CN114589644A - 测试治具 - Google Patents

Abstract

本发明涉及服务器测试技术领域，具体涉及一种测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。本发明提供的测试治具，可支撑板卡以规避损坏风险的测试治具。

Description

测试治具

技术领域

本发明涉及服务器测试技术领域，具体涉及一种测试治具。

背景技术

服务器的主板通常会搭配PCIE卡和PCIE卡的转接卡(即Riser卡)进行使用。一般情况下，服务器中的转接卡垂直连接在主板上，PCIE卡通过金手指端插接在转接卡上，服务器内设有结构件对PCIE卡的其他部位进行支撑。在服务器类新产品的开发阶段，需要在实验室的环境中对主板进行裸板调试，部分测试中需要连接好转接卡和PCIE卡进行调试，PCIE卡呈悬臂状态悬空连接在主板的上方，对板卡本身以及PCIE卡的金手指都有较大的损坏风险。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的裸板调试时板卡本身及金手指存在损坏风险的缺陷，从而提供一种可支撑板卡以规避损坏风险的测试治具。

为了解决上述问题，本发明提供了一种测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。

本发明提供的测试治具，还包括滑动结构，所述滑动结构与所述连接结构沿与所述主板垂直的方向可滑动地连接，所述支撑结构与所述滑动结构连接。

本发明提供的测试治具，所述滑动结构包括两条第一滑孔、滑板和两组第一卡扣，两条第一滑孔平行设置在所述连接结构的两端；滑板与所述支撑结构连接；两组第一卡扣分别连接在所述滑板的两端，并与两条所述第一滑孔滑动卡接。

本发明提供的测试治具，还包括限位结构，所述限位结构与所述滑动结构连接，适于将所述滑动结构限位在所述连接结构上的相应高度上。

本发明提供的测试治具，所述限位结构包括多个限位槽、和弹性卡条；多个限位槽沿与所述主板垂直的方向分布；弹性卡条的一端与所述滑板连接，另一端可插拔的设置在所述限位槽内。

本发明提供的测试治具，所述滑板上设有第二滑孔，所述第二滑孔为矩形长孔，所述第二滑孔的长度方向与所述主板平行，所述支撑结构上设有第二卡扣，所述第二卡扣可滑动地卡接在所述第二滑孔处。

本发明提供的测试治具，所述支撑结构包括卡接板、和支撑板；卡接板的一侧设有所述第二卡扣；支撑板的一端与所述卡接板的一端垂直连接，另一端向远离所述第二卡扣的方向延伸。

本发明提供的测试治具，所述连接结构包括连接板、第一连接组件和第二连接组件，连接板与所述支撑结构连接；第一连接组件的一端与所述连接板的顶部连接，另一端设置在所述转接卡的上方，并与所述转接卡的顶端连接；第二连接组件连接在所述连接板的侧部，所述第二连接组件的底端与所述主板抵接。

本发明提供的测试治具，所述转接卡的顶端设有第一连接孔和第二连接孔，所述第一连接组件包括第一连接筒、第一连接柱、滑轨、第一连接部和第二连接部；第一连接筒的一端与所述连接板的顶部连接，另一端设置在所述转接卡的上方，所述第一连接筒朝向所述转接卡的一侧沿所述第一连接筒的轴向设有开口；第一连接柱沿所述第一连接筒的轴向可滑动地设置在所述第一连接筒处；滑轨沿所述第一连接筒的长度方向延伸，一端穿过所述开口与所述第一连接柱连接，另一端位于所述第一连接筒的外部；第一连接部由所述滑轨的另一端向远离所述第一连接柱的方向延伸而出，并适于与所述第一连接孔连接；第二连接部的一端可滑动地连接在所述滑轨的另一端，另一端适于与所述第二连接孔连接。

本发明提供的测试治具，所述第二连接组件包括第二连接筒、第二连接柱和紧固件；第二连接筒连接在所述连接板的侧部，且所述第二连接筒的轴向与所述主板垂直；所述第二连接筒上设有限位孔；第二连接柱沿所述第二连接筒的轴向可滑动地设置在所述第二连接筒处，所述第二连接柱的底端适于与所述主板和/或测试平台抵接；紧固件连接在所述限位孔处，适于通过所述限位孔与所述第二连接柱配合。

本发明具有以下优点：

1.本发明提供的测试治具，包括测试平台和支撑装置，主板适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡的一端适于垂直连接在所述主板上，PCIE卡的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡上远离所述主板的一端；支撑装置包括连接结构和支撑结构，所述连接结构与所述转接卡连接，并位于所述转接卡的侧部，所述连接结构的底端适于与所述主板和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构凸出连接在所述连接结构上靠近所述转接卡的一侧，并适于支撑所述PCIE卡。

连接结构与转接卡连接，并与主板和/或所述测试平台抵接，可在主板和转接卡之间实现固定连接，支撑结构通过连接结构固定连接在主板和转接卡之间，并可对PCIE卡进行支撑，PCIE卡不再呈悬臂状态悬空连接在主板的上方，避免测试治具进行测试时对PCIE卡和转接卡等板卡本身以及对PCIE卡的金手指造成损坏。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明的测试治具(局部)的示意图；

图2示出了本发明的测试治具(局部)的主视图；

图3示出了本发明的测试治具(局部)的右视图；

图4示出了本发明的测试治具(局部)的俯视图；

图5示出了本发明的支撑装置的示意图；

图6示出了本发明的支撑装置的右视图；

图7示出了本发明的支撑装置(局部)的主视图；

图8示出了本发明的支撑装置(局部)的剖视图；

图9示出了本发明的支撑结构的示意图；

图10示出了本发明的第一连接组件(局部)的示意图；

图11示出了本发明的第一连接组件(局部)的连接示意图；

图12示出了本发明的主板的连接示意图；

附图标记说明：

1、主板；2、转接卡；21、第一连接孔；22、第二连接孔；3、PCIE卡；4、支撑装置；41、连接结构；411、连接板；412、第一连接组件；4121、第一连接筒；4122、第一连接柱；4123、滑轨；4124、第一连接部；4125、第二连接部；413、第二连接组件；4131、第二连接筒；4132、第二连接柱；4133、限位孔；42、支撑结构；421、第二卡扣；422、卡接板；423、支撑板；43、滑动结构；431、第一滑孔；432、滑板；4321、第二滑孔；433、第一卡扣；44、限位结构；441、限位槽；442、弹性卡条。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

如图1至图12所示，本实施例中公开了一种测试治具，测试平台和支撑装置4，主板1适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡2的一端适于垂直连接在所述主板1上，PCIE卡3的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡2上远离所述主板1的一端；支撑装置4包括连接结构41和支撑结构42，所述连接结构41与所述转接卡2连接，并位于所述转接卡2的侧部，所述连接结构41的底端适于与所述主板1和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构42凸出连接在所述连接结构41上靠近所述转接卡2的一侧，并适于支撑所述PCIE卡3。

连接结构41与转接卡2连接，并与主板1和/或所述测试平台抵接，可在主板1和转接卡2之间实现固定连接，支撑结构42通过连接结构41固定连接在主板1和转接卡2之间，并可对PCIE卡3进行支撑，PCIE卡3不再呈悬臂状态悬空连接在主板1的上方，避免测试治具进行测试时对PCIE卡3和转接卡2等板卡本身以及对PCIE卡3的金手指造成损坏。且本发明的支撑装置4仅需与转接卡2和主板1连接，不会将支撑装置4限定在一个测试治具上，支撑装置4可用在多个测试治具上，也可以用于其他在服务器外部对主板1等结构进行调试和/或测试的场合。

具体地实施方式中，所述连接结构41的底端适于与主板1抵接，或者适于与测试平台抵接，或者适于与两者均抵接。可根据转接卡2的连接位置和PCIE卡3的规格选择连接结构41的底端的抵接位置，适用范围广。具体地一种实施方式中，测试平台与主板1通信连接，测试源、显示屏等测试设备与测试平台通信连接。通信连接包括通过导线电连接和通过无线网络连接等连接方式。

需要说明的是，本实施例中连接结构41的底端代表的是连接结构41靠近主板1的一端，并非特指连接结构41的下方，在主板1倒置时，连接结构41的底端为连接结构41的上方。本实施例中的支撑装置不仅对PCIE卡进行支撑，还可对其他悬空连接的板卡进行支撑连接。

本实施例的测试治具中，还包括滑动结构43，所述滑动结构43与所述连接结构41沿与所述主板1垂直的方向可滑动地连接，所述支撑结构42与所述滑动结构43连接。滑动结构43可将支撑结构42连接在相应的高度，可根据转接卡2的规格和PCIE卡3的连接高度调整支撑结构42的高度，可支撑各种规格的PCIE卡3并将其支撑在需要的高度，适用范围广。

本实施例中，所述滑动结构43包括两条第一滑孔431、滑板432和两组第一卡扣433，两条第一滑孔431平行设置在所述连接结构41的两端；滑板432与所述支撑结构42连接；两组第一卡扣433分别连接在所述滑板432的两端，并与两条所述第一滑孔431滑动卡接。滑动结构43简单，便于连接和拆卸，且两组第一卡扣433相对设置，可在两条平行设置的第一滑孔431内顺畅滑动，便于调节滑板432的高度，滑板432可带动连接在其上的支撑结构42滑动。

具体地实施方式中，第一滑孔431为长通孔，长通孔的长度方向与主板1垂直，滑板432通过第一卡扣433沿与主板1垂直的方向滑动。第一卡扣433包括由滑板432的一端垂直延伸而出的第一延伸段，及由第一延伸段远离滑板432的一端延伸而出的第二延伸段，两组第一卡扣433的第二延伸段向着相对的方向延伸而出，或者两组第一卡扣433的第二延伸段向着相同的方向延伸而出，以便于将滑板432卡接在第一滑孔431上。第二延伸段上设有导向斜面。每组第一卡扣433可具有一个第一卡扣433，也可以具有两个或三个或更多个第一卡扣433。

本实施例的测试治具中，还包括限位结构44，所述限位结构44与所述滑动结构43连接，适于将所述滑动结构43限位在所述连接结构41上的相应高度上。限位结构44通过限位滑动结构43，以将连接在支撑结构42上的滑板432限位在相应的高度，使得支撑结构42可根据转接卡2的规格和PCIE卡3的连接高度调整支撑结构42的高度，可支撑各种规格的PCIE卡3并将其支撑在需要的高度，适用范围广。

本实施例中，所述限位结构44包括多个限位槽441和弹性卡条442，多个限位槽441沿与所述主板1垂直的方向分布；弹性卡条442的一端与所述滑板432连接，另一端可插拔的设置在所述限位槽441内。需调节支撑结构42的高度时，可将弹性卡条442的另一端从限位槽441中拔出，限位结构44不再限位滑动结构43，滑动结构43可沿垂直于主板1的方向滑动，滑动至相应高度时，可将弹性卡条442的另一端插入相应高度的限位槽441内，实现对滑动结构43的限位。无需工具就可实现对滑动结构43和支撑结构42的高度的调节。

具体地实施方式中，多个限位槽441沿与主板1垂直的方向均匀分布，且多个限位槽441的分布方向与第一滑孔431的长度方向一致。弹性卡条442包括由滑板432沿垂直于主板1的方向延伸而出的第一弹性段，及与第一弹性段远离滑板432的一端沿与第一弹性段垂直的方向延伸而出的第二弹性段。优选地实施方式中，弹性卡条442还包括由第一弹性段远离滑板432的一端沿与第二弹性段相反的方向延伸的弹性把手，操作者便于通过弹性把手实现第一弹性段与限位槽441之间的插拔。

作为可变换的实施方式，也可以为，限位结构44包括第一限位固定孔、限位柱和多个第二限位固定孔，第一限位固定孔设置在滑板432上，多个第二限位固定孔沿垂直于主板1的方向分布在连接结构41上，限位柱可拆卸地连接在第一限位固定孔和第二限位固定孔内。

本实施例中，所述滑板432上设有第二滑孔4321，所述第二滑孔4321为矩形长孔，所述第二滑孔4321的长度方向与所述主板1平行，所述支撑结构42上设有第二卡扣421，所述第二卡扣421可滑动地卡接在所述第二滑孔4321处。支撑结构42可通过第二卡扣421沿第二滑孔4321滑动，可对各种宽度的PCIE卡3进行支撑，适用于不同尺寸的PCIE卡3，也可选择合适的位置对PCIE卡3进行支撑，保证具有更好的支撑效果。

具体地实施方式中，第二卡扣421具有两组，两组第二卡扣421沿支撑结构42的长度方向延伸，每组第二卡扣421均具有两个。第二卡扣421包括由支撑结构42垂直延伸而出的第三延伸段，及由第三延伸段远离支撑结构42的一端垂直延伸而出的第四延伸段，每组的两个第二卡扣421的第三延伸段平行设置，每组的两个第二卡扣421的第四延伸段的延伸方向相反。第四延伸段上设有导向斜面。

本实施例中，所述支撑结构42包括卡接板422和支撑板423，卡接板422的一侧设有所述第二卡扣421；支撑板423的一端与所述卡接板422的一端垂直连接，另一端向远离所述第二卡扣421的方向延伸。支撑板423用于对PCIE卡3进行支撑，卡接板422用于与滑板432连接，第二卡扣421卡接在第二滑孔4321后，卡接板422与滑板432实现面限位，增强卡接板422与滑板432之间的连接稳固性。

本实施例中，所述连接结构41包括连接板411、第一连接组件412和第二连接组件413，连接板411与所述支撑结构42连接；第一连接组件412的一端与所述连接板411的顶部连接，另一端设置在所述转接卡2的上方，并与所述转接卡2的顶端连接；第二连接组件413连接在所述连接板411的侧部，所述第二连接组件413的底端与所述主板1抵接。连接板411通过第一连接组件412与转接卡2的顶端连接，通过第二连接组件413与底端抵接，实现连接结构41的固定，以保证支撑结构42对PCIE卡3的稳固支撑。

本实施例中，所述转接卡2的顶端设有第一连接孔21和第二连接孔22，所述第一连接组件412包括第一连接筒4121、第一连接柱4122、滑轨4123、第一连接部4124和第二连接部4125，第一连接筒4121的一端与所述连接板411的顶部连接，另一端设置在所述转接卡2的上方，所述第一连接筒4121朝向所述转接卡2的一侧沿所述第一连接筒4121的轴向设有开口；第一连接柱4122沿所述第一连接筒4121的轴向可滑动地设置在所述第一连接筒4121处；滑轨4123沿所述第一连接筒4121的长度方向延伸，一端穿过所述开口与所述第一连接柱4122连接，另一端位于所述第一连接筒4121的外部；第一连接部4124由所述滑轨4123的另一端向远离所述第一连接柱4122的方向延伸而出，并适于与所述第一连接孔21连接；第二连接部4125的一端可滑动地连接在所述滑轨4123的另一端，另一端适于与所述第二连接孔22连接。

第一连接柱4122可滑动地设置在第一连接筒4121处，使得第一连接部4124可根据转接卡2上第一连接孔21的位置进行滑动以配合与第一连接孔21进行连接；第二连接部4125可滑动地连接在滑轨4123上，使得第一连接部4124和第二连接部4125之间的距离可调，可适用于不同转接卡2上第一连接孔21和第二连接孔22之间的不同距离。

具体地实施方式中，所述第一连接筒4121上设有限位孔4133，紧固件连接在所述限位孔4133处，适于通过所述限位孔4133与所述第一连接柱4122配合，以对第一连接柱4122的位置进行限位。

本实施例中，所述第二连接组件413包括第二连接筒4131、第二连接柱4132和紧固件；第二连接筒4131连接在所述连接板411的侧部，且所述第二连接筒4131的轴向与所述主板1垂直；所述第二连接筒4131上设有限位孔4133；第二连接柱4132沿所述第二连接筒4131的轴向可滑动地设置在所述第二连接筒4131处，所述第二连接柱4132的底端适于与所述主板1和/或测试平台抵接；紧固件连接在所述限位孔4133处，适于通过所述限位孔4133与所述第二连接柱4132配合。

第二连接柱4132沿第二连接筒4131的轴向滑动，可根据连接结构41相对于主板1和/或测试平台之间的距离对第二连接柱4132进行调节，保证第二连接柱4132可与主板1和/或测试平台抵接，以保证连接结构41的连接稳定性，可适用于不同高度的转接卡2，适用范围广。紧固件和限位孔4133可实现对第二连接柱4132的位置的限定。

本实施例中，进行裸板调试时，先将主板1连接在测试平台上，再将转接卡2和PCIE卡3进行连接，根据转接卡2上第一连接孔21和第二连接孔22的距离，将连接板411与转接卡2的顶端进行连接，通过紧固件和限位孔4133对第一连接柱4122进行限位固定；拆卸第二连接柱4132处的紧固件，第二连接柱4132在重力作用下下滑至与主板1和/或测试平台抵接，通过紧固件和限位孔4133对第二连接柱4132进行限位固定。拔出弹性卡条442的另一端，根据PCIE卡3的高度调节滑板432的位置，调整到相应的位置后再将弹性卡条442的另一端插入限位槽441内，再根据PCIE卡3伸出转接卡2的距离滑动支撑结构42，对PCIE卡3进行支撑。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种测试治具，其特征在于，包括：

测试平台，主板(1)适于可拆卸地装设在所述测试平台上，转接卡(2)的一端适于垂直连接在所述主板(1)上，PCIE卡(3)的一端设有金手指，所述金手指适于可拆卸地插接在所述转接卡(2)上远离所述主板(1)的一端；

支撑装置(4)，包括连接结构(41)和支撑结构(42)，所述连接结构(41)与所述转接卡(2)连接，并位于所述转接卡(2)的侧部，所述连接结构(41)的底端适于与所述主板(1)和/或所述测试平台抵接；所述支撑结构(42)凸出连接在所述连接结构(41)上靠近所述转接卡(2)的一侧，并适于支撑所述PCIE卡(3)。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括滑动结构(43)，所述滑动结构(43)与所述连接结构(41)沿与所述主板(1)垂直的方向可滑动地连接，所述支撑结构(42)与所述滑动结构(43)连接。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述滑动结构(43)包括：

两条第一滑孔(431)，平行设置在所述连接结构(41)的两端；

滑板(432)，与所述支撑结构(42)连接；

两组第一卡扣(433)，分别连接在所述滑板(432)的两端，并与两条所述第一滑孔(431)滑动卡接。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，还包括限位结构(44)，所述限位结构(44)与所述滑动结构(43)连接，适于将所述滑动结构(43)限位在所述连接结构(41)上的相应高度上。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述限位结构(44)包括：

多个限位槽(441)，沿与所述主板(1)垂直的方向分布；

弹性卡条(442)，一端与所述滑板(432)连接，另一端可插拔的设置在所述限位槽(441)内。

6.根据权利要求3-5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述滑板(432)上设有第二滑孔(4321)，所述第二滑孔(4321)为矩形长孔，所述第二滑孔(4321)的长度方向与所述主板(1)平行，所述支撑结构(42)上设有第二卡扣(421)，所述第二卡扣(421)可滑动地卡接在所述第二滑孔(4321)处。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述支撑结构(42)包括：

卡接板(422)，一侧设有所述第二卡扣(421)；

支撑板(423)，一端与所述卡接板(422)的一端垂直连接，另一端向远离所述第二卡扣(421)的方向延伸。

8.根据权利要求1-5、7中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述连接结构(41)包括：

连接板(411)，与所述支撑结构(42)连接；

第一连接组件(412)，一端与所述连接板(411)的顶部连接，另一端设置在所述转接卡(2)的上方，并与所述转接卡(2)的顶端连接；

第二连接组件(413)，连接在所述连接板(411)的侧部，所述第二连接组件(413)的底端与所述主板(1)抵接。

9.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述转接卡(2)的顶端设有第一连接孔(21)和第二连接孔(22)，所述第一连接组件(412)包括：

第一连接筒(4121)，一端与所述连接板(411)的顶部连接，另一端设置在所述转接卡(2)的上方，所述第一连接筒(4121)朝向所述转接卡(2)的一侧沿所述第一连接筒(4121)的轴向设有开口；

第一连接柱(4122)，沿所述第一连接筒(4121)的轴向可滑动地设置在所述第一连接筒(4121)处；

滑轨(4123)，沿所述第一连接筒(4121)的长度方向延伸，一端穿过所述开口与所述第一连接柱(4122)连接，另一端位于所述第一连接筒(4121)的外部；

第一连接部(4124)，由所述滑轨(4123)的另一端向远离所述第一连接柱(4122)的方向延伸而出，并适于与所述第一连接孔(21)连接；

第二连接部(4125)，一端可滑动地连接在所述滑轨(4123)的另一端，另一端适于与所述第二连接孔(22)连接。

10.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述第二连接组件(413)包括：

第二连接筒(4131)，连接在所述连接板(411)的侧部，且所述第二连接筒(4131)的轴向与所述主板(1)垂直；所述第二连接筒(4131)上设有限位孔(4133)；

第二连接柱(4132)，沿所述第二连接筒(4131)的轴向可滑动地设置在所述第二连接筒(4131)处，所述第二连接柱(4132)的底端适于与所述主板(1)和/或测试平台抵接；

紧固件，连接在所述限位孔(4133)处，适于通过所述限位孔(4133)与所述第二连接柱(4132)配合。

Images