CN114538200B - 数码卷绕精密络筒机及其控制方法、装置和可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种数码卷绕精密络筒机及其控制方法、装置和可读存储介质，其中，数码卷绕精密络筒机的控制方法包括：响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断实际密度是否满足预设密度要求；在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。本申请通过对生产过程中的纱筒密度进行监控，进而在密度不符合预设要求时及时进行校正，避免了因纱筒密度不符合要求而导致的需要返工的情况发生，甚至发生染色不均匀的情况，对生产效率造成影响。

Description

数码卷绕精密络筒机及其控制方法、装置和可读存储介质

技术领域

本发明涉及纺织设备技术领域，具体而言，涉及一种数码卷绕精密络筒机及其控制方法、装置和可读存储介质。

背景技术

锦纶纤维因为强度高和韧性好，耐磨和回弹性能佳，广泛用作袜子、弹力衫等弹性织物的制作材料。锦纶染色目前主要有两种工艺：一是采用传统的绞纱染色法，该方法因工艺复杂、损耗大、产量低、成本高、未来会被逐渐淘汰；二是筒子染色法，好的松筒能够使染色成功一半，该工艺在对筒子染色前需要进行松式络筒处理，即按照筒子染色工艺要求在精密络筒机上加工成合适密度的松式筒子，保证染色后的纱线无色差。但由于原料纱通常是紧密卷绕在纸筒管上，纱线内外层的弹性稳定性和预收缩效果不同。在松式络筒工序中，虽然卷绕条件如卷绕张力和纱筒背压力相同，由于不同锦纶原料筒子锦纶收缩率不同，相同原料筒子的内外层回弹力不同，容易造成松式络筒后相同重量的筒子直径差别很大，需要第二次松式络筒才能达到筒子染色的密度要求。

因此，如何提出一种可以保证弹力丝松筒卷装筒子各个直径段的密度一致的方案成为目前亟待解决的问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的第一方面提出了一种数码卷绕精密络筒机的控制方法。

本发明的第二方面还提出了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置。

本发明的第三方面还提出了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置。

本发明的第四方面还提出了一种计算机可读存储介质。

本发明的第五方面还提出了一种数码卷绕精密络筒机。

有鉴于此，本发明第一方面提出了一种数码卷绕精密络筒机的控制方法，控制方法包括：响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断实际密度是否满足预设密度要求；在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。

根据本发明提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法，控制方法包括：人工下发指令，络筒机响应于人工下发的指令开始对纱筒进行卷绕，进而在纱筒正常被卷绕的过程中，对纱筒的实际密度进行计算，进而对计算出的实际密度是否符合预设密度要求进行判断，以此实现对生产过程中的纱筒密度进行监控，当实际密度符合预设密度要求时，则正常生产，不对络筒机进行干预，而当实际密度不符合预设密度要求时，则通过密度矫正曲线，对络筒机卷绕的纱筒密度进行校正，以使纱筒在卷绕过程中的密度符合预设密度要求，进而保证了纱筒的染色效果，使得纱筒的染色效果更好，更加均匀，满足了生产需要，提高了纱筒的染色成功率。本申请通过对生产过程中的纱筒密度进行监控，进而在密度不符合预设要求时及时进行校正，避免了因纱筒密度不符合要求而导致的需要返工的情况发生，甚至发生染色不均匀的情况，对生产效率造成影响。

另外，本发明提供的上述技术方案中的控制方法还可以具有如下附加技术特征：

在上述技术方案中，在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度，具体包括：在纱筒卷绕过程中，获取纱筒的直径；根据纱筒的直径，计算得到纱筒的实际密度。

在该技术方案中，通过在纱筒卷绕过程中，对纱筒的直径进行获取来计算纱筒的实际密度，由于密度等于质量比体积，而纱筒卷绕过程中，随着纱线卷绕的越来越多，恰恰使得纱筒的直径以及纱筒的重量发生了变化，进而就能够通过卷绕过程的两个时间点对应的直径间的差值以及重量间的差值求得该时间段卷绕部分的纱筒的密度。

在上述技术方案中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正，具体包括：获取纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；根据卷绕张力校正曲线得到与预设密度要求对应的标准卷绕张力；计算实际卷绕张力与标准卷绕张力之间的差值；根据差值对实际卷绕张力进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该技术方案中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际卷绕张力进行获取，并与标准卷绕张力进行对比，其中，标准卷绕张力根据预设密度要求从卷绕张力校正曲线中获得，再将实际卷绕张力与标准卷绕张力进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际卷绕张力进行校正，由于纱筒的密度受卷绕张力的直接影响，因此通过对纱筒卷绕张力进行校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述技术方案中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正，还包括：获取纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；根据校正纱筒背压曲线密度校正曲线得到与预设密度要求对应的标准纱筒背压；计算实际纱筒背压与标准纱筒背压之间的差值；根据差值对实际纱筒背压进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该技术方案中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际纱筒背压进行获取，并与标准纱筒背压进行对比，其中，标准纱筒背压根据预设密度要求从纱筒背压校正曲线中获得，再将实际纱筒背压与标准纱筒背压进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际纱筒背压进行校正，由于纱筒的密度受纱筒背压的直接影响，因此通过对纱筒背压的校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述技术方案中，数码卷绕精密络筒机的控制方法还包括：生成并储存卷绕张力校正曲线；生成并储存卷绕张力校正曲线的步骤包括：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的卷绕张力；对卷绕张力与纱筒实际密度进行分析计算，并生成卷绕张力校正曲线。

在该技术方案中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒卷绕张力与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成卷绕张力校正曲线，以便于根据卷绕张力校正曲线在生产过程中对卷绕张力进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

在上述技术方案中，数码卷绕精密络筒机的控制方法还包括：生成并储存纱筒背压校正曲线；生成并储存纱筒背压校正曲线的步骤包括：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的纱筒背压；对纱筒背压与纱筒实际密度进行分析计算，并生成纱筒背压校正曲线。

在该技术方案中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒背压与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成纱筒背压校正曲线，以便于根据纱筒背压校正曲线在生产过程中对纱筒背压进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

本发明的第二方面提供了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置，包括：指令响应单元，用于响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；计算单元，用于在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断单元，用于判断实际密度是否满足预设密度要求；校正单元，用于在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。

在该技术方案中，数码卷绕精密络筒机的控制装置包括：指令响应单元，计算单元，判断单元，校正单元。其中，指令响应单元用于响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；计算单元用于在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断单元用于判断实际密度是否满足预设密度要求；校正单元用于在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。同时，由于本申请的数码卷绕精密络筒机的控制装置是与上述技术方案中的数码卷绕精密络筒机的控制方法一一对应的，因此本发明提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置具有上述任一技术方案中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益效果，在此不再赘述。

在上述任一技术方案中，计算单元具体用于：在纱筒卷绕过程中，获取纱筒的直径；根据纱筒的直径，计算得到纱筒的实际密度。

在该技术方案中，通过在纱筒卷绕过程中，对纱筒的直径进行获取来计算纱筒的实际密度，由于密度等于质量比体积，而纱筒卷绕过程中，随着纱线卷绕的越来越多，恰恰使得纱筒的直径以及纱筒的重量发生了变化，进而就能够通过卷绕过程的两个时间点对应的直径间的差值以及重量间的差值求得该时间段卷绕部分的纱筒的密度。在上述任一技术方案中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，校正单元具体用于：获取纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；根据卷绕张力校正曲线得到与预设密度要求对应的标准卷绕张力；计算实际卷绕张力与标准卷绕张力之间的差值；根据差值对实际卷绕张力进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该技术方案中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际卷绕张力进行获取，并与标准卷绕张力进行对比，其中，标准卷绕张力根据预设密度要求从卷绕张力校正曲线中获得，再将实际卷绕张力与标准卷绕张力进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际卷绕张力进行校正，由于纱筒的密度受卷绕张力的直接影响，因此通过对纱筒卷绕张力进行校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述任一技术方案中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，校正单元具体还用于：获取纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；根据校正纱筒背压曲线密度校正曲线得到与预设密度要求对应的标准纱筒背压；计算实际纱筒背压与标准纱筒背压之间的差值；根据差值对实际纱筒背压进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该技术方案中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际纱筒背压进行获取，并与标准纱筒背压进行对比，其中，标准纱筒背压根据预设密度要求从纱筒背压校正曲线中获得，再将实际纱筒背压与标准纱筒背压进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际纱筒背压进行校正，由于纱筒的密度受纱筒背压的直接影响，因此通过对纱筒背压的校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述任一技术方案中，数码卷绕精密络筒机的控制装置还包括：卷绕张力校正曲线生成单元，用于生成并储存卷绕张力校正曲线；卷绕张力校正曲线生成单元具体用于：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的卷绕张力；对卷绕张力与纱筒实际密度进行分析计算，并生成卷绕张力校正曲线。

在该技术方案中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒卷绕张力与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成卷绕张力校正曲线，以便于根据卷绕张力校正曲线在生产过程中对卷绕张力进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

在上述任一技术方案中，数码卷绕精密络筒机的控制装置还包括：纱筒背压校正曲线生成单元，用于生成并储存纱筒背压校正曲线；纱筒背压校正曲线生成单元具体用于：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的纱筒背压；对纱筒背压与纱筒实际密度进行分析计算，并生成纱筒背压校正曲线。

在该技术方案中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒背压与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成纱筒背压校正曲线，以便于根据纱筒背压校正曲线在生产过程中对纱筒背压进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

本发明的第三方面提供了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，程序被处理器执行时实现上述任一技术方案中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤。

根据本发明的技术方案提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，程序被处理器执行时实现上述任一数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤。同时，由于本申请的数码卷绕精密络筒机的控制装置能够实现上述任一项技术方案的数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤，因此本发明提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置具有上述任一技术方案中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益效果。

本发明的第四方面提供了一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，程序或指令被执行时，实现上述任一技术方案中的数码卷绕精密络筒机的控制方法的步骤。

在该技术方案中，计算机可读存储介质上存储的计算机程序被处理器执行时可实现上述技术方案中任一项的数码卷绕精密络筒机的控制方法的步骤，因而具有上述数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益技术效果，在此不再赘述。

本发明的第五方面提供了一种数码卷绕精密络筒机，包括：卷绕张力传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；纱筒直径传感器，用于采集纱筒的直径；纱筒背压传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；如上述任一技术方案的控制装置；或上述任一技术方案的的可读存储介质。

在该技术方案中，数码卷绕精密络筒机包括上述任一技术方案的数码卷绕精密络筒机的控制装置或上述任一技术方案的的可读存储介质，因而具有上述数码卷绕精密络筒机的控制装置和可读存储介质的全部有益技术效果，在此不再赘述。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了本发明的一个实施例的数码卷绕精密络筒机的控制方法的流程示意图；

图2示出了本发明一个实施例的数码卷绕精密络筒机的控制装置的方框图；

图3示出了本发明一个实施例的数码卷绕精密络筒机的控制装置的方框图；

图4示出了本发明又一个实施例的数码卷绕精密络筒机的控制方法的流程示意图；

图5示出了本发明一个实施例的数码卷绕精密络筒机工作流程示意图。

其中，图2和图3中附图标记与部件名称之间的对应关系为：

200数码卷绕精密络筒机的控制装置，202指令响应单元，204计算单元，206判断单元，208校正单元，300数码卷绕精密络筒机的控制装置，302存储器，304处理器。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面参照图1至图5描述本发明一些实施例中的数码卷绕精密络筒机及其控制方法、装置和可读存储介质。

本发明第一方面实施例提出了一种数码卷绕精密络筒机的控制方法，如图1所示，控制方法包括：

S102，响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；

S104，在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；

S106，判断实际密度是否满足预设密度要求；

S108，在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。

根据本实施例提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法，控制方法包括：人工下发指令，络筒机响应于人工下发的指令开始对纱筒进行卷绕，进而在纱筒正常被卷绕的过程中，对纱筒的实际密度进行计算，进而对计算出的实际密度是否符合预设密度要求进行判断，以此实现对生产过程中的纱筒密度进行监控，当实际密度符合预设密度要求时，则正常生产，不对络筒机进行干预，而当实际密度不符合预设密度要求时，则通过密度矫正曲线，对络筒机卷绕的纱筒密度进行校正，以使纱筒在卷绕过程中的密度符合预设密度要求，进而保证了纱筒的染色效果，使得纱筒的染色效果更好，更加均匀，满足了生产需要，提高了纱筒的染色成功率。本申请通过对生产过程中的纱筒密度进行监控，进而在密度不符合预设要求时及时进行校正，避免了因纱筒密度不符合要求而导致的需要返工的情况发生，甚至发生染色不均匀的情况，对生产效率造成影响。

在上述实施例中，在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度，具体包括：在纱筒卷绕过程中，获取纱筒的直径；根据纱筒的直径，计算得到纱筒的实际密度。

在该实施例中，通过在纱筒卷绕过程中，对纱筒的直径进行获取来计算纱筒的实际密度，由于密度等于质量比体积，而纱筒卷绕过程中，随着纱线卷绕的越来越多，恰恰使得纱筒的直径以及纱筒的重量发生了变化，进而就能够通过卷绕过程的两个时间点对应的直径间的差值以及重量间的差值求得该时间段卷绕部分的纱筒的密度。在上述实施例中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正，具体包括：获取纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；根据卷绕张力校正曲线得到与预设密度要求对应的标准卷绕张力；计算实际卷绕张力与标准卷绕张力之间的差值；根据差值对实际卷绕张力进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该实施例中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际卷绕张力进行获取，并与标准卷绕张力进行对比，其中，标准卷绕张力根据预设密度要求从卷绕张力校正曲线中获得，再将实际卷绕张力与标准卷绕张力进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际卷绕张力进行校正，由于纱筒的密度受卷绕张力的直接影响，因此通过对纱筒卷绕张力进行校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述实施例中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正，还包括：获取纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；根据校正纱筒背压曲线密度校正曲线得到与预设密度要求对应的标准纱筒背压；计算实际纱筒背压与标准纱筒背压之间的差值；根据差值对实际纱筒背压进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该实施例中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际纱筒背压进行获取，并与标准纱筒背压进行对比，其中，标准纱筒背压根据预设密度要求从纱筒背压校正曲线中获得，再将实际纱筒背压与标准纱筒背压进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际纱筒背压进行校正，由于纱筒的密度受纱筒背压的直接影响，因此通过对纱筒背压的校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述实施例中，数码卷绕精密络筒机的控制方法还包括：生成并储存卷绕张力校正曲线；生成并储存卷绕张力校正曲线的步骤包括：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的卷绕张力；对卷绕张力与纱筒实际密度进行分析计算，并生成卷绕张力校正曲线。

在该实施例中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒卷绕张力与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成卷绕张力校正曲线，以便于根据卷绕张力校正曲线在生产过程中对卷绕张力进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

在上述实施例中，数码卷绕精密络筒机的控制方法还包括：生成并储存纱筒背压校正曲线；生成并储存纱筒背压校正曲线的步骤包括：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的纱筒背压；对纱筒背压与纱筒实际密度进行分析计算，并生成纱筒背压校正曲线。

在该实施例中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒背压与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成纱筒背压校正曲线，以便于根据纱筒背压校正曲线在生产过程中对纱筒背压进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

本发明的第二方面实施例提供了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置200，如图2所示，数码卷绕精密络筒机的控制装置包括：指令响应单元202，用于响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；计算单元204，用于在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断单元206，用于判断实际密度是否满足预设密度要求；校正单元208，用于在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。

在该实施例中，数码卷绕精密络筒机的控制装置包括：指令响应单元，计算单元，判断单元，校正单元。其中，指令响应单元用于响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；计算单元用于在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；判断单元用于判断实际密度是否满足预设密度要求；校正单元用于在实际密度不满足预设密度要求时，通过密度校正曲线对实际密度进行校正。同时，由于本申请的数码卷绕精密络筒机的控制装置是与上述实施例中的数码卷绕精密络筒机的控制方法一一对应的，因此本发明提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置具有上述任一实施例中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益效果，在此不再赘述。

在上述任一实施例中，计算单元204具体用于：在纱筒卷绕过程中，获取纱筒的直径；根据纱筒的直径，计算得到纱筒的实际密度。

在该实施例中，通过在纱筒卷绕过程中，对纱筒的直径进行获取来计算纱筒的实际密度，由于密度等于质量比体积，而纱筒卷绕过程中，随着纱线卷绕的越来越多，恰恰使得纱筒的直径以及纱筒的重量发生了变化，进而就能够通过卷绕过程的两个时间点对应的直径间的差值以及重量间的差值求得该时间段卷绕部分的纱筒的密度。在上述任一实施例中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，校正单元具体用于：获取纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；根据卷绕张力校正曲线得到与预设密度要求对应的标准卷绕张力；计算实际卷绕张力与标准卷绕张力之间的差值；根据差值对实际卷绕张力进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该实施例中，密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际卷绕张力进行获取，并与标准卷绕张力进行对比，其中，标准卷绕张力根据预设密度要求从卷绕张力校正曲线中获得，再将实际卷绕张力与标准卷绕张力进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际卷绕张力进行校正，由于纱筒的密度受卷绕张力的直接影响，因此通过对纱筒卷绕张力进行校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述任一实施例中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，校正单元208具体还用于：获取纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；根据校正纱筒背压曲线密度校正曲线得到与预设密度要求对应的标准纱筒背压；计算实际纱筒背压与标准纱筒背压之间的差值；根据差值对实际纱筒背压进行校正，以使实际密度能够满足预设密度要求。

在该实施例中，密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，通过对纱筒卷绕过程的实际纱筒背压进行获取，并与标准纱筒背压进行对比，其中，标准纱筒背压根据预设密度要求从纱筒背压校正曲线中获得，再将实际纱筒背压与标准纱筒背压进行对比之后，得到二者之间的差值，进而根据二者之间的差值对实际纱筒背压进行校正，由于纱筒的密度受纱筒背压的直接影响，因此通过对纱筒背压的校正能够使得纱筒的实际密度符合预设的密度要求。

在上述任一实施例中，数码卷绕精密络筒机的控制装置200还包括：卷绕张力校正曲线生成单元，用于生成并储存卷绕张力校正曲线；卷绕张力校正曲线生成单元具体用于：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的卷绕张力；对卷绕张力与纱筒实际密度进行分析计算，并生成卷绕张力校正曲线。

在该实施例中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒卷绕张力与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成卷绕张力校正曲线，以便于根据卷绕张力校正曲线在生产过程中对卷绕张力进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

在上述任一实施例中，数码卷绕精密络筒机的控制装置200还包括：纱筒背压校正曲线生成单元，用于生成并储存纱筒背压校正曲线；纱筒背压校正曲线生成单元具体用于：响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；在卷绕过程中，获取纱筒的直径，根据纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的纱筒背压；对纱筒背压与纱筒实际密度进行分析计算，并生成纱筒背压校正曲线。

在该实施例中，首先按照预设要求进行纱筒卷绕，并在纱筒卷绕的过程中不对络筒机进行干预，进而在卷绕过程中根据纱筒的直径计算纱筒实际密度，根据提前预设的规则对纱筒背压与纱筒密度之间的相关性进行计算，并根据计算结果生成纱筒背压校正曲线，以便于根据纱筒背压校正曲线在生产过程中对纱筒背压进行校正，进而使得纱筒密度能够符合预设密度要求，进而保证了染色效果。

本发明的第三方面实施例提供了一种数码卷绕精密络筒机的控制装置300，如图3所示，包括：存储器302、处理器304及存储在存储器302上并可在处理器304上运行的程序，程序被处理器304执行时实现上述任一实施例中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤。

根据本发明的实施例提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置300，包括存储器302、处理器304及存储在存储器302上并可在处理器304上运行的程序，程序被处理器304执行时实现上述任一数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤。同时，由于本申请的数码卷绕精密络筒机的控制装置300能够实现上述任一数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤，因此本发明提供的数码卷绕精密络筒机的控制装置具有上述任一实施例中提供的数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益效果。

本发明的第四方面提供了一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，程序或指令被执行时，实现上述任一技术方案中的数码卷绕精密络筒机的控制方法的步骤。

在该实施例中，计算机可读存储介质上存储的计算机程序被处理器执行时可实现上述实施例中任一项的数码卷绕精密络筒机的控制方法的步骤，因而具有上述数码卷绕精密络筒机的控制方法的全部有益技术效果，在此不再赘述。

本发明的第五方面实施例提供了一种数码卷绕精密络筒机，包括：卷绕张力传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；纱筒直径传感器，用于采集纱筒的直径；纱筒背压传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；如上述任一实施例的数码卷绕精密络筒机的控制装置；或上述任一实施例的的可读存储介质。

在该实施例中，数码卷绕精密络筒机包括上述任一实施例的数码卷绕精密络筒机的控制装置或上述任一实施例的的可读存储介质，因而具有上述数码卷绕精密络筒机的控制装置和可读存储介质的全部有益技术效果，在此不再赘述。

下面结合一具体实施例来进一步介绍本申请提供的控制方法。

本发明另一方面的实施例，提供了一种数码卷绕精密络筒机的控制方法。如图4所示，控制方法具体包括：

S402，获取纱筒背压；

S404，获取卷绕张力；

S406，获取纱筒的直径；

在S402和S404之后，执行S408，根据卷绕张力计算张力平均值和张力即时值；

在S406之后，执行S410，根据纱筒的直径实时计算纱筒密度；

在S408之后，执行S412，采用背压闭环算法和张力闭环算法对纱筒背压和卷绕张力进行分析记录；

在S410之后，执行S414，根据即时张力与纱筒密度的相关性算法对即时张力和纱筒密度进行分析记录；

在S414之后，执行S416，生成卷绕张力或纱筒背压的校正补偿曲线；

在S412和S416之后，执行S418，根据背压闭环算法和张力闭环算法对纱筒背压和卷绕张力的分析结果以及校正补偿曲线对卷绕张力和纱筒背压进行控制。

如图5所示，具体可总结为：

第一步，试纺合格密度的纱筒，获取卷绕纱筒的实时数据。

具体的，在试纺过程中，控制器对张力传感器反馈模拟信号进行高速采样，卷绕张力传感器采集卷绕张力，实时记录传感器信号的最大最小幅值，同时，纱筒直径传感器采集纱筒直径，通过直径传感器定时计算且记录纱筒的密度数据，计算获取弹力丝供纱卷纱线回弹收缩力大小与纱筒密度值相关数据，纱筒背压传感器采集纱筒背压。

第二步，分析记录数据，拟合卷绕张力或纱筒背压的校正曲线。

具体的，控制器通过特定算法(即时张力与密度相关性算法、张力闭环算法、背压闭环算法)分析记录的纱筒数据和张力值数据，计算拟合为卷绕张力或纱筒背压的校正补偿曲线，并保存为特定密度纱筒的工艺数据。

第三步，正常批量生产，调用校正曲线，对卷绕张力或纱筒背压进行实时补偿。

具体的，纱筒卷绕过程中，控制器根据拟合的纱筒密度校正曲线表格数据计算得出卷绕张力或纱筒背压力的实时补偿值，对卷绕过程中的卷绕张力或纱筒背压指令进行实时校正，保证不同锭位的纱筒卷绕密度一致性。

在本说明书中，术语“多个”则指两个或两个以上，除非另有明确的限定。术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；“相连”可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种数码卷绕精密络筒机的控制方法，其特征在于，所述控制方法包括：

响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；

在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；

判断所述实际密度是否满足预设密度要求；

在所述实际密度不满足所述预设密度要求时，通过密度校正曲线对所述实际密度进行校正；

所述在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度，具体包括：

在纱筒卷绕过程中，获取纱筒的直径；

根据所述纱筒的直径，计算得到所述纱筒的实际密度；

所述密度校正曲线包括卷绕张力校正曲线，所述在所述实际密度不满足所述预设密度要求时，通过密度校正曲线对所述实际密度进行校正，具体包括：

获取纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；

根据所述卷绕张力校正曲线得到与预设密度要求对应的标准卷绕张力；

计算所述实际卷绕张力与所述标准卷绕张力之间的差值；

根据所述差值对所述实际卷绕张力进行校正，以使所述实际密度能够满足预设密度要求；

所述密度校正曲线包括纱筒背压校正曲线，所述在所述实际密度不满足所述预设密度要求时，通过密度校正曲线对所述实际密度进行校正，还包括：

获取纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；

根据所述校正纱筒背压曲线密度校正曲线得到与所述预设密度要求对应的标准纱筒背压；

计算所述实际纱筒背压与所述标准纱筒背压之间的差值；

根据所述差值对所述实际纱筒背压进行校正，以使所述实际密度能够满足预设密度要求；

所述控制方法还包括：

生成并储存所述卷绕张力校正曲线；

所述生成并储存卷绕张力校正曲线的步骤包括：

响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；

在卷绕过程中，获取所述纱筒的直径，根据所述纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；

在卷绕过程中，获取所述纱筒不同直径时的卷绕张力；

对所述卷绕张力与所述纱筒实际密度进行分析计算，并生成所述卷绕张力校正曲线。

2.根据权利要求1所述的数码卷绕精密络筒机的控制方法，其特征在于，还包括：

生成并储存所述纱筒背压校正曲线；

所述生成并储存纱筒背压校正曲线的步骤包括：

响应于纱筒卷绕指令，根据预设密度要求对纱筒进行卷绕；

在卷绕过程中，获取所述纱筒的直径，根据所述纱筒的直径，计算得到纱筒实际密度；

在卷绕过程中，获取纱筒不同直径时的纱筒背压；

对所述纱筒背压与所述纱筒实际密度进行分析计算，并生成所述纱筒背压校正曲线。

3.一种数码卷绕精密络筒机的控制装置，其特征在于，包括实现如权利要求1或2所述的数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤，所述控制装置具体包括：

指令响应单元，用于响应于纱筒卷绕指令，对纱筒进行卷绕；

计算单元，用于在纱筒卷绕过程中，计算卷绕的纱筒的实际密度；

判断单元，用于判断所述实际密度是否满足预设密度要求；

校正单元，用于在所述实际密度不满足所述预设密度要求时，通过密度校正曲线对所述实际密度进行校正。

4.一种数码卷绕精密络筒机的控制装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序，所述程序被所述处理器执行时实现如权利要求1或2所述的数码卷绕精密络筒机的控制方法限定的步骤。

5.一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，其特征在于，所述程序或所述指令被执行时，实现如权利要求1或2所述的数码卷绕精密络筒机的控制方法的步骤。

6.一种数码卷绕精密络筒机，其特征在于，包括：

卷绕张力传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际卷绕张力；

纱筒直径传感器，用于采集纱筒的直径；

纱筒背压传感器，用于采集纱筒卷绕过程的实际纱筒背压；

如权利要求3或4所述的数码卷绕精密络筒机的控制装置；或

如权利要求5所述的可读存储介质。