间断位置，该间断位置处不设置有纵向薄膜带313。从而提高绑定效果，且第一绑定引脚150长度方向上的每一位置还能被检测。

需要提及的是，该实施例二中的纵向薄膜带313还可以与实施例一中的任意一横向薄膜带结合使用，从而形成纵横交错的网络结构，即对应上文所陈述的绝缘薄膜层还可以为网状结构，在其保证纵向薄膜带和横向薄膜带的总面积占该异方性导电胶的总面积三分之一以内的情况下，既可以保证绑定的牢固性，可以实现纵横交错的网络结构来对每一位置处的第一绑定引脚或第二绑定引脚进行检测，以将面的每一处用点阵的方式来实现检测，进而实现精准检测。

实施例三：

图14是本申请第三实施例的绑定结构的截面示意图，接上文，本实施例可分别设置绝缘薄膜层300对应第一绑定引脚150和第二绑定引脚250，具体地，所述绝缘薄膜层300包括多条第一横向薄膜带311和多条第二横向薄膜带312，多条所述第一横向薄膜带311设置在所述第一绑定引脚150靠近所述第二绑定引脚250的一侧，所述第一横向薄膜带设置在所述第一绑定引脚和所述异方性导电胶之间，多条所述第二横向薄膜带312设置在所述第二绑定引脚250靠近所述第一绑定引脚150的一侧，所述第二横向薄膜带设置在所述第二绑定引脚和所述异方性导电胶之间；所述第一横向薄膜带311的长度方向与所述第一绑定引脚150的长度方向垂直，所述第二横向薄膜带312的长度方向与所述第二绑定引脚250的长度方向垂直，所述第一横向薄膜带311的长度方向与所述第二横向薄膜带312的长度方向平行；且在所述基材100的投影上，多条所述第一横向薄膜带311与多条所述第二横向薄膜带312交错设置。需要说明的是，该所有第一横向薄膜带311和所有第二横向薄膜带312的宽度之和小于所述第一绑定引脚150长度的三分之一，

本实施例通过分别设置第一横向薄膜带311和第二横向薄膜带312，分别检测第一绑定引脚150和第二绑定引脚250的绑定情况，进而达到绑定结构110的第一绑定引脚150的区域和第二绑定引脚250的区域都可被检测，防止因检测不到导致的产品质量问题。

在另一实施例中，由于异方性导电胶400的特性，需要第一绑定引脚150与第二绑定引脚250的正对位置都与同一位置处的异方性导电胶400直接接触才能导电，因此，该第一横向薄膜带311和第二横向薄膜带312在基材100的投影下，重叠设置可保证最好的导电效率。

实施例四：

图15是本申请第四实施例的显示装置的截面示意图，本实施例公开了一种显示装置10，该显示装置10包括显示面板101和驱动电路板210，所述显示面板101和驱动电路板210之间通过上述实施例一和二中的绑定结构110连接，具体地，所述第一绑定引脚150设置在所述显示面板101上，所述第二绑定引脚250设置在所述驱动电路板210上。

对应上述显示装置，本实施例还公开了一种显示装置的绑定方法，包括步骤：

S101：在显示面板的对应第一绑定引脚的区域形成薄膜材料层；

S102：通过异方性导电胶将显示面板和驱动电路板绑定连接，且使得显示面板的第一绑定引脚和驱动电路板的第二绑定引脚一一对应连通。

其中，对应上述不同的实施例，可在第一绑定引脚的区域或第二绑定引脚的区域形成横向薄膜带、第一横向薄膜带、第二横向薄膜带和纵向薄膜带皆可。

图16是本申请第三实施例的显示装置的俯视示意图，显示装置10包括显示面板101和驱动电路板210，驱动电路板210又包括柔性电路板211和印刷电路板212，其印刷电路板212一般通过柔性电路板211绑定在显示面板101上。而显示面板101又包括彩膜基板和阵列基板，阵列基板包括玻璃衬底，其第一绑定引脚也就是设置在阵列基板的玻璃衬底上，与设置在柔性电路板上的第二绑定引脚通过异方性导电胶与设置在阵列基板上的第一绑定引脚电性连接。其上述实施例一和二的绝缘薄膜层可分别设置在第一绑定引脚或第二绑定引脚上。

当然，其柔性电路板211和印刷电路板212之间也是通过上述的绑定结构110绑定连接的，当然也属于本申请的保护范围，接上文，其柔性电路板的一侧设置有与阵列基板绑定连接的第二绑定引脚，另一侧还设置有与印刷电路板绑定连接的绑定结构，其上述任意一实施例也同样适用于柔性电路板与印刷电路板之间的绑定连接，在此不再进行赘述。

通过本发明的设计方案可检测出显示装置各个绑定结构的绑定状态，保证显示装置的正常工作及可靠性；并通过分区检测的方法，可快捷有效的检测出绑定失效或状态差的区域，提高失效分析的时效性。需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

本申请的技术方案可以广泛用于各种显示面板，如TN(Twisted Nematic，扭曲向列型)显示面板、IPS(In-Plane Switching，平面转换型)显示面板、VA(VerticalAlignment，垂直配向型)显示面板、MVA(Multi-Domain Vertical Alignment，多象限垂直配向型)显示面板，当然，也可以是其他类型的显示面板，如OLED(Organic Light-EmittingDiode，有机发光二极管)显示面板，均可适用上述方案。

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (9)

1.一种绑定结构，包括：设置在第一基材上的多个第一绑定引脚、设置在第二基材上的多个第二绑定引脚和异方性导电胶，所述异方性导电胶设置在所述第一绑定引脚和第二绑定引脚之间，且通过所述异方性导电胶将多个所述第一绑定引脚和多个所述第二绑定引脚一一对应连通；其特征在于，

所述绑定结构还包括绝缘薄膜层，所述绝缘薄膜层设置在所述第一基材和所述第二基材之间，所述绝缘薄膜层采用绝缘材料形成，在沿垂直于所述第一基材的方向上，受压力时发生形变，不受压力后恢复初始状态；且受压大小不同，形变程度不同；

所述绝缘薄膜层用于在接收到检测光线时，所述绝缘薄膜层的第一面反射所述检测光线产生第一反射光，所述绝缘薄膜层的第二面反射所述检测光线产生第二反射光，所述绝缘薄膜层的厚度不同对应的所述第一反射光和第二反射光的光程差不同。

2.根据权利要求1所述的绑定结构，其特征在于，

所述绝缘材料由聚丙烯、硫酯类物质、聚苯乙烯组成，其中，聚丙烯质量比例为40％～60％，硫酯类物质质量比例为30％～50％，聚苯乙烯质量比例为10％。

3.根据权利要求1所述的绑定结构，其特征在于，所述绝缘薄膜层包括至少一条横向薄膜带，所述横向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一引脚之间，所述横向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向垂直，且一条所述横向薄膜带与所有所述第一绑定引脚覆盖设置。

4.根据权利要求3所述的绑定结构，其特征在于，所述横向薄膜带设置有多条，所述多条横向薄膜带间隔设置，所有所述横向薄膜带的宽度之和小于等于所述第一绑定引脚的长度的三分之一；

多条所述横向薄膜带的宽度相等，且相邻两条所述横向薄膜带之间的间距相等；所述横向薄膜带的厚度为10-50um。

5.根据权利要求3所述的绑定结构，其特征在于，相邻所述第一绑定引脚之间设有绝缘层，所述第一绑定引脚靠近所述第二绑定引脚的一面与所述绝缘层靠近所述第二绑定引脚的一面平齐。

6.根据权利要求1所述的绑定结构，其特征在于，所述绝缘薄膜层包括多条纵向薄膜带，所述纵向薄膜带设置在所述异方性导电胶和所述第一基材之间，所述纵向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向平行，多条所述纵向薄膜带一一对应设置在相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙中，且在所述第一基材的投影上，所述绝缘薄膜层与第一绑定引脚不重合；

所述纵向薄膜带的厚度大于相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙的深度；当对应的所述第一绑定引脚和所述第二绑定引脚连通时，所述纵向薄膜带的厚度等于相邻两个所述第一绑定引脚之间的间隙的深度。

7.根据权利要求1所述的绑定结构，其特征在于，所述绝缘薄膜层包括多条第一横向薄膜带和多条第二横向薄膜带，多条所述第一横向薄膜带设置在所述第一绑定引脚靠近所述第二绑定引脚的一侧，所述第一横向薄膜带设置在所述第一绑定引脚和所述异方性导电胶之间，多条所述第二横向薄膜带设置在所述第二绑定引脚靠近所述第一绑定引脚的一侧，所述第二横向薄膜带设置在所述第二绑定引脚和所述异方性导电胶之间；

所述第一横向薄膜带的长度方向与所述第一绑定引脚的长度方向垂直，所述第二横向薄膜带的长度方向与所述第二绑定引脚的长度方向垂直，所述第一横向薄膜带的长度方向与所述第二横向薄膜带的长度方向平行；

且在所述基材的投影上，多条所述第一横向薄膜带与多条所述第二横向薄膜带交错设置。

8.一种绑定结构的检测方法，用于检测如权利要求1-7任一所述的绑定结构，其特征在于，包括步骤：

朝向绝缘薄膜层发出检测光线；

检测光线经绝缘薄膜层的第一面反射产生第一反射光，经绝缘薄膜层的第二面反射产生第二反射光；

接收第一反射光和第二反射光，计算第一反射光和第二反射光的光程差，根据光程差得出绝缘薄膜层的厚度；以及

根据绝缘薄膜层的厚度判断所述绝缘薄膜层的形变程度，根据所述绝缘薄膜层的形变程度判断绑定结构的绑定状态。

9.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板和驱动电路板，所述显示面板和所述驱动电路板之间通过如权利要求1至7任意一项所述的绑定结构连接，其中所述显示面板的衬底基板为第一基材，驱动电路板为第二基材，所述第一绑定引脚设置在所述显示面板的衬底基板上，所述第二绑定引脚设置在所述驱动电路板上。

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